PL64242B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 18.111.1969 (P 132 407) 5.1.1972 64242 KI. 421,13/04 MKP G 01 n, 15/02 CZYTELNIA U&jetu Polatanego Folskll) Bnwfc;:- «| Latwe) Wspóltwórcy wynalazku: Adam Macura, Stanislaw Cierpisz, Kazimierz Wróbel, Janina Tokarz Wlasciciel patentu: Glówny Instytut Górnictwa, Katowice (Polska) Sposób automatycznego oznaczania procentowego udzialu poszcze¬ gólnych frakcji ziarn w materialach sypkich, na przyklad w weglu Wynalazek dotyczy sposobu automatycznego oznacza¬ nia procentowego udzialu poszczególnych frakcji ziarn w materialach sypkich, na przyklad w weglu.W celu poprawnego prowadzenia niektórych proce¬ sów technologicznych, jak na przyklad wzbogacania we¬ gla w urzadzeniach wzbogacajacych, konieczna jest zna¬ jomosc skladu ziarnowego surowca. Dotychczas pomiar skladu ziarnowego wegla polega na recznym przesiewa¬ niu sporadycznie pobieranych próbek materialu na si¬ tach o róznych przekrojach oczek i wazeniu poszczegól¬ nych frakcji. Otrzymane tym sposobem wyniki pomiaro¬ we odnosily sie tylko do pobranej próbki i nie odzwier¬ ciedlaly stanu faktycznego. Poniewaz pomiar ten sluzy miedzy innymi do okreslenia jakosci pracy urzadzen przeróbczych, kontrola jakosci pracy tych urzadzen jest wyrywkowa, a wyniki otrzymuje sie z tak duzym opóz¬ nieniem, ze nie pozwalaja one wplywac na zmiane pracy urzadzen.Celem wynalazku jest umozliwienie otrzymania na¬ tychmiastowej informacji o udziale poszczególnych klas ziarnowych w calym badanym materiale.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze mozliwie najciensza warstwe materialu, oswietlona naturalnym lub sztucznym swiatlem analizuje sie stosujac wybieranie li¬ niowe, jednokierunkowe za pomoca analizujacej lampy, przeksztalcajacej obraz optyczny w impulsy pradowe o róznej czestotliwosci, charakteryzujacej ilosci i wielko¬ sci ziarn w poszczególnych, analizowanych kolejno li¬ niach obrazu. Wyjsciowe impulsy pradowe wzmacnia sie i rozdziela za pomoca pasmowych filtrów na okreslone 10 15 20 23 30 pasma czestotliwosci, których ilosc jest dobierana do¬ wolnie w zaleznosci od ustalonych klas ziarnowych, a nastepnie kazde pasmo czestotliwosci calkuje sie i otrzymane w ten sposób przebiegi dla kazdego pasma dzieli sie przez sume wszystkich przebiegów tak, aby otrzymac procentowy wskaznik udzialu poszczególnych frakcji w badanym obszarze materialu.Sposób wedlug wynalazku umozliwia prowadzenie pomiarów i analizowanie skladu ziarnowego materialu w sposób ciagly, bez pobierania prób, co znacznie skra¬ ca czas otrzymywania wyników pomiarowych. Pomiar jest calkowicie zautomatyzowany a otrzymane natych¬ miast wyniki, pozwalaja ingerowac w proces technolo¬ giczny.Uklad do stosowania sposobu wedlug wynalazku przedstawiony na rysunku sklada sie z analizujacej lam¬ py 1 umieszczonej nad analizowanym ziarnistym mate¬ rialem 2. Material 2 jest rozmieszczony na plaskim pod¬ lozu 3 i oswietlony sztucznym lub naturalnym swiatlem.Podloze 3 moze stanowic równiez ruchoma tasma, na której przemieszcza sie material 2. Material 2 analizuje sie za pomoca analizujacej lampy 1, stosujac wybieranie liniowe, jednokierunkowe, stosowane powszechnie w technice telewizyjnej.Obraz optyczny materialu 2 zostaje przeksztalcony w pradowe impulsy o róznej czestotliwosci, charakteryzu¬ jacej ilosc i wielkosc ziarn w poszczególnych, analizo¬ wanych kolejno liniach obrazu. Wyjsciowe pradowe im¬ pulsy sa wzmacniane przez wzmacniacz W i rozdzielane za pomoca pasmowych filtrów Fi—F4 na okreslone €424264242 pasma czestotliwosci, których ilosc jest dobierana do¬ wolnie w zaleznosci od ustalonych klas ziarnowych.Kazde pasmo czestotliwosci jest calkowane przez calku¬ jace uklady X%—Z4.Otrzymane w ten sposób przebiegi sa podawane z jed¬ nej strony do sumujacego ukladu S, a z drugiej do ukla¬ dów Zi/S—Z4/S w których zcalkowane przebiegi kazde¬ go pasma sa dzielone przez sume S wszystkich przebie¬ gów tak, aby na wyjsciu otrzymac procentowy wskaznik udzialu poszczególnych frakcji w badanym obszarze ma¬ terialu. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób automatycznego oznaczania procentowego udzialu poszczególnych frakcji ziarn w materialach syp- 10 15 kich, na przyklad w weglu, znamienny tym, ze cienka warstwe materialu oswietlona naturalnym lub sztucz¬ nym swiatlem analizuje sie stosujac wybieranie liniowe, jednokierunkowe za pomoca analizujacej lampy, prze¬ ksztalcajacej obraz optyczny w impulsy pradowe o róz¬ nej czestotliwosci, charakteryzujacej ilosci i wielkosci ziarn w poszczególnych, analizowanych kolejno liniach obrazu, nastepnie wyjsciowe impulsy pradowe wzmacnia sie i rozdziela za pomoca pasmowych filtrów na okre¬ slone pasma czestotliwosci, których ilosc jest dobierana dowolnie w zaleznosci od ustalonych klas ziarnowych, a nastepnie kazde pasmo czestotliwosci calkuje sie "i otrzymane przebiegi dla kazdego pasma dzieli sie przez . sume wszystkich przebiegów, tak aby otrzymac procen¬ towy wskaznik udzialu poszczególnych frakcji w bada¬ nym obszarze materialu. w F1 m 7 A I 1 *"| hc.\ ¦—\LL\ ^TF |- z4-|~r fi W I l sl 1 1 I72/ 1 qzvs| I7A/I -ol WDA-l. Zam. 1872, naklad 240 egz. PL