PL62276B3 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 10.111.1971 62276 KI. 42 d, 1/15 MKP G 01 d, 5/30 UKD Twórca wynalazku: Wieslaw Kwapinski Wlasciciel patentu: Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszyn Wlókienni¬ czych, Lódz (Polska) Uklad fotooptyczny do pomiarów bezstykowych Przedmiotem wynalazku jest uklad fotooptyczny do pomiarów bezstykowych reagujacy na strumien swietlny odbity od elementu odblaskowego.Znany jest uklad fotooptyczny wedlug patentu Nr 51935 w którym promienie swietlne, wychodzace ze zródla swiatla, uformowane sa przez uklad dwóch pla- skowypuklych soczewek w zbiezna wiazke promieni, przechodzaca przez dwustronnie .wypukla soczewke, któ¬ ra skupia promienie na elemencie odblaskowym i po¬ woduje zmniejszenie ogniskowej calego ukladu. Promie¬ nie swietlne odbite od elementu odblaskowego przecho¬ dza ponownie przez soczewke dwustronnie wypukla i padaja na fotoelement umieszczony w osi ukladu foto¬ optycznego.Wada tego ukladu jest to, ze czesc promieni wysyla¬ nych ze zródla swiatla odbija sie od powierzchni dwu- wypuklej soczewki i, padajac na fotoelement, pobudza go, zmniejszajac uzyteczna wartosc sygnalu.Celem wynalazku jest opracowanie konstrukcyjne ta¬ kiego ukladu fotooptycznego, który wyeliminuje pobu¬ dzanie fotoelementu promieniami odbitymi od dwuwy- puklej soczewki i spowoduje zwiekszenie sygnalu uzy¬ skanego z fotoelementu.Cel ten zostal osiagniety przez skonstruowanie ukladu fotooptycznego, wedlug którego fotoelement ukladu op¬ tycznego jest umieszczony w wywierconym otworze dwu- wypuklej soczewki.Na rysunku przedstawiona jest schematycznie budowa ukladu optycznego, bedacego przedmiotem wynalazku w w wyniku umieszczenia fotoelementu w otworze dwu- 10 15 20 25 30 wypuklej soczewki. W tym ukladzie promienie swietlne wychodzace ze zródla swiatla i uformowane przez wkle¬ sle zwierciadlo odblaskowe w równolegla wiazke, prze¬ chodza przez dwuwypukla soczewke, która skupia je na plaskim elemencie odblaskowym. Czesc promieni odbi¬ tych od plaskiego elementu odblaskowego pada na foto¬ element umieszczony w otworze dwuwypuklej soczewki.Uklad fotooptyczny bedacy przedmiotem wynalazku w porównaniu z dotychczas znanym ukladem optycz¬ nym wedlug patentu nr 51935 ma dodatkowa zalete w postaci mozliwosci umieszczenia fotoelementu blizej zwierciadla odblaskowego, dzieki czemu sprawnosc ukladu i sygnal uzyskany z fotoelementu sa wieksze, pozwalajac jednoczesnie na dodatkowe zmniejszenie wy¬ miarów glowicy i wydatne uproszczenie jej konstrukcji.Dzialanie ukladu fotooptycznego metoda bezstykowa wedlug zgloszonego wynalazku i przedstawionego na rysunku polega na tym, ze promienie swietlne wycho¬ dzace ze zródla swiatla 2 uformowane w równolegla wiazke przez odblaskowe zwierciadlo 1, przechodza przez soczewke 4, która skupia je w odblaskowym ele¬ mencie 5, a nastepnie odbijaja sie od odblaskowego ele¬ mentu 5 i czesc tych odbitych promieni pada na foto¬ element 3 umieszczony w otworze soczewki 4. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad fotooptyczny do pomiarów bezstykowych, w którym fotoelement jest umieszczony w osi optycznej ukladu wedlug patentu glównego nr 51935 znamienny tym, ze fotoelement (3) jest umieszczony w otworze so¬ czewki (4). 62276KI. 42 d, 1/15 62276 MKP G 01 d, 5/30 WDA-l. Zam. 6690. Naklad 240 eaz. PL PL