PL78628B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.09.1973 Opis patentowy opublikowano: 15.09.1975 78628 KI. 21e,29/00 MKP GOlr 29/00 Twórca wynalazku: Norbert Lukomski Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru bardzo malych ladunków elektrycznych Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru bardzo malych ladunków elektrycznych, znaduja- cych zastosowanie w ilosciowej analizie chemicznej i automatyce elektronicznej.Wiekszosc znanych sposobów pomiaru ladunku elektrycznego pozwala okreslic nabój wiekszy od jednego kulomba, a tylko nieliczne sposoby umo¬ zliwiaja pomiar ladunków mniejszych od jednego kulomba, nie mniejszych jednak od 0,01 kulomba.W zasadzie jedyna metoda pozwalajaca na po¬ miar ladunków rzedu 10~5 kulomba przy stosun¬ kowo duzej dokladnosci jest metoda oparta na po¬ miarze czasu trwania krótkozwartego ogniwa w elekrolizerze z punktowa elektroda. Jednakze wszystkie dotychczasowe metody pomiaru ladun¬ ków elektrycznych nie pozwalaja na bezposredni odczyt cyfrowy, co stanowi ich duza niedogodnosc.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu po¬ miaru bardzo malych ladunków elektrycznych o wartosci do 10~5 kulomba przy jednoczesnej mo¬ zliwosci dokonywania bezposredniego odczytu.Zgodnie z wynalazkiem mierzy sie czestotliwosc drgan rezonatora kwarcowego przed i po procesie elektrolizy. Elektrode pomiarowa elektrolizatora stanowi co najmniej jedna warstwa metalu nanie¬ siona na powierzchnie rezonatora kwarcowego.Wartosc ladunku okresla sie w zaleznosci od róz¬ nicy czestotliwosci drgan rezonatora.Sposób wedlug wynalazku, przy mozliwosci po¬ miaru ladunków w zakresie 10~5 — 1 kulomba z 10 15 20 25 30 duza dokladnoscia limitowana tylko wplywem tem¬ peratury na czestotliwosc drgan rezonatora, cha¬ rakteryzuje sie znaczna prostota w odróznieniu od metod klasycznych. Dokladnosc uzyskiwana tym sposobem wynosi okolo 5*/o. Czestotliwosciowy sygnal wyjsciowy pozwala na precyzyjny odczyt cyfrowy wyników pomiaru.Sposób wedlug wynalazku zostanie blizej omó¬ wiony w oparciu o przyklad wykonania mikroku- lometru do stosowania tego sposobu przedstawio¬ nego na rysunku.Mikrokulometr posiada zanurzone w elektrolicie dwie elektrody, elektrode pomocnicza 1 i pomiaro¬ wa 2. Elektrode pomiarowa stanowia naniesione na powierzchnie kwarcu 3 rezonatora kwarcowego, warstwy 4 metalu.Wedlug wynalazku postepuje sie nastepujaco.W wyniku przeplywu pradu pomiedzy elektrodami na elektrodzie pomiarowej 4 osadza sie lub tez usu¬ wa sie czesc metalu w zaleznosci od wielkosci la¬ dunku elektrycznego, jaki przeplywa przez elektro¬ lit. Zmiana masy metalu na elektrodach rezona¬ tora kwarcowego powoduje zmiane czestotliwosci jego drgan. Zaleznosc ta ma charakter liniowy.Róznica czestotliwosci drgan rezonatora kwarcowe¬ go przed i po procesie elektrolizy okresla wartosc ladunku elektrycznego, jaki przeplynal przez mi¬ krokulometr. Pomiaru czestotliwosci dokonuje sie po oplukaniu i wysuszeniu rezonatora kwarcowego. 78 62878 628 PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru bardzo malych ladunków elek¬ trycznych przy elektrolitycznym nanoszeniu lub usuwaniu cienkich warstw metalu z elektrod, zna¬ mienny tym, ze mierzy sie czestotliwosc drgan re¬ zonatora kwarcowego przed i po procesie elektro¬ lizy, na którego powierzchnie przed procesem elek¬ trolizy nanosi sie co najmniej jedna warstwe me¬ talu stanowiaca elektrode pomiarowa (2), a war¬ tosc ladunku, okresla sie w zaleznosci od róznicy czestotliwosci drgan rezonatora kwarcowego. PZG zam. 1022-75, nakl. 130 + 20 ege. Cena 10 zl PL PL