PL74096B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL74096B2
PL74096B2 PL15464972A PL15464972A PL74096B2 PL 74096 B2 PL74096 B2 PL 74096B2 PL 15464972 A PL15464972 A PL 15464972A PL 15464972 A PL15464972 A PL 15464972A PL 74096 B2 PL74096 B2 PL 74096B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
light
lens
elements
mkp
polarizer
Prior art date
Application number
PL15464972A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15464972A priority Critical patent/PL74096B2/pl
Publication of PL74096B2 publication Critical patent/PL74096B2/pl

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Urzadzenie mikroskopowe wedlug wynalazku jest dokladnie wyjasnione na podstawie jego przykladu wykonania. Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykladach wykonania na rysunku, na którym fig. 1 — przedstawia schemat ukladu optycznego urzadzenia mikroskopowego do obserwacji w kontrascie fazowym, w swietle odbitym, fig. 2 - schemat ukladu urzadzenia mikroskopowego do obserwacji w kontrascie interferencyjnym w swietle odbitym, fig. 3 - schemat ukladu urzadzenia mikroskopowego do obserwacji w kon¬ trascie fazowym w swietle odbitym, fig. 4 — schemat ukladu urzadzenia mikroskopowego z dwoma oswietlacza¬ mi do obserwacji w kontrascie fazowym w swietle odbitym, fig. 5 — schemat ukladu urzadzenia mikroskopowego z dwoma oswietlaczami do obserwacji w kontrascie fazowym w swietle przechodzacym.Urzadzenie mikroskopowe wedlug wynalazku uwidocznione na fig. 1 posiada jeden oswietlacz OE skladajacy sie ze zródla swiatla Z, kolektora Kol oraz kondensora K, w którego ognisku przedmiotowym umieszczona jest przyslona aperturowa DA. Urzadzenie posiada dwa uklady wizualne, których osie sa prostopadle do osi oswietlacza. Uklady te maja wspólny obiektyw Ob. Za soczewkami St—S4, znajduja sie plytki fazowe Phi! i Ph2 sprzezone optycznie z przyslona aperturowa DA. Pomiedzy soczewkami St i S3 oraz S2 iS4 umieszczone sa polaryzatory interferencyjne Pi i P2/ oraz przyslony poifowe DPi iDP2. Przy dwóch scianach bocznych polaryzatora P2 znajduja sie elementy Cj i C2 zmieniajace kierunek polaryzacji o 90°.Utworzony obraz stereoskopowy obserwowany jest w kontrascie fazowym za pomoca okularów mikroskopo¬ wych Ok! iOk2.Dzialanie urzadzenia przedstawionego na fig. 1 jest nastepujace. Zródlo swiatla Z przez kolektor Kol oswietla przyslone DA, która jest umieszczona w przedmiotowej plaszczyznie ogniskowej kondensora K. Do polaryzatora interferencyjnego Pi dochodzi wiazka równolegla. Polaryzator ten dzieli wymieniona wiazke na dwie: przechodzaca i odbita w stosunku 1 : 1. Obie te wiazki sa spolaryzowane w kierunkach do siebie prostopadlych. Swiatlo odbite przechodzi przez soczewke S! i polówke obiektywu Ob, odbija sie od przedmiotu i trafia do drugiej polówki obiektywu Ob. Po przejsciu przez soczewke S2 oraz element C1# wiazka swiatla zmienia kierunek polaryzacji o 90°, dzieki czemu jest w calosci przepuszczona przez polaryzator interferencyjny P2. Druga czesc wiazki, przepuszczona przez polaryzator Pi, po przejsciu przez element C2 zmienia kierunek polaryzacji o 90°, dzieki czemu odbija sie w calosci od polaryzatora P2. Po przejsciu przez element C2 zmieniajacy ponownie kierunek drgan swiatla o 90° oraz przez soczewke ^ i prawa polówke obiektywu Ob wiazka ta odbija sie od przedmiotu i trafia do lewej polówki obiektywu. W dalszym ciagu wiazka przechodzi kolejno przez soczewke Sx oraz polaryzator Pi. Dalszy bieg promieni jest dla obu wiazek podobny.Przechodza one przez soczewki pomocnicze S3 iS4, a nastepnie przez umieszczone w ogniskach obrazowych tych soczewek plytki fazowe Phx i Ph2. Powstaly w ten sposób obraz jest obserwowany za pomoca okularów Oki i Ok2 w sposób stereoskopowy w kontrascie fazowym.Urzadzenie mikroskopowe wedlug wynalazku uwidocznione na fig. 2 przeznaczone jest do obserwacji stereoskopowej w kontrascie interferencyjnym. Uklad oswietlajacy jest taki sam jak w wersji podstawowej pokazanej na fig. 1. W czesci wizualnej w miejsce plytek fazowych Pf^ i Ph2 ustawiono w znany sposób pryzmaty Nomarskiego Nr i N2 oraz analizatory A2 i A2. Bieg promieni w ukladzie oswietlajacym i wizualnym jest podobny do opisanego dla wersji podstawowej pokazanej na fig. 1. Róznica polega jedynie na tym, ze diafragma aperturowa odwzorowywana jest w plaszczyznach lokalizacji prazków interferencyjnych pryzmatów N! iN2.W rozwiazaniu wedlug fig. 2 pryzmaty Ni i N2 moga byc umieszczone równiez pomiedzy soczewkami Sj i S2 a obiektywem Ob. Na fig. 3 przedstawiono inne rozwiazanie urzadzenia wedlug wynalazku przeznaczone do obserwacji stereoskopowej w kontrascie fazowym. Konstrukcja ta jest podobna do wariantu podstawowego uwidocznionego na fig. 1 z ta róznica, ze zamiast polaryzatorów interferencyjnych Pi i P2 zastosowano elementy swiatlodzielace ZPi iZP2. Dla unikniecia omówionego wczesniej wzajemnego zaklócania wiazek swietlnych, pomiedzy elementami ZPX i ZP2 umieszczono polaryzator P i cwiercfalówke C2, a pomiedzy elementem ZP! i soczewka S3 - analizator. Analizator A jest obrócony o 90° wzgledem polaryzatora P. Pozostale elementy sa takie same i ustawione w ten sposób jak pokazano na fig. 1. Bieg promieni jest identyczny z opisanym przy omawianiu wariantu podstawowego.Urzadzenie wedlug wynalazku uwidocznione na fig. 4 posiada dwa oswietlacze OE! i OE2 umieszczone symetrycznie wzgledem osi mikroskopu. Budowa kazdego z nich jest identyczna jak oswietlacza OE urzadzenia74 096 3 przedstawionego na fig. 1-3. Uklad wizualny jest podobny do ukladu opisanego wedlug fig. 1 i 3 z tym, ze zamiast elementów polaryzacyjnych Pi, P2 (fig. 1) i P, A (fig. 3) oraz elementów Ct i Ca obracajacych kierunek drgan wektora swietlnego zastosowano elementy swiatlodzielace ZP, IZP2. Spowodowane zostalo to tym, ie uzycie dwóch niezaleznych ukladów oswietlajacych OEj iOE3 nie stwarza opisanego wczesniej problemu wzajemnego zaklócania sie wiazek swietlnych w ukladzie wizualnym. Bieg promieni jest tu podobny do biegu w wersji podstawowej urzadzenia z tym, ze oswietlacz lewy OE1# soczewka pomocnicza St oraz lewa polowa obiektywu Ob stanowia uklad oswietlajacy dla prawej czesci mikroskopu i na odwrót.Przedstawione rozwiazanie urzadzenia wedlug fig. 4 jest przenaczone do obserwacji stereoskopowej w kontrascie fazowym, lecz po wprowadzeniu niewielkich zmlin moze byc przystosowane do obserwacji stereoskopowej w kontrascie interferencyjnym. Zmiany te sa analogiczne do tych jakie wystepuja w odmianie wedlug fig. 2 w stosunku do wariantu podstawowego wedlug fig. 1.Na fig.'5 przedstawiono przyklad urzadzenia wedlug wynalazku przeznaczonego do obserwacji stereosko¬ powej w kontrascie fazowym w swietle przechodzacym. Rozwiazanie to posiada dwa oswietlacze OEi iOE2 analogiczne do tych, jakie pokazane sa na fig. 4. Oswietlacze te umieszczone sa w taki sposób, ze oswietlac? lewy wspólpracuje z prawa czescia wizualna urzadzenia, a prawy z lewa. Obserwowany przedmiot znajduje sie pomiedzy obiektywem Ob, a oswietlaczami OEi i OE2. Pozostale soczewki S3, 84, oraz plytki fazowe Phi i Ph2 sa ustawione w sposób podobny do przedstawionego na fig. 1, 3, 4. Uklad ten, w prosty sposób, moze byc przystosowany do obserwacji stereoskopowej w kontrascie interferencyjnym w swietle przechodzacym.Urzadzenie mikroskopowe do obserwacji stereoskopowej w kpntrascie fazowym i jego odmiana do obserwacji w kontrascie interferencyjnym moga byc skonstruowane jako jeden przyrzad. Elementy decydujace o typie stosowanego kontrastu (fazowy lub interferencyjny) sa wówczas wymienne. PL

Claims (4)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie mikroskopowe do obserwacji stereoskopowej w kontrascie fazowym i interferencyjnym, w swietle przechodzacym i odbitym, znamienne t y m, ze posiada elementy polaryzujace swiatlo (Pi i P2) oraz zmieniajace kierunek drgan wektora swietlnego elementy (Ct i C2), przy czym lewa czesc obiektywu jest fragmentem ukladu oswietlajacego dla prawej czesci wizualnej urzadzenia i na odwrót.
  2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zawiera elementy swiatlodzielace (ZP! i ZP3), miedzy którymi umieszczony jest polaryzator (P), przy czym nad elementem swiatlodzielacym (ZPJ usytuowa¬ ny jest analizator (A).
  3. 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1,2, znamienne tym, ze zawiera dwa oswietlacze (OEi i OE2) przy czym oswietlacz lewy (OEt) oraz lewa czesc obiektywu (Ob) stanowia uklad oswietlajacy dla prawej czesci wizualnej urzadzenia i na odwrót.
  4. 4. Urzadzenie wedlug zastrz. Ii 3, znamienne tym, ze w ukladzie oswietlajacym zawiera przyslone aperturowa, optycznie sprzezona z plytkami fazowymi (Phr iPh2) lub pryzmatami (Nt iN2), nad którymi umieszczone sa analizatory (A| i A2).KI. 42h, 14/02 74 096 MKP G02b 21/22 Fig 1 Fig 24/02 74096 MKP G02b 21/22 l <=p Okt <-ii 0aj —rh~ '* —rF7—r =Kf ** f fc DP2 fig 5 4 QE2 f/g. 4KI. 42h, 14/02 74 096 MKP G02b 21/22 ii- \--7, */ \ 7 i'/// V Fig 5 Prac. Poligraf. UP PRL. Naklad 120+18 Cena 10 zl PL
PL15464972A 1972-04-11 1972-04-11 PL74096B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15464972A PL74096B2 (pl) 1972-04-11 1972-04-11

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15464972A PL74096B2 (pl) 1972-04-11 1972-04-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL74096B2 true PL74096B2 (pl) 1974-10-31

Family

ID=19958137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15464972A PL74096B2 (pl) 1972-04-11 1972-04-11

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL74096B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10831010B2 (en) Optical measurement method and device
US9739993B2 (en) Optical measurement method and device
US2402856A (en) Optical device for checking the alignment of the geometrical axes of two mechanical parts
US3868168A (en) Combination of birefringent elements for polarizing interferential systems
US20100195199A1 (en) Eyepiece base unit and microscope
US2255631A (en) Microscope
JP3885334B2 (ja) 微分干渉顕微鏡
US4238157A (en) Process and arrangement for the alignment of imaging systems
KR20200096238A (ko) 기능 모듈 및 기능 모듈이 장착된 현미경
CA2140654A1 (en) Illumination system and method for a high definition light microscope
JP2019517027A (ja) 光学走査顕微鏡および検査方法
US20010040723A1 (en) Differential interference optical system
KR100313396B1 (ko) 현미경용수직광조명시스템
US4652094A (en) Binocular microscope including a detachable optical deflecting unit
PL74096B2 (pl)
US2574186A (en) Apparatus for viewing stereoscopic pictures
SU1125592A1 (ru) Оптическа система дл получени промежуточного изображени при осуществлении контрастных методов в микроскопах
WO2023156891A1 (en) Patterned light generating device for microscopy and apparatus thereof
JPH0530823U (ja) システム顕微鏡
US7154679B2 (en) Optical arrangement with a telecentric beam region
US3454340A (en) Interferometry
JPH0321842A (ja) 光学歪検査装置
RU1795411C (ru) Устройство дл контрол качества изображени объектива
JPS6310408B2 (pl)
GB1136705A (en) Coaxial illuminator for stereomicroscope by polarization