PL57290B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL57290B1
PL57290B1 PL120298A PL12029867A PL57290B1 PL 57290 B1 PL57290 B1 PL 57290B1 PL 120298 A PL120298 A PL 120298A PL 12029867 A PL12029867 A PL 12029867A PL 57290 B1 PL57290 B1 PL 57290B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
pressure
diaphragm
measured
initial position
cylinders
Prior art date
Application number
PL120298A
Other languages
English (en)
Inventor
Zbigniew Kaczmarczyk inz.
inz. Zbig¬niew Stankiewicz mgr
Jerzy Trebinski inz.
Original Assignee
Dowództwo Wojsk Lotniczych
Filing date
Publication date
Application filed by Dowództwo Wojsk Lotniczych filed Critical Dowództwo Wojsk Lotniczych
Publication of PL57290B1 publication Critical patent/PL57290B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 25.IV.1969 57290 KI. 42 k, 14/04 MKP G 01 1 AV00 UKD Wspóltwórcy wynalazku: inz. Zbigniew Kaczmarczyk, mgr inz. Zbig¬ niew Stankiewicz, inz. Jerzy Trebinski Wlasciciel patentu: Dowództwo Wojsk Lotniczych, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru cisnienia gazów oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu i Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru cisnienia gazów oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu, znajdujace zastosowanie szczegól¬ nie do sprawdzania manometrów lotniczych zwlaszcza predkosciomierzy, wysokosciomierzy i wskazników liczby Macha. Znane sa urzadzenia do pomiaru cisnienia gazów w których zastoso¬ wane sa elementy sprezyste, przesuniecie któ¬ rych jest proporcjonalne do wielkosci mierzonego cisnienia.Urzadzenia te moga mierzyc cisnienie i podcis¬ nienie ze stosunkowo mala dokladnoscia, wyni¬ kajaca z niedokladnosci elementu sprezystego oraz ukladu przekazujacego. Znane sa równiez urza¬ dzenia do sprawdzania manometrów obciazniko- wo-tloczkowe, które odznaczaja sie duza doklad¬ noscia lecz w zakresie duzych cisnien i nie po¬ zwalaja na pomiar podcisnien. Celem wynalazku .jest opracowanie sposobu pomiaru nadcisnienia do 2,5 kG/cm2 i podcisnienia do 1 kG/cm2 oraz urzadzenia do stosowania tego sposobu o duzej dokladnosci, prostej konstrukcji, malych wymia- .rów, odpornego na trudne warunki pracy.Zadanie to zostalo rozwiazane wedlug wyna¬ lazku w ten sposób, ze przepona nieprezna jest .sprowadzana w trakcie pomiaru do polozenia po¬ czatkowego przy pomocy sily na podstawie któ¬ rej okresla sie mierzone cisnienie. Urzadzenie do pomiaru nadcisnienia i podcisnienia gazów we¬ dlug powyzszego sposobu posiada uklad ruchomy 20 25. 30 skladajacy sie z dwóch wiotkich przepon usztyw¬ nionych tlokami, przeznaczonych osobno jedna dla pomiaru nadcisnienia, a druga podcisnienia i polaczonych na sztywno z ruchoma zerdzia na która naklada sie odpowiednio wycechowane ob¬ ciazniki. Polozenie przepony okresla sie przy po¬ mocy bezstykowego ukladu optycznego nie wy¬ wierajacego zadnej sily na przepony oraz nie posiadajacego strefy nieczulosci charakterystycz¬ nej dla stykowych ukladów odczytujacych.Takie rozwiazanie konstrukcyjne urzadzenia pozwolilo na pomiar malych cisnien z odpowied¬ nio duza dokladnoscia oraz uzyskanie prostej konstrukcji o malych wymiarach.Przyklad wykonania urzadzenia wedlug wy¬ nalazku pokazany jest na rysunku, na którym fig. 1 i fig. 2 przedstawiaja urzadzenie w prze¬ krojach wzdluz osi oznaczonych na rysunku.Urzadzenie posiada dwie przepony 7, usztyw¬ nione tlokami 1 i 2 umocowanymi na wspólnej zerdzi 3.Przepony 7 umieszczone sa w cylindrach 4 i 5 umocowanych w korpusie 6 przyrzadu.Tloki 1 i 2 moga poruszac sie w kierunku pio¬ nowym w cylindrach 4 i 5. Przepona górna 7 wraz z tlokiem górnym 1 sluzy do pomiaru pod¬ cisnienia, natomiast przepona dolna 7 wraz z tlo¬ kiem dolnym 2 sluzy do pomiaru nadcisnienia.Na górnej czesci korpusu 6 zamocowany jest bezstykowy uklad odczytujacy skladajacy sie ze 5729057290 3 zródla swiatla wraz z kondensorem 8, obiekty¬ wu 9 oraz z dwóch luster odbijajacych 10. Lustra zalamuja dwukrotnie promien swietlny i rzutuja go na matówke 11.Pomiedzy kondensorem 8, a obiektywem 9 5 znajduje sie diafragma 12 ze szczelina pozioma 16 o szerokosci najkorzystniej 0,1—0,2 mm, po¬ laczona wspornikami 17 z zerdzia 3.Na zerdzi 3 umieszczony jest wspornik 13 slu¬ zacy do nakladania obciazników. Cisnienie do io cylindrów 4 i 5 wprowadzone jest przy pomocy dwóch koncówek 14 i 15. Na matówce 11 umiesz¬ czona jest kresa pozioma okreslajaca poczatkowe polozenie zerdzi 3 i zwiazanych z nia przepon 7.Pomiar nadcisnienia lub podcisnienia odbywa i5 sie w ten sposób, ze po wlaczeniu oswietlenia, do koncówki 15 dolacza sie zródlo mierzonego nadcisnienia lub zródlo podcisnienia do koncówki 14.Na wspornik naklada sie obciazniki az do 2o chwili, gdy kresa swietlna widoczna na matówce pokryje sie z kresa stala okreslajaca polozenie poczatkowe.Mierzone cisnienie odpowiada sumie obciazni¬ ków nalozonych na wspornik. 25 PL

Claims (1)

Zastrzezenia patentowe
1. Sposób pomiaru cisnienia gazów metoda kom¬ pensacyjna, znamienny tym, ze przepone nie- 4 prezna (7) obciazona mierzonym cisnieniem spro¬ wadza sie w trakcie pomiaru do polozenia poczatkowego przy pomocy sily na podstawie której okresla sie mierzone cisnienie. Urzadzenie do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zawiera dwie przepony (7) usztywnione tlokami (1) i (2) za¬ mocowane na koncach wspólnej pionowej zer¬ dzi (3) i umieszczone w oddzielnych cylindrach (4, 5) do których to cylindrów podlaczone sa koncówki (14, 15) doprowadzajace mierzony czynnik, z których jedna koncówka (14) umie¬ szczona jest nad przepona wiotka (7) cylindra (4), w którym dokonuje sie pomiaru podcis¬ nienia mierzonego czynnika, a druga konców¬ ka (15) usytuowana jest pod przepona wiotka (7) w drugim cylindrze (5) sluzacym do po¬ miaru nadcisnienia mierzonego czynnika, zas do zerdzi (3) przymocowany jest wspornik (13) do nakladania obciazników, a na górnej czesci korpusu (6), pomiedzy kondensorem (8). a obiektywem (9) wskazujacego ukladu optycz¬ nego umieszczona jest diafragma (12) ze szcze¬ lina pozioma (16). Urzadzenie wedlug zastrz. 2, znamienne tym, ze wyposazone jest w bezstykowy uklad optyczny do odczytu polozenia poczatkowego- przepony (7). •KI. 42 k, 14/04 57290 MKP G 01 1 Fig. 1KI. 42 k, 14/04 57290 MKP G 01 1 ¦ ' •¦',•¦ •¦'. Fig. 2 PZG w Pab., zam. 77-G9, nakl. 220 egz. PL
PL120298A 1967-04-29 PL57290B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL57290B1 true PL57290B1 (pl) 1969-02-26

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2014688A (en) Process and device for the application of elasticimetry, particularly of photoelasticimetry
US4114280A (en) Digital electronic indicator
PL57290B1 (pl)
US4254553A (en) Measuring device
GB782691A (en) Differential pneumatic linear dimension comparator gauge
US3464270A (en) Mcleod gage
SU97186A1 (ru) Теодолит
SU145787A1 (ru) Оптический микробарометр
RU2285235C2 (ru) Устройство для визуального и измерительного контроля внутренних полостей
Elliott et al. Primary standard barometer of range 0 to 1200 mb
US1666179A (en) Precision altimeter
US2240492A (en) Maximum pressure gauge
GB556195A (en) Improvements in or relating to apparatus for calibrating or checking pressure gauges and like instruments
US3417622A (en) Pressure gauge
SU79223A1 (ru) Многошкальный прибор дл контрол размеров
SU1760420A1 (ru) Устройство дл измерени веса жидкости
US3042801A (en) Apparatus for analyzing a sample of material
US4327585A (en) Refractometer
SU1740974A1 (ru) Высотомер
SU627335A1 (ru) Устройство дл измерени объема тел ю.н.федорова
GB147987A (en) Improvements in or relating to measuring or gauging instruments
SU81673A1 (ru) Манометр дл измерени высоких и сверхвысоких давлений
SU1497454A1 (ru) Пневматическое устройство дл измерени малых линейных перемещений
SU779831A1 (ru) Мембранный нуль-индикатор
SU847022A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций