Pierwszenstwo: Opublikowano: 29.XI.1969 58830 KI. 42 k, 46/07 MKP UKD G 01 n 33 jlo Wspóltwórcy wynalazku: doc. dr Stanislaw Sikorski, mgr inz. Tadeusz Piotrowski Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Technologii Elektro¬ nowej) Warszawa (Polska) Urzadzenie rentgenowskie do wyznaczania zadanej plaszczyzny krystalograficznej Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie rentge¬ nowskie do wyznaczania zadanej plaszczyzny kry¬ stalograficznej krysztalków w celu obrobienia po¬ wierzchni krysztalu zgodnie z ta plaszczyzna.Orientometry rentgenowskie maja te zalete w sto¬ sunku do orientometrów optycznych, ze nie wy¬ magaja przygotowania wstepnego powierzchni.Znane i stosowane dotychczas urzadzenia umoz¬ liwiaja wyznaczenie kierunku krystalograficzne¬ go juz obrobionej powierzchni krysztalu, która moze byc zgodna z zadana. Uzyskanie zadanej plaszczyzny wymaga kilku pracochlonnych eta¬ pów obrabiania powierzchni miedzy którymi na¬ lezy sprawdzac obrobiona powierzchnie na urza¬ dzeniu rentgenowskim. Ten proces technologiczny konczy sie z chwila stwierdzenia, ze kierunek otrzymanej powierzchni jest zgodny z zadanym w ramach wymaganej dokladnosci.W przypadkach gdy blad nie moze przekraczac 30 minut katowych, czas potrzebny do wykonania zadanej plaszczyzny krysztalu jest bardzo dlugi.Celem wynalazku jest opracowanie urzadzenia, które umozliwialoby wyznaczenie zadanej plasz¬ czyzny krystalograficznej oraz obróbke powierzchni krysztalu zgodnie z ta plaszczyzna.Cel ten wedlug wynalazku zostal osiagniety przez umieszczenie krysztalu na stoliku przechyl¬ nym, którego podstawa w ksztalcie czaszy umiesz¬ czona jest we wglebieniu korpusu stolika. Korpus nasadzony jest obrotowo na trzpieniu zamocowa¬ lo 15 20 25 nym na wsporniku. Wspornik polaczony jest na stale z obrotowa wzgledem osi pionowej podstawy.Dzieki takiemu rozwiazaniu uzyskuje sie to, ze po ustaleniu plaszczyzny krystalograficznej krysz¬ talu mozna korpus wraz ze stolikiem i kryszta¬ lem zdjac ze sworznia i zalozyc nastepnie do urzadzenia szlifujacego. Wystarczy wiec jedno¬ razowe wyznaczenie plaszczyzny aby obrobic po¬ wierzchnie krysztalu zgodnie z zadana plaszczyzna.Orientometr wedlug wynalazku zostanie objas¬ niony za pomoca rysunku, na którym fig. 1 przed¬ stawia orientometr w pólprzekroju w widoku z boku, a fig. 2 — widok z góry.Krysztal 1 umieszczony jest na przechylnym stoliku 2, którego podstawa ma ksztalt czaszy, Stolik jest regulowany srubami mikrometryczny- mi 3 i 4, które powoduja obrót stolika, a zarazem krysztalu wokól osi prostopadlych do siebie. Prze¬ chylny stolik 2 zamocowany jest w korpusie 5 i moze byc wraz z nim obracany wzgledem trzpie¬ nia 8 osadzonego we wsporniku 6. Sruby 3 i 4 ustawione sa w ten sposób, ze powoduja obrót stolika z krysztalem wokól osi prostopadlych do siebie i do osi trzpienia. Te trzy osie przecinaja sie w punkcie A padania wiazki W promieni rent¬ genowskich na krysztal 1. Podstawa 7 na której umieszczony jest wspornik 6 jest obracana wokól osi takze przechodzacej przez punkt A.Wyznaczanie plaszczyzny krystalograficznej po¬ lega na znalezieniu takiego polozenia katowego 5883058830 podstawy 7 oraz srub mikrometrycznych 3 i 4, azeby refleks Braggowski wystepowal w stalym miejscu przy obrocie stolika 2 wzgledem trzpienia # wspornika 6. Znalezienie w tej pozycji jest bardzo szybkie i w rezultacie zostaje ustalony kie¬ runek zadanej plaszczyzny krystalograficznej, któ¬ ry jest wtedy prostopadly do osi trzpienia 8 wspornika 6, stanowiacej baze umozliwiajaca na przeprowadzenie obróbki i kontroli powierzchni krysztalu. .Nie wymaga to wiec powtórnego korzystania z urzadzenia rentgenowskiego. Dokladnosc wyko¬ nania zadanej powierzchni uzyskano ± 1,5 minuty katowej. Opisany orientometr znalazl zastosowanie w'technologii laserów pólprzewodnikowych i moze byc stosowany przy innych technologiach, w któ¬ rych zachodzi potrzeba wykonania plaszczyzn kry¬ stalograficznych zgodnych z zadanym kierun¬ kiem. PL