PL64554B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 10.IIL1972 64554 KI. 42 h, 17/02 MKP G 01 j, 1/22 UKD Wspóltwórcy wynalazku: Stefan Mróz, Stanislaw Kaszczyszyn Wlasciciel patentu: Uniwersytet Wroclawski im. Boleslawa Bieruta, Wroclaw (Polska) Mikrofotometr punktowy Przedmiotem wynalazku jest mikrofotometr punktowy przeznaczony do pomiaru natezenia swiatla pochodzacego z bardzo slabych zródel, umieszczonych w ten sposób, ze badana powierzch¬ nie widac z obiektywu fotometru w malym ka¬ cie brylowym. Przyrzad sluzy do wykonywania pomiarów wzglednych i znajduje zastosowanie szczególnie przy badaniu technika dyfrakcji po¬ wolnych elektronów szybko przebiegajacych zja¬ wisk fizycznych i fizykochemicznych.Mikrofotometr punktowy nadaje sie równiez do wykonywania pomiarów natezenia promieniowa¬ nia podczerwonego, widzialnego lub ultrafioletowe¬ go wysylanego przez poszczególne fragmenty nie¬ jednorodnie emitujacych powierzchni.Dotychczas do przeprowadzania wymienionych wyzej pomiarów brak jest odpowiedniego przy¬ rzadu.Mikrofotometr punktowy wedlug wynalazku ma konstrukcje czesciowo zblizona do przyrzadów uzy¬ wanych w astronomii do pomiarów jasnosci gwiazd. Zasada dzialania tych przyrzadów pole¬ ga na umieszczeniu w plaszczyznie ogniskowej obiektywu lunety astronomicznej przeslony z nie¬ wielkim otworem, do którego kierowane jest swiatlo pochodzace od wytranej gwiazdy. Za prze¬ slona umieszczony jest fotopowielacz, prad któ¬ rego jest proporcjonalny do natezenia swiatla.Przyrzady tego rodzaju sa wystarczajace do po¬ miaru natezenia swiatla pochodzacego od zródel 10 25 30 nieruchomych lub poruszajacych sie, jak na przy¬ klad gwiazdy, w scisle okreslony i regularny spo¬ sób, w rozumieniu ruchu dobowego niebosklonu.W przypadku jednak, gdy zródlo swiatla porusza sie w sposób z góry nieprzewidziany, wystepuje niemozliwosc jednoczesnej obserwacji pola widze¬ nia i pomiaru natezenia swiatla, co stanowi po¬ wazna niedogodnosc.Sytuacja taka zachodzi przy obserwacji dyfrak¬ cji powolnych elementów metoda, w której wiaz¬ ki dyfrakcyjne tworza jasne plamki na ekranie luminescencyjnym, a natezenie swiatla tych pla¬ mek jest miara intensywnosci odpowiednich iwia- zek dyfrakcyjnych. Plamki te poruszaja sie po ekranie przy zmianie warunków dyfrakcji i w trakcie tego ruchu zachodzi koniecznosc mierze¬ nia natezenia pochodzacego od nich swiatla.Celem wynalazku jest umozliwienie wzgledne¬ go pomiaru natezenia swiatla pochodzacego od slabych i widzianych w malym kacie brylowym ruchomych zródel, zadaniem zas wynalazku jest zbudowanie urzadzenia optyczno-elektronicznego przeznaczonego do osiagniecia tego celu.Istota wynalazku polega na umieszczeniu na osi optycznej lunety, pomiedzy jej obiekytwem a oku¬ larem, calkowicie odbijajacego pryzmatu, na któ¬ rego powierzchni odbijajacej naklejony jest maly pryzmat, po stronie przeciwleglej zas w stosun¬ ku do obiektywu lunety za pryzmatami umieszczo¬ ny jest fotopowielacz. W mikrofotometrze przy- 64 554-'%, j §' i: * stasowanym do dokonywania pomiarów nateze¬ nia promieniowania podczerwonego lub ultrafio¬ letowego w czesci okularowej lunety umieszczo¬ ny Jest przetwornik 'badanego promieniowania na swiatlo widzialne.W oflntidflie mikrofotometru zamiast ukladu pryzmatów do zalamania osi optycznej lunety za¬ stosowano plaskie zwierciadlo, którego czesc cen¬ tralna jest pozbawiona warstwy odbijajacej.W okularze lunety widoczne jest cale pole wi¬ dzenia obiektywu za wyjatkiem niewielkiego srod¬ kowego fragmentu, z którego swiatlo poprzez ma¬ ly Ubtetft&t lub srodkowa nieodbijajaca czesc zwierciadla przechodzi do fotopowielacza. Dzieki temu patrzac w okular mozna prowadzic lunete tak, aby do fotopowielacza docieralo ciagle swiatlo z tego samego, chocby nawet ruchomego zródla.Szczególna zaleta mikrofotometru punktowego jest prosta konstrukcja ukladu celowania, jego zwartosc i lekkosc jak i latwosc obslugi w za¬ kresie jednoczesnego celowania i pomiaru nate¬ zenia swiatla pochodzacego z poruszajacych sie zródel.Na zalaczonym rysiinliu graedatswióny jest sche¬ mat optyczny mikrofotometru punktowego wedlug wynalazku.Mikfefotolfletf punktowy Wyposazony jest w lu¬ nete. Na osi optycznej lunety pomiedzy jej obiek¬ tywem 1 a okularem 2 umieszczony jest calkowi¬ cie odbijajacy pryzmat 3, dzieki któfetifni os o^ tyczna zalamana jest pod katem prostym. Na po¬ wierzchni odbijajacej pryzmatu 3 naklejony jest za pomoca balsamu kanadyjskiego maly pryz¬ mat 4. Po stronie przeciwleglej w stosunku do obiektywu i lUnety umieszczony Jest *óto£6Wie- lacfc S zWi*óedny fotokatoda kii fcryzmatatti 8, 4* Przystosowanie ntikroiótómetru* do* pomiarów natezfcftia tfr^ffiiehiGwania W Eadt&erwieni lub ul¬ trafioletowego £bl3ga na uiytiu do wykohariia eteniehtów optyczriyfch materialów przepuszczaja¬ cych te rodzaje flr&hie^iów&hia na przyklad dla podczerwieni, w zaleznosci od dfiigdsei fali, szkla, kWafcu lufo fitiofku litu, a dla ultrafioletu — kWarcii. frie uwidoczniony ha rysurikli przetwornik badatlfego promieniowania na swiatlo Widzialne umieszczony jest w czesci Okularowej lunety.W odmianie1 ntikrofotóiiielru zamiast Ukladu ftryzhlatóW 3, 4 do zalaitiania osi optycznej lune¬ ta jest zaopatrzona W plaskie zwierciadlo, które¬ go CzeSc centralna jest pozbawiona Warstwy od¬ bijajacej. W tyrii przypadku slaby- ofctfaa badane¬ go zfódta SWiatla jest Widoczny w okularze 2 wskutek Odbicia SWiatla od oczyszczonej z war¬ stwy odbijajacej powierzchni szkla, Co ulatwia ce- l&waiiie. Natomiast straty swiatla sA mniejsze w rmwias&niu z ukladam pryzmatów 3, 4; Dzialanie mikfdfotdfnetfU piiUktowegd Wedlug Wynalazku pfzeo!staW{tfh<* jilst ponizej. swiatle ad dweeh bliska sietie peteionyeh zlss- •4 594 10 15 20 $0 35 40 45 50 55 del 6 i 7 wpada do obiektywu 1 lunety i nastep* nie pada na powierzchnia odbijajaca calkowicie odbijajacego pryzmatu 3. Swiatlo 2& zródla 6 pa¬ da na te powierzchnie w miejscti, w~ którym na¬ klejony jest maly pryzmat 4. Nie doznaje wiec ono calkowitego wewnetrznego odbicia w pryzma¬ cie 3 i bez zalamania poprzez pryzmat 4 przecho¬ dzi do fotopowielacza 5 wywoluja^ w nim prad proporcjonalny do swego natezenia. Swiatlo z nie lezacego na osi lunety zródla 7 odbija sie calko¬ wicie w pryzmacie 3 i Wpada do Okalatii 2 two¬ rzac w nim obraz zródla 7 swiatla.Bieg promieni ± dowolnego zródla lezacego po¬ za srodkiem pola widzenia jest podobny jak dla zródla 7. W okularze Z widoczne jest zatem cale pole widzenia za wyjatkiem je^b Centralnej czesci, swiatlo z której jest kierowane do fdto|óWiela- efta 5. Rozmiary Centralnej czesci pola widzenia, swiatlo z której jest kierowane do fotopowiela¬ cza 5 i nie dochodzi do Okularu 2, zaleza od roz¬ miarów pryzmatu 4 i od ogniskowej obiektu i.Rozmiary te w zaleznosci od potrzeb moga byc W znacznych MHmlcagh fegUfewam Wycelowanie fotometru punktowego aa badane zródlo swiatla pol$ga na takim ustawieniu przyrzadu, alby zródlo to znalazlo sie w srodku pola widzenia i nie bylo Widoczne w okularze 2; W przypadku zastosowania przewidzianego od¬ miana wynalazku zwierciadla zamiast ukladu pryz- ftlatóW i, 4* przy wycelowaniu mikrofotometru punktowego na badane zródlo swiatla obraz te¬ go zródla nie znika w okularze 2 calkowicie, jest jednak bardzo slaby, gdyz otrzymuje sie go na skutek odbicia swiatla Od tej czesci powierzchni zwierciadla, z któfej usunieto Warstwe odbijaja- PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Mikfofotoriietr purlktoWy, tonamlfcfliiy tsttli, ze na osi optycznej hitiety, pomiedzy jej obiektywem (1) a okularem (t) Umieszczony jest calkoWicie od¬ bijajacy pryzmat (3), na którego powierzchni od¬ bijajacej naklejony jest maly pryzmat (4), po stronie przeciwleglej zas W stosunku dó obiekty¬ wu (1) za Wspomnianymi pryzmatami (3, 4) umiesz¬ czony j6st fotopowielacz (&).

2. Mikrofotometr wedlug zastrz. 1, przystosowa¬ ny do pomiarów natezenia promieniowania pod¬ czerwonego lub ultrafioletowego, znamienny tym, ze w czesci okularowej lunety umieszczony jest przetwornik badanego promieniowania na swiatlo widzialne. 3; Odmiana niikrófotemetru Wedlug zastrz. 1, bez ukladu pryzmatów zh&mittlfta tym, ze do zalama¬ nia bsl 0gtycfcfi£j Ml§ta zftbp&trz^na jest w plas¬ kie zWi6fel&a&; k!5f(^ eBCSC centralna jest poz¬ bawiona warstwy odbijajacej;KI. 42 h,17/02 64554 MKP G 01 j, 1/22 PL PL