PL61790B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL61790B1
PL61790B1 PL122136A PL12213667A PL61790B1 PL 61790 B1 PL61790 B1 PL 61790B1 PL 122136 A PL122136 A PL 122136A PL 12213667 A PL12213667 A PL 12213667A PL 61790 B1 PL61790 B1 PL 61790B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
microwave
input impedance
test substance
water content
arrangement according
Prior art date
Application number
PL122136A
Other languages
English (en)
Inventor
Kraszewski Andrzej
Stuchly Stanislaw
JerzyKalinski
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Priority to FR1583536D priority Critical patent/FR1583536A/fr
Priority to GB3817268A priority patent/GB1193577A/en
Priority to DE19681798030 priority patent/DE1798030A1/de
Publication of PL61790B1 publication Critical patent/PL61790B1/pl

Links

Claims (10)

1. Zastrzezenia patentowe ' 1. Sposób pomiaru zawartosci wody w warstwach substancji stalych i cieklych, w którym mie- .- rzy sie wlasciwosci rozchodzenia fali elektro¬ magnetycznej przechodzacej przez badana sub- 15 stancje, które zaleza od przenikalnosci dielek¬ trycznej, która z kolei jest zalezna od zawar¬ tosci wody w badanej substancji, znamienny tym, ze fala elektromagnetyczna przechodzi dwukrotnie przez badana substancje umieszczo- 20 na w odpowiednim miejscu wolnoprzestrzennego obszaru pomiarowego utworzonego przez antene promieniujaca energie mikrofalowa i reflektor odbijajacy ta energie i znajdujacy sie od niej w pewnym oddaleniu, oraz nie zwiazany rae- 25 . chanicznie z reszta ukladu pomiarowego, przy czym badana substancja przemieszcza sie przez obszar pomiarowy w plaszczyznie prostopadlej do kierunku rozchodzenia sie fali elektromag- , netycznej przenikajacej • przez ta : substancje 30 i znajduje sie w odleglosci równej nieparzystej wielokrotnosci jednej czwartej dlugosci fali, wytwarzanej przez generator mikrofalowy, od reflektora odbijajacego energie mikrofalowa, przy czym zmiany impedancji obszaru badanego 3- sa miara zawartosci wódy w badanej substancji
2. Sposób wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze mierzy sie zmiany impedancji wejsciowej wol¬ noprzestrzennego obszaru pomiarowego wywo¬ lane wprowadzeniem do tego obszaru badanej 4» substancji.
3. Sposób wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze zmiany impedancji wejsciowej obszaru pomia¬ rowego mierzy sie za pomoca mostka mikrofa¬ lowego. 43
4. Sposób wedlug zastrz. 1—3, znamienny tym, ze mierzy sie wartosc sygnalu nierównosci mostka mikrofalowego, powstalego w wyniku wprowa- . dzania do obszaru pomiarowego badanej sub¬ stancji. 5. "
5. Sposób wedlug zastrz. 1—3, znamienny tym, ze mierzy sie zmiane impedancji wejsciowej ga¬ lezi odniesienia mostka mikrofalowego, po¬ trzebna do skompensowania zmiany impedancji wejsciowej obszaru pomiarowego wywolanej 55 wprowadzeniem do tego obszaru badanej sub¬ stancji.
6. Uklad do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze zawiera w polaczeniu generator mikrofalowy zasilajacy dopasowany 6» ósemnik mikrofalowy, do którego ramion koli- nearnych dolaczony jest uklad korekcyjny o zmiennej impedancji wejsciowej odbijajacy energie mikrofalowa w jednym ramieniu oraz antena promieniujaca energie mikrofalowa fi5 w drugim ramieniu, detektor mikrofalowy61790 umieszczony na wyjsciu czwartego ramienia ósemnika, do którego dochodzi sygnal mikrofa¬ lowy bedacy suma wektorowa sygnalów odbi¬ tych od dwójnika mikrofalowego o zmiennej impedancji wejsciowej i od reflektora umiesz- 5 czonego za badana substancja, a bedacy miara zawartosci wody w badanej substancji; oraz umieszczony na wyjsciu detektora uklad de- 11. tekcyjny, w którym nastepuje przetworzenie i zobrazowanie informacji zawartych w sygnale 10 wyjsciowym.
7. Uklad wedlug zastrz. 6, znamienny tym, ze 12. ósemnik mikrofalowy jest magicznym T, a ge¬ nerator mikrofalowy zasilajacy dopasowany ósemnik mikrofalowy jest modulowany sygna- 15 lem niskiej czestotliwosci. 13. 8. .
8. Uklad wedlug zastrz. 6 i 7 znamienny tym, ze uklad korekcyjny o zmiennej impedancji wej¬ sciowej zawiera w polaczeniu element absorp¬ cyjny o zmiennym tlumieniu w celu zmiany am- 20 plitudy fali odbitej oraz element odbijajacy 14. przesuwany w celu zmiany fazy fali odbitej.
9. Uklad wedlug zastrz. 6—8, znamienny tym, ze uklad detekcyjny umieszczony na wyjsciu de¬ tektora zawiera wzmacniacz liniowy, polaczony 25 poprzez wzmacniacz logarytmiczny, woltomierz zawierajacy uklad ekspandera skali i miernik wychylowy z rejestratorem.
10. Odmiana ukladu wedlug zastrz. 6—7, znamienna tym, ze sygnal wyjsciowy z ukladu detekcyj¬ nego wykorzystuje sie do automatycznego rów¬ nowazenia mostka mikrofalowego poprzez zmia¬ ne impedancji wejsciowej ukladu korekcyjnego o zmiennej impedancji wejsciowej, której war¬ tosc dla mostka zrównowazonego jest miara za¬ wartosci wody w badanej substancji. Uklad wedlug zastrz. 6—10, znamienny tym, ze zawiera uklad sygnalizatora tolerancji, sygnali¬ zujacy przekroczenie zadanych granicznych war¬ tosci zawartosci wody w badanej substancji. Uklad wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze sygnal wyjsciowy ukladu detekcyjnego wyko¬ rzystuje sie do sterowania procesem suszenia badz nawilgacania badanej substancji. Uklad wedlug zastrz. 6—12, znamienny tym, ze sygnal wyjsciowy ukladu sygnalizatora tole¬ rancji wykorzystuje sie do sterowania proce¬ sem suszenia badz nawilgacania badanej sub¬ stancji. Odmiana ukladu wedlug zastrz. 6—13, znamien¬ na tym, ze sygnal wyjsciowy z woltomierza za¬ wierajacego uklad ekspandera skali wykorzy¬ stuje sie do automatycznego równowazenia most¬ ka mikrofalowego na drodze elektrycznej lub mechanicznej, przez zmiane impedancji wej¬ sciowej dwójnika mikrofalowego o zmiennej impedancji wejsciowej, której wartosc jest mia¬ ra zawartosci wody w badanej substancji.KI. 42 1, 9/51 61790 ty tgd Fig. ta Ftytb 2 \- 8 5 Fig. 2 \€ MKP G 01 n, 23/24 Fl'9-3 \y_ —»— \jo ~T \-~- l\A ls L^ L-_- ^2 1 \ 16 L— -J r7T "Z7" /4 10h^l8^19 0 2 4 6 8 10 12 M 16 J8 20 Nt» FifS PL PL
PL122136A 1967-08-10 1967-08-10 PL61790B1 (pl)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1583536D FR1583536A (pl) 1967-08-10 1968-08-08
GB3817268A GB1193577A (en) 1967-08-10 1968-08-09 Microwave Water Content Measurement.
DE19681798030 DE1798030A1 (de) 1967-08-10 1968-08-09 Verfahren zur Messung des Wassergehaltes in festen oder fluessigen Stoffschichten und Vorrichtung zur Durchfuehrung dieses Verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL61790B1 true PL61790B1 (pl) 1970-10-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6675645B1 (en) Electromagnetic method of and apparatus for electromagnetic parameters of material (thin films and bulks) monitoring
US3123767A (en) Uator
Justice et al. Measurement of electric field distributions
Munk et al. Transmission through a two-layer array of loaded slots
Barrow et al. Rectangular hollow-pipe radiators
Swarup et al. Phase adjustment of large antennas
PL61790B1 (pl)
CN206420791U (zh) 一种多频微波含水率检测装置
Lengyel A Michelson-type interferometer for microwave measurements
Celata Using perpendicular electron cyclotron emission to diagnose the thermal-barrier electrons in a tandem mirror
Clayton et al. Radio measurements in the decimetre and centimetre wavebands
Dewar et al. Coaxial-slot surface wave launchers
SU1760352A1 (ru) Устройство дл измерени количества вещества в емкости
RU1554594C (ru) Устройство для измерения коэффициента отражения объекта в свободном пространстве
Kadyrakunov et al. Investigation of snow characteristics in the microwave range for avalanche forecasting
SU1083130A1 (ru) Способ измерени коэффициента отражени выхода активных СВЧ устройств
SU1636796A2 (ru) Устройство дл измерени характеристик диэлектрических материалов
RU2106606C1 (ru) Устройство для измерения уровня жидкого металла
JPH0786482B2 (ja) 含水率測定装置
Gregory Impedance measurements of a loop antenna in the topside ionosphere
SU1116371A1 (ru) Способ измерени влажности материалов и веществ
Hugill The measurements of random radio frequency fields by the use of short electric and magnetic dipoles
SU445925A1 (ru) Устройство дл измерени параметров листовых диэлектриков
SU1760474A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента отражени
SU423027A1 (ru) Устройство для измерения влажности сыпучих материалов