PL66047B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.IX.1972 66047 KI. 21e, 19/04 MKP GOlr 19/04 CZYTELNIA iK^P Polent***.-'- Polsklij IzenypiKtyti t\ .Twórca wynalazku: Andrzej Myszkier Wlasciciel patentu: Wroclawskie Zaklady Elektroniczne „Elwro", Wroclaw (Polska) Sposób pomiaru napiecia miedzyszczytowego Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru napiecia miedzyszczytowego, przeznaczony do sto¬ sowania przy pomiarach napiec niesymetrycznych, szczególnie w tych przypadkach, gdy wymagany jest dokladny odczyt kolejnych wartosci ekstre¬ malnych, niewiele rózniacych sie miedzy soba.Sposób wedlug wynalazku jest szczególnie przez¬ naczony do pomiaru zdolnosci rozdzielczej glowic magnetycznych stosowanych na przyklad w ma¬ tematycznych maszynach cyfrowych.Znana i powszechnie stosowana metoda pomiaru niesymetrycznych napiec miedzyszczytowych polega na odczycie bezposrednim na oscyloskopie. Na za¬ ciski wejsciowe oscyloskopu podaje sie napiecie mierzone. Po odpowiednim wywzorcowaniu oscy¬ loskopu okresla sie wartosci maksymalne obu pólfal napiecia mierzonego. Sumujac te wartosci otrzymujemy po wymnozeniu przez odpowiednie wspólczynniki wynikajace z regulacji amplitudy przebiegu na ekranie lampy oscyloskopowej war¬ tosc napiecia miedzyszczytowego.Zasadnicza wada tej metody pomiaru jest jej mala dokladnosc zwiazana z charakterystyka os¬ cyloskopu, co zwlaszcza w przypadku pomiaru zdolnosci rozdzielczej glowic magnetycznych nie pozwala na jednoznaczny odczyt wartosci maksy¬ malnych. W tym przypadku niedokladnosc po¬ miaru siega wartosci 50—100% i pomiar jest su¬ biektywny.Znany jest równiez sposób cyfrowego pomiaru 20 25 30 ekstremalnych wartosci parametrów elektrycznych przedstawionych w postaci impulsów elektrycznych za pomoca ukladu elektronicznego, który wykonuje pomiary w sposób automatyczny i zapewnia bez¬ posredni cyfrowy odczyt wyników. Wielkosc mie¬ rzona przychodzaca z przetwornika wartosci para¬ metru mierzonego czyli napiecia na odpowiadajacy jej ciag impulsów zliczana jest w jednym z licz¬ ników natomiast stan drugiego z liczników odpowiada dopelnieniu zliczonej wartosci do pewnego stanu odniesienia. Po zliczaniu kolej¬ nych wartosci parametru mierzonego i porówny¬ waniu ze stanem odniesienia w drugim liczniku pierwszy licznik zawiera najwieksza z wartosci mierzonych wskutek dodawania do pierwszej zmierzonej wartosci róznic miedzy ta wartoscia & nastepnymi, wiekszymi od niej wartosciami pa¬ rametru mierzonego.Powyzszy sposób pomiaru ekstremalnych war¬ tosci jest jednak zbyt skomplikowany a uklad do stosowania tego sposobu rozbudowany ze wzgledu na koniecznosc zastosowania przetwornika war¬ tosci parametru mierzonego na odpowiadajacy jej ciag impulsów oraz powtórzenia pomiaru dla na¬ piec ujemnych a nastepnie sumowania napiecia dodatniego i ujemnego dla przypadku pomiaru na¬ piecia miedzyszczytowego. Ponadto szybkosc po¬ miaru jest ograniczona czestotliwoscia zliczania Zaleta sposobu pomiaru napiecia miedzyszczy¬ towego wedlug wynalazku jest duza dokladnosc 66 04766 047 3 impulsów i przetwarzania informacji, a wiec uklad taki nie bedzie pracowal przy wymaganej duzej czestotliwosci np. 300 kHz.Inny znany sposób do wskazania wartosci eks¬ tremalnych przebiegu napiecia zmiennego oparty jest o uklad pomiarowy, pracujacy na zasadzie rózniczkowania przy pomocy stopnia wzmacniaja¬ cego objetego ujemnym sprzezeniem zwrotnym i czlonu calkujacego. Czlon rózniczkujacy dla czuj¬ nika wartosci ekstremalnej w tym ukladzie posia¬ da wysoka czulosc w okreslonym zakresie zmian sygnalu przy stosunkowo niewielkiej stalej cza¬ sowej inercji, co osiagniete jest przez to, ze cal¬ kujace ujemne sprzezenie zwrotne zawiera czlony nieliniowe i jest silniejsze, gdy sygnal wyjsciowy przekroczy zadana wartosc.Opisany powyzej sposób podobnie jak poprzedni w celu przystosowania do pomiaru napiecia mie- dzyczasteczkowego wymaga znacznego rozbudowa¬ nia ukladu, a sam pomiar jest dosc zlozony.Znana metoda pomiaru napiecia miedzyszczyto- wego o niesymetrycznych pólfalach jest zastosowa¬ nie woltomierza prostownikowego w ukladzie pros¬ towania szczytowego.Woltomierz magnetoelektryczny zbudowany z mi- kroamperomierza i opornika dodatkowego mierzy napiecie bedace suma napiec auasi-stalych, do któ¬ rych naladuja sie za pomoca prostowników kon¬ densatory: jeden w czasie dodatniej pólfali prze¬ biegu napiecia mierzonego, drugi w czasie pólfali ujemnej.Napiecia te sa prawie równe wartosciom ma¬ ksymalnym obu pólfal, przebiegu, a wiec suma ich jest równa napieciu miedzyszczytowemu.Metoda to w przypadku pomiaru kolejnych war¬ tosci ekstremalnych, niewiele rózniacych sie mie¬ dzy soba nie zdaje egzaminu, albowiem mikro- amperomierz nie wskaze dokladnie tych wartosci.Blad pomiaru bedzie wiec wiekszy od dopuszczal¬ nego w tego rodzaju pomiarach.Celem wynalazku jest umozliwienie pomiaru sy¬ metrycznych lub niesymetrycznych napiec mie¬ dzyszczytowych w sposób obiektywny z doklad¬ noscia od 1% do 2%. Zadaniem wynalazku jest opracowanie sposobu realizujacego postawiony cel.Cel ten zostal osiagniety w sposobie pomiaru, w którym mierzona wartosc napiecia miedzyszczy- towego okresla sie jako sume wartosci cechowa¬ nych napiec stalych oraz róznic wartosci miedzy mierzonymi wartosciami szczytowymi a powodu¬ jacymi ich przesuniecie na ekranie lampy oscy¬ loskopowej cechowanymi napieciami stalymi, przy czym róznice te odczytuje sie bezposrednio na ek¬ ranie oscyloskopu jako odleglosc miedzy linia odpowiadajaca zerowej wartosci napiecia wejscio¬ wego a wierzcholkiem krzywej mierzonego napie¬ cia, badz tez tak ustala sie wielkosci cechowanych napiec stalych, ze wierzcholek krzywej mierzo¬ nego napiecia pokrywa sie z linia zerowej wartos¬ ci napiecia wejsciowego, a wielkosc mierzona od¬ czytuje sie bezposrednio z wartosci cechowanych napiec stalych. pomiaru zwlaszcza przy stosowaniu oscyloskopu o duzej czulosci, jednoznaczny odczyt mierzonych wartosci, prostota i obiektywnosc pomiaru, za¬ pewnienie odpowiedniej szybkosci i nieskompliko¬ wany uklad do stosowania tego sposobu.Sposób wedlug wynalazku jest objasniony za 5 pomoca rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat ukladu pomiarowego, fig. 2 przykladowy przebieg mierzonego napiecia, a fig. 3 ksztalt prze¬ biegów na ekranie oscyloskopu podczas pomiaru przykladowego przebiegu napiecia. 10 Przy pomiarze napiec miedzyszczytowych do¬ wolnego przebiegu elektrycznego, np. przebiegu 1 niezbedna jest znajomosc wartosci szczytowych hlmin' hlmax» L2min h2max* Mierzone napiecie U podaje sie na dwa wejs- 15 cia dwustrumieniowego oscyloskopu 2, lacznie z kompensujacymi cechowanymi napieciami stalymi UN1 i UN2 uzyskanymi ze zródel napiec stalych Uwl i Uw2 poprzez cechowane dzielniki 3 i 4. Nas¬ tepnie zwiera sie wejscia oscyloskopu sprzezony- 20 mi wylacznikami 5 i 6 i na ekranie uzyskuje sie linie 7 I 8 odpowiadajace zerowej wartosci napiec wejsciowych.Róznice Ahlt Ahif bht i Sh2 miedzy cechowanymi napieciami stalymi UN1 i UN2 i mierzonymi war- 25 tosciami szczytowymi hlmln, h^, hlmax i h^^ odczytuje sie bezposrednio na ekranie oscylos¬ kopu. Odczyt wartosci cechowanych napiec stalych UN1 i UN2 nastepuje na cechowanych dzielnikach 3 i 4. Mierzone wartosci szczytowe oblicza sie jako 30 sume cechowanych napiec stalych i odpowiednich róznic odczytanych na oscyloskopie to jest: Dobierajac kolejno wielkosc cechowanych na- 35 piec stalych UN1 i UN2 w ten sposób, ze róznice Ahu Ah2 &hi i 6h2 sa równe zero, odczytuje sie mierzone wartosci szczytowe 14^, h2mgx, hlmin i h2min bezposrednio z cechowanych dzielników 3 i 4. 40 Dobierajac odpowiednio czulosc oscyloskopu uzys¬ kuje sie rozróznialnosc róznic Ahlf Ah2, bhlf 8h2 taka, ze sumaryczna dokladnosc pomiaru bedzie praktycznie okreslona dokladnoscia cechowanych napiec stalych UN1 i UN2. 45 PL

Claims (3)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru napiecia miedzyszczytowego, be¬ dacego suma wartosci szczytowych mierzonych przy 50 pomocy oscyloskopu, znamienny tym, ze wartosci szczytowe (hlmax, n2max^ okre^a siS Jako sumy wartosci cechowanych napiec stalych (UN1, Uj^) oraz róznic (^hi, Ah2f) miedzy mierzonymi war¬ tosciami szczytowymi (l4max, n2max^ bedacymi na ekranie oscyloskopu (2) wierzcholkami przebiegu (1) mierzonego napiecia a powodujacymi ich prze¬ suniecie na ekranie cechowanymi napieciami sta¬ lymi (Uni, UN2), badz tez taz ustala sie wielkosc cechowanych napiec stalych (UN1, UN2), ze wierz¬ cholek krzywej mierzonego napiecia pokrywa sie z linia zerowej wartosci napiecia wejsciowego os¬ cyloskopu (2), a mierzona wartosc szczytowa (hlmax lub b2max) stanowi wartosc cechowanych napiec 65 stalych (Un2 lub Uni).KI. 21e, 19/04 66 047 MKP GOlr 19/04 3 Utn Z i t i: i! i! r7 ffg.1 Errata (do opisu 66047) wiersze 29 i 30 w lamie 2 powinny byc zamieszczone przed wierszem 64 w lamie 3.KI. 21e, 19/04 66047 MKP GOlr 19/04 himin hi max fig.

2. Shz ¦kr-fh ,Shi \Ahj_ Ahz 8 fig.

3. Bltk zam. 2173/72 egz. 200 A4 Cena zl 10,— PL