Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.09.1973 Opis patentowy opublikowano: 30.06.1975 79213 KI. 42k,24 MKP G01m 17/02 .:, J Twórcy wynalazku: Stanislaw Lipinski, Janusz Lewandowski, Ryszard Turski Uprawniony z patentu tymczasowego: Biuro Projektów Przemyslu Gumowego „Stomil", Warszawa (Polska) Urzadzenie do badania opon Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do badania wielokierunkowej sprezystosci opon i ich przyczep¬ nosci do podloza.Dotychczas badania przyczepnosci opon do nawierzchni odbywaly sie za pomoca prób drogowych, które wykluczaly mozliwosc dokladnej oceny wplywu wlasnosci sprezystosci opon na przyczepnosc do podloza.Wyniki tych prób byly ocenione w sposób bardzo subiektywny jako dlugosc drogi hamowania pojazdu przy okreslonym jego obciazeniu i szybkosci oraz rodzaju nawierzchni na której ten pojazd poruszal sie. Inne sposoby badania przyczepnosci opony do podloza polegaly na próbach laboratoryjnych! w czasie których dokonywano pojedynczych jednokierunkowych sprezystych odksztalcen opony przy jednoczesnym badaniu jej przyczep¬ nosci do podloza przy danym odksztalceniu. Te badania sprezystosci wielokierunkowej opon i ich przyczepnosci do podloza ograniczaly sie jedynie do badnia i oznaczania pojedynczych parametrów, jak np. sprezystosci obwodowej opony i jej przyczepnosci do podloza w kierunku obwodowym, lub tez sprezystosci poprzecznej opony i jej przyczepnosci do podloza w kierunku poprzecznym.Badani*, te nie dawaly jednak pelnych i zadawalajacych wyników, poniewaz w rzeczywistosci w oponie pojazdu mechanicznego w czasie jego ruchu wystepuja odksztalcenia wielokierunkowe: promieniowe obwodo¬ we, poprzeczne j skretne, wzajemnie na siebie oddzialywujace^ które w istotny sposób wplywaja na charakterys¬ tyke sprezystosci opony i jej przyczepnosci do podloza. Wplyw tych odksztalcen na przyczepnosc opony do podloza wystepuje szczególnie wyraznie w czasie hamowania pojazdu na zakrecie, kiedy to opona jest odksztal¬ cona jednoczesnie w kierunku obwodowym, poprzecznym i skretnym. Warunkiem bezpieczenstwa i stabilnosci pojazdu jest w tym przypadku zachowanie wlasciwej przyczepnosci opony do podloza. Zagadnienie to nabiera szczególnie wielkiego znaczenia dla stabilnosci ruchowej pojazdu wyposazonego w opony radialne które przy duzej sprezystosci poprzecznej wynikajacej z konstrukcji tego rodzaju opon, musza wykazywac dobra przyczep¬ nosc.Celem wynalazku jest urzadzenie laboratoryjne do prowadzenia badan, które umozliwia jednoczesne ozna¬ czenie wielokierunkowych odksztalcen, sprezystosci i przyczepnosci opon w warunkach pracy zblizonych do rzeczywistych.2 79 213 Cel ten osiagnieto w ten sposób, ze w rowkowych kólkach ulozyskowanych w dwóch rzedach w dolnej plycie, opieraja sie prowadnice srodkowe plyty, w która jest wkrecona ulozyskowana vw obudowie pociagowa sruba, której jeden koniec jest polaczony ze zródlem napedu. W górnej plycie, której czop jest polaczony obrotowo ze srodkowa plyta i przez którego os przechodzi pionowa os uchwytu, sa ulozyskowane kóleczka, a na obwodzie górnej plyty znajduje sie wycinek slimacznicy zazebiajacej sie z ulozyskowanym w obudowie slimakiem, którego jeden koniec jest polaczony ze zródlem napedu. Jeden koniec pociagowej sruby wkreconej w dolna plyte i ulozyskowanej w obudowie jest polaczony ze zródlem napedu, zas drugi jej koniec jak równiez drugi koniec drugiej sruby i drugi koniec slimaka sa polaczone z indywidualnymi miernikami sily oraz poprzez przekladnie z indywidualnymi miernikami odksztalcen. Na prowadnicach dolnej plyty opieraja sie dwa rzedy szeregowo ulozyskowanych w obudowie rowkowych kólek, których osie tworza w poziomym rzucie z osiami rowkowych górnych kólek kat prosty.Urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia badania i pomiar rzeczywistej przyczepnosci opony do wybra¬ nego podloza przy wielokierunkowym jej obciazeniu, w polaczeniu z jednoczesnym badaniem i pomiarem poje¬ dynczych kierunkowych odksztalcen opony, oraz okresleniem wplywu wzajemnego ich oddzialywania na siebie.Przedmiot wynalazku pokazano w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia sche mat urzadzenia w przekroju pionowym przechodzacym przez os czopa, z zalozona badana opona,a»fig. 2 — sche¬ mat urzadzenia w przekroju pionowym wzdluz linii A—A na fig. 1.W obudowie 1 sa szeregowo ulozy skowane dwa rzedy rowkowych kól 2,na których opieraja sie prowad¬ nice 3 plyty 4. W plyte 4 jest wkrecona pociagowa sruba 5, której konce sa ulozyskowane w obudowie 1, a jeden z nich jest polaczony ze zródlem napedu. W plycie 4 sa tak samo jak w podstawie 1 szeregowo ulozys¬ kowane dwa rzedy rowkowych kólek 6, których osie w rzucie poziomym tworza z osiami kólek 2 kat prosty. Na kólkach 6 opieraja sie prowadnice 7 plyty 8. W plyte 8 jest wkrecona pociagowa sruba 9, której konce sa ulozyskowane w obudowie 1. a jeden z nich jest polaczony ze zródlem napedu. Z plyta 8 jest polaczony obrotowo czop 10 plyty 11. W plycie 11 sa ulozyskowane kóleczka 12. Na obwodzie plyty 11 znajduje sie wycinek slimacznicy 13 zazebiajacy sie ze slimakiem 14, którego konce sa ulozyskowane w obudowie 1, a jeden z nich jest polaczony ze zródlem napedu. Do plyty 11 jest zamocowana wymienna plyta 15, na wierzchu której jest umieszczona warstwa nawierzchni 16 drogowej. Plyta 15 ma obramowanie 17. Koniec kazdej ze srub 5 i 9 oraz koniec slimaka 14 przeciwlegly do konca polaczonego ze zródlem napedu jest polaczony z indywidualnym miernikiem sily 18, oraz za pomoca przekladni 19 z miernikiem 20 odksztalcen. Z obudowa 1 jest polaczone jarzmo 21, w którym jest przesuwnie osadzony uchwyt 22 z ulozyskowana osia 23 samochodowego kola. Piono¬ wa os uchwytu 22 przechodzi przez os obrotowego czopa 10.Nawierzchnia 16 moze byc wykonana z kostki kamiennej, betonu asfaltu lub innego materialu uzywanego jako nawierzchnia drogowa. Moze byc ona sucha, mokra, zaolejona, pokryta mazia utworzona z dobranej pro¬ porcji blota ulicznego i wody, posypana piaskiem, pokryta lodem lub sniegiem itp. Obramowanie 17 uniemozli¬ wia sciekanie cieczy lub ich mieszanin z nawierzchni 16 drogowej. Zamiast urzadzen sluzacych do dokonywania odczytów mozna zastosowac samopiszace aparaty, które beda dokonywac zapisów wyników pomiarów sil funkcji odpowiadajacych odksztalceniom. PL PL