PL65022B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 20.VI.1972 65022 KI. 42 h, 15/02 MKP G 02 b, 21/26 UKD Wspóltwórcy wynalazku: Adam Piech, Wladyslaw Winiarz Wlasciciel patentu: Zaklady Radiowe „Diora", Dzierzoniów (Polska) Stolik do urzadzen mierniczych, zwlaszcza mikroskopów Przedmiotem wynalazku jest stolik do urzadzen mier¬ niczych zwlaszcza mikroskopów zaopatrzonych w dodat¬ kowy stolik pomiarowy sluzacy do szybkiego i precyzyj¬ nego odnajdywania srodka przedmiotów, których linia odniesienia oparta jest na kole, a nastepnie do ustawia¬ nia tego srodka w osiach glównych przyrzadu lub w in¬ nym okreslonym miejscu.Znane przyrzady jak na przyklad mikroskopy pozwa¬ laja na centryczne ustawienie przedmiotu, którego linia odniesienia okreslona jest otworem, przez wlozenie do niego czopu stozkowego przystosowanego do umieszcze¬ nia go w srodkowym otworze stolika przyrzadu.Jezeli element mierzony posiada juz czop lub sam go stanowi, to wtedy musi otrzymac nasadzona tuleje z od¬ powiednim stozkiem umozliwiajacym wlozenie go w obrotowy stolik mikroskopu. Ponadto w licznych przy¬ padkach skomplikowane uksztaltowanie lub otwór nie¬ przelotowy przedmiotu nie pozwala na stosowanie do¬ datkowych elementów pomocniczych i wówczas mierzacy zmuszony jest do recznego pracochlonnego i maloprecy- zyjnego ustawiania obiektu i wielokrotnego sprawdza¬ nia przez obrót stolika, czy wzgledem jego osi obrotu srodek przedmiotu umieszczony jest wspólsrodkowo lub w innym okreslonym miejscu.Jak wynika z powyzszego opisu powazna wada stoso¬ wanych stolów mierniczych jest niezbedne dorabianie wielu precyzyjnych tulei lub czopów, których mozliwe do uzyskania tolerancje wykonania i zwiazane z tym nieuniknione luzy, wprowadzaja pewne bledy pomia¬ rowe. 10 15 20 25 30 2 Dalszym utrudnieniem szczególnie przy stosunkowo duzych srednicach przedmiotu badanego jest znikanie z pola widzenia krawedzi co stwarza wyjatkowe trudnosci podczas korygowania polozenia, którego poprawnosc i szybka korekta zalezy wylacznie od wprawy oraz do¬ swiadczenia pracownika wykonujacego pomiar.Dodatkowa powazna wada wystepujaca przy przepro¬ wadzaniu kontroli na dotychczas stosowanych urzadze¬ niach jest systematyczne uszkadzanie dokladnie obrobio¬ nych powierzchni roboczych drogich przyrzadów mierni¬ czych.Celem wynalazku jest wyeliminowanie wymienionych powyzej niedogodnosci i wad. Postawione zadanie zo¬ stalo rozwiazane przez opracowanie odpowiedniej kon¬ strukcji stolika mierniczego.Istota wynalazku polega na zaopatrzeniu stolika przy¬ rzadu w dodatkowy stolik pomiarowy posiadajacy na powierzchni roboczej naniesione koncentryczne okregi celownicze sluzace do wstepnego ustawienia mierzonego przedmiotu tak, aby obraz jego krawedzi byl zawsze wi¬ doczny w polu obserwacji, oraz wskazniki polozenia katowego stolika pomiarowego pozwalajace na okresle¬ nie kontrolnego ruchu obrotowego niezbednego do zrea¬ lizowania pomiaru metoda superpozycyjna a takze do przeprowadzenia korekty polozenia przedmiotu spraw¬ dzanego. Ponadto stolik jest wyposazony w sruby umo¬ zliwiajace jego bezluzowy przesuw krzyzowy.Stolik wedlug wynalazku odznacza sie prosta kon¬ strukcja oraz latwa obsluga, a jego kola celownicze za- 6502265022 pewniaja stala widocznosc przedmiotu tak, ze jego kra¬ wedzie nie znikaja z pola widzenia przy pólobrocie kon¬ trolnym.Konstrukcja stolika wedlug wynalazku nie powoduje wprowadzenia dodatkowych bledów pomiarowych, gdyz odszukanie srodka przedmiotu i sprowadzenie go w za¬ dane miejsce jak na przyklad do osi obrotu stolika mi¬ kroskopu jest precyzyjne, a wskazniki polozen kato¬ wych sluzace do pomiaru odchylek polozenia i prze¬ prowadzania korekt ustawienia obiektu mierzonego wplywaja na uzyskanie wystarczajacej dokladnosci prze¬ suwu równoleglego do osi przyrzadu mierniczego z uwa¬ gi na odpowiednio wykasowane luzy wszystkich elemen¬ tów ruchomych urzadzenia.Takie cechy rozwiazania konstrukcyjnego stolika unie¬ zalezniaja wynik pomiaru od sprawnosci subiektywnej mierzacego, zatem zawsze prowadza do zmniejszenia bledów pomiarowych, a takze likwiduja koniecznosc wy¬ konywania pomocniczych tulei lub czopów o róznych wielkosciach srednic, jak równiez usuwaja mozliwosc uszkadzania precyzyjnych powierzchni roboczych przy¬ rzadów.Stolik wedlug wynalazku w przykladzie wykonania przedstawiony jest na rysunkach, na których fig. 1 przed¬ stawia stolik w widoku z góry, fig. 2 stolik w przekroju osiowym, a fig. 3 przedstawia wykres geometrycznej za¬ leznosci superpozycyjnej zasady pomiaru.Stolik wedlug wynalazku stanowi przedmiotowy sto¬ lik 3 zaopatrzony w dodatkowy stolik pomiarowy 2 po¬ siadajacy na powierzchni roboczej okregi 4 sluzace do wstepnego centrycznego ustawienia przedmiotu. Na po¬ wierzchni pomiarowego stolika 2 znajduja sie równiez wskazniki 6 niezbedne do sprawdzenia jego polozenia katowego podczas wykonywania kontrolnego ruchu pól- obrotowego pozwalajacego na wyliczenie przesuniec osiowych dla skorygowania polozenia przedmiotu. Sto¬ lik zaopatrzony jest ponadto w sruby mikrometryczne 5 przeznaczone do precyzyjnego naprowadzenia srodka przedmiotu w os stolu urzadzenia mierniczego.Przystepujac do badan kontrolowany przedmiot 1 usta¬ wia sie wstepnie na dodatkowym stoliku pomiarowym 2 wmontowanym w stól mikroskopu 3 przy czym istnieje male prawdopodobienstwo, ze srodek 01 przedmiotu 1 znajdzie sie dokladnie w osiowym punkcie 02 stolika 2 5 z uwagi na przypadkowosc tego ustawienia. Obserwujac styczne do krawedzi badanego przedmiotu 1 odczytuje sie rysy krzyza pajeczego KX oraz KY, a po kontrol¬ nym pólobrocie stolika 2 wraz z przedmiotem 1, którego srodek z punktu 01 przemiesci sie w punkt 011, notuje 10 sie polozenie stycznych KX1 oraz KY1.Odcinek 01—02 równy przypadkowemu odstepowi srodków przedmiotu 1 i stolika 2 okresla sie w ukladzie wspólprzednych przy pomocy odcinków dX oraz dY.Stosujac zasade superpozycji po odczytaniu punktów X2 15 oraz Xl, oblicza sie odleglosc dX, która jest równa po¬ lowie wartosci róznicy X2 — Xl. Taki sam rachunek dotyczy odcinka dY. W oparciu o wyliczone odstepy dX oraz dY nalezy skorygowac polozenie przedmiotu tak, aby srodek 01 przedmiotu 1 pokryl sie dokladnie z osio- 2o wym punktem 02 stolika przyrzadu pomiarowego 3.Korekte polozenia elementu mierzonego mozna rów¬ niez przeprowadzac bez pomiarów stosujac przyblizony optyczny podzial szacunkowy okreslajacy polówki od¬ cinków odleglosci pomiedzy krawedzia przedmiotu a 25 rysami krzyza pajeczego. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Stolik do urzadzen mierniczych zwlaszcza mikrosko- 30 pów, zaopatrzony w stolik pomiarowy, znamienny tym, ze na powierzchni roboczej stolika pomiarowego (2) na¬ niesione sa koncentrycznie okregi celownicze (4) sluzace do wstepnego centrycznego ustawienia badanego przed¬ miotu (1), oraz wskazniki (6) polozenia katowego stoli- 35 ka pomiarowego (2) umozliwiajace przeprowadzenie ko¬ rekty polozenia przedmiotu (1), znajdujacego sie na sto¬ liku pomiarowym (2), zaopatrzonym w sruby (5) umozli¬ wiajace bezluzowy jego przesuw krzyzowy.KI. 42 h, 15/02 65022 MKP G 02 b, 21/26 SS^as?*^ Y Y2 Yl i KY Kfi /S j // i / \' 1$ k \r otii A Vv "i ¦ • * 9 ) iKX1 f7v 3SY 1 %y (1 ; KX tt X Fig.3 PL PL