PL74166B2 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL74166B2 PL74166B2 PL15111871A PL15111871A PL74166B2 PL 74166 B2 PL74166 B2 PL 74166B2 PL 15111871 A PL15111871 A PL 15111871A PL 15111871 A PL15111871 A PL 15111871A PL 74166 B2 PL74166 B2 PL 74166B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- tested material
- detector
- carriers
- sample
- electric charge
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 5
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical class CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 3
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 3
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 3
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004455 differential thermal analysis Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N nickel zinc Chemical compound [Ni].[Zn] QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019752 Mg2Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005272 metallurgy Methods 0.000 description 1
- 238000004452 microanalysis Methods 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002843 nonmetals Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- OGFYIDCVDSATDC-UHFFFAOYSA-N silver silver Chemical compound [Ag].[Ag] OGFYIDCVDSATDC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 28. 02. 1975 74166 KI. 42M6/Ó7 MKP GOln 21/36 CZYTELNIA Twórcy wynalazku: Bogdan Sujak, Tadeusz Górecki, Leon Biernacki Uprawniony z patentu tymczasowego: Uniwersytet Wroclawski irn. Bole¬ slawa Bieruta, Wroclaw (Polska) Sposób wykrywania przemian fazowych w cialach stalych, zwlaszcza w cienkich warstwach Przedmiotem wynalazku jest sposób wykrywania przemian fazowych w cialach stalych, zwlaszcza w cienkich warstwach, znajdujacy zastosowanie w mikroanalizie chemicznej, materialoznawstwie, metalurgii i w innych dziedzinach badawczych i przemyslowych.Badanie przemian fazowych w cialach stalych, zarówno w metalach jak i niemetalach, pozwala okreslic wartosci temperatury, w jakiej zachodza przemiany fazowe badanego materialu, podczas któ¬ rych zmienia on swoje wlasnosci fizyczne, co de¬ terminuje przeznaczenie tego materialu. Badania tego rodzaju sa szczególnie istotne w odniesieniu do metali i stopów metali majacych zastosowanie w szeroko pojetej technologii, np. hutniczej, gdzie znajomosc temperatury przemiany fazowej moze byc kryterium jakosci wytopu poszczególnych szarz.Dotychczas do wykrywania przemian fazowych stosuje sie metode dylatometryczna, w której wy¬ korzystuje sie skokowe zmiany wspólczynnika roz¬ szerzalnosci termicznej w okolicy punktu przemia¬ ny fazowej. Innym sposobem jest róznicowa ana¬ liza termiczna, wykorzystujaca efekty cieplne prze¬ mian fazowych, podczas których cieplo albo jest wydzielane albo pochlaniane.Metoda dylatometryczna jest stosunkowo malo czula, a w przypadkach badania materialów o nik¬ lych zmianach wspólczynnika rozszerzalnosci ter¬ micznej w punkcie przemiany fazowej jest zupel- 2 nie nieprzydatna. Metoda róznicowej analizy ter¬ micznej nie nadaje sie do wykrywania przemian fazowych II rodzaju, którym nie towarzysza zadne efekty cieplne. 5 Znane jest równiez z literatury wykrywanie przemian fazowych za pomoca rentgenografii, elek- tronagrafii i neutronografii, lecz sposoby te sa bar¬ dzo czasochlonne, wymagaja stosowania kosztow¬ nej aparatury, a ponadto zawodza w przypadku io procesów porzadkowania wielu stopów.Wszystkie wymienione wyzej sposoby wykazuja te podstawowa niezgodnosc, ze kazdorazowa prób¬ ka badanego materialu wymaga odpowiedniego przygotowania, np. sporzadzenia odpowiedniej 15 ksztaltki lub sproszkowania, w wyniku czego prób¬ ka taka nie moze byc pózniej wykorzystana tech¬ nologicznie, tak wiec sposobami tymi mozna badac jedynie material, a nie element pracujacy wyko¬ nany z tego materialu. 20 Celem wynalazku jest znalezienie takiego sposo¬ bu wykrywania przemian fazowych w cialach sta¬ lych kazdego rodzaju, a wiec i we wszystkich ty¬ pach stopów, zwlaszcza w cienkich warstwach bez koniecznosci specjalnego, niszczacego przygotowa- 25 nia próbek, który jednoczesnie gwarantowalby szybki i dokladny pomiar, a przy tym nie wyma¬ galby korzystania z trudnodostepnych i kosztow¬ nych urzadzen.W wyniku dlugotrwalych prób i badan okazalo 30 sie, ze cel ten mozna osiagnac umieszczajac bada- 7416674166 ny material pod detektorem nosników ujemnego ladunku elektrycznego i oswietlajac powierzchnie tego materialu promieniowaniem ultrafioletowym z lampy kwarcowej. W przypadku stosowania jako detektora licznika Geigera lub licznika Geigera- -Miillera zródlem ultrafioletu dla oswietlania po¬ wierzchni próbki sa zjawiska towarzyszace genero¬ waniu impulsów licznikowych, zachodzace w obje¬ tosci czynnej licznika. Miedzy detektorem a prób¬ ka przyklada sie napiecie przyspieszajace i wpro¬ wadzajace emitowane z próbki nosniki ujemnego ladunku elektrycznego do objetosci czynnej detek¬ tora, z tym ze wartosc tego napiecia zalezy od od¬ leglosci próbki od detektora.ICe^em wykrywania przemian fazowych w zalez¬ nosci od temperatury badany material poddaje sie zmianom temperatury ze stala szybkoscia, np. przez ogjraewftnieza pomoca pieca oporowego. Zliczania emitowanych z badanego materialu nosników la¬ dunku ujemnego dokonuje sie za pomoca znanego w detekcji czastek jonizujacych zestawu aparatu¬ ry elektronicznej, obejmujacej przedwzmacniacz, miernik szybkosci zliczen, rejestrator itd. Aby wy¬ kluczyc mozliwosc zmian charakterystyki roboczej licznika korzystne jest termostatowanie go za po¬ moca wymuszonego obiegu czynnika cieklego o usta¬ lonej temperaturze.W sposobie "wedlug wynalazku pomiar dokony¬ wany jest szybko, z pelna powtarzalnoscia a bada¬ ne próbki nie ulegaja zniszczeniu zachowujac swo¬ je cechy funkcjonalne.Przedmiot wynalazku jest blizej objasniony na przykladach wykonania, które jednakze nie ogra¬ niczaja zakresu wynalazku.Przyklad I. Cienka elektrolityczna warstwe stopu niklowo-cynkowego o grubosci 7 //m, nanie¬ siona na podkladke mosiezna uklada sie na piecu oporowym o mocy 350 Wat, zasilanym poprzez au¬ totransformator z sieci pradu zmiennego. Tempera¬ ture pieca i próbki zmienia sie ze stala predkos¬ cia 50°C/min. Powierzchnie próbki oswietla sie swiatlem lampy kwarcowej z palnikiem Q400 przez caly czas trwania pomiaru. Nad próbka, w odleg¬ losci 3 cm umieszcza sie ostrzowy licznik Geigera z nasycona para gaszaca etanolu, przy czym tempe¬ ratura kapieli termostatujacej licznik wynosi 43°C.Miedzy próbke a licznik doprowadza sie napiecie 300 V z zasilacza lampowego, tak aby próbka znaj¬ dowala sie na potencjale ujemnym wzgledem ka¬ tody licznika.Licznik podlaczony jest do ukaldu rejestrujace¬ go zlozonego z integratora liniowego ZIL 4, kom¬ pensatora rejestrujacego KR 1 oraz zasilacza wy¬ sokiego napiecia ZWN 4. Temperatura ferromag¬ netycznego punktu Curie badanej warstwy stopu niklowo-jcynkowego wynosi 251°C, co odczytuje sie z polozenia maksimum na wykreslonej przez reje¬ strator krzywej temperaturowej zaleznosci nateze¬ nia emisji ujemnych nosników ladunku elektrycz¬ nego, emitowanych z próbki pod wplywem swiatla ultrafioletowego.Przyklad II. Plaska spiralke z drutu nowo- srebrowego MZN 15 umieszcza sie na powierzchni pieca oporowego o mocy 250 Wat. Temperature pieca i próbki zmienia sie z predkoscia 12°C/min.Powierzchnie próbki oswietla sie swiatlem lampy kwarcowej z palnikiem HBO 50 przez caly czas 5 trwania pomiaru. Nad próbka, w odleglosci 2 cm umieszcza sie otwarty licznik ostrzowy Geigera z nasycona para gaszaca etanolu. Miedzy próbka a licznikiem przyklada sie z zasilacza lampowego napiecie 200 V, tak aby próbka posiadala potencjal io ujemny wzgledem katody licznika. Licznik jest polaczony z identycznym ukladem rejestrujacym jak w przykladzie I. Temperatura Curie procesów porzadkowania badanego stopu trójskladnikowego wynosi 330°C, co odczytujemy z polozenia maksi- 15 mum na wykreslonej przez rejestrator krzywej temperaturowej zaleznosci natezenia emisji nosni¬ ków ujemnego ladunku elektrycznego.Przyklad III. Gladko tloczone kolo zebate ze stopu PA 4 uprzednio wygrzane w temperaturze 20 540°C w ciagu 2 godzin i zahartowane w wodzie umieszcza sie w okienku ostrzowego licznika Gei¬ gera z nasycona para gaszaca alkoholu etylowego.Przez caly czas trwania pomiaru temperatura prób¬ ki jest stala i równa temperaturze otoczenia. Po- :5 wierzchnia próbki jest oswietlana swiatlem ultra¬ fioletowym wytwarzanym w objetosci czynnej licz¬ nika podczas generowania impulsów licznikowych.Pomiaru dokonuje sie za pomoca identycznego uk¬ ladu rejestrujacego jak w przykladzie I, który wy- 30 kresla krzywa zaleznosci natezenia emisji nosników ujemnego ladunku elektrycznego od czasu. Na krzy¬ wej tej po uplywie 55 minut od momentu zahar¬ towania próbki wystepuje maksimum, swiadczace o wydzieleniu sie z przesyconego roztworu stalego 35 nadmiarowej fazy Mg2Si i zakonczeniu pierwszej fazy starzenia samorzutnego stopu PA 4. 40 55 PL PL
Claims (3)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wykrywania przemian fazowych w cia¬ lach stalych, zwlaszcza w cienkich warstwach, zna¬ mienny tym, ze badany material, którego po¬ wierzchnie oswietla sie swiatlem ultrafioletowym, umieszcza sie w poblizu lub wewnatrz detektora swobodnych nosników ujemnego ladunku elektrycz¬ nego, korzystnie termostatowanego, miedzy bada¬ nym materialem a detektorem wytwarza sie pole elektryczne przyspieszajace i wprowadzajace emi¬ towane z tego materialu nosniki ujemnego ladunku elektrycznego do objetosci czynnej licznika, ewen¬ tualnie badany material poddaje sie zmianom tem¬ peratury ze stala szybkoscia a zaliczania emitowa¬ nych z badanego materialu nosników ujemnego ladunku elektrycznego dokonuje sie za pomoca zna¬ nej aparatury rejestrujacej.
2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze 60 powierzchnie badanego materialu oswietla sie pro¬ mieniowaniem ultrafioletowym o takim rozkladzie spektralnym, który nie powoduje klasycznej emisji fotoelektronowej a zródlem tego promieniowania ultrafioletowego jest sam detektor lub dodatkowe 65 urzadzenie, np. lampa kwarcowa.74166 5
3. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze wartosc napiecia przylozonego miedzy badanym ma¬ terialem a detektorem celem wytworzenia pola elektrycznego przyspieszajacego i wprowadzajacego 6 emitowane z badanego materialu nosniki ujemne¬ go ladunku elektrycznego do objetosci czynnej de¬ tektora zalezy od odleglosci badanego materialu od detektora. PL PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15111871A PL74166B2 (pl) | 1971-10-20 | 1971-10-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL15111871A PL74166B2 (pl) | 1971-10-20 | 1971-10-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL74166B2 true PL74166B2 (pl) | 1974-10-31 |
Family
ID=19955972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL15111871A PL74166B2 (pl) | 1971-10-20 | 1971-10-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL74166B2 (pl) |
-
1971
- 1971-10-20 PL PL15111871A patent/PL74166B2/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Carr et al. | The electrical conductivity of PbF2 and SrCl2 crystals at high temperatures | |
| Döhl et al. | Measurement of the diffusion coefficient of cobalt in copper | |
| Tāle et al. | Recombination luminescence mechanisms in Ba3 (PO4) 2 | |
| Budaev et al. | The PLM plasma device for tests of tungsten with powerful stationary heat plasma loads | |
| PL74166B2 (pl) | ||
| Govinda et al. | Optical absorption and thermoluminescence of high ac field treated and X-ray irradiated potassium chloride single crystals | |
| Bodin et al. | A gas flow backscatterer counter for CEMS studies in the 300–600 K range | |
| Venables et al. | Anodization of InSb | |
| Helgason et al. | High temperature Mössbauer spectroscopy of titanomagnetite and maghemite in basalts | |
| Volkov et al. | Investigation of the thermal properties of thin aluminum films | |
| Sinha et al. | On the mechanism of electron transport in Cr-doped V2O3 | |
| Knapek et al. | Electron microscopical results on cryoprotection of organic materials obtained with cold stages | |
| Vukanović et al. | A new type of dc arc as spectrochemical light source | |
| Bibby et al. | Hall-field electrotransport of carbon and nitrogen in α iron | |
| Afgan et al. | Determination of the statistical characteristics of temperature fluctuation in pool boiling | |
| Post et al. | The Diffusion of Hydrogen Through Carbonyl Iron at Temperatures from 800° to 1100° Centigrade | |
| Butler et al. | Space chamber emittance measurements | |
| SU1296835A1 (ru) | Способ измерени толщины пленки | |
| SU927036A1 (ru) | Способ обнаружени радиационных дефектов в диэлектриках и устройство дл его осуществлени | |
| Hodgskiss et al. | Light-induced ESR centres in single crystal rutile | |
| Warner | Variation of the photoelectric effect with temperature and determination of the long wave-length limit for Tungsten | |
| Jelínek et al. | Thermoluminescence and long afterglow of adenine in the solid state | |
| Mallard et al. | Thermostimulated currents and thermoelectric power in irradiated MgO | |
| Ambroz et al. | Triplet-state electron spin resonance studies of aryl cations. Part 4.—Low-temperature kinetics of the decay of 3 Ar+ in crystalline and glassy media | |
| Murphy et al. | Thermally Generated Electrical Currents in γ-Irradiated Lucite |