PL56824B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 26.IV.1967 (P 120 224) 30.VI.1969 56824 MKP UKD Twórca wynalazku: mgr inz. Józef Ossowicki Wlasciciel patentu: Instytut Elektrotechniki, Warszawa (Polska) Sposób badania topikowej wkladki bezpiecznikowej przeciazenio¬ wym pradem probierczym i uklad pomiarowy do stosowania tego sposobu Wynalazek dotyczy sposobu badania topikowej wkladki bezpiecznikowej przeciazeniowym pradem probierczym, stalym lub przemiennym oraz ukladu pomiarowego do stosowania tego sposobu.Znane sposoby opieraja sie na uzywaniu zródla energii elektrycznej o duzej (zwlaszcza przy bada¬ niu bezpieczników stacyjnych na wyzsze napie¬ cia znamionowe) mocy trwalej oraz oporników i dlawików potrzebnych do nastawienia okreslonego pradu probierczego. Rejestrowanie na tasmie prze¬ biegów pradu i napiecia jest dokonywane przez reczne wlaczanie posuwu tasmy w dobieranym na wyczucie momencie.Wysoki koszt wymienionych urzadzen jak i znaczny koszt i niedogodnosci ich eksploatacji, duze zuzycie tasmy oscylograficznej stanowia wady, których unikniecie jest mozliwe przez zastosowa¬ nie sposobu wedlug wynalazku.Zadanie, jakie sobie postawiono, polega na zna¬ lezieniu takiego sposobu wykonania prób, który, obok zmniejszenia kosztu urzadzen potrzebnych do badan, zmniejszenia zuzycia energii i materia¬ lów, pozwoli na czesciowe zautomatyzowanie pro¬ cesu badania topikowej wkladki bezpiecznikowej.Istota wynalazku polega na tym, ze badana wkladke bezpiecznikowa podgrzewa sie najpierw okreslonym pradem probierczym ze zródla o obni¬ zonym napieciu. W miare postepowania procesu topienia sie wkladki wzrasta spadek napiecia na tej wkladce i w momencie bliskim jej przepale- 10 20 25 6 30 nia nastepuje automatyczne przelaczenie na zródlo zasilania o napieciu probierczym za pomoca prze¬ kaznika nadnapieciowego, pobudzanego przez ten spadek napiecia (po jego wyprostowaniu i wzmoc¬ nieniu).Przykladowe rozwiazanie ukladu do stosowania sposobu badania wkladki bezpiecznikowej wedlug wynalazku jest przedstawione na rysunku, na któ¬ rym fig. 1 przedstawia uklad do sterowania ukladu probierczego, a fig. 2 sam uklad probierczy.Uklad sterowniczy sklada sie z przekaznika nad¬ napieciowego Si, którego cewka jest zasilana na¬ pieciem na zaciskach AB badanej wkladki bez¬ piecznikowej WB przez prostownik Pj z regulowa¬ nym opornikiem Rw oraz trójstopniowy wzmac¬ niacz tranzystorowy Wtr z bocznikujaca dioda D na wejsciu. Cewka przekaznika Si jest bocznikowa¬ na przez kondensator C^ Drugim elementem ukladu sterowniczego jest przekaznik napieciowy S2, którego cewka jest za¬ silana napieciem na zaciskach CD opornika Rz przez prostownik P2. Cewka przekaznika S2 jest bocznikowana kondensatorem C2 o regulowanej pojemnosci.Uklad probierczy sklada sie z badanej wkladki bezpiecznikowej WB zasilanej kolejno ze zródla pomocniczego, na przyklad transformatora T o obnizonym napieciu U, i ze zródla o napieciu pro¬ bierczym Up, laczników Wx i W2 i impedancji skladajacej sie z rezystancji Rz i indukcyjnosci Lz. 568243 Dzialanie obu tych ukladów jest nastepujace: Badana wkladka bezpiecznikowa WB jest pod¬ grzewana wstepnie przepisanym pradem probier¬ czym, pobieranym ze zródla o obnizonym napie¬ ciu U. Z chwila rozpoczecia Sie procesu topienia elementu topikowego wkladki WB wzrasta spadek napiecia na jej zaciskach AB. Gdy osiagnie on wartosc potrzebna do pobudzenia, po wzmocnieniu przez wzmacniacz tranzystorowy Wtr, przekaznika S1? ten ostatni stykami czynnymi ab zamknie jojDWÓd cewki lacznika Wx. Lacznik Wx stykami glównymi otwiera obwód zasilania wkladki WB ze zródla o obnizonym napieciu U, a stykami po¬ mocniczymi zamyka obwód cewki lacznika W2.Lacznik W2 stykami glównymi zalacza na wklad¬ ke WB i wlaczona szeregowo impedancje Rz Lz napiecie probiercze Up.Pojawienie sie na tej impedancji napiecia daje na cewke przekaznika S2 impuls jego zalaczenia.Z ta chwila zostaje podane — przez styki pomoc¬ nicze przekazników Sj i S2, na posuw tasmy oscy¬ lografu Osc — napiecie pomocnicze Us. Opornik Rw o regulowanej rezystancji sluzy do zmiany czulosci ukladu, a tym samym nastawienia mo¬ mentu przelaczenia obwodów zasilania. Dioda pro¬ stownikowa D na wejsciu wzmacniacza tranzysto¬ rowego Wtr zabezpiecza ten wzmacniacz przed nadmiernym wzrostem napiecia w chwili, gdy na¬ stapi stopienie topika w badanej wkladce bezpiecz¬ nikowej WB. Zastosowanie prostownika Pi i kon¬ densatora Ci umozliwia uzycie do prób zarówno pradu stalego jak i przemiennego. Kondensator o regulowanej pojemnosci C2 daje moznosc do¬ brania odcinka tasmy oscylograficznej potrzebnej dlugosci po zakonczeniu procesu topienia wklad¬ ki.. PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób badania topikowej wkladki bezpieczni¬ kowej przeciazeniowym pradem probierczym stalym lub przemiennym znamienny tym, ze badana wkladke bezpiecznikowa (WB) przy¬ lacza sie do zródla o obnizonym napieciu (U), nastawiajac okreslona wartosc pradu probier- 4 czego, podgrzewajacego element topikowy do momentu, gdy osiagnie on temperature, przy której zaczyna sie proces topienia, przy czym topienie sie elementu powoduje wzrost spadku 5 napiecia na wkladce i, gdy ten spadek osiagnie wartosc nastawiona na przekazniku nadnapie- ciowym (Si), automatyczne przelaczenie jej na zródlo o napieciu probierczym (Up).
2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze 0 spadek napiecia na impedancji (Rz, Lz), mie¬ rzony w punktach (CD) obwodu probierczego, po osiagnieciu wartosci nastawionej na prze¬ kazniku nadnapieciowym (S2) powoduje wlacze¬ nie oscylografu (Osc). 5
3. 3. Uklad pomiarowy do stosowania sposobu wed¬ lug zastrz. 1 i 2 znamienny tym, ze sklada sie z: obwodu do podgrzewania badanej wkladki pradem probierczym, zawierajacego badana wkladke (WB) z zaciskami wyjsciowymi (A !0 i B), zródlo energii elektrycznej o napieciu obnizonym (U), na przyklad uzwojenie wtórne transformatora (T) oraz lacznik (Wx) — wlasci¬ wego obwodu probierczego, zawierajacego ba¬ dana wkladke (WB), wlaczona z nia szerego- !5 wo impedancje, skladajaca sie na przyklad z rezystancji (Rz) i indukcyjnosci (Lz), z za¬ ciskami wyjsciowymi (C i D) oraz lacznik (W2) — obwodu automatycznego przelaczania obu zródel zasilania, zawierajacego zaciski wej¬ sciowe (A' i B') polaczone galwanicznie z za¬ ciskami (A i B), prostownik (Pj), opornik (Rw) o regulowanej rezystancji, wzmacniacz tranzystorowy (Wtr) z wlaczona bocznikowo na jego wejsciu dioda (D) oraz przekaznik nadna- pieciowy (Sj) i bocznikujacy jego cewke kon¬ densator (Ci) — obwodu sterujacego wlaczenie oscylatora (Osc), zawierajacego prostownik (P2) z zaciskami wejsciowymi (C i D') pola¬ czonymi galwanicznie z zaciskami (C i D), prze¬ kaznik nadnapieciowy (S2) z bocznikujacym jego cewke kondensatorem (C2) o regulowanej pojemnosci, wreszcie — obwodu oscylatora (Osc) zamykanego przez styki pomocnicze prze¬ kazników (Sx) i (S2). *KI. 21 e, 37/04 56824 MKP G 01 r O 0SC O OC* D'q Fig 1 AB CD Ij-*^tH—W WlP—Q-^|T"o 0 Fig. 2 PL