PL58246B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 6.IX.1969 58246 x& KI. 21 e,jpm- MKP G01rM/f£ UKD Twórca wynalazku: dr inz. Jan Temler Wlasciciel patentu: Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa (Polska) Sposób badania parametrów oporników Przedmiotem wynalazku jest sposób badania pa¬ rametrów oporników polegajacy na wysortowaniu oporników majacych ukryte wady ujawniajace sie przy badaniu napieciem impulsowym jako nieli¬ niowosci charakterystyki opornika. Mozliwe jest przy tym dokonanie badania przy krótkotrwalym przeciazeniu, co podnosi efektywnosc sortowania.Znanym i stosowanym sposobem podwyzszania niezawodnosci oporników jest ich sortowanie na podstawie pomiaru trzeciej harmonicznej napiecia, powstalej wskutek nieliniowosci opornika, do któ¬ rego przylozone zostaje napiecie sinusoidalne o po- mijalnie malej zawartosci napiec harmonicznych.Sposób ten nadaje sie zarówno do indywidualnych pomiarów laboratoryjnych, jak i masowych pomia¬ rów w trakcie produkcji oporników. Wymaga on jednak budowy skomplikowanego przyrzadu, badz zastosowania przyrzadu specjalnego o ograniczo¬ nym napieciu, nizszym od napiecia dopuszczalnego dla wielu typowych oporników.Znanym równiez i stosowanym jest sposób po¬ miaru nieliniowosci oporników przez wyznaczenie wspólczynnika napieciowego. Polega on na pomia¬ rze oporu przy dwóch róznych napieciach (np. przy napieciu dopuszczalnym i 10 cia). Wzgledna róznica tych dwóch opornosci jest wspólczynnikiem napieciowym i stanowi miare nie¬ liniowosci opornika. Sposób ten jest uciazliwy, na¬ dajacy sie jedynie do pomiarów niewielkiej ilosci oporników. 10 15 20 25 30 Znanym równiez i stosowanym jest sposób zwiekszania niezawodnosci oporników przez krót¬ kotrwale ich przeciazenie (t.j. obciazenie powyzej wartosci nominalnych), a nastepnie selekcje opor¬ ników uszkodzonych w czasie próby. Jest to efek¬ tywny sposób zwiekszania niezawodnosci, jednak nie usuwa oporników, w których ujawnianie wad zostalo jedynie zapoczatkowane w czasie próby.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu ba¬ dania parametrów przez selekcje oporników o nad¬ miernej nieliniowosci przy uzyciu stosunkowo pro¬ stego przyrzadu oraz nie majacego istotnych ogra¬ niczen napiecia probierczego. Mozliwosc stosowa¬ nia duzych napiec, wiekszych od znamionowych, pozwoli na polaczenie pomiaru nieliniowosci opor¬ ników z ich krótkotrwalym przeciazeniem. Jedno¬ czesne zastosowanie dwóch prób, wykrywajacych ukryte wady oporników, pozwoli na bardzo efek¬ tywna selekcje, podwyzszajaca niezawodnosc opor¬ ników.Wynalazek zostanie objasniony blizej na podsta¬ wie rysunku, na którym fig. 1 .przedstawia sche¬ mat blokowy ukladu do badania oporników, fig* 2 — wykres obrazujacy powstawanie skladowej stalej na oporniku badanym, a fig. 3, 4, 5 i 6 przed¬ stawiaja przykladowe rozwiazania ukladu bloko¬ wego z fig. 1.Ciag impulsów z generatora 1 (fig. 1) zostaje pozbawiony skladowej stalej przez czlon separuja¬ cy 2. Napiecie impulsowe zostaje odksztalcone 58 2463 58 246 4 przez nieliniowosci opornika 3, wskutek czego po¬ wstaje skladowa stala mierzona przez miernik 5.Miernik pradu lub napiecia stalego 5 jest zabez¬ pieczony przed impulsami przez czlon filtrujacy 4.Fig. 2 przedstawia przyklad powstawania skla¬ dowej wskutek nieliniowosci opornika. Ciag im¬ pulsów 6 pozbawiony skladowej stalej przylozony do opornika calkowicie liniowego o charakterysty¬ ce 7 wywoluje prad 8 równiez pozbawiony skla¬ dowej stalej. To samo napiecie 6 przylozone do opornika o nieliniowej charakterystyce 9 jest nie¬ symetrycznie odksztalcane i powoduje prad 10 za¬ wierajacy skladowa stala. Zasada pomiaru nieli¬ niowosci przedstawiona na fig. 1 jest zilustrowana przykladowymi schematami ideowymi przedsta¬ wionymi na fig. 3, 4, 5 i 6, na których oznaczenia cyfrowe odpowiadaja oznaczeniom z fig. 1. Poza¬ dane jest, aby napiecie impulsowe bylo mozliwie prostokatne i niesymetryczne, a wiec mozliwie zblizone do przebiegu 6, jednak nawet daleko ida¬ ce odchylenia od tego przebiegu nie maja istotne¬ go znaczenia. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób badania parametrów oporników, zna¬ mienny tym, ze badane oporniki zasila sie ciagiem impulsów, a nastepnie mierzy sie skladowa stala przebiegu wyjsciowego, która jest miara przy se¬ lekcji oporników. 10 15KI. 21 e,37/06 58246 MKP G 01 r / 2 4 ^ rc 5^ F/g. 1 ® 40J- '© $«¦ r^.j f/^.4 r~y -CZh ® o DJ !0- m 0 i I J I I Fig b Fig. 6 PL