Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 20.05.1976 82993 MKP G01n 27/62 Int. Cl2. G01N 27/62 CZYTELNIA Urzedu Pq»«nta««QO Twórcy wynalazku: Karol Bobo I i, Wlodzimierz Ney Uprawniony z patentu tymczasowego: Instytut Badan Jadrowych, Warszawa (Polska) Komora do spektralnej analizy emisyjnej próbek roztworowych Przedmiotem wynalazku jest komora do spektralnej analizy emisyjnej próbek roztworowych.Analiza spektralna roztworów stosowana jest do oznaczania pierwiastków metalicznych w stopach.Przeprowadzanie spektralnej analizy emisyjnej próbek roztworowych w strumieniu plazmy zuzyciem zwyklego palnika plazmowego wyposazonego w otwór wlotowy analizowanej próbki, umieszczony w poblizu dyszy wylotowej palnika jest utrudnione ze wzgledu na zanieczyszczenia plazmy, wprowadzane przez otaczajaca niekontrolowana atmosfere zewnetrzna.Celem wynalazku jest zapewnienie mozliwosci latwego dokonywania spektralnej analizy emisyjnej próbek roztworowych przy uzyciu zwyklego palnika plazmowego.Cel ten osiagnieto przez skonstruowanie komory do spektralnej analizy emisyjnej pr.óbek roztworowych, stanowiacej nakladke na dysze palnika plazmowego, w której w poblizu gniazda nasadowego dyszy palnika plaz¬ mowego, obok otworu wlotowego dla rozpylonego roztworu analizowanej próbki umieszczony jest otwór wlo¬ towy gazu ochronnego, a po przeciwnej stronie gniazda nasadowego dyszy palnika jest sztywno zamocowana oslona otwarta do otaczajacej atmosfery w kierunku wylotu plazmy, wyposazona w co najmniej jedno okienko boczne, korzystnie kwarcowe. Oslona otwarta w kierunku wylotu plazmy otoczona jest plaszczem chlodniczym, korzystnie umieszczonym w poblizu jej czesci otwartej do otaczajacej atmosfery.Przedmiot wynalazku zostanie blizej objasniony na przykladzie uwidocznionym na rysunku, który przed¬ stawia przekrój wzdluzny komory do spektralnej analizy emisyjnej próbek roztworowych. W poblizu gniazda nasadowego 5 dyszy palnika plazmowego znajduje sie otwór wlotowy 4 gazu ochronnego. Obok tego otworu umieszczony jest otwór wlotowy 2 dla rozpylonego roztworu analizowanej próbki, po przeciwnej stronie gniazda nasadowego 5 zamocowana jest sztywno oslona 1, otwarta do otaczajacej atmosfery w kierunku wylotu plazmy.W oslonie 1 znajduje sie boczne okienko kwarcowe 3. W poblizu otwartej czesci oslony 1 umieszczona jest chlodnica wodna. Komore nasadza sie na palnik plazmowy. Do otworów wlotowych 2 i 4 doprowadza sie odpowiednio rozpylony roztwór analizowanej próbki i gaz ochronny, uruchamia sie palnik plazmowy i przez okienko kwarcowe 3 dokonuje sie analizy widma wytworzonego w obszarze plazmy wewnatrz komory.Komora zapewnia pelna kontrole skladu atmosfery otaczajacej obszar próbki wzbudzonej strumieniem2 82993 plazmy. Komora nadaje sie do przeprowadzania bezposredniej analizy emisyjnej w zastosowaniu do badan nauko¬ wych i przemyslowych. PLPriority: Application announced: May 30, 1973 Patent description was published: May 20, 1976 82993 MKP G01n 27/62 Int. Cl2. G01N 27/62 READING ROOM OF THE OFFICE Pq »« nta «« QO Inventors: Karol Bobo I i, Wlodzimierz Ney Authorized by the provisional patent: Institute for Nuclear Research, Warsaw (Poland) Chamber for spectral emission analysis of solution samples The subject of the invention is a chamber for spectral analysis The spectral analysis of solutions is used to determine metal elements in alloys. Performing spectral emission analysis of solution samples in the plasma stream using an ordinary plasma torch equipped with an inlet port of the analyzed sample, located near the torch outlet nozzle is difficult due to plasma contamination introduced by the surrounding uncontrolled external atmosphere. The aim of the invention is to provide the possibility of easy spectral emission analysis of solution samples using an ordinary plasma torch. This aim was achieved by constructing a chamber for spectral emission analysis of sample solution samples. There is a protective gas inlet, next to the inlet for the spray solution of the analyzed sample, and a protective gas inlet on the opposite side of the torch nozzle socket, in which a shield is rigidly attached to the nozzle socket of the plasma torch. open to the surrounding atmosphere towards the plasma outlet, provided with at least one side window, preferably of quartz. The shield open in the direction of the plasma outlet is surrounded by a cooling jacket, preferably placed close to its part open to the surrounding atmosphere. The subject of the invention will be explained in more detail in the example shown in the figure, which shows a longitudinal section of the chamber for spectral emission analysis of solution samples. A protective gas inlet 4 is provided near the socket 5 of the plasma torch nozzle. Next to this opening there is an inlet 2 for the sprayed solution of the analyzed sample, on the opposite side of the socket 5 a shield 1 is rigidly attached, open to the surrounding atmosphere towards the plasma outlet. In the shield 1 there is a side quartz window 3. Near the open part of the shield 1 there is a water cooler. The chamber is attached to the plasma torch. A properly sprayed solution of the analyzed sample and protective gas are fed to the inlet holes 2 and 4, the plasma torch is started and the spectrum generated in the plasma area inside the chamber is analyzed through the quartz window 3. The chamber provides full control of the atmosphere surrounding the sample area excited by the plasma stream2 82993 . The chamber is suitable for conducting direct emission analysis for scientific and industrial research applications. PL