Wartosc P\ — P'0 przesuwu poprzecznego pryz¬ matu dwójlomnego W: równa sie poprzednio okre¬ slonej wartosci Px—P0 z tym, ze teraz moze ona byc o wiele dokladniej wyznaczona, poniewaz na- 5 stawienie pryzmatu "dwójlomnego Wx na jednako¬ wa jasnosc tla pola widzenia i pola jednego lub drugiego obrazu badanego przedmiotu, jest doklad¬ niejsze niz ustawienie na minimum jasnosci. Do¬ kladnosc pomiaru róznicy dróg optycznych 8 za io pomoca mikroskopu interferencyjno-polaryzacyjne- go z zastosowaniem urzadzenia pólcieniowego be¬ dacego przedmiotem niniejszego wynalazku wzra¬ sta kilkakrotnie i moze wynosic /l/500-f-A/1000.Szczególnie jest ono przydatne przy pomiarze 15 róznicy dróg optycznych mikroobiektów niejedno¬ rodnych, takich na przyklad jak komórki biologicz¬ ne. Obrazy badanego przedmiotu nie musza byc przy tym calkowicie rozdwojone lecz przynajmniej w 50%. 20 w przypadku jednorodnych przedmiotów, jak na przyklad cienkie warstwy lub plytki, pomiar jest mozliwy nawet przy malym czesciowym rozdwo¬ jeniu obrazów.Jezeli badany przedmiot jest maly i jego obra¬ zy sa calkowicie rozdwojone, jak to przedstawiono na fig. 6—9, to mozna nie wyznaczac wyjsciowe¬ go polozenia p'0 pryzmatu dwójlomnego Wx lecz mierzyc róznice polozen P\ i P'2, przy którym wy¬ równana jest jasnosc pól w jednym — a nastepnie w drugim obrazie (fig. 8 i 9). Wówczas pomiar róznicy dróg optycznych 8 jest dwukrotnie do¬ kladniejszy: 25 30 35 40 = —(Vi — PiOAp (3) Pomiar wartosci P'i —P'0 (wzór 2) lub P'2— P'i (wzór 3) przeprowadza sie sprzegajac pryzmat dwójlomny Wi ze sruba mikrometryczna lub czuj¬ nikiem zegarowym albo sposobem wedlug wyna¬ lazku wyjasnionym na fig. 10. Uklad przedstawio¬ ny na fig. 10 tym sie rózni od poprzedniego (fig. 1 i 4), ze zawiera dodatkowo plytke mikrometrycz- na M zwiazana z pryzmatem dwójlomnym Wi oraz dwie soczewki: ujemna Si i dodatnia S2, 45 z których pierwsza (S:) jest przesuwna w kierun¬ ku poprzecznym do osi mikroskopu i mozna ja wylaczac i wlaczac w bieg promieni swietlnych.Jesli mianowicie soczewka Si jest wlaczona w bieg promieni swietlnych, jak to zaznaczono na ry¬ so sunku, to wówczas przez uklad soczewek Sx i S2 oraz okular Ok obserwuje sie obraz interferencyj¬ ny badanego przedmiotu.Jesli natomiast soczewka Si jest wylaczona, to przez uklad zlozony z soczewki S2 i okular Ok ob- 55 serwuje sie podzialke na plytce mikrometrycznej M. Wartosci podzialki odczytuje sie wedlug wskaz¬ nika (na przyklad w postaci kreski) naniesionego na jednej z plytek szklanych, miedzy którymi za¬ klejona jest pólfalówka PF.Wskaznik ten jak i pa- 60 sek pólfalówki znajduja sie w ognisku okulara Ok.Ogniskowe soczewek Sx i S2 sa tak dobrane, aby dla zadanej odleglosci obrazowej obiektywu Ob nie zachodzila koniecznosc przeogniskowywania okulara Ok lub obiektywu Ob, kiedy przechodzi 65 sie od obserwacji obrazu interferencyjnego (so-59172 8 czewka Sx jest wlaczona) do obserwacji podzialki na plytce mikrometrycznej.Warunek ten jest spelniony, jesli soczewki Si i S2 znajduja sie blisko siebie i ich ogniskowe ti i f2, co do bezwzglednej wartosci sa sobie równe lub ogniskowa f! soczewki Sx jest nieznacznie mniejsza od ogniskowej soczewki S2. Stosujac oku¬ lar Ok o powiekszeniu na przyklad 15x i soczewke S2 o ogniskowej f2 = 40 mm, ogniskowa soczewki Si wynosi okolo 35 mm (dla typowych obiektywów mikroskopowych korygowanych na dlugosc tubu- sa 160 mm).Poniewaz w metodzie jednorodnej interferencji oddalenie pryzmatu dwójlomnego Wi (fig. 1 i 10) od obiektywu Ob zalezy od jego powiekszenia, na¬ lezy wiec przy zmianie obiektywu przesuwac w pewnym zakresie pryzmat Wi w kierunku osi obiektywu, co wymaga, dla ostrego uwidaczniania podzialki plytki mikrometrycznej M, przeognisko- wywania okulara Ok.Aby przy tym nie trzeba bylo przy przejsciu do obserwacji obrazu interferencyjnego (soczew¬ ka Sj wlaczona) przeogniskowywac obiektywu Ob i tym samym tracic prawidlowej jego odleglosci obrazowej, soczewka Si ma dodatkowo ruch pio¬ nowy, który pozwala ostro ustawic obraz badanego przedmiotu bez potrzeby przeogniskowania obiek¬ tywu.Przedstawione tu urzadzenie pólcieniowe moze znalezc zastosowanie równiez w innych typach mi¬ kroskopów interferencyjno-polaryzacyjnych, w któ¬ rych zamiast pryzmatów dwójlomnych Wi i W2 typu Wollastona sa zastosowane inne elementy dwójlomne. Pólfalówka PF (fig. 1+ 9) nie koniecz¬ nie przy tym musi miec ksztalt paska. Równiez moze ona miec ksztalt pólkola pokrywajacego po¬ lowe pola widzenia mikroskopu lub tez inny ksztalt, przynajmniej z jedna krawedzia wycieta równolegle do jednego z glównych kierunków drgan swiatla zastosowanego materialu dwójlom- 5 nego. Wygodnym i latwo dostepnym materialem na pólfalówke jest na przyklad celofan. Krawedz pólfalówki na której nastawia sie obrazy badane¬ go przedmiotu powinna byc jednak równo odcieta bez wyraznego naruszenia struktury celofanu. 10 PL