PL65426B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL65426B1
PL65426B1 PL140785A PL14078570A PL65426B1 PL 65426 B1 PL65426 B1 PL 65426B1 PL 140785 A PL140785 A PL 140785A PL 14078570 A PL14078570 A PL 14078570A PL 65426 B1 PL65426 B1 PL 65426B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
microscope
drum
head
carrier
extreme parts
Prior art date
Application number
PL140785A
Other languages
English (en)
Inventor
Chodnicka Lidia
Kowalski Andrzej
StefanParwi
Wisniewski Wojciech
Original Assignee
Instytut Maszyn Matematycznych
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Maszyn Matematycznych filed Critical Instytut Maszyn Matematycznych
Publication of PL65426B1 publication Critical patent/PL65426B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30. VI. 1972 65426 KI. 421*, 5/60 MKP G 11 b 5/60 U CZYTELNIA JjJczedu Palent©w* Wspóltwórcy wynalazku: Lidia Chodnicka, Andrzej Kowalski, Stefan Parwi, Wojciech Wisniewski Wlasciciel patentu: Instytut Maszyn Matematycznych, Warszawa (Polska) Przyrzad do ustawiania glowicy z podparciem aerodynamicznym równolegle do nosnika na bebnie Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do usta¬ wienia glowicy z podparciem aerodynamicznym równolegle do nosnika na bebnie.W dotychczasowy eh rozwiazaniach przyrzadów do ustawiania glowic z podparciem aerodynamicznym równoleglosc glowicy do bebna stwierdza sie droga bezposredniej obserwacji nieuzbrojonym okiem szczeliny podswietlonej równolegla wiazka swiatla.Okreslenie równoleglosci szczeliny jest dokonywane z bardzo mala dokladnoscia zalezna od indywidual¬ nych mozliwosci obserwatora.Celem wynalazku jest wykonanie przyrzadu do okreslenia równoleglosci szczeliny miedzy stopka glowicy a nosnikiem na bebnie który nie posiada wad znanych sposobów i umozliwia dokladne pól¬ automatyczne ustawienie równoleglosci poprzez uklad fotoelementów, wzmacniacza i wskaznika lub wyrównywanie równoleglosci szczeliny przy obser¬ wacji przez okular mikroskopu powiekszonego obrazu diwu skrajnych czesci szczeliny, zapewnia¬ jace szybkie i dokladne ustawienie stopki glowicy równolegle do nosnika na bebnie.Cel ten zostal osiagniety przez wykonanie przy¬ rzadu do ustawienia stopki glowicy z podparciem aerodynamicznym równolegle do nosnika na bebnie, w którym przed obiektywem mikroskopu umiesz¬ czone sa dwa pryzmaty pozwalajace na jednoczesna obserwacje w okularze mikroskopu dwu skrajnych czesci szczeliny miedzy nosnikiem na bebnie a glo¬ wica z podparciem' aerodynamicznym przy czym 10 15 20 25 50 mikroskop posiada plytke swiatlodzielaca, dwa foto- elementy, . przyporzadkowane obrazom skrajnych czesci szczeliny uklad wzmacniajacy i wskaznik.Wynalazek zostanie przedstawiony blizej na przy¬ kladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat przyrzadu do ustawiania stopki glowicy z podparciem aerodynamicznym równolegle do no¬ snika na bebnie.Glowica z podparciem aerodynamicznym 3, utrzy¬ muje sie nad powierzchnia obracajacego sie bebna 2 na skutek wyitworzonej poduszki aerodynamicz¬ nej. Utworzona miedzy powierzchnia bebna a po¬ wierzchnia glowicy szczelina jest oswietlona równo¬ legla wiazka z oswietiacza 1. Po przeciwleglej stro¬ nie szczeliny znajduje sie zespól pryzmatów 4 roz¬ dzielajacy pole widzenia mikroskopu 9 na dwie po¬ lowy tak aby w okularze mikroskopu 9 widoczne byly dwie skrajne czesci szczeliny, zas za pryzma¬ tami umieszczone jest zwierciadlo 5 zmieniajace kierunki biegu promieni do obiektywu mikroskopu 6. Za obiektywem w korpusie mikroskopu 7 umiesz¬ czona jest plyitka swiatlodzielaca 8 rozdzielajaca bieg promieni od obiektywu mikroskopu do oku- lara 9 i dwu fotoelementów 10.W okularze miakroskopu obserwowany jest roz¬ dzielony na polowy obraz z dwoma skrajnymi cze¬ sciami szczeliny. W przypadku braku nierównole- glosci stopki glowicy do nosnika na bebnie skrajne obrazy szczeliny sa sobie nierówne, a regulacja równoleglosci sprowadza sie do zrównania szero- 6542665426 kosci szczelin na obu czesciach widzianego obrazu w okularze mikroskopu.Dla pólautomatycznego okreslenia równoleglosci szczeliny sluza dwa fotoelementy 10, polaczone w uklad przeciwsobny, umieszczone w korpusie ¦mikroskopu tak, ze kazdy z nich przyporzadkowany jest obrazowi jednej ze skrajnych czesci szczeliny.W przypadku gdy skrajne czesci szczeliny sa nie¬ równe, na foto element ach powstaje róznica napiec, która po wzmocnieniu ukladem 11 podana jest na wskaznik 12.Wychylenie strzalki wskaznika wskazuje na nie- równoleglosc ustawienia glowicy. Zerujac wychy¬ lenie wskaznika doprowadza sie glowice do polo¬ zenia równoleglego w stosunku do nosnika. 10 PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do ustawiania stopki glowicy z pod¬ parciem aerodynamicznym równolegle do nosnika na bebnie, skladajacy sie z oswietlacza, bebna i mi¬ kroskopu, znamienny tym, ze przed obiektywem ¦mikroskopu (6) -umieszczone sa dwa pryzmaty (4) lub zespól zwierciadel, pozwaHajacy na jednoczesna obserwacje w okularze mikroskopu dwu skrajnych czesci szczeliny miedzy nosnikiem na bebnie (2) a glowica z podparciem aerodynamicznym (3) przy czym mikroskop jest zaopatrzony w plytke swiatlo- dzielaca (8), dwa fotoelementy (10), przyporzadko¬ wane obrazom skrajnych czesci szczeliny, i pola¬ czone poprzez uklad wzmacniajacy (11) ze wskazni¬ kiem (12). Errata Na str. 2, w lamie 3, wiersz 3 od góry jest: równoleglosci powinno byc: nierównoleglosci KZG 1 zam. 135/72 — 190 Cena zl 10.— PL PL
PL140785A 1970-05-21 PL65426B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL65426B1 true PL65426B1 (pl) 1972-02-29

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3529528A (en) Photoelectric precision camera range finder with optical verification
US4312574A (en) Phototopometer
US4841326A (en) Apparatus for detecting the focus adjusted state of an objective optical system
US20030112504A1 (en) Arrangement for confocal autofocussing
PL65426B1 (pl)
Su et al. A new technique for measuring the affective focal length of a thick lens or a compound lens
US4360256A (en) Single reflex camera with an optoelectronic distance meter mounted in the vicinity of the view finder eyepiece
JPH0522882B2 (pl)
JP3144155B2 (ja) 焦点検出装置
JPS6113566B2 (pl)
US10440256B2 (en) Surgical microscope and method implemented with the surgical microscope
JPH05264894A (ja) 焦点検出装置
US5166718A (en) Finder optical system
US20040238730A1 (en) Fluorescence fluctuation microscope analytical module or scanning module, method for measurement of fluorescence fluctuation and method and device for adjustment of a fluorescence fluctuation microscope
JP3645625B2 (ja) 顕微鏡自動焦点検出方法及び顕微鏡自動焦点検出装置及びそれを用いた顕微鏡
JPH052131A (ja) 焦点検出装置
JPS59133512A (ja) 焦点検出装置
JP2831388B2 (ja) パッシブ型オートフォーカス装置の測距機構
JP3123765B2 (ja) 合焦位置検出装置
PL246234B1 (pl) Konfokalny system obrazujący oraz zastosowanie dwupłaszczowego dzielnika falowodowego
JP3703153B2 (ja) 焦点検出装置
JPH02253223A (ja) 焦点検出装置を有した―眼レフカメラ
JP2600823B2 (ja) 焦点検出装置
JP2691265B2 (ja) 眼鏡レンズ測定装置
JPH03604B2 (pl)