PL55041B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL55041B1 PL55041B1 PL117487A PL11748766A PL55041B1 PL 55041 B1 PL55041 B1 PL 55041B1 PL 117487 A PL117487 A PL 117487A PL 11748766 A PL11748766 A PL 11748766A PL 55041 B1 PL55041 B1 PL 55041B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- quartz
- frequency
- electrodes
- case
- bank
- Prior art date
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 17
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 3
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 15.V.1968 55041 KI. 21 a4,10 MKP H03h . 9J/4U Twórca wynalazku: prof. Wincenty Pajewski Wlasciciel patentu: Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa (Polska) Sposób regulacji czestotliwosci prózniowych oscylatorów kwarcowych Przedmiotem wynalazku jest sposób regulacji czestotliwosci oscylatorów kwarcowych po umie¬ szczeniu ich w szklanej bance.Dotychczas regulacje czestotliwosci próznio¬ wych oscylatorów kwarcowych zamknietych w bance szklanej, przeprowadza sie przed ich umie¬ szczeniem w bance. Dostrojony kwarc umieszcza sie w bance a nastepnie zatapia sje ja. Takie po¬ stepowanie powoduje znaczny odpad kwarców, gdyz w czasie procesu zatapiania banki szklanej czestotliwosc oscylatora ulega zmianie na skutek przegrzania banki oraz plytki kwarcowej.Wynalazek stawia sobie za cel zmniejszenie od¬ padu kwarców przez opracowanie nowego sposobu strojenia przy zachowaniu dotychczasowej do¬ kladnosci.Cel ten wedlug wynalazku osiagnieto przez wy¬ korzystanie znanego procesu rozpylania katodo¬ wego do zwiekszania lub zmniejszania masy elek¬ tro-. Kwarc z uprzednio naniesionymi elektroda¬ mi zostaje umieszczony i zatopiony w bance. szklanej, do której wprowadza sie gaz obojetny, np. argon. Przez odpowiednie spolaryzowanie jed¬ nej z elektrod kwarcu wzgledem wspornika me¬ talowego lub innego elementu z wyprowadzeniem powstaje proces wyladowania.W czasie procesu rozpylania czasteczki metalu ze wspornika metalowego osiadaja na elektrodach kwarcu lub zostaja z nich wybite i osiadaja na bance. W pierwszym przypadku uzyskuje sie 10 15 33 zwiekszenie masy elektrod a zmniejszenie czesto¬ tliwosci, w drugim — zmniejszenie masy elektrod a zwiekszenie czestotliwosci kwarcu. Zmiana cze¬ stotliwosci proporcjonalna jest do czasu przeply¬ wu pradu. Przez, zastosowanie regulacji czestotli¬ wosci oscylatorów wedlug wynalazku ilosc bra¬ ków z powodu niedokladnego dobrania czestotli¬ wosci po zatopieniu kwarcu w bance szklanej zo¬ stala zmniejszona do minimum.Sposób wedlug wynalazku zostanie objasniony blizej za pomoca rysunku, na którym fig. 1 przed¬ stawia polaryzacje elektrod kwarcu w przypadku podwyzszania czestotliwosci, a fig. 2 przedstawia polaryzacje elektrod w przypadku obnizania cze¬ stotliwosci.Po naparowaniu elektrod 5 na kwarc 4 z do¬ kladnoscia odpowiadajaca tolerancji czestotliwosci 0 do 100 Hz i zamocowaniu go na plytce izola¬ cyjnej 7, która umieszczona jest na wsporniku metalowym 6, zatapia sie kwarc w bance szklanej 8, Do srodka banki wprowadza sie przez rurke 3 gaz obojetny, np. argon. Cisnienie gazu w bance powinno wynosic okolo 0,2 mm slupa rteci. Na¬ stepnie do elektrod podlacza sie wysokie napiecie, np. ok. 2000 V.W przypadku gdy zachodzi potrzeba obnizenia czestotliwosci, wyprowadzenie 1 wspornika 6 jest spolaryzowane ujemnie w stosunku do wyprowa¬ dzenia 2 elektrod 5. Po uzyskaniu wlasciwej cze¬ stotliwosci proces przerywa sie i rurke zatapia. 5504155041 Obecnosc argonu nie wplywa praktycznie na do¬ broc kwarcu. W razie potrzeby mozna go usunac, a dopiero potem rurke 3 zatopic.Analogicznie postepuje sie w przypadku pod¬ wyzszenia czestotliwosci, z tym ze wyprowadzenie 1 jest na potencjale dodatnim w stosunku do wy¬ prowadzenia -.Sposób regulacji czestotliwosci kwarcu wedlug wynalazku zmniejsza odpad oscylatorów, które przeszly przez caly cykl produkcyjny, upraszcza ich proces technologiczny przez wyeliminowanie kilkustopniowego naparowywania elektrod. Obec¬ nie wystarczy wstepne naparowanie elektrod z to¬ lerancja 0 — 1Ó0 Hz. Ponadto w czasie dobierania czestotliwosci kwarc nie jest pobudzany do drgan. 10 Sposobem wedlug wynalazku mozna równiez re¬ gulowac czestotliwosc kwarców, które zmienily swa czestotliwosc na skutek starzenia. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób regulacji czestotliwosci prózniowych oscylatorów kwarcowych zamknietych w bance szklanej znamienny tym, ze regulacje czestotliwo¬ sci przeprowadza sie przez zwiekszanie lub zmniejszanie masy elektrod kwarcu w procesie rozpylania katodowego wytworzonego miedzy jed¬ na lub dwoma elektrodami kwarcu a dowolnym umieszczonym wTewnatrz banki elementem meta¬ lowym z wyprowadzeniem elektrycznym. *7ft rfr* -2000V 2000V Fig. 1 F/g 2 WDA-l. Zam. 106. Nakl. 320 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL55041B1 true PL55041B1 (pl) | 1968-02-26 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US1933976A (en) | Integrating relay circuit | |
| US2349849A (en) | Gas tube relay circuits | |
| PL55041B1 (pl) | ||
| GB1214179A (en) | Low-pressure gas discharge lamp for producing resonance radiation | |
| JPS63151103A (ja) | 圧電振動子の周波数調整方法および装置 | |
| US2674694A (en) | Multipactor tube oscillator | |
| US2418375A (en) | Production of delayed pulses | |
| US2206446A (en) | Electronic timer circuit | |
| US3514604A (en) | Pulsed microwave light source | |
| US2426602A (en) | Electric system for producing intermittent or flashing light | |
| US2444303A (en) | Ultra high frequency electronic tube | |
| US2302690A (en) | Electric oscillator | |
| US2392895A (en) | Photosensitive tube | |
| US2425297A (en) | Lamp circuit | |
| Zarem et al. | A Multiple Kerr‐Cell Camera | |
| US2051609A (en) | High frequency oscillator | |
| NO319740B1 (no) | Fremgangsmate og anordning for a generere en laserstrale | |
| US1796650A (en) | Method of exciting piezo-electric crystals and apparatus therefor | |
| US1830532A (en) | Visibly indicating piezo electric crystal resonator | |
| Grésillon et al. | Instantaneous electron energy distribution function in ion waves | |
| US1821698A (en) | Light indicating system and method | |
| US2764689A (en) | Pulsed oscillator | |
| US2500749A (en) | Apparatus for starting charged particle accelerators | |
| US2789233A (en) | Radiation monitors | |
| US2511628A (en) | Electronic synchronous timing system |