PL66070B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL66070B1 PL66070B1 PL141283A PL14128370A PL66070B1 PL 66070 B1 PL66070 B1 PL 66070B1 PL 141283 A PL141283 A PL 141283A PL 14128370 A PL14128370 A PL 14128370A PL 66070 B1 PL66070 B1 PL 66070B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- cylinder
- head
- specimen
- holder
- teflon ring
- Prior art date
Links
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 claims description 8
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 claims description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 6
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000000110 cooling liquid Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 25.VIII.1972 66070 KI. 21g,37/10 MKP HOlj 37/26 Twórca wynalazku: Edmund Igras Wlasciciel patentu: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jaroslawa Dab¬ rowskiego, Warszawa (Polska) Glowica preparatowa zwierciadlanego mikroskopu elektronowego Przedmiotem wynalazku jest glowica preparato¬ wa zwierciadlanego mikroskopu elektronowego, przeznaczona do badan próbek cial stalych w sze¬ rokim zakresie temperatur i w wysokiej prózni.Znane sa glowice preparatowe zwierciadlanego mikroskopu elektronowego przesuwane w plasz¬ czyznie prostopadlej do osi mikroskopu za posred¬ nictwem pokrytych smarem uszczelek. Wada tak przesuwanych glowic jest koniecznosc stosowania smaru, którego pary zanieczyszczaja badana po¬ wierzchnie próbki. Zanieczyszczenia te wystepuja szczególnie ostro w przypadku próbek badanych wiazka elektronowa.Inne znane glowice preparatowe sa nieruchome, natomiast uchwyt z badana próbka jest przesuwa¬ ny za pomoca sprezystego mieszka.Wada tych glowic jest to, ze nie mozna uzyskac duzych przemieszczen próbki, gdyz powstajace wtedy silne naprezenia mieszka powoduja niekon¬ trolowane przemieszczania uchwytu z próbka.Celem wynalazku jest skonstruowanie glowicy przesuwanej bez stosowania szkodliwych smarów lub mieszka, która umozliwi obserwowanie dowol¬ nej czesci powierzchni badanej próbki.Istota wynalazku polega na tym, ze glowica pre¬ paratowa posiada dwa cylindry wewnatrz których panuje wysoka próznia, przedzielone plaskim, wy¬ polerowanym pierscieniem teflonowym, z których cylinder górny, ruchomy, posiada osadzony trwale uchwyt preparatowy i zakonczony jest plaskim kol- 10 15 20 25 30 nierzem o wypolerowanej powierzchni stykajacej sie z pierscieniem teflonowym, a cylinder dolny nieruchomy posiada osadzona trwale soczewke elektrostatyczna; ponadto glowica posiada dwa uklady srub mikrometrycznych osadzonych w obu¬ dowie glowicy pod katem 90°, sluzace do prze¬ mieszczania górnego cylindra po powierzchni pierscienia teflonowego przez co badana próbka, umieszczona w uchwycie preparatowym, prze¬ mieszcza sie wzgledem soczewki elektrostatycznej w takich granicach, ze daje mozliwosc obserwacji dowolnego obszaru powierzchni badanej próbki.W konstrukcji glowicy wedlug wynalazku, ele¬ menty uchwytu preparatowego nie podlegaja na¬ prezeniom mechanicznym przez co próbka jest sta¬ bilna w czasie jej obserwacji. Wspólczynnik tar¬ cia miedzy powierzchnia kolnierza ruchomego cy¬ lindra i powierzchnia pierscienia teflonowego jest tak maly, ze nie ma potrzeby stosowania smarów, przez co unika sie zanieczyszczenia powierzchni badanej próbki.Ponadto przesuw cylindra jest tak duzy, ze umoz¬ liwia badanie próbek o wiekszych powierzchniach niz to bylo mozliwe w znanych stosowanych do¬ tychczas glowicach preparatowych.Glowica preparatowa wedlug wynalazku daje mozliwosc precyzyjnego przemieszczania próbki umieszczonej w wysokiej prózni, z duza doklad¬ noscia uzyskana przez zastosowanie ukladów srub mikrometrycznych. 66 07066 070 Wynalazek zostanie ponizej szczególowo objas¬ niony na podstawie przykladu wykonania glowicy preparatowej, pokazanym na rysunku, który przed¬ stawia schematycznie przekrój podluzny glowicy wedlug wynalazku.Glowica wedlug wynalazku sklada sie z nieru¬ chomego dolnego cylindra 1 w którym osadzona jest trwale soczewka elektrostatyczna 2, ruchome¬ go górnego cylindra 3 w którym osadzony jest trwale uchwyt preparatowy 4 oraz z obudowy 5 w której znajduja sie dwa uklady srubowe 6, prze¬ suniete wzgledem siebie o kat 90°.Cylinder 3 posiada plaski wypolerowany kol¬ nierz 7» spoczywajacy na wypolerowanym pierscie¬ niu teflonowym 8, osadzonym trwale na cylindrze 1. Uchwyt preparatowy 4 osadzony jest w cylin¬ drze 3 za pomoca tulei izolacyjnej 11 izolujacej elektrycznie uchwyt od cylindra przez co badana próbka moze znajdowac sie pod wysokim napie¬ ciem. Tuleja izolacyjna 11 stanowi jednoczesnie uszczelke zapewniajaca stala wysoka próznie wew¬ natrz cylindrów 3 i 1.Uchwyt preparatowy 4, w swej dolnej czesci, zawiera grzejnik oporowy 9 umozliwiajacy pod¬ grzewanie badanych próbek. Chlodzenie badanych próbek uzyskuje sie przez wlewanie do wnetrza uchwytu 4 cieczy chlodzacej, stanowiacej na przy¬ klad ciekly azot.Uktadjr srubowe 6 stanowia uklady srub mikro- metrycznych, za pomoca których przesuwa sie cy- 10 15 20 25 30 linder 3 z uchwytem preparatowym 4 po pierscie¬ niu teflonowym 8. W ten sposób dowolna czesc powierzchni badanej próbki, umieszczonej we wne¬ ce 10 uchwytu preparatowego 4, mozna ustawic wzgledem soczewki elektrostatycznej 2 tak, aby ta wlasnie zadana czesc powierzchni podlegala ob¬ serwacji.Wykonanie pierscienia 8 z teflonu oraz polero¬ wanie stykajacych sie ze soba powierzchni kolnie¬ rza 7 i pierscienia 8, przy przesuwaniu cylindra 3 po powierzchni pierscienia 8 daje tak mala sile tarcia, ze nie ma potrzeby stosowania smarów, za¬ nieczyszczajacych powierzchnie badanej próbki. PL PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Glowica preparatowa zwierciadlanego mikrosko¬ pu elektronowego znamienna tym, ze posiada dwa cylindry (1) i (3), przedzielone plaskim wypolero¬ wanym pierscieniem teflonowym (8), z których górny cylinder (3) jest cylindrem ruchomym, w którym osadzony jest trwale uchwyt preparatowy (4) i który zakonczony jest plaskim wypolerowa¬ nym kolnierzem (7), a dolny cylinder <1) jest cy¬ lindrem nieruchomym i posiada osadzona trwale soczewke elektrostatyczna i(2); przy czym glowica posiada dwa uklady srub mikrometrycznych (6), osadzone w obudowie (5) pod katem 90°, sluzace do przemieszczania górnego cylindra (3) po po¬ wierzchni pierscienia teflonowego (8). ZF „Ruch" W-wa, zarn. 626-72, nakl. 195+20 egz. Cena zl 10,— PL PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL66070B1 true PL66070B1 (pl) | 1972-04-29 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Crocker et al. | Microscopic measurement of the pair interaction potential of charge-stabilized colloid | |
| US3060731A (en) | Motion translator | |
| Sucksmith | XVII. An apparatus for the measurement of magnetic susceptibility | |
| US4032782A (en) | Temperature stable multipole mass filter and method therefor | |
| Uribe et al. | Influence of a dispersion of aluminum titanate particles of controlled size on the thermal shock resistance of alumina | |
| EP1178299A1 (en) | Superfine indentation tester | |
| JP2011504590A (ja) | パイプの内面温度を計測するための方法および関連デバイス | |
| PL66070B1 (pl) | ||
| EP4271962A1 (en) | Perpendicularity measuring device for the inner diameter of bearing rings | |
| Archbold et al. | Speckle photography for strain measurement-a critical assessment | |
| CN105547086A (zh) | 一种耐磨卡尺类检测量具 | |
| CS267642B1 (en) | Portable rastering electron microscope | |
| SU953511A1 (ru) | Устройство дл испытани материалов на изгиб | |
| RU2169401C2 (ru) | Сканер термокомпенсированный | |
| SU454470A1 (ru) | Устройство дл определени диэлектрической посто нной минералов | |
| EP0734848A2 (en) | A method for safe transmission of steady or time-dependent pressure under high-low, steady or time-dependent temperature | |
| JPH0996520A (ja) | 寸法測定装置 | |
| RU2645437C1 (ru) | Сканирующий зондовый нанотомограф с модулем оптического анализа | |
| WO2015110870A1 (en) | Scanning probe microscope with improved resolution - multi scanner spm | |
| SU1401359A1 (ru) | Устройство дл определени коэффициента трени при пластической деформации | |
| SU412302A1 (pl) | ||
| Rabe | Helical zirconia (TZP) springs manufacturing and testing under mechanical and thermal load | |
| Kroedel | Cesic: engineering material for optics and structures | |
| SU361419A1 (ru) | Установка для механических испытаний материалов при низких температурах | |
| JPH051804Y2 (pl) |