PL63992B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 15.XI.1971 KI. 21 e, 35/00 MKP G 01 r, 35/00 Twórca wynalazku: Janusz Mróz Wlasciciel patentu: Lubuskie Zaklady Aparatów Elektrycznych „Lumel", Zielona Góra (Polska) Sposób zmniejszenia uchybu systematycznego elektrycznego mier¬ nika wskazówkowego Przedmiotem wynalazku jest sposób zmniejszenia uchy¬ bu systematycznego miernika wskazówkowego o podzial¬ ce drukowanej wzdluz linii prostej lub luku u promieniu krzywizny wiekszym od dlugosci wskazówki, szczególnie przydatny dla wielozakresowych mierników o podzial- kach drukowanych na obrotowym bebnie sprzezonym z przelacznikiem zakresów.W produkcji mierników wskazówkowych o podzial- kach drukowanych wedlug ustalonej statystycznie funkcji kata odchylenia od wartosci mierzonej wielkosci wyste¬ puje problem zapewnienia wymagnej dokladnosci wska¬ zan.Najczesciej stosuje sie dobieranie jednej z kilku ro¬ dzajów podzialek, dla której uchyby systematyczne mier¬ nika sa najmniejsze. Innym sposobem zmniejszenia uchy¬ bów miernika jest kreslenie kolejnych kresek podzialki wedlug punktów cechowanych oddzielnie dla kazdego miernika. W ustrojach magnetoelektrycznych o rdzenio¬ wym magnesie zmniejsza sie tez uchyby systematyczne przez obrót ustroju pomiarowego w stosunku do po¬ dzialki.Niedogodnoscia pierwszego sposobu jest koniecznosc przygotowania wiekszej ilosci rodzajów podzialek oraz zbadanie, przy której podzialce uchyby systematyczne sa minimalne. Niedogodnosc ta jest szczególnie uciazliwa przy produkcji mierników wielozakresowych o podzial- kach drukowanych na obrotowym bebnie sprzezonym z przelacznikiem zakresów pomiaru, poniewaz zapewnie¬ nie mozliwosci latwej wymiany tego bebna powaznie komplikuje konstrukcje miernika. 10 15 20 25 30 Kreslenie kolejno kresek wedlug cechowanych oddziel¬ nie dla kazdego miernika punktów jest szczególnie klo¬ potliwe i praktycznie niemozliwe do zastosowania w przypadku podzialek umieszczonych na obrotowym beb¬ nie w miernikach wielozakresowych, w których wraz ze zmiana zakresu ukazuje sie jedna wlasciwa dla tego za¬ kresu podzialka. Sposób zmniejszenia uchybu systema¬ tycznego poprzez obrót ustroju pomiarowego nadaje sie do mierników o kacie podzialki niniejszym od 90°, gdyz kat obrotu ustroju pomiarowego zmniejsza w tym przy¬ padku kat uzyteczny podzialki, a wiec dla mierników o katach podzialki wiekszych od 90° sposobu tego w ogó¬ le nie mozna stosowac.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu zmniej¬ szenia uchybu systematycznego miernika o podzialce drukowanej wzdluz linii prostej lub luku o promieniu wiekszym od dlugosci wskazówki bez wzgledu na war¬ tosc kata podzialki.Zadanie wytyczone w celu usuniecia podanych niedo¬ godnosci zostalo rozwiazane zgodnie z wynalazkiem w ten sposób, ze ustrój pomiarowy przesuwa sie w plasz¬ czyznie prostopadlej do osi obrotu wskazówki w do¬ wolnym kierunku w stosunku do podzialki do momentu zajecia polozenia, przy którym uchyb systematyczny wy¬ branych dwóch punktów podzialki jest dowolnie maly.Sposób wedlug wynalazku eliminuje niedogodnosci dotychczas stosowanych sposobów. W odniesieniu do podzialek okreslonych wzdluz linii prostej lub luku o promieniu krzywizny wiekszym od dlugosci wskazówki, szczególnie w zastosowaniu do wielozakresowych mier- 439923 63992 4 ników o podzialkach drukowanych na obrotowym bebnie sprzezonym z przelacznikiem zakresów pomiaru.W tym przypadku zastosowanie bebnów z identyczny¬ mi podzialkami znacznie upraszcza konstrukcje i tech¬ nologie montazu miernika, gdyz z jednej strony nie wy¬ maga zapewnienia latwej wymiany bebna w zmontowa¬ ny mierniku, a z drugiej strony nie wymaga przygotowa¬ nia wiekszej ilosci bebnów z podzialkami o zróznico¬ wanych przebiegach. Czas drukowania bebna z podzial¬ kami jest znacznie krótszy niz czas potrzebny na cecho¬ wanie, drukowanie i ocyfrowanie kolejnych punktów po- dzialek wszystkich zakresów pomiarów.Ponadto sposób wedlug wynalazku umozliwia zamien¬ nosc ustrojów pomiarowych w mierniku z zamontowa- nyrttzbebnem, poflzialkowym, bez koniecznosci jego wy¬ miany. ^ Sposób wedlug wynalazku zostanie objasniony za po¬ moca rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przyklad podzialki kreslonej wzdluz linii prostej, a fig. 2 podzial- ki kreslonej wzdluz luku o promieniu krzywizny wiek¬ szym od dlugosci wskazówki.Na rysunku punkt M odpowiada polozeniu ustroju pomiarowego, dla którego wartoscia wielkosci mierzonej X = XA i X = XB przyporzadkowano punkty podzialki 10 15 20 A i B. Wskazówka innego ustroju pomiarowego umiesz¬ czonego w punkcie M odchyli sie pod wplywem tych samych wartosci XA i XB odpowiednio p katy a i p.W stosunku do punktów A i B wystapia bledy wskazali AXA i AXB. Przesuwajac ustrój pomiarowy do punktu N bledy AXA i AXB sa redukowane do zera przy tych samych katach odchylenia a i p. Polozenie punktu N znajduje sie droga prób odchylajac wskazówke przez wlaczenie kolejno Wartosci wielkosci mierzonej XA i XB i przesuwajac ustrój pomiarowy tak, by wskazania odpowiadaly dokladnie punktom A i B, którym przypo¬ rzadkowano odpowiednio wartosci XA i XB. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób zmniejszenia uchybu systematycznego elek¬ trycznego miernika wskazówkowego o podzialce druko¬ wanej wzdluz linii prostej lub luku o promieniu krzywiz¬ ny wiekszym od dlugosci wskazówki, znamienny tym, ze ustrój pomiarowy przesuwa sie w plaszczyznie prosto¬ padlej do osi obrotu wskazówki w dowolnym kierunku w stosunku do podzialki, do momentu zajecia polozenia* przy którym uchyb systematyczny wybranych dwóch punktów podzialki jest dowolnie maly. Fig. 1 Fig.

2. WDA-l. Zam. 1611. naklad 250 egz. PL PL