PL66070B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL66070B1
PL66070B1 PL141283A PL14128370A PL66070B1 PL 66070 B1 PL66070 B1 PL 66070B1 PL 141283 A PL141283 A PL 141283A PL 14128370 A PL14128370 A PL 14128370A PL 66070 B1 PL66070 B1 PL 66070B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
cylinder
head
specimen
holder
teflon ring
Prior art date
Application number
PL141283A
Other languages
English (en)
Inventor
Igras Edmund
Original Assignee
Wojskowa Akademia Techniczna Im Jaroslawa Dab¬Rowskiego
Filing date
Publication date
Application filed by Wojskowa Akademia Techniczna Im Jaroslawa Dab¬Rowskiego filed Critical Wojskowa Akademia Techniczna Im Jaroslawa Dab¬Rowskiego
Publication of PL66070B1 publication Critical patent/PL66070B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 25.VIII.1972 66070 KI. 21g,37/10 MKP HOlj 37/26 Twórca wynalazku: Edmund Igras Wlasciciel patentu: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jaroslawa Dab¬ rowskiego, Warszawa (Polska) Glowica preparatowa zwierciadlanego mikroskopu elektronowego Przedmiotem wynalazku jest glowica preparato¬ wa zwierciadlanego mikroskopu elektronowego, przeznaczona do badan próbek cial stalych w sze¬ rokim zakresie temperatur i w wysokiej prózni.Znane sa glowice preparatowe zwierciadlanego mikroskopu elektronowego przesuwane w plasz¬ czyznie prostopadlej do osi mikroskopu za posred¬ nictwem pokrytych smarem uszczelek. Wada tak przesuwanych glowic jest koniecznosc stosowania smaru, którego pary zanieczyszczaja badana po¬ wierzchnie próbki. Zanieczyszczenia te wystepuja szczególnie ostro w przypadku próbek badanych wiazka elektronowa.Inne znane glowice preparatowe sa nieruchome, natomiast uchwyt z badana próbka jest przesuwa¬ ny za pomoca sprezystego mieszka.Wada tych glowic jest to, ze nie mozna uzyskac duzych przemieszczen próbki, gdyz powstajace wtedy silne naprezenia mieszka powoduja niekon¬ trolowane przemieszczania uchwytu z próbka.Celem wynalazku jest skonstruowanie glowicy przesuwanej bez stosowania szkodliwych smarów lub mieszka, która umozliwi obserwowanie dowol¬ nej czesci powierzchni badanej próbki.Istota wynalazku polega na tym, ze glowica pre¬ paratowa posiada dwa cylindry wewnatrz których panuje wysoka próznia, przedzielone plaskim, wy¬ polerowanym pierscieniem teflonowym, z których cylinder górny, ruchomy, posiada osadzony trwale uchwyt preparatowy i zakonczony jest plaskim kol- 10 15 20 25 30 nierzem o wypolerowanej powierzchni stykajacej sie z pierscieniem teflonowym, a cylinder dolny nieruchomy posiada osadzona trwale soczewke elektrostatyczna; ponadto glowica posiada dwa uklady srub mikrometrycznych osadzonych w obu¬ dowie glowicy pod katem 90°, sluzace do prze¬ mieszczania górnego cylindra po powierzchni pierscienia teflonowego przez co badana próbka, umieszczona w uchwycie preparatowym, prze¬ mieszcza sie wzgledem soczewki elektrostatycznej w takich granicach, ze daje mozliwosc obserwacji dowolnego obszaru powierzchni badanej próbki.W konstrukcji glowicy wedlug wynalazku, ele¬ menty uchwytu preparatowego nie podlegaja na¬ prezeniom mechanicznym przez co próbka jest sta¬ bilna w czasie jej obserwacji. Wspólczynnik tar¬ cia miedzy powierzchnia kolnierza ruchomego cy¬ lindra i powierzchnia pierscienia teflonowego jest tak maly, ze nie ma potrzeby stosowania smarów, przez co unika sie zanieczyszczenia powierzchni badanej próbki.Ponadto przesuw cylindra jest tak duzy, ze umoz¬ liwia badanie próbek o wiekszych powierzchniach niz to bylo mozliwe w znanych stosowanych do¬ tychczas glowicach preparatowych.Glowica preparatowa wedlug wynalazku daje mozliwosc precyzyjnego przemieszczania próbki umieszczonej w wysokiej prózni, z duza doklad¬ noscia uzyskana przez zastosowanie ukladów srub mikrometrycznych. 66 07066 070 Wynalazek zostanie ponizej szczególowo objas¬ niony na podstawie przykladu wykonania glowicy preparatowej, pokazanym na rysunku, który przed¬ stawia schematycznie przekrój podluzny glowicy wedlug wynalazku.Glowica wedlug wynalazku sklada sie z nieru¬ chomego dolnego cylindra 1 w którym osadzona jest trwale soczewka elektrostatyczna 2, ruchome¬ go górnego cylindra 3 w którym osadzony jest trwale uchwyt preparatowy 4 oraz z obudowy 5 w której znajduja sie dwa uklady srubowe 6, prze¬ suniete wzgledem siebie o kat 90°.Cylinder 3 posiada plaski wypolerowany kol¬ nierz 7» spoczywajacy na wypolerowanym pierscie¬ niu teflonowym 8, osadzonym trwale na cylindrze 1. Uchwyt preparatowy 4 osadzony jest w cylin¬ drze 3 za pomoca tulei izolacyjnej 11 izolujacej elektrycznie uchwyt od cylindra przez co badana próbka moze znajdowac sie pod wysokim napie¬ ciem. Tuleja izolacyjna 11 stanowi jednoczesnie uszczelke zapewniajaca stala wysoka próznie wew¬ natrz cylindrów 3 i 1.Uchwyt preparatowy 4, w swej dolnej czesci, zawiera grzejnik oporowy 9 umozliwiajacy pod¬ grzewanie badanych próbek. Chlodzenie badanych próbek uzyskuje sie przez wlewanie do wnetrza uchwytu 4 cieczy chlodzacej, stanowiacej na przy¬ klad ciekly azot.Uktadjr srubowe 6 stanowia uklady srub mikro- metrycznych, za pomoca których przesuwa sie cy- 10 15 20 25 30 linder 3 z uchwytem preparatowym 4 po pierscie¬ niu teflonowym 8. W ten sposób dowolna czesc powierzchni badanej próbki, umieszczonej we wne¬ ce 10 uchwytu preparatowego 4, mozna ustawic wzgledem soczewki elektrostatycznej 2 tak, aby ta wlasnie zadana czesc powierzchni podlegala ob¬ serwacji.Wykonanie pierscienia 8 z teflonu oraz polero¬ wanie stykajacych sie ze soba powierzchni kolnie¬ rza 7 i pierscienia 8, przy przesuwaniu cylindra 3 po powierzchni pierscienia 8 daje tak mala sile tarcia, ze nie ma potrzeby stosowania smarów, za¬ nieczyszczajacych powierzchnie badanej próbki. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Glowica preparatowa zwierciadlanego mikrosko¬ pu elektronowego znamienna tym, ze posiada dwa cylindry (1) i (3), przedzielone plaskim wypolero¬ wanym pierscieniem teflonowym (8), z których górny cylinder (3) jest cylindrem ruchomym, w którym osadzony jest trwale uchwyt preparatowy (4) i który zakonczony jest plaskim wypolerowa¬ nym kolnierzem (7), a dolny cylinder <1) jest cy¬ lindrem nieruchomym i posiada osadzona trwale soczewke elektrostatyczna i(2); przy czym glowica posiada dwa uklady srub mikrometrycznych (6), osadzone w obudowie (5) pod katem 90°, sluzace do przemieszczania górnego cylindra (3) po po¬ wierzchni pierscienia teflonowego (8). ZF „Ruch" W-wa, zarn. 626-72, nakl. 195+20 egz. Cena zl 10,— PL PL
PL141283A 1970-06-13 PL66070B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL66070B1 true PL66070B1 (pl) 1972-04-29

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Crocker et al. Microscopic measurement of the pair interaction potential of charge-stabilized colloid
US3060731A (en) Motion translator
Sucksmith XVII. An apparatus for the measurement of magnetic susceptibility
US4032782A (en) Temperature stable multipole mass filter and method therefor
Uribe et al. Influence of a dispersion of aluminum titanate particles of controlled size on the thermal shock resistance of alumina
EP1178299A1 (en) Superfine indentation tester
JP2011504590A (ja) パイプの内面温度を計測するための方法および関連デバイス
PL66070B1 (pl)
EP4271962A1 (en) Perpendicularity measuring device for the inner diameter of bearing rings
Archbold et al. Speckle photography for strain measurement-a critical assessment
CN105547086A (zh) 一种耐磨卡尺类检测量具
CS267642B1 (en) Portable rastering electron microscope
SU953511A1 (ru) Устройство дл испытани материалов на изгиб
RU2169401C2 (ru) Сканер термокомпенсированный
SU454470A1 (ru) Устройство дл определени диэлектрической посто нной минералов
EP0734848A2 (en) A method for safe transmission of steady or time-dependent pressure under high-low, steady or time-dependent temperature
JPH0996520A (ja) 寸法測定装置
RU2645437C1 (ru) Сканирующий зондовый нанотомограф с модулем оптического анализа
WO2015110870A1 (en) Scanning probe microscope with improved resolution - multi scanner spm
SU1401359A1 (ru) Устройство дл определени коэффициента трени при пластической деформации
SU412302A1 (pl)
Rabe Helical zirconia (TZP) springs manufacturing and testing under mechanical and thermal load
Kroedel Cesic: engineering material for optics and structures
SU361419A1 (ru) Установка для механических испытаний материалов при низких температурах
JPH051804Y2 (pl)