Pierwszenstwo: Opublikowano: 28. II. 1970 59173 KI. 42 m6, 7/15 MKP o4 $|tc ¦G 00 Ti I CZYTELNIA Polskiej Bzeczypwr"';»fi i Wspóltwórcy wynalazku: Andrzej Kowalski, mgr inz. Lech Swiac, inz.Wojciech Wisniewski Wlasciciel patentu: Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matematycz¬ nych, Warszawa (Polska) Bezdotykowy sposób dokladnego pomiaru przesuniecia elementu bedacego w stanie niestabilnym Przedmiotem wynalazku jest bezdotykowy spo¬ sób dokladnego pomiaru przesuniecia elementu be¬ dacego w stanie niestabilnym a w szczególnosci oddalenia plywajacych glowic pamieci bebnowej od nosnika, W znanych urzadzeniach do pomiaru przesuniecia ruchomego elementu stosuje sie me¬ tode pomiaru ilosci swiatla przechodzacego przez szczeline miedzy elementem a nieruchoma po¬ wierzchnia odniesienia lub dzwignie optyczna.Urzadzenia oparte na zasadzie pomiaru ilosci swiatla przechodzacego przez szczeline wykazuja przy malych szczelinach duze bledy i brak pow¬ tarzalnosci pomiaru poniewaz wplyw wspólczynni¬ ka odbicia swiatla, katów odbicia, ugiecia i roz¬ proszenia swiatla na powierzchni bazowej i ele¬ mentu badanego oraz czulosc czujników na kato¬ we zmiany polozenia powierzchni wyznaczajacych szczeline prowadzi do duzych róznic w pomiarze, w zwiazku z tym skalowanie ukladu i jego kon¬ trola sa bardzo klopotliwe, poza tym urzadzenie wymaga dobrego stabilizowania zródla swiatla.Urzadzenie oparte na zasadzie dzwigni optycz¬ nej posiada zasadnicza niedogodnosc gdyz element badany musi byc specjalnie przygotowany do do¬ konania pomiaru przez umieszczenie na nim po¬ wierzchni zwierciadlanej. Jest to szczególnie nie korzystne przy seryjnej kontroli elementów. Po¬ nadto urzadzenie wymaga odpowiednio duzych odleglosci miedzy elementem badanym a stanowi¬ skiem odczytu.Zadaniem wynalazku jest stworzenie sposobu umozliwiajacego bezdotykowy pomiar przesuniecia elementu ruchomego bedacego w stanie niestabil¬ nym który nie posiada wad znanych sposobów 5 oraz daje wieksza dokladnosc pomiaru i jest pro¬ sty w eksploatacji.Zagadnienie to zostalo rozwiazane w ten sposób, ze element badany przesuwa sie równolegle do osi optycznej mikroskopu a wynikiem pomiaru jest io róznica odczytów wykonanych w ten sposób, ze: pomiaru odniesienia dokonuje sie gdy element zajmuje polozenie poczatkowe i jednoczesnie znaj¬ duja sie w plaszczyznie przedmiotowej ukladu optycznego mikroskopu, a nastepnie dokonuje sie 15 odczytu przesuniecia mikroskopu po doprowadze¬ niu jego plaszczyzny przedmiotowej ukladu optycz¬ nego mikroskopu do przesunietego elementu, a przy drgajacych elementach stosuje sie stro- bowane oswietlenie pola widzenia mikrosko- 20 Pu.W sposobie bedacym przedmiotem wynalazku uzyskuje sie wysoka dokladnosc i powtarzalnosc pomiaru.Urzadzenie pracujace tym sposobem jest wy- 25 godne w eksploatacji przy przemyslowej kontroli elementów, eliminujac koniecznosc stosowania skomplikowanej i niewygodnej aparatury.Wynalazek zostanie blizej objasniony na przy¬ kladzie wykonania przyrzadu do mierzenia odle- 30 glosci polozenia glowicy z podparciem areodyna- 5917359173 micznym pamieci bebnowej od powierzchni nos¬ nika pokazanego na rysunku.Glowica z podparciem areodynamicznym 2 umo¬ cowana za pomoca elementu sprezystego 10 spo¬ czywa czolem na nieruchomym bebnie 1. W takim polozeniu obserwujac przez okular 11 dokonuje sie ustawienia polozenia odniesienia pomiaru przez wprowadzenie w plaszczyzne przedmiotowa ukla¬ du optycznego mikroskopu 3 tylnej scianki 12 glo¬ wicy i dokonaniu odczytu na podzialce tarczy 4 polozenia mikroskopu.Po wlaczeniu napedu bebna 1 glowica 2 w wy¬ niku wzrostu cisnienia w szczelinie miedzy jej czolem a powierzchnia bebna oddala sie od niego na pewna ustalona odleglosc zalezna od ksztaltu powierzchni czolowej glowicy i szybkosci obroto¬ wej bebna.Po ustaleniu sie polozenia glowicy 2 utrzymuja¬ cej sie pod wplywem cisnienia powietrza w szcze¬ linie, dokonuje sie powtórnego doprowadzenia plaszczyzny przedmiotowej ukladu optycznego mi¬ kroskopu 3 do tylnej scianki glowicy 12 a nastep¬ nie dokonuje sie odczytu przesuniecia mikroskopu 3 na podzialce tarczy 4 mechanizmu przesuwu 5.Róznica odczytów przesuniecia mikroskopu jest równa odsunieciu glowicy 2 od bebna 1.Mimosrodowosc bebna wynikla z bledów wyko¬ nawczych przenosi sie podczas jego obrotów na glowice co powoduje jej oscylacje z czestotliwo¬ scia zgodna z iloscia obrotów bebna i amplituda 10 3 25 30 zblizona do podwójnej wielkosci mimosrodowosci bebna.Wartosc amplitudy drgan przekracza dopuszczal¬ ny blad pomiaru. Stwarza to koniecznosc dokona¬ nia pomiaru przesuniecia glowicy od bebna w sci¬ sle okreslonym polozeniu. Zapewnienie stalego punktu pomiarowego dokonywane jest przez spe¬ cjalny uklad oswietlajacy skladajacy sie z przy¬ slony 8 której szczelina odslania zarówke 9 zawsze w jednakowym polozeniu bebna, ukladu optyczne¬ go oswietlacza 7 oraz plytki swiatlo-dzielacej 6.Przyslona 8 jest sprzezona mechanicznie z bebnem. 15 1 20 PL