PL61789B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 20.1.1971 61789 KI. 42 b, 11 MKP G 01 b, 7/06 Wspóltwórcy wynalazku: Stanislaw Stuchly, Andrzej Kraszewski Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Zaklad Doswiadczalny Budowy Aparatury Naukowej UNIPAN), Warszawa (Polska) Sposób pomiaru grubosci blach i plyt metalowych i uklad do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób ciaglego i bez- stykowego pomiaru grubosci blach i plyt metalowych, zimnych i goracych, za pomoca mikrofal, to jest fal o dlugosciach zawartych w pasmie od 1 m do 1 mm, w którym wykorzystano zaleznosc czestotliwosci rezo¬ nansowej zwinietego rezonatora utworzonego z odcinka prowadnicy falowej, którego zakonczenia stanowia po¬ wierzchnie badanej blachy lub plyty metalowej, od gru¬ bosci tej blachy lub plyty, oraz uklad do stosowania tego sposobu, w którym mierzy sie czestotliwosc tego rezonatora.Znane sposoby bezstykowego pomiaru grubosci bla¬ chy lub plyty metalowej polegaja badz na wykorzystaniu zaleznosci absorpcji promieniowania jonizujacego (|3, y» X) od grubosci blachy lub plyty metalowej, badz na wy¬ korzystaniu wlasciwosci fal elektromagnetycznych od¬ bitych od zewnetrznych powierzchni badanej blachy od grubosci tej blachy.Pierwszy ze sposobów ograniczony jest w praktyce do pomiaru tylko cienkich blach metalowych, jako ze ener¬ gia dostepnych i bezpiecznych dla obslugi zródel pro¬ mieniowania p jest niewielka. Ograniczeniem stosowa¬ nia sposobu wykorzystujacego zaleznosc absorpcji pro¬ mieniowania X od grubosci blachy jest silna zaleznosc absorpcji promieniowania od skladu chemicznego ma¬ terialu poddawanego badaniom, w zwiazku z czym sklad badanego materialu musi byc dokladnie znany. Poza tym wymagane jest stosowanie ciezkiej, kosztownej i znacz¬ nie rozbudowanej aparatury elektronicznej dla wytwa¬ rzania i wykrywania promieniowania X. 10 20 25 30 Drugi ze znanych sposobów polega na pomiarze fazy i amplitudy dwu fal padajacych i odbijajacych sie od dwu przeciwnych powierzchni badanej blachy oraz sko¬ jarzeniu wyniku pomiaru z gruboscia tej blachy. Ukla¬ dy do stosowania tych sposobów zawieraja pary diod detekcyjnych, co wymaga wielkiej symetrii dwu kanalów pomiarowych dla obu odbitych sygnalów mikrofalowych, parametry diod wplywaja w wyrazny sposób na stabil¬ nosc pracy ukladów, w zwiazku z czym trudne jest skom¬ pensowanie wplywów termicznych, uklady te wymagaja stosowania stabilnych zródel mocy wielkiej czestotliwos¬ ci przez co staja sie rozbudowane i kosztowne. Zakres pomiaru zmian grubosci blachy jest zwykle niewielki, jak równiez niewielkie sa nachylenia charakterystyk wy¬ razone w decybelach na 1 mm zmiany grubosci blachy, a przez to male zmiany grubosci badanego materialu trudne sa do wykrycia, podczas gdy przemieszczanie sie materialu w obszarze pomiarowym daje porównywalne zmiany sygnalu wyjsciowego, co znacznie ogranicza do¬ kladnosc pomiaru grubosci blachy.Celem wynalazku jest umozliwienie i usprawnienie pomiaru i kontroli grubosci blachy lub plyty metalowej, walcowanej na zimno lub goraco, zarówno stalowych jak i z materialów kolorowych, przy czym pomiar jest bezstykowy, ciagly, natychmiastowy, nie zalezny od ro¬ dzaju materialu, a w pewnyr*^zakresie i od stanu po¬ wierzchni badanej blachy, jej zanieczyszczen i pofaldo¬ wania. Pomiarom mozna podawac blachy od najcien¬ szych do najgrubszych, jakie spotyka sie w procesach walcowniczych, a zakres dopuszczalnych przemieszczen 617893 badanej blachy wzgledem ukladu pomiarowego jest szer¬ szy niz zakres przemieszczen wystepujacych w praktyce.Cel ten wedlug wynalazku zastal osiagniety przez wprowadzenie badanej blachy lub plyty pomiedzy dwa uklady koncowe zwinietego rezonatora w plaszczyznie prostopadlej do osi rezonatora, utworzonego z odcinka prowadnicy falowej wskutek czego powierzchnie blachy lub plyty stanowia zakonczenie tego rezonatora a na¬ stepnie mierzy sie zmiany czestotliwosci rezonansowej rezonatora lub zmiany impedancji wejsciowej rezonato¬ ra za pomoca mostka mikrofalowego. W sposobie we¬ dlug wynalazku mierzy sie sygnal nierównowagi mostka mikrofalowego, powstaly w wyniku zmiany grubosci bla¬ chy lub plyty metalowej lub mierzy sie zmiane impe¬ dancji wejsciowej galezi korekcyjnej mostka mikrofalo¬ wego, potrzebna do skompensowania zmiany impe¬ dancji wejsciowej rezonatora pomiarowego, wywolanej zmiana grubosci badanej blachy lub plyty metalowej.Natomiast sygnal wyjsciewy z ukladu detekcyjnego wy¬ korzystuje sie do automatycznego równowazenia mostka mikrofalowego poprzez zmiane impedancji wejsciowej dwójnika mikrofalowego o zmiennej impedancji wejscio¬ wej, której wartosc dla mostka zrównowazonego jest miara grubosci badanej blachy lub plyty metalowej.Uklad do stosowania sposobu zawiera w polaczeniu generator mikrofalowy zasilajacy dopasowany ósemnik mikrofalowy, do którego ramion kolinearnych dolaczo¬ ny jest dwójnik mikrofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej odbijajacy energie mikrofalowa w jednym ra¬ mieniu oraz rezonator pomiarowy utworzony z odcinka prowadnicy falowej otwartej na obu koncach i z dwu powierzchni badanej blachy lub plyty metalowej umiesz¬ czonych w okreslonej odleglosci od tych otwartych kon¬ ców, a polaczony z reszta ukladu za pomoca ukladu sprzegajacego, w drugim ramieniu, dalej detektor mikro¬ falowy umieszczony na wyjsciu czwartej galezi ósemni- ka, do którego dochodzi sygnal mikrofalowy bedacy su¬ ma wektorowa sygnalów odbitych od dwójnika mikro¬ falowego o zmiennej impedancji wejsciowej i od rezo¬ natora pomiarowego zawierajacego badana blache i be¬ dacy miara grubosci tej blachy; dalej umieszczonego na wyjsciu detektora ukladu detekcyjnego, w którym naste¬ puje przetwarzanie i zobrazowanie informacji zawartych w sygnale wyjsciowym detektora.Pomiedzy ukladem sprzegajacym a zakonczeniami re¬ zonatora umieszczony jest cyrkulator ferrytowy stano¬ wiacy czesc rezonatora pomiarowego, natomiast genera¬ tor mikrofalowy zasila dopasowany ósemnik mikrofalo¬ wy, który jest magicznym T a wspomniany dwójnik mi¬ krofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej sklada sie z elementu absorbcyjnego o znamiennym tlumieniu w celu zmiany amplitudy fali odbitej oraz elementu odbi¬ jajacego przesuwanego w celu zmiany fazy fali odbitej.W praktycznym wykonaniu dwójnik mikrofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej jest przestrajanym re¬ zonatorem wnekowym o identycznych wlasciwosciach elektrycznych i termicznych jak rezonator pomiarowy, a na koncach rezonatora pomiarowego umieszczono dla¬ wiki, które wspóldzialajac z powierzchniami badanej blachy lub plyty metalowej zapobiegaja wypromieniowy- waniu energii mikrofalowej z rezonatora pomiarowego.W szczególnym przypadku zakonczenia rezonatora po¬ miarowego stanowia anteny kierunkowe oraz powierzch¬ nie badanej blachy lub plyty metalowej. Natomiast uklad detekcyjny umieszczony na wyjsciu detektora zawiera 4 w polaczeniu wzmacniacz liniowy, na jego wyjsciu wol¬ tomierz zawierajacy miernik wychylowy oraz rejestrator.Istotna zaleta wynalazku jest to, ze uzyskuje sie duza dobroc rezonatora i zwiazane z tym duze nachylenie 5 charakterystyki sygnalu wyjsciowego w funkcji zmian grubosci, szeroki zakres pomiaru — latwosc zmiany za¬ kresu mierzonej grubosci bez potrzeby zmiany polozenia otwartych konców prowadnicy, szeroki zakres dopusz¬ czalnych przemieszczen równoleglych oraz znaczne io zmniejszenie wplywu przemieszczen nierównoleglych.Wykorzystanie wlasciwosci mostka mikrofalowego zrów¬ nowazonego lub niezrównowaznego, w którego jednej galezi znajduje sie rezonator pómairowy a w drugiej uklad kompensujacy, którym moze byc rezonator o iden- 15 tycznych parametrach zawierajacych blache wzorcowa, pozwala na dalsze powiekszenie czulosci metody oraz na znaczna kompensacje wplywu zmian temperatury i cze¬ stotliwosci generatora.Dalsze korzysci techniczne wynikajace ze stosowania 20 wynalazku polegaja na umozliwieniu przeprowadzenia i zwiekszenia dokladnosci wykonywania pomiarów gru¬ bosci blach i plyt metalowych zarówno w warunkach laboratoryjnych jak i przy kontroli procesów przemyslo¬ wych. 25 Dzieki duzej czulosci ukladu wyrazonej w decybelach na jednostke zmiany grubosci blachy oraz duzej doklad¬ nosci pomiaru mozliwy jest pomiar zarówno blach i plyt grubych, jak i bardzo cienkich, np. folii, przy jednoczes¬ nym umozliwieniu pomiaru przebiegajacego w sposób 30 ciagly i bezstykowy, przy czym wynik pomiaru nie zalezy w szerokich granicach od przemieszczenia sie ba¬ danej blachy wzgledem ukladu pomiarowego, pofaldowa¬ nia powierzchni i innych odksztalcen poza zmiana gru¬ bosci. Pomiar jest natychmiastowy a sygnal wyjsciowy 35 z ukladu pomiarowego moze byc wykorzystany do ste¬ rowania procesem wytwarzania blachy.Wynalazek zostanie blizej objasniony za pomoca ry¬ sunku, na którym fig. 1 i 2 przedstawiaja ideowo uklad przetwornika informacji oraz jego charakterystyki przy zmianie grubosci blachy, zas fig. 3 i 4 przedstawiaja schemat blokowy przykladu zastosowania urzadzenia do stosowania sposobu pomiaru grubosci blachy metalowej wedlug wynalazku oraz jego charakterystyke przy zmia¬ nie grubosci blachy, fig. 5 przedstawia schemat ideowy przykladu rozwiazania rezonatora, fig. 6 przedstawia schemat ideowy przykladu rozwiazania zakonczenia re¬ zonatora, zas fig. 7 przedstawia inny przyklad rozwiaza¬ nia tegoz zakonczenia. Dla ilustracji fig. 8 przedstawia zdjeta doswiadczalnie zaleznosc sygnalu wyjsciowego urzadzenia wedlug wynalazku od grubosci blachy okres¬ lonej metodami konwencjonalnymi.Na fig. 1 przedstawiono ideowo uklad przetwornika informacji, który sklada sie ze zwinietego rezonatora 55 utworzonego z odcinka prowadnicy falowej 1, na które¬ go koncach umieszczono odpowiednie uklady koncowe 2, które wraz z powierzchniami badanej blachy 3 stanowia zakonczenie rezonatora, który jest pobudzony z prowad¬ nicy falowej 4 poprzez uklad sprzegajacy 5, zas na fig. 2 J0 pokazano zaleznosc czestotliwosci rezonansowej fo rezo¬ natora 1 od grubosci G badanej blachy metalowej 3 oraz faze tp fali stojacej okreslona w prowadnicy zasila¬ jacej 4 przy dwu róznych wspólczynnikach sprzezenia 1 i 2 charakteryzujacych uklad sprzegajacy 5, w funkcji 5 zmian grubosci badanej blachy 3.61789 Zmiana grubosci badanej blachy 3 powoduje zmiane dlugosci rezonatora 1, a tym samym zmiane jego czesto¬ tliwosci rezonansowej, która to zmiana moze byc latwo wykryta przez obserwacje zmian fazy fali stojacej w pro¬ wadnicy zasilajacej 4. Zmiana fazy odpowiadajaca zmia¬ nie grubosci blachy, jak to pokazano na fig. 2 jest w pewnym zakresie wprost proporcjonalna do zmian grubosci badanej blachy 3 i zostaje w ukladzie pomiaro¬ wym wedlug wynalazku przetworzona na sygnal elek¬ tryczny, który jest proporcjonalny do grubosci, blachy.Równolegle przemieszczenie sie badanej blachy 3 wzdluz osi laczacej oba zakonczenia rezonatora nie powoduje zmiany czestotliwosci rezonansowej rezonatora pomia¬ rowego, poniewaz jego dlugosc nie ulega wówczas zmia¬ nie.Fig. 3 przedstawia uproszczony schemat blokowy urzadzenia do stosowania sposobu pomiaru grubosci bla¬ chy wedlug wynalazku, zas fig. 4 zaleznosc sygnalu wyj¬ sciowego Uwy urzadzenia od grubosci G blachy, a tym samym od zmian fazy fali stojacej w prowadnicy zasila¬ jacej 4. Sygnal mikrofalowy modulowany amplitudowo sygnalu niskiej czestotliwosci dostarczony z generatora 6 dzieli sie w dopasowanym ósemniku mikrofalowym 7 na dwa sygnaly, z których jeden zasila uklad korekcyj¬ ny 8 odbijajacy energie sygnalu, znajdujacy sie w jednej galezi wyjsciowej ósemnika, zas drugi sygnal zasila uklad rezonatora pomiarowego 9, znajdujacy sie w dru¬ giej galezi wyjsciowej ósemnika 7.Wten sposób do dopasowanego ósemnika mikrofalo¬ wego 7 dochodza dwa sygnaly odbite — jeden od ukla¬ du korekcyjnego 8, który umozliwia regulacje amplitu¬ dy i fazy fali odbitej, oraz drugi odbity od rezonatora pomiarowego 9, którego faza jest zwiazana z gruboscia badanej blachy. Sygnal mikrofalowy, powstaly w wyniku wektorowego dodania sie dwu tych sygnalów odbitych, a bedacy miara grubosci badanej blachy metalowej, prze¬ chodzi do czwartej galezi ósemnika 7 stanowiacej jego wyjscie.Na wyjsciu tej galezi umieszczony jest zmienny tlum- nik mikrofalowy 10, wywzorcowany w jednostkach tlu¬ mienia, zas na jego wyjsciu znajduje sie uklad detekcyj¬ ny 11, który ma za zadanie przetworzenie i zobrazowa¬ nie informacji zawartych w sygnale mikrofalowym do¬ chodzacym na jego wejscie. Zobrazowanie to moze po¬ legac na wytworzeniu sygnalu elektrycznego wykorzy¬ stywanego nastepnie do napedu elementów ukladu ko¬ rekcyjnego 8, badz do napiecia tlumika mikrofalowe¬ go 10, w celu skompensowania sygnalu mikrofalowego do okreslonej wartosci, badz do uruchamiania rejestra¬ tora lub wskaznika wychylowego, badz wreszcie do auto¬ matycznego sterowania procesem wytwarzania badanej blachy lub plyty metalowej.Fig. 5 przedstawia schemat ideowy innego przykladu rozwiazania ukladu rezonatora dla pomiaru grubosci blachy metalowej wedlug wynalazku. Rezonator ten skla¬ da sie z odcinka prowadnicy falowej 1, podobnie jak uklad pokazany na fig. 1, na ktróego koncach sa umiesz¬ czone uklady koncowe 2, które wraz z powierzchniami badanej blachy 3 stanowia zakonczenie rezonatora, zas cyrkulator ferrytowy 12 wlaczony do odcinka prowadni¬ cy falowej 1 przed ukladem sprzegajacym 5 ma za za¬ danie wyeliminowanie niepozadanych oddzialywan po¬ miedzy ukladami koncowymi 2 a ukladem sprzegajacym.Fig. 6 przedstawia schemat ideowy przykladu rozwia¬ zania zakonczenia rezonatora, który zawiera odcinek falowodu kolowego 13, na którego otwartym koncu umieszczona jest metalowa plyta 14, na której w odleg¬ losci % dlugosci fali rozchodzacej sie falowodem 13 od krawedzi falowodu nacieta jest szczelina 15 o glebokosci 5 równiez równej % dlugosci fali, tworzac w ten sposób dlawik oddzialywujacy elektrycznie z badana blacha metalowa 16 umieszczona w niewielkiej odleglosci od powierzchni plyty 14, umozliwiajac w ten sposób swo¬ bodne przesuwanie sie blachy. 10 Fig. 7 przedstawia schemat innego przykladu rozwia¬ zania zakonczenia rezonatora, w którym odcinek pro¬ wadnicy falowej 17 zawiera wkladke dielektryczna 18, tak uksztaltowana, ze jej czesc znajdujaca sie w prowad¬ nicy dopasowuje impedancje czesci wypelnionej wkladke 15 do impedancji pustej prowadnicy, natomiast czesc wklad¬ ki znajdujaca sie na zewnatrz prowadnicy dopasowuje ta impedancje do impedancji wolnej przestrzeni, oraz ze energia rozchodzaca sie prowadnica zostaje kierunkowo wypromieniowana w kierunku badanej blachy metalo- 20 wej 19, która wraz z odcinkiem prowadnicy 17 i wklad¬ ka dielektryczna 18 stanowi zakonczenie rezonatora.Pomiar grubosci blachy lub plyty metalowej wedlug wynalazku polega na okresleniu czestotliwosci rezonan¬ sowej rezonatora, którego zakonczenie stanowi badana 25 blacha lub plyta, natomiast miara zmiany czestotliwosci rezonansowej pod wplywem zmiany grubosci badanej blachy moze byc badz amplituda sygnalu nierównowagi mostka mikrofalowego, zobrazowana na wyjsciu ukladu detekcyjnego 11, badz wartosc tlumienia wprowadzanego 30 przez zmienny tlumik mikrofalowy 10, potrzebnego do uzyskania okreslonego poziomu sygnalu na wyjsciu ukla¬ du detekcyjnego, badz impedancja wejsciowa ukladu korekcyjnego 8, potrzebna do zrównowazenia w most¬ ku impedancji wejsciowej rezonatora pomiarowego 9, 35 którego dlugosc a wiec i czestotliwosc rezonansowa po¬ wiazana jest z gruboscia badanej blachy metalowej.Ze znajomosci jednej z tych wielkosci mozna wnosic o wartosci grubosci badanej blachy metalowej na pod¬ stawie krzywej wzorcowania, w czasie ktróego grubosc 40 blachy okresla sie konwencjonalnymi metodami, na przy¬ klad za pomoca sruby mikrometrycznej. Dla ilustracji fig. 8 pokazuje krzywe wzorcowania sygnalu *wyjsciowe- go Uwy mierzonej na wyjsciu ukladu detekcyjnego od grubosci blachy G oraz od przemieszczania A blachy 45 o stalej grubosci pomiedzy zakonczeniami rezonatora pomiarowego, zdjete doswiadczalnie metoda bezposred¬ nia sposobu wedlug wynalazku dla blachy stalowej o gru¬ bosci rzedu 1,5 mm, okrelsonej przez pomiar za pomoca sruby mikrometrycznej. 50 PL PL

Claims (14)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru grubosci blach i plyt metalowych, w którym mierzy sie wlasciwosci fal elektromagnetycz- 55 nych odbitych od badanej blachy lub plyty, które za¬ leza od grubosci tej blachy lub plyty, znamienny tym, ze badana blache lub plyte wprowadza sie w plaszczyz¬ nie prostopadlej do osi rezonatora pomiedzy dwa ukla¬ dy koncowe zwinietego rezonatora utworzonego z od- 60 cinka prowadnicy falowej, wskutek czego powierzchnie blachy lub plyty stanowia zakonczenie tego rezonatora.

2. Sposób wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze mierzy sie zmiany czestotliwosci rezonansowej rezonatora po¬ miarowego wywolane zmianami grubosci badanej bla- 65 chy lub plyty.61789 8

3. Sposób wedlug zastrz. 1 i 2 znamienny tym, ze mie¬ rzy sie zmiany impedancji wejsciowej rezonatora pomia¬ rowego wywolane zmianami jego czestotliwosci rezonan¬ sowej.

4. Sposób wedlug zastrz. 1—3 znamienny tym, ze zmiany impedancji wejsciowej rezonatora pomiarowego mierzy sie za pomoca mostka mikrofalowego.

5. Sposób wedlug zastrz. 1—4 znamienny tym, ze mierzy sie sygnal nierównowagi mostka mikrofalowego, powstaly w wyniku zmiany grubosci blachy lub plyty metalowej.

6. Sposób wedlug zastrz. 1—4 znamienny tym, ze mie¬ rzy sie zmiane impedancji wejsciowej galezi korekcyj¬ nej mostka mikrofalowego, potrzebna do skompensowa¬ nia zmiany impedancji wejsciowej rezonatora pomiaro¬ wego, wywolanej zmiana grubosci badanej blachy lub plyty metalowej.

7. Sposób wedlug zastrz. 4—6 znamienny tym, ze sy¬ gnal wyjsciowy z ukladu detekcyjnego wykorzystuje sie do automatycznego równowazenia mostka mikrofalowe¬ go poprzez zmiane impedancji wejsciowej dwójnika mi¬ krofalowego o znamiennej impedancji wejsciowej, któ¬ rej wartosc dla mostka zrównowazonego jest miara gru¬ bosci badanej blachy lub plyty metalowej.

8. Uklad do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1—7 znamienny tym, ze zawiera w polaczeniu generator mi¬ krofalowy zasilajacy dopasowany ósemnik mikrofalowy, do którego ramion kolinearnych dolaczony jest dwójnik mikrofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej odbija¬ jacy energie mikrofalowa w jednym ramieniu oraz re¬ zonator pomiarowy utworzony z odcinka prowadnicy falowej otwartej na obu koncach i dwu powierzchni ba¬ danej blachy lub plyty metalowej umieszczonych w okreslonej odleglosci od tych otwartych konców, a po¬ laczony z reszta ukladu za pomoca ukladu sprzegajace¬ go, w drugim ramieniu, a ponadto detektor mikrofalowy umieszczony na wyjsciu czwartej galezi ósemnika, do którego dochodzi sygnal mikrofalowy bedacy suma wek- 15 20 25 30 35 torowa sygnalów odbitych od dwójnika mikrofalowego o zmiennej impedancji wejsciowej i od rezonatora po¬ miarowego zawierajacego badana blache i bedaca miara grubosci tej blachy oraz umieszczony na wyjsciu detek¬ tora uklad detekcyjny, w którym nastepuje przetwarza¬ nie i zobrazowanie informacji zawartych w sygnale wyjs¬ ciowym detektora.

9. Uklad wedlug zastrz. 8 znamienny tym, ze pomiedzy ukladem sprzegajacym a zakonczeniami rezonatora umieszczony jest cyrkulator ferrytowy stanowiacy czesc rezonatora pomiarowego, natomiast generator mikrofalo¬ wy zasila dopasowany ósemnik mikrofalowy, który jest magicznym T.

10. Uklad wedlug zastrz. 8 i 9 znamienny tym, ze dwójnik mikrofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej sklada sie z elementu absorpcyjnego o znamiennym tlu¬ mieniu w celu zmiany amplitudy fali odbitej oraz ele¬ mentu odbijajacego przesuwanego w celu zmiany fazy fali odbitej.

11. Uklad wedlug zastrz. 8 i 9 znamienny tym, ze dwójnik mikrofalowy o zmiennej impedancji wejsciowej jest przestrajanym rezonatorem wnekowym o identycz¬ nych wlasciwosciach elektrycznych i termicznych jak rezonator pomiarowy.

12. Uklad wedlug zastrz. 7—11 znamienny tym, ze na koncach rezonatora pomiarowego umieszczono dlawiki, które wspóldzialajac z powierzchniami badanej blachy lub plyty metalowej zapobiegaja wypromieniowywaniu energii mikrofalowej z rezonatora pomiarowego.

13. Uklad wedlug zastrz. 7—11 znamienny tym, ze za¬ konczenia rezonatora pomiarowego stanowia anteny kie¬ runkowe oraz powierzchnie badanej blachy lub plyty metalowej.

14. Uklad wedlug zastrz. 7—13 znamienny tym, ze uklad detekcyjny umieszczony na wyjsciu detektora za¬ wiera w polaczeniu wzmacniacz liniowy, na jego wyjs¬ ciu woltomierz zawierajacy miernik wychylowy oraz re¬ jestrator. o) b) p 60° 30° ¦ 0 30° ¦ ¦45° an° \\j / -^ Pm 1.0 1.5 2.0 2.5 30 fo[MHz] 9410 9405 9400 9395 C[rnm] Fig. 1K1.42b, 11 61789 MKP GOI b, 7/06 o) 10 -50 18 1.9 2.0 2,1 2.2 G[mm] Fig.2 14 18 J2_y J5. 17 s w Fig.3 Fig4 Fig. 5 Uuy[dB] 6 [mm] Fig 6 PL PL