PL78456B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo.: 03.10.1972 (P. 158 078) Zgloszenie pgloszono: 01.06.1973 Opis patentowy opublikowano: 10.06.1975 78456 KI. 42b,24 MKP B24b 49/02 Twórcawynalazku: Apoloniusz Belko Uprawniony z patentu tymczasowego: Instytut Obróbki Skrawaniem, Kraków (Polska) Sposób przeprowadzania czynnej kontroli wymiarów na szlifierkach Przedmiotem wynalazku jest sposób przeprowadzania czynnej kontroli wymiarów na szlifierkach z zastoso¬ waniem czujnika bezstykowego.Znane dotychczas sposoby pomiaru i uklady do czynnej kontroli bazuja glównie na czujnikach stykowych i wykazuja szereg wad oraz niedogodnosci do których naleza: scieranie koncówki pomiarowej oraz zaklócenia w ukladzie kontrolno sterujacym zwiazane ze zmiana przyspieszen przy nawrotach stolu, przenoszenie wibracji i drgan przez koncówke pomiarowa czujnika stykowego oraz mala praktycznie osiagalna dokladnosc.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu czynnej kontroli, który wyeliminowalby wszystkie ujemne wplywy fizykalne na dokladnosc pomiaru w stopniu przewyzszajacym dotychczas znane uklady.Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie sposobu wedlug wynalazku, który polega na metodzie ciaglego porównywania w czasie calej obróbki odchylek od wzorca, przy czym porównywanie nastepuje, w kazdym cyklu pracy szlifierek.Cecha charakterystyczna sposobu wedlug wynalazku stanowi to, ze na drodze poruszania sie czujnika na stole jest ustawiana plytka wzorcowa oraz obrabiany przedmiot i ze nad stolem, plytka i przedmiotem ustawia sie mikrometryczna srube przy czym, odleglosc zespolu pomiarowego wraz z czujnikiem mechanicznym zalezy od wartosci uzaleznionej od naddatku na obróbke plus wartosc przeswitu, oraz ze selektor czestotliwosci wzorca regulowany jest pokretlem do momentu zapalenia sie lampki kontrolnej, po czym podnosi sie elektromagnesem sztyft czujnika przez nacisniecie przycisku i przeprowadza sie regulacje selektora pokretlem do momentu zapalenia sie lampki kontrolnej, przesuwajac stól tak aby zespól znalazl sie nad przedmiotem obrabianym, przy czym automatycznie proporcjonalnie ulegaja regulacji selektory wymiarów posrednich, zapewniajac dyskretny odczyt wymiarów posrednich przez wskazywanie przy pomocy lampek kontrolnych, a nastepnie, wciska sie stabilnie przycisk podnoszac tym samym elektromagnesem igle czujnika i stól przesuwa sie nad wzorzec ustawiajac pokretlo do zapalenia sie lampki kontrolnej.Sposób wedlug wynalazku zostanie blizej wyjasniony na podstawie rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat ukladu pomiarowego na obrabiarce, fig. 2 — schemat blokowy ukladu pomiarowego, a fig. 3 — fragment schematu ideowego.Sposób przeprowadzania pomiarów wedlug wynalazku jest nastepujacy. Na stole 1 obrabiarki mocuje sie wzorcowa plytke 2 i przedmiot obrabiany 3. Nad stolem 1 plytka 2 i przedmiotem 3 ustawia sie sruba2 78 456 mikrometryczna 4, przy czym odleglosc zespolu pomiarowego 5 wraz z czujnikiem mechanicznym 6 zalezy od wartosci uzaleznionej od naddatku 7 na obróbke plus wartosc przeswitu. Po ustawieniu jak wyzej pokretlem 8 reguluje sie selektor czestotliwosci wzorca 9 do momentu zapalenia sie lampki kontrolnej 10. Po tej regulacji podnosi sie elektromagnesem 11 sztyft 12 czujnika 6. Czynnosc te wykonuje sie przez nacisniecie przycisku 13.Nastepnie przeprowadza sie regulacje selektora 15 przesuwajac stól 1 tak zeby zespól 5 znalazl sie nad przedmiotem obrabianym 3.'Regulacje selektora 15 przeprowadza sie pokretlem 14 az do zapalenia sie lampki kontrolnej 16. Równoczesnie proporcjonalnie i automatycznie ulegaja regulacji selektory wymiarów posrednich i dla zapewnienia dyskretnych odczytów posrednich wymiarów przez wskazywanie przy pomocy lampek * kontrolnych 21, 22, 23 i 24. Nastepnie wciska sie przycisk 13 podnoszac tym samym elektromagnesem 11 igle 12 czujnika 6. Stól 1 przesuwa sie nad wzorzec 2 i ustawia sie pokretlo 4 do zaswiecenia lampki 10. Po tych czynnosciach rozpoczyna sie obróbke.W czasie obróbki stól wykonuje ruchy po drodze 25 i znajdujac sie wedlug fig. 1 po prawej stronie koncówka 26 uruchamia inicjator logiczny 27, który zeruje automatycznie przerzutniki. Przerzutniki te sa zerowane za kazdym nawrotem stolu. Przy kazdorazowym zerowaniu pierwszego przerzutnika mozliwa jest ciagla kontrola stalosci czestotliwosci generatora i odleglosci czujnika ód wzorca. Po zebraniu czesci naddatku zostana oprócz pierwszego przerzutnika uruchomione kolejno dalsze przerzutniki. W ten sposób operator ma mozliwosc wplywu na parametry obróbki w zaleznosci od jej zaawansowania. Po dalszym zblizeniu sie do wymiaru koncowego jest tym samym zapalana lampka kontrolna 23, 22, 21 na przyklad przy naddatku 50,25, 10. Lampka 16 zapali sie po osiagnieciu wymiaru koncowego. Z ta chwila proces obróbki jest zakonczony. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób przeprowadzania czynnej kontroli wymiarów na szlifierkach z zastosowaniem czujnika bezstykowe- go, znamienny tym, ze na drodze poruszania sie czujnika (34) na stole (1) jest ustawiana plytka wzorcowa (2) oraz obrabiany przedmiot (3) i ze nad stolem (1), plytka (2) i przedmiotem (3) ustawia sie mikrometryczna sruba (4), przy czym odleglosc zespolu pomiarowego (5) wraz z czujnikiem mechanicznym (6) zalezy od wartosci uzaleznionej od naddatku (7) na obróbke, plus wartosc przeswitu, oraz ze selektor czestotliwosci wzorca (9) reguluje sie pokretlem (8) do momentu zapalenia sie lampki kontrolnej (10), po czym podnosi sie elektromagnesem (11) sztyft (12) czujnika (6) przez zacisniecie przycisku (13) i przeprowadza sie regulacje selektora (15) pokretlem (14) do momentu zapalenia sie lampki kontrolnej (16), przesuwajac stól (1) tak aby zespól (5) znalazl sie nad przedmiotem obrabianym (3), przy czym automatycznie i proporcjonalnie ulegaja regulacji selektory wymiarów posrednich (17, 18, 19 i 20) zapewniajac dyskretny odczyt wymiarów posrednich przez wskazywanie przy pomocy lampek kontrolnych (21, 22,23 i 24), a nastepnie wciska sie stabilnie przycisk (13) podnoszac tym samym elektromagnesem (11) igle (12) czujnika (6) i z kolei stól (1) przesuwa sie nad wzorzec (2) ustawiajac pokretlo (4) do zapalenia sie lampki kontrolnej (10).KI.42b,24 78456 MKP B24b 49/02KI. 42b,24 78 456 MKP B24b 49/02 W Prac. Poligraf. UP PRL. Zam. 2483/75 naklad 120+18 Cena 10 zl PL