Przyrzad samorejestrujacy odchylki wymiarów liniowych Przedmiotem wynalazku jest przyrzad samore¬ jestrujacy odchylki wymiarów liniowych przezna¬ czony do zastosowania w urzadzeniach sluzacych do pomiaru ksztaltu, grubosci i plaskosci wielko¬ wymiarowych elementów budowlanych oraz form do ich produkcji.Dotychczas pomiar ksztaltu, grubosci i plaskosci wielkowymiarowych elementów budowlanych oraz form do ich produkcji odbywal sie przy uzyciu laboratoryjnych czujników zegarowych mocowa¬ nych na specjalnie w tym celu wykonywanej kon¬ strukcji. Do dokonania tych pomiarów niezbedny byl caly komplet czujników zegarowych.Dla okreslenia ksztaltu badanego elementu nale¬ zalo odpowiednio ustawic wszystkie czujniki a na¬ stepnie dokonac na nich odczytów i na ich pod¬ stawie wykonac odpowiednie wykresy lub sporza¬ dzic odpowiednie tabele okreslajace odchylenia od nominalnych wymiarów. Czynnosci pomiarowe byly pracochlonne i wymagaly zatrudnienia kwalifiko¬ wanych pracowników a ze wzgledu na koniecznosc mocowania czujników do odpowiednich konstruk¬ cji, pomiary mozna bylo przeprowadzac tylko na specjalnych stanowiskach co ze wzigledu na wiel¬ kosc i ciezar badanych elementów budowlanych bylo niewygodne i kosztowne.Znane sa równiez elektryczne czujniki pomiaro¬ we polaczone z elektrycznymi miernikami wskazu¬ jacymi odchylenia wymiarów badanych elemen¬ tów, co ulatwia odczytywanie pomiarów, lecz wy- 10 15 20 25 30 maga dla dokonania pomiarów stosowania równiez kompletu elektrycznych czujników i pracochlonnego sporzadzania wykresów lub tablic przedstawiaja¬ cych wyniki pomiarów.Pomiary dokonane przy uzyciu znamycih czujni¬ ków zegarowych lub elektrycznych zawieraja bledy wynikajace z niedokladnosci przelozen ruchu w mechanizmach czujników zegarowych i elek¬ trycznych.Celem wynalazku jest wyeliminowanie bledów wynikajacych z niedokladnosci przelozen ruchu, jakie maja miejsce w czujnikach zegarowych i elektrycznych, oraz umozliwienie pomiarów na skladowiskach prefabrykatów lub na stanowiskach produkcyjnych.Cel wynalazku zostal osiagniety przez skonstruo¬ wanie przyrzadu, który jest mocowany przesuw¬ nie do przenosnej prowadnicy wyznaczajacej baze pomiarowa i posiada beben nawijajacy rejestra¬ cyjna tasme odwijana z drugiego bebna, przy czym beben nawijajacy tasme jest polaczony poprzez uklad redukujacy obroty z kólkiem napedowym przesuwanym wzdluz badanego elementu.Uklad redukujacy obroty sklada sie z pary kól zebatych. Przyrzad jest wyposazony w trzpien, którego jeden koniec jesit zakonczony kulista na¬ sadka a na drugim koncu trzpienia jest umieszczo¬ ny uchwyt z pisakiem piszacym na tasmie przesu¬ wajacej sie nad bebnem, przy czym trzpien jest umieszczony w lozysku ze sprezyna dociskajaca 7006470064 koniec trzpienia, zaopatrzony w kulista nasadke, do powierzchni badanego elementu.Za pomoca przyrzadu wedlug wynalazku uzy¬ skuje sie na tasmie wykres obrazujacy ksztalt po¬ wierzchni badanego elementu na linii przesuwania przyrzadu, przy czym przez zastosowanie ukladu redukujacego obroty kólka napedowego uzyskuje sie wykres, na którym dlugosc drogi pomiaru jest podana w zmniejszonej skali na przyklad 1 :10, a odchylenia liniowych wymiarów prostopadlych do drogi sa wykreslone przez pisak w wielkosci natu¬ ralnej przez co jest uzyskana lepsza czytelnosc wykresu.Trwale polaczenie za posrednictwem trzpienia kulistej nasadki przesuwajacej sie po powierzchni badanego elementu z pisakiem wykonujacym wy¬ kres na tasmie eliminuje bledy pomiarowe wyni¬ kajace z niedokladnosci przelozen ruchu w mecha¬ nizmach czujników zegarowych i elektrycznych.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przyrzad samorejestrujacy odchylki wymiarów liniowych w czesciowym przekroju w widoku z góry, a fig. 2 — ten sam przyrzad w wi¬ doku z boku.Jak pokazano na rysunku do przesuwnego wóz¬ ka 1 umocowanego na przenosnej prowadnicy jest umocowana srubami 2 podstawa 3 przyrzadu. Na¬ pedowe kólko 4 ma bieznie wykonana z miekkiej gumy z szorstka powierzchnia w celu eliminacji poslizgu i jest osadzone na walku 5 zakonczonym zebatym kólkiem 6, które z zebatym kólkiem 7 osadzonym na osi 8 nawijajacego bebna 9, tworzy ulklad redukujacy ilosc obrotów napedowego kólka 4 przy przenoszeniu obrotu na nawijajacy beben 9.Obrót nawijajacego bebna 9 powoduje przesu¬ wanie sie tasmy 11 zmagazynowanej na bebnie 10 przy czym dlugosc nawijajacego sie odcinka tasmy odpowiada zmniejszonej dlugosci drogi pomiaru przebytej przez napedowe kólko 4 w skali równej stosunkowi zebów na zebatych kolach 6 i 7, który dla wygody poslugiwania sie wykresem uzyskiwa¬ nym na tasmie 11 wynosi przykladowo 1 : 1K), a na tasmie 11 jest wykonana siatka milimetrowa.Do podstawy 3 za pomoca srub 13 jest umoco¬ wane przesuwne lozysko 12, w którym jest zmiesz¬ czony pomiarowy trzpien 14 posiadajacy na jednym koncu kulista nasadke 15 zabezpieczona przed obro¬ tem przeciwnakretka 16 a na drugim koncu znaj¬ dujacym sie nad tasma 11 jest umocowany pisak 5 17. W przesuwanym lozysku 12 jest umieszczona sprezyna 18 dociskajaca trzpien 14 z kulista na¬ sadka 15 do powierzchni badanego elementu.Przed przystapieniem do pomiaru, po ustawieniu przenosnej prowadnicy nastawia sie przyrzad tak, io by pisak 17 znajdowal sie nad linia na tasmie 11 okreslajaca nominalny wymiar badanej powierzch¬ ni elementu. Ustawienie pisaka 17 odbywa sie przez odpowiednie pokrecenie kulistej nasadki 15 po zwolnieniu przeciwnakretki 16. Po ustawieniu 15 pisaka 17 przesuwa sie przyrzad wzdluz prowadnic powodujac obroty napedowego kólka A, które sa przenoszone poprzez uklad redukujacy obroty na nawijajacy beben 9, powodujac przesuwanie sie tasmy 11, na której pisak 17 rysuje odchylki wy- 20 miarowe w zaleznosci od ksztaltu powierzchni ele¬ mentu, po której przesuwa sie kulista nasadka 15.Przez zastosowanie ukladu redukujacego obroty na tasmie 11 uzyskuje sie wykres przedstawiajacy dlugosc drogi pomiaru równa najczesciej wysokosci 25 elementu w zmniejszonej skali na przyklad 1 : 10, a odchylenia wymiarowe badanej powierzchni ele¬ mentu w wielkosci naturalnej, przez co na podsta¬ wie otrzymanego wykresu latwo ustalic ksztalt po¬ wierzchni elementu i odchylenia od nominalnych 30 wymiarów. PL PL