Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.1.1969 56672 KI. 42 b, 12/03 MKP CrOtt J$| -YTEINIA Twórca wynalazku: mgr inz. Piotr Urbanski Wlasciciel patentu: Instytut Badan Jadrowych, Warszawa (Polska) Sposób nieniszczacego pomiaru grubosci pokryc Ni, Cu, Cr na stali oraz Cr na niklu Przedmiotem wynalazku jest sposób nieniszcza¬ cego pomiaru grubosci pokryc Ni, Cu, Cr na stali oraz Cr na niklu.W obe^iei chwili nie ma izotopowych metod po¬ miaru aiu ,ci pokryc Ni, Cu i Cr na stali. Po¬ miary te z"4 wykonywane metodami termoelek¬ trycznymi lub elektromagnetycznymi, których do¬ kladnosc bardzo silnie zalezy od wlasciwosci mag¬ netycznych i elektrycznych materialów pokrycia i podloza, co wyklucza uzyskanie wysokiej do¬ kladnosci. Ponadto metody te nie nadaja sie do pomiarów grubosci cienkich pokryc bardzo czesto wystepujacych w praktyce. Pomiar grubosci po¬ kryc mozna zrealizowac równiez za pomoca me¬ tody fluorescencyjnej. Promieniowanie pierwotne izotopowego zródla promieniowania x wzbudza promieniowanie fluorescencyjne w materiale po¬ krycia lub w materiale podloza. Rejestrujac inten¬ sywnosc wzbudzonego promieniowania mozna okreslic grubosc pokrycia.W przypadku, gdy rejestruje sie intensywnosc promieniowania wzbudzanego w podlozu, ze wzro¬ stem grubosci pokrycia rejestrowana intensywnosc maleje. Gdy rejestruje sie intensywnosc promie¬ niowania wzbudzanego w pokryciu, ze wzrostem grubosci pokrycia, rejestrowana intensywnosc ro¬ snie. Metoda ta dotychczas mozna bylo osiagnac dobrze wyniki pomiaru grubosci pokryc jedynie w przypadku duzych róznic liczb atomowych ma¬ terialów pokrycia i podloza. Natomiast pomiar 10 15 25 grubosci takich pokryc, jak Ni, Cr, Cu na stali jest praktycznie niemozliwy, gdyz z jednej strony konwencjonalne zródla promieniowania x wzbu-. dzaja jednoczesnie promieniowanie fluorescencyj¬ ne w materiale pokrycia i podloza, a z drugiej strony róznice liczb atomowych materialów pokry¬ cia i podloza sa zbyt male, aby mozna bylo za po¬ moca licznika proporcjonalnego czy scyntylacyj¬ nego oddzielic od siebie promieniowanie fluore¬ scencyjne wzbudzone w materiale pokrycia i po¬ dloza.Istota wynalazku jest zastosowanie zródla pro¬ mieniowania fotonowego x lub y przykrytego fo¬ lia z materialu pokrycia lub podloza. Otrzymuje sie w ten sposób promieniowanie serii K pier¬ wiastka materialu folii wzbudzajacej promienio¬ wanie fluorescencyjne serii K w pierwiastku albo tylko materialu pokrycia, albo tylko materialu podloza.W pierwiastku tym krawedzie absorpcji serii K leza ponizej energii promieniowania K pierwiastka materialu folii. Intensywnosc promieniowania fluo¬ rescencyjnego wzbudzanego w materiale podloza lub pokrycia jest rejestrowana konwencjonalnym detektorem promieniowania, co pozwala na okre¬ slenie grubosci pokrycia.W przypadku zastosowania zródla HtyZr przy¬ krytego folia niklowa mozna mierzyc grubosci po¬ krycia Ni i Cu na stali, gdyz zostanie wzbudzone promieniowanie fluorescencyjne tylko w materiale 566723 podloza, czyli w zelazie, natomiast za pomoca zró¬ dla H3/Zr przykrytego folia zelazna mozna mie¬ rzyc grubosci pokrycia Cr na stali i niklu, gdyz zostanie wzbudzone promieniowanie fluorescencyj¬ ne tylko w materiale pokrycia czyli w chromie.Dzieje sie tak dlatego, ze w przypadku przykry¬ cia zródla H3/Zr folia niklowa otrzymuje sie zen niemal monoenergetyczne promieniowanie serii K niklu o energii ok. 7,5 KeV. * Poniewaz krawedz absorpcji K zelaza lezy po¬ nizej tej energii, a krawedzie absorpcji K nikUu i miedzi powyzej tej energii, moze nastapic wzbu¬ dzenie promieniowania fluorescencyjnego serii K tylko w zelazie. W przypadku przykrycia zródla folia zelazna, otrzymuje sie promieniowanie cha¬ rakterystyczne serii K zelaza o energii ok. 6,4 KeV, które z kolei jest wieksze od krawedzi absorpcji K chromu, lecz mniejsze od krawedzi K zelaza i ni¬ klu. Dlatego w tym wypadku moze nastapic wzbu¬ dzenie promieniowania fluorescencyjnego serii K tylko w chromie.Opisany wyzej sposób umozliwia dokladny po¬ miar grubosci Ni, Cu na stali oraz Cr na stali i niklu, co dotychczasowymi metodami bylo prak¬ tycznie niemozliwe. Sposób pomiaru jest bardzo prosty i nie wymaga skomplikowanej aparatury.Mozna równiez tym sposobem zrealizowac pomiar ciagly, bezkontaktowy.Zrealizowanie pomiaru grubosci pokryc Ni, Cu* i Cr na stali oraz Cr na niklu ma bardzo duze znaczenie dla gospodarki narodowej, gdyz sa to pokrycia najczesciej stosowane. Pomiar taki oprócz 4 kontroli jakosci wyrobu przyczyni sie do duzych oszczednosci stosunkowo drogich materialów sto¬ sowanych na pokrycia. PL