PL58226B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL58226B1
PL58226B1 PL125911A PL12591168A PL58226B1 PL 58226 B1 PL58226 B1 PL 58226B1 PL 125911 A PL125911 A PL 125911A PL 12591168 A PL12591168 A PL 12591168A PL 58226 B1 PL58226 B1 PL 58226B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
bead
block
thread
thickness
length
Prior art date
Application number
PL125911A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Janusz Makiewicz mgr
inz. MiroslawScibiorski mgr
inz. Wieslaw Karolewski mgr
Ryszard Soszynski mgrinz.
Dunikowski Stanislaw
Pawlowski Cyprian
Cech Stanislaw
Original Assignee
Centralne Laboratorium Przemyslu Bawelnianego
Filing date
Publication date
Application filed by Centralne Laboratorium Przemyslu Bawelnianego filed Critical Centralne Laboratorium Przemyslu Bawelnianego
Publication of PL58226B1 publication Critical patent/PL58226B1/pl

Links

Description

58226 KI 42 k, 50 MKP GOln 33\2£ Opublikowano 20.X.1969 UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Janusz Makiewicz, mgr inz. Miroslaw Scibiorski, mgr inz. Wieslaw Karolewski, mgr inz. Ryszard Soszynski, Stanislaw Dunikowski, Cyprian Pawlowski, Stanislaw Cech Wlasciciel patentu: Centralne Laboratorium Przemyslu Bawelnianego, Lódz (Polska) Uklad elektroniczny czujnika fotoelektrycznego do wykrywania zgrubien przedzy Przedmiotem wynalazku jest uklad elektronicz¬ ny czujnika fotoelektrycznego do wykrywania zgru¬ bien przedzy, który moze znalezc zastosowanie w laboratoriach kontrolnych i do maszyn produk¬ cyjnych przemyslu wlókienniczego.Stosowane dotychczas uklady elektroniczne o jednokomórkowych czujnikach fotoelektrycznych nie pozwalaja na dokladne sklasyfikowanie zgru¬ bien przedzy jednoczesnie wedlug ich grubosci i dlugosci, a ich uklady fotoelektryczne nie wykry¬ waja niektórych plaskich, lecz o nadmiernej sze¬ rokosci, odcinków nitki. Równiez czujniki z dwie¬ ma fotokomórkami w pewnych przypadkach sa niedokladne — mianowicie dwa krótkie zgrubie¬ nia nitki, polozone blisko siebie, sa rejestrowane jako jedno dlugie, szkodliwe zgrubienie.Istota wynalazku polega na zastosowaniu w czujniku jednej fotokomórki oraz ukladu elektro¬ nicznego o dwóch kanalach, gdzie w jednym z nich przeprowadza sie ciagle porównywanie rze¬ czywistej mierzonej grubosci zgrubienia nitki z gruboscia zadana, zas w drugim kanale okresla sie rzeczywista dlugosc zgrubienia przez porów¬ nywanie z czasem zadanym czasu przebywania tego zgrubienia w glowicy pomiarowej.Uklad elektroniczny wedlug wynalazku jest w przykladowym wykonaniu przedstawiony schema¬ tycznie na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia glowice pomiarowa w widoku z boku w momencie pomiaru nitki o normalnej srednicy, fig. 2 — glo¬ wice pomiarowa w przekroju w plaszczyznie A—A w momencie pomiaru nitki o normalnej srednicy, fig. 3 — glowice pomiarowa w widoku z boku w momencie pomiaru zgrubienia, fig. 4 — glo¬ wice pomiarowa w przekroju w plaszczyznie A—A w momencie pomiaru zgrubienia, a fig. 5 — sche¬ mat blokowy ukladu elektronicznego.Uklad elektroniczny wedlug wynalazku sklada sie z glowicy pomiarowej i ukladu elektronicznego o dwóch kanalach (o dwóch skladowych ukla¬ dach elektronicznych) porównujacych wyniki po¬ miarów nadawanych przez glowice pomiarowa.Glowica pomiarowa 1, (fig. 1,1 3) zawiera na¬ swietlacz 2 ze zródlem swiatla i ukladem op¬ tycznym 3, przez który przechodzi wiazka pro¬ mieni swietlnych 4 skierowana do odbiornika fo¬ toelektrycznego 5. Odbiornik 5 zawiera uklad op¬ tyczny, fotodiode 6 oraz przekaznik przesylajacy impulsy do skladowych ukladów porównujacych.Pomiedzy naswietlaczem 2, a odbiornikiem 5 znaj¬ duje sie prowadnik nitki 7 z kalibrowanym wy¬ cieciem 8, w którym biegnie badana nitka 9. Og¬ nisko soczewki wyjsciowej ukladu 3 znajduje sie tuz nad wycieciem 8.Skladowy uklad porównujacy dlugosc zgrubie¬ nia na nitce, blok 10, w roli którego moze byc zastosowany znany uklad liniowego rozladowania kondensatora lub czasowy czlon logiczny, odbiera impulsy pomiarowe z glowicy 1, a nastepnie wy¬ syla swoje impulsy do bloku 11, w postaci, na 582263 przyklad znanego dyskryminatora amplitudy. Do bloku 11 przylaczony jest blok 12, którego zada¬ nia moze spelniac odpowiedni znany uklad bram¬ kowy.Skladowy uklad porównujacy grubosc zgrubienia nitki zawiera blok 13, którym moze byc dyskry- minator amplitudy, oraz przylaczony do niego blok 14, w postaci ukladu bramkowego.Impulsy z obu skladowych ukladów porównu¬ jacych sa doprowadzone do bloku sumatora 15, a z sumatora 15, po wzmocnieniu we wzmacnia¬ czu 16, do czlonu 17, który moze zawierac urza¬ dzenia rejestrujace ilosc zgrubien i wycinajace wykryte w przedzy szkodliwe zgrubienia.Badana nitka 9 biegnie w wycieciu 8 prostopad¬ le do promieni swietlnych 4. Wielkosc przekroju wyciecia 8 jest dobierana do nominalnej srednicy badanej nitki 9 w ten sposób, ze przy nominalnej wielkosci srednicy nitka calkowicie miesci sie w wycieciu 8, natomiast kazde zgrubienie nitki 18 wystapi poza wyciecie i przeslani wiazke swietlna 4 w ognisku soczewki 3, co spowoduje przerwe w naswietlaniu fotodiody 6, w wyniku czego nastapi wyslanie impulsu elektrycznego do ukladu elek¬ tronicznego czujinika.Impuls ten jest porównywany jednoczesnie przez dwa skladowe uklady porównujace.W ukladzie porównujacym dlugosc zgrubienia impuls elektryczny z glowicy 1 wywoluje w blo¬ ku 10 napiecie proporcjonalne do czasu trwania przesloniecia fotodiody 6 przez badane zgrubie¬ nie 18. Napiecie z bloku 10 jest 'nastepnie porów¬ nywane w bloku 11 z napieciem zadanym, wysy¬ lanym przez odpowiednio nastawiony uklad bram¬ kowy 12. Wartosc napiecia zadanego jest ustalana w zaleznosci od dozwolonej nieszkodliwej dlugosci zgrubienia oraz od predkosci biegu badanej nitki.W skladowym ukladzie porównujacym grubosc zgrubienia, impuls elektryczny z glowicy 1 jest porównywany w bloku 13 z napieciem zadanym, wysylanym przez odpowiednio nastawiony uklad bramkowy 14. Wartosc zadanego napiecia jest usta¬ lana w zaleznosci od dozwolonej nieszkodliwej grubosci zgrubienia nitki 18. 4 W przypadku, gdy w skladowych ukladach po¬ równawczych przychodzace napiecia beda wyzsze od napiec zadanych, co oznacza, ze w glowicy po¬ miarowej 1 pojawilo sie zgrubienie o nadmiernej 5 grubosci i dlugosci, to oba skladowe uklady po¬ równujace wysla jednoczesnie impulsy elektrycz¬ ne do bloku 15; wyjsciowy impuls bloku 15 jest nastepnie wzmocniony we wzmacniaczu 16, po czym jest doprowadzony do czlonu wykonawczego 17. 10 Czujnik fotoelektryczny wyposazony w porów¬ nujacy uklad elektroniczny wedlug wynalazku wykrywa z duza dokladnoscia szkodliwe zgrubie¬ nia przedzy, bez wzgledu na forme ich przekroju.Czujnik z ukladem wedlug wynalazku jest latwy 15 do regulowania oraz umozliwia badanie przedzy przy duzych szybkosciach przewijania. PL

Claims (1)

  1. Zastrzezenie patentowe 20 1. Uklad elektroniczny czujnika fotoelektrycznego do wykrywania zgrubien przedzy zawierajacy na wejsciu glowice pomiarowa, w sklad której wcho¬ dza naswietlacz, odbiornik z fotodioda oraz sipe- 25 cjailnie uksztaltowany prowadnik nitki, zas na wyjsciu blok sumatora i wzmacniacz mocy, zna¬ mienny tym, ze jest wyposazony w dwa skladowe uklady elektroniczne, w jednym z których porów¬ nywana jest z odpowiednia wartoscia zadana gru- 30 bósc, a w drugim — dlugosc zgrubienia nitki, przy czym skladowy uklad do badania dlugosci zgru¬ bienia posiada blok liniowego rozladowania kon¬ densatora, wzglednie czasowy czlon logiczny (10), polaczony z blokiem dyskryminatora amplitudy 35 (11), do którego przylaczony jest odpowiednio na¬ stawiany uklad bramkowy (12), wprowadzajacy do ukladu napiecie, którego wartosc odpowiada dozwolonej dlugosci zgrubienia, zas skladowy uklad do badania grubosci zgrubienia posiada blok 40 dyskryminatora amplitudy (13), do którego podla¬ czony jest odpowiednio nastawiany uklad bram¬ kowy (14), bedacy zródlem napiecia, odpowiada¬ jacego dozwolonej nieszkodliwej grubosci zgrubie¬ nia.KL 42 k, 50 58226 MKP G 01 n 2. Z_ 1 A $-9- a\ 3. (X) 4. Fig. 1 ó_ _e_ 5. A-A 6. Fig.2 7. A\ 8. ® 9. CD= 10. A-A 9_ J_ IL 11. Fig. 4KI- 42 k, 50 58226 MKP G 01 n / 10 12. 11 13 14. - 15 16 17 j Fig. 5 ZG „Ruch" W-wa, zam. 679-69 nakl. 230 egz. PL
PL125911A 1968-03-20 PL58226B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL58226B1 true PL58226B1 (pl) 1969-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3778253D1 (de) Verfahren zum kalibrieren von durchflusszytometriegeraeten.
DE69020791D1 (de) Dicken- oder Dichtemessgerät.
DK601485D0 (da) Fremgangsmaade og apparat til automatisk inspektion af gennemsigtigebeholdere for sidevaegs- og dimensionsmaessige defekter
GB1452497A (en) Method and apparatus for analysis of leukocyts
CN109632588A (zh) 一种油液颗粒物污染检测装置和方法
EP1789782B1 (en) Inspection of eggs in the presence of blood
CN209416865U (zh) 一种油液颗粒物污染检测装置
PL58226B1 (pl)
ES8502545A1 (es) Dispositivo para la deteccion de gases con un sensor conteniendo al menos un oxido metalico
US3743838A (en) Device for detecting irregularities in a moving material
US3725666A (en) Electro-optical determination of wear of paper making screen
EP0093890B1 (en) Apparatus for detecting the irregularities on the surface of a linear material
KR970001184A (ko) 이동 중인 사 시이트를 모니터하는 방법 및 이러한 방법을 수행하기 위한 장치
EP0104151A2 (en) A device for the non-destructive testing of the internal stress state of heat tempered plate glass
AU2437700A (en) Method for verifying the state of a device used to examine sheet items
SU817550A1 (ru) Индикатор проколов
JPS5928252B2 (ja) 血液等の凝集状態を検出する方法
SU819651A1 (ru) Индикатор проколов
JPS5963508A (ja) 鋼板の脱スケ−ル処理状態計測装置
SU376657A1 (ru) Многоканальное фотоэлектрическое устройство для сортировки фольговых материалов
JPH04109141A (ja) 粒子計数方法及び装置
JPS5462879A (en) Optical temperature detector
SU1500921A1 (ru) Устройство оптической дефектоскопии неметаллических конструкций
RU2170445C2 (ru) Металлообнаружитель
JPS56111403A (en) Sensor for parallel luminous flux photodetection