PL65010B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 25.Y.1972 KI. 42 b, 11 MKP G Ol b 7/06 UKD CZYTELNIA Urzedu Patentowego Wspóltwórcy wynalazku: Wojciech Winiarski, Henryk Mozyszek Wlasciciel patentu: Instytut Wlókiennictwa, Lódz (Polska) Urzadzenie do pomiaru ciezaru powierzchniowego plaskich ma¬ terialów wlókienniczych i innych bedacych dielektrykami Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do po¬ miaru ciezaru powierzchniowego plaskich mate¬ rialów wlókienniczych i innych bedacych diele¬ ktrykami.Przy wytwarzaniu z luznych wlókien plaskich materialów wlókienniczych, jak na przyklad runa, tasmy i tym podobnych, konieczna jest ciagla kon¬ trola ciezaru jednostki powierzchni przerabianego materialu. Do powyzszego celu stosowane sa urza¬ dzenia elektropojemnosciowe lub radioizotopowe.Pierwsze z nich okreslaja ciezar jednostki po¬ wierzchni na podstawie pomiaru bardzo malych zmian pojemnosci kondensatora czujnikowego, w którym dielektrykiem jest powietrze i kontrolo¬ wany material. Za pomoca tych urzadzen wyzna¬ cza sie sredni ciezar jednostki powierzchni z ca¬ lej szerokosci badanego materialu przesuwajacego sie pomiedzy okladzinami kondensatora czujniko¬ wego.Urzadzenia elektropojemnosciowe posiadaja te wade, ze pomiar zmian pojemnosci czujnika wy¬ wolanych zmiana ciezaru przypadajacego na jed¬ nostke powierzchni dielektryka przesuwajacego sie przez czujnik wykonywany jest skomplikowana metoda dudnieniowa, pociagajaca za soba stoso¬ wanie skomplikowanego ukladu elektrycznego wymagajacego stosowania duzej liczby urzadzen elektronicznych, co obniza jego wspólczynnik nie¬ zawodnosci.Urzadzenia radioizotopowe umozliwiaja wyzna- 2 czenie ciezaru powierzchniowego przez pomiar ab¬ sorpcji promieniowania po jego przejsciu przez ba¬ dany material. Urzadzenia te pozwalaja okreslic ciezar jednostki powierzchni jedynie punktowe, a 5 nie w calej szerokosci wytwarzanego wyrobu.Celem wynalazku jest usuniecie wad znanych urzadzen.Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie urzadzenia elektrycznego o ukladzie mostkowym 10 posiadajacym w jednej swej galezi pojemnoscio¬ wy czujnik, skladajacy sie z dwóch kondensato¬ rów o jednakowych pojemnosciach majacych ekranowane okladziny nieuziemione. Kondensatory te sa obrócone wzgledem siebie o 180°, tak ze 15 w jednym z nich okladzina uziemiona znajduje sie u góry a nieuziemiona ekranowana u dolu, natomiast w drugim odwrotnie. Dzieki takiemu ukladowi kondensatorów wskazania miernika urzadzenia nie sa uzaleznione od odleglosci prze- 20J biegu kontrolowanego materialu miedzy okladzi¬ nami, a zatem uzyskuje sie za pomoca tego urza¬ dzenia prawidlowe pomiary bez wzgledu na to, czy material przechodzi przez srodek odstepu miedzy okladzinami, czy tez w róznych odleglos- 25 ciach od tych okladzin. Natomiast zastosowanie w czujniku ekranowania okladzin nieuziemionych eliminuje szkodliwy dla pojemnosci roboczej czuj^ nika i równowagi ukladu mostka, wplyw pojem¬ nosci miedzy tymi okladzinami a obudowa urza- 30 <*zenia. 65 01065 010 Urzadzenie to ma okolo piec razy wieksza czu¬ losc w porównaniu z dotychczas znanymi ukla¬ dami, co ma szczególnie wazne znaczenie dla po¬ miaru materialów puszystych, na przyklad runa, gdzie wspólczynnik wypelnienia przestrzeni mie¬ dzy okladzinami kondensatora stanowiacego czuj¬ nik jest bardzo maly. Odchylenie wskazówki mier¬ nika w znanych dotychczas urzadzeniach uzysku¬ je sie przy wspólczynniku wypelnienia wynosza¬ cym 2%, podczas gdy w urzadzeniu wedlug wyna¬ lazku ten sam efekt uzyskuje sie przy wspól¬ czynniku wypelnienia równym okolo 0,4%. Ponadto koszt budowy urzadzenia wedlug wynalazku jest znacznie mniejszy.Przedmiot wynalazku uwidoczniony jest w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schematycznie uklad elektrycz¬ ny urzadzenia, a fig. 2 wchodzacy w uklad po¬ miarowy czujnik pojemnosciowy w przekroju w widoku perspektywicznym.Uklad pomiarowy urzadzenia wedlug wynalazku stanowi mostek o galeziach AC, AE, BE i BD wyposazony w pojemnosciowy czujnik 12, trzy kondensatory 2, 3 i 4, jeden .kondensator 5 o re¬ gulowanej pojemnosci oraz opornik 1 z zaciskiem regulacyjnym 11. Pojemnosciowy czujnik 12 wla¬ czony jest w galaz BE, kondensator 2 w galaz BD, kondensator 3 w galaz AC, kondensator 5 w galaz AE, natomiast kondensator 4 w dodatko¬ wa galaz laczaca elektrody ekranujace 6 pojem¬ nosciowego czujnika 12 z punktem A mostka.Opornik 1 umieszczony jest miedzy galeziami AC i BD i polaczony jest z nimi w punktach C i D. Pojemnosciowy czujnik 12 sklada sie z dwóch kondensatorów 13, o jednakowej pojemnosci, któ- 35 rych okladziny 9 dolaczone do punktu E sa uziemione. Kondensatory te sa obrócone wzgledem siebie o 180° tak, ze w jednym z nich okladzina uziemiona jest u góry, a okladzina nieuziemiona u dolu, natomiast w drugim odwrotnie. Kondensatory 13 maja okladziny nieuziemione, ekranowane ele¬ ktrodami 6 polaczonymi poprzez kondensator 4 z punktem A mostku.Okladziny 7 jak i okladziny 9 kondensatorów 1S sa ulozone na izolacyjnych plytach 10 i osloniete na zewnatrz uziemiona metalowa obudowa 8. Ekra¬ nujace elektrody, w które zaopatrzone sa plytki nieuziemione kondensatorów eliminuja w czujniku oddzialywanie pojemnosci miedzy tymi plytkami a obudowa urzadzenia. Uklad mostku jest uziemiony w punkcie E. Przed wprowadzeniem badanego ma¬ terialu pomiedzy plyty izolacyjne 10 czujnika, uklad nalezy doprowadzic do równowagi przesuwajac za¬ cisk 11 w oporniku 1 i zmieniajac pojemnosc kon¬ densatora 5. Pomiaru ciezaru badanego materialu dokonuje sie za pomoca opisanego urzadzenia zna¬ na metoda odchylowa. PL PL PL PL PL PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru ciezaru powierzchniowego plaskich materialów wlókienniczych i innych beda¬ cych dielektrykami, którego uklad pomiarowy sta¬ nowi mostek z czterema kondensatorami, oporni¬ kiem i czujnikiem pojemnosciowym, znamienny tym, ze pojemnosciowy czujnik pomiarowy (12) sklada sie z dwu symetrycznie obróconych o 180° kondensatorów plaskich, w których okladziny nie¬ uziemione (7) sa ekranowane elektrodami (6). ^ \L Figi. F/g.

2. Bltk zam. 453/72 200 egz. Cena zl 10,— PL PL PL PL PL PL PL