Przedmiotem niniejszego wynalazku jest urza¬ dzenie do badania elementów magnetycznych zwlaszcza rdzeni lub ramek pamieci ferrytowych, którego czesc sterujaca jest wyposazona w tran¬ zystorowy uklad formujacy, umozliwiajacy uzy¬ skanie impulsów trapezowych o niezaleznym cza* sie narastania i opadania oraz w blok eliminujacy wplyw zmiany opornosci w obwodzie wyjsciowym na amplitude pradu sterujacego (przelaczajacego) rdzen lub ramke pamieci ferrytowej.Badanie rdzeni ferrytowych lub ich zespolów stanowiacych ramki pamieci ferrytowych polega na okresowym przelaczeniu stanu magnetycznego rdzenia, umieszczonego na igle glowicy pomiaro¬ wej lub bezposrednio w badanej ramce pamieci ferrytowej oraz badaniu jego odpowiedzi, stano¬ wiacej przebieg napieciowy w obwodzie wtórnym transformatora zbudowanego na rdzeniu. Do tego rodzaju badan stosuje sie obecnie urzadzenia, któ¬ re wytwarzaja impulsy przelaczajace, wyposazone we wzmacniacze lampowe, których zasadnicza wa¬ da jest ich czulosc na zmiany opornosci w ob¬ wodzie pomiarowym powodujace zmiany ampli¬ tudy pradu sterujacego.Powyzsza cecha urzadzen spowodowana ich sto¬ sunkowo niewielka opornoscia wewnetrzna wply¬ wa na zmniejszenie dokladnosci ich dzialania, gdyz zmiany opornosci w obwodzie pomiarowym ele¬ mentów magnetycznych sa spowodowane warun¬ kami technicznymi, na przyklad zmieniajaca sie 10 20 25 30 opornoscia na styku elementu doprowadzajacego prad sterujacy do rdzenia lub ramki pamieci fer¬ rytowej. Ponadto znane dotychczas urzadzenia te¬ go typu uniemozliwiaja zbadanie jednoznacznej odpowiedzi badanego elementu magnetycznego na zadany impuls przelaczajacy o dowolnym ksztal¬ cie trapezowym, gdyz wytwarzaja impulsy jedy¬ nie o zmiennym przebiegu narastania, które po¬ nadto nie maja charakteru scisle liniowego. Cha¬ rakteryzuja sie one równiez stosunkowo zlozona budowa, zawierajaca duza ilosc elementów elek¬ trycznych wplywajacych na zmniejszenie ich pew¬ nosci dzialana i wymagajacych duzej mocy zasi¬ lajacej.Powyzsze wady i niedogodnosci usuwa urzadze¬ nie do badania elementów magnetycznych zwla¬ szcza rdzeni lub ramek pamieci ferrytowych we¬ dlug wynalazku, którego czesc sterujaca sklada sie z tranzystorowego ukladu formujacego, który umozliwia niezalezna regulacje przebiegu nara¬ stania i opadania impulsu i zapewnia jego scisle liniowy charakter oraz z bloku koncowego o du¬ zej opornosci wewnetrznej eliminujacego wplyw zmian opornosci w obwodzie pomiarowym na am¬ plitude impulsu pradu przelaczajacego (steruja¬ cego).Regulacje przebiegu narastania i opadania im¬ pulsów uzyskano w ukladzie formujacym urzadze¬ nia wedlug wynalazku przez wlaczenie miedzy baze i kolektor jednego z tranzystorów ukladu 5455554555 kondensatora ladowanego przez regulowana opor¬ nosc wlaczona w obwód kolektora tegoz tranzy¬ stora, a rozladowywanego przez regulowana opor¬ nosc wlaczona w obwód kolektora drugiego tran¬ zystora. Natomiast liniowy charakter tych prze¬ biegów uzyskano przez wlaczenie w obwód regu¬ lowanej opornosci poprzez która nastepuje wspom¬ niane ladowanie diody i kondensatora, zas wysoka opornosc bloku koncowego uzyskano przez zasto¬ sowanie tranzystora wyjsciowego pracujacego w ukladzie o wspólnej bazie.Dzieki mozliwosci regulacji przebiegu narasta¬ nia i opadania impulsów i ich liniowemu charak¬ terowi uzyskano mozliwosc jednoznacznego bada- j|ia^fttemaotów. magnetycznych za pomoca impul- |ó& t&pezoro&cfi 3 powolnym ksztalcie.! Urzadzenie wedlug wynalazku stanowi przy tym stosunkowo prosty uklad elektryczny, zawierajacy Macznle T&ni&y elementów w porównaniu do zna¬ nych upzadzenJampowych, dzieki czemu jest pew¬ niejsze w dzialaniu, a równoczesnie wymaga zna¬ cznie mniejszej mocy zasilajacej oraz jest lzej¬ sze i tansze w porównaniu do tych urzadzen.Wynalazek jest przykladowo wyjasniony na ry¬ sunku, na którym fig. 1 przedstawia ogólny sche¬ mat urzadzenia do badania elementów magne¬ tycznych zwlaszcza rdzeni ferrytowych, fig. 2 — schemat blokowy czesci sterujacej tego urzadze¬ nia, fig. 3 — jej przykladowy schemat elektrycz¬ ny, fig. 4 — ksztalt impulsów wejsciowych w prze¬ kroju A—A, a fig. 5 — ksztalt impulsów wyjscio¬ wych w przekroju B—B.Urzadzenie do badania elementów magnetycz¬ nych, zwlaszcza rdzeni lub ramek pamieci ferryto¬ wych wedlug wynalazku sklada sie z dwóch pod¬ stawowych czesci: (fig. 1) z czesci sterujacej I, której zadaniem jest wytworzenie trapezowych impulsów sterujacych o nastawianych czasach na¬ rastania i opadania i regulowanej amplitudzie, z glowicy pomiarowej II, w której jest umieszczo¬ ny badany rdzen 1 oraz z czesci pomiarowej III, majacej na celu badanie przebiegu napieciowego odpowiedzi rdzenia, Czesc sterujaca I urzadzenia wedlug wynalazku (fig. 2) sklada sie z ukladu formujacego A i blo¬ ku koncowego B.Uklad formujacy A, którego przykladowy sche¬ mat jest przedstawiony na fig. 3, sklada sie z tranzystora Tl, na którego baze podawany jest prostokatny impuls wejsciowy (fig. 4), zas w ob¬ wód kolektora wlaczony jest regulowany opor¬ nik Rl oraz z tranzystora T2, którego baza jest polaczona z kolektorem tranzystora Tl, zas w ob¬ wód kolektora wlaczony jest regulowany opor¬ nik R2. W celu uzyskania okreslonego zakresu regulacji czasu narastania i opadania impulsów miedzy baze tranzystora T2 i jego kolektor wla¬ czony jest kondensator Cl ladowany przez regu¬ lowany opornik R2, a rozladowywany przez re¬ gulowany opornik Rl, zas w celu uzyskania linio¬ wego charakteru przebiegów impulsu w obwodzie kolektora tranzystora T2 umieszczona jest dioda krystaliczna Dl oraz kondensator C2 wlaczony miedzy katode tej diody i emiter trzeciego tran¬ zystora T3.Tranzystor T3, który pracuje w ukladzie wspól¬ nego kolektora jest wlaczony baza na kolektor tranzystora T2, przy czym miedzy jego baze i emi¬ ter wlaczona jest dioda krystaliczna D2, zas w 5 obwód emitera — potencjometr PI sluzacy do re¬ gulacji amplitudy otrzymywanych impulsów.Na wyjsciu B ukladu formujacego uzyskuje sie impuls trapezowy (fig. 5) o nastawianym czasie narastania tn za pomoca regulowanego oporni- 10 ka R2, i czasie opadania tQ za pomoca opornika Rl oraz amplitudzie U regulowanej za pomoca po¬ tencjometru PI. Przebiegi tego impulsu maja przy tym scisle liniowy charakter.Do wzmocnienia otrzymanego impulsu, a równo- 15 czesnie wyeliminowania wplywu zmian opornosci w obwodzie pomiarowym glowicy II na amplitude impulsu pradu przelaczajacego sluzy blok konco¬ wy B o duzej opornosci wewnetrznej. Blok ten sklada sie z pracujacego w ukladzie wspólnego 20 kolektora tranzystora T4, na którego baze jest wlaczone wyjscie B ukladu formujacego, zas emi¬ ter obciazony oporem R3 jest wlaczony na baze tranzystora T5. W obwód kolektora tranzystora T5 wlaczony jest tranzystor T6, zapewniajacy duza 25 opornosc wyjsciowa ukladu, zas w obwód jego emitera opornik R4 stanowiacy ujemne sprzezenie zwrotne, które zapewnia dokladne przenoszenie ksztaltu impulsu sterujacego. W obwód kolektora tranzystora T6 jest wlaczona glowica pomiarowa so II z umieszczonym w niej rdzeniem 1 lub ramka pamieci ferrytowej. Zmienna opornosc styków w obwodzie glowicy pomiarowej nie oddzialywuje na amplitude pradu przelaczajacego, gdyz jest bardzo mala w porównaniu do opornosci wewne- 35 trznej bloku koncowego B.Dzialanie opisanej wyzej czesci sterujacej urza¬ dzenia do badania elementów magnetycznych jest nastepujaca. W przypadku braku impulsu na wejsciu ukladu formujacego A tranzystory Tl 40 i T3 znajduja sie w stanie odciecia, zas tranzy¬ stor T2 w stanie nasycenia. Podany na wejscie impuls prostokatny (fig. 4) o polaryzacji dodatniej wprowadza tranzystor Tl w stan nasycenia, przy czym napiecie na jego kolektorze spada w przy- 45 blizeniu do zera, wskutek tego kondensator Cl jest ladowany poprzez diode Dl, regulowany opor¬ nik R2 oraz przewodzacy tranzystor Tl, przy czym stala czasowa (R2, Cl) odpowiada czasowi narasta¬ nia tn impulsu. Po naladowaniu kondensator Cl 50 utrzymuje swe stale napiecie, az do momentu, gdy zakonczenie impulsu wejsciowego {fig. 4) spowo¬ duje odciecie tranzystora Tl i nasycenie tranzy¬ stora T2. Wskutek tego kondensator Cl rozlado¬ wuje sie w obwodzie regulowanego opornika Rl 55 i tranzystora T2, przy czym stala czasowa (Rl, Cl) odpowiada czasowi opadania tQ impulsu.Dzialanie czesci ukladu majacej na celu utrzy¬ manie liniowego charakteru przebiegów narastania i opadania impulsu sterujacego jest nastepujace. 60 Przy braku impulsu wejsciowego kondensator C2 naladowany przez diode Dl zapobiegajaca jego rozladowaniu w momencie odciecia tranzystora T2 i potencjometr PI zwieksza napiecie ladowania kondensatora Cl. Dzieki temu wykorzystywany 65 odcinek krzywej ladowania (oznaczony na fig. 554555 linia ciagla) i krzywej rozladowania jest z du¬ zym przyblizeniem liniowy. Uzyskany na wyj¬ sciu B ukladu formujacego impuls trapezowy, którego amplituda jest nastawiona potencjome¬ trem PI, zas czasy narastania tn i opadania tQ regulowanymi opornikami R2 i Rl jest wzmacnia¬ ny w znany sposób w bloku koncowym i poda¬ wany na glowice pomiarowa II, powodujac przela¬ czenie stanu magnetycznego umieszczonego w niej badanego rdzenia ferrytowego.Urzadzenie do badania elementów magnetycz¬ nych wedlug wynalazku moze znalezc zastosowa¬ nie zwlaszcza do badania rdzeni ferrytowych lub ramek pamieci ferrytowych. PL