PL54392B3 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL54392B3
PL54392B3 PL110934A PL11093465A PL54392B3 PL 54392 B3 PL54392 B3 PL 54392B3 PL 110934 A PL110934 A PL 110934A PL 11093465 A PL11093465 A PL 11093465A PL 54392 B3 PL54392 B3 PL 54392B3
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
cores
core
measuring
chute
needle
Prior art date
Application number
PL110934A
Other languages
English (en)
Inventor
Wisniewski Wojciech
Gronek Marian
JerzyRossian
Filipinski Józef
Original Assignee
Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matema¬Tycznych
Filing date
Publication date
Application filed by Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matema¬Tycznych filed Critical Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matema¬Tycznych
Publication of PL54392B3 publication Critical patent/PL54392B3/pl

Links

Description

Opublikowano: 8.XII.1967 54392 KI. 81 e, 83/02 MKP B 65 g UKD MJC Wspóltwórcy wynalazku: Wojciech Wisniewski, Marian Gronek, Jerzy Rossian, Józef Filipinski Wlasciciel patentu: Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matema¬ tycznych, Warszawa (Polska) Automatyczny selektor toroidalnych rdzeni ferrytowych Przedmiotem wynalazku jest automatyczny se¬ lektor toroidalnych rdzeni ferrytowych dzialajacy wedlug sposobu podanego w patencie 53204, w którym na tym samym stanowisku pomiarowym mierzy sie co najmniej dwa elementy badane, a nastepnie element wzorcowy, przy czym ele¬ menty badane po dokonaniu pomiaru przetrzymy¬ wane sa we wstepnych zasobnikach do chwili sprawdzenia ukladu pomiarowego przez element wzorcowy.W znanych automatycznych selektorach toro¬ idalnych rdzeni ferrytowych podawanie rdzeni do glowicy pomiarowej odbywa sie przez kolo pomia¬ rowe z iglami przeznaczonymi wylacznie dla rdze¬ ni selekcjonowanych umieszczonymi na jego ob¬ wodzie przy czym rdzen wzorcowy umieszczony jest na oddzielnym stanowisku pomiarowym.Stosowanie oddzielnych stanowisk pomiarowych dla rdzenia wzorcowego i rdzeni badanych przy zuzywaniu sie igiel rdzeni selekcjonowanych pod¬ czas pracy nie zapewnia identycznych warunków pomiarów dla rdzenia wzorcowego i rdzeni bada¬ nych co moze byc przyczyna niepowtarzalnosci po¬ miarów, ponadto wymaga stosowania ukladów przelaczajacych stanowiska pomiarowe.Celem wynalazku jest stworzenie urzadzenia pracujacego wedlug sposobu automatycznej kon¬ troli ukladów pomiarowych w automatycznych urzadzeniach sortujacych podanego w patencie nr 53204, który nie posiada wad znanych urza- 10 15 20 25 30 dzen oraz umozliwia skrócenie czasu pomiaru i zwieksza pewnosc dzialania urzadzenia.Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie kon¬ strukcji automatycznego selektora toroidalnych rdzeni ferrytowych, w którym igla rdzenia wzor¬ cowego jest krótsza od igiel rdzeni selekcjonowa¬ nych, a zsyp umieszczony przed kolem podajacym posiada dwie bieznie, z których jedna ma ksztalt zblizony do krzywej balistycznej, a bieznia umie¬ szczona za kanalem zsypowym jest pochyla, po¬ nadto na bocznej powierzchni kola podajacego sa umieszczone krzywki, do których przylega szczeka zewnetrzna glowicy pomiarowej z zamocowanym na niej nastawnym zwieraczem, a przed rozdzie¬ laczem jest umieszczony ruchomy sciagacz rdzeni selekcjonowanych w ksztalcie plytki ze szczelina na igle, a ponadto posiada uklad synchronizujacy poczatek cyklu pomiarowego, którego tarcza osa¬ dzona jest na walku, z którego naped przekazy¬ wany jest przez przekladnie maltanska na walek kola pomiarowego, na którym osadzona jest tarcza ukladu synchronizujacego wejscie rdzenia wzorco¬ wego na stanowisko pomiarowe.Wynalazek zostanie blizej wyjasniony na przy¬ kladzie wykonania przedstawionym na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat ogólny se¬ lektora, fig. 2 — konstrukcje zsypu wraz z kon¬ cówka rynny podajacej, fig. 3 — fragment zsypu i kola podajacego, a fig. 4 przedstawia schemat ideowo-konstrukcyjny glowicy pomiarowej. 5439254392 3 Podajnik wibracyjny 1 pokazany na fig. 1 po¬ siada pojemnik 2 rdzeni przeznaczonych do se¬ lekcji oraz sito 3 odsiewajace odlamki rdzeni. Do podajnika przymocowana jest sztywno rynna 4 przekazujaca rdzenie z podajnika do zsypu 5 za¬ konczona sprezystym jezyczkiem, który wchodzi bezstykowo w kanal zsypu. Zsyp 5 ze zdjeta po¬ krywa przednia pokazany na fig. 2, posiada biez¬ nie rdzeni 29 o ksztalcie zblizonym do krzywej balistycznej, kanal zsypowy 31 oraz druga bieznie pochyla 30 odprowadzajaca nadmiar rdzeni do za¬ sobnika 6.Igly 32 umieszczone na obwodzie kola podaja¬ cego 8 w czasie jego obrotu przechodza przez szcze¬ line 33 w zsypie i zabieraja rdzenie. Przed wypad¬ nieciem rdzeni z kanalu zsypu zapobiegaja spre¬ zynki dociskowe 7 pokazane na fig. 3. Jednocze¬ snie koncówki tych sprezynek ulatwiaja wejscie rdzeni na igly. Igla rdzenia wzorcowego 34 jest krótsza. Jej dlugosc jest tak dobrana, zeby nie zabierala rdzenia z kanalu zsypowego 31, a jedno¬ czesnie zapewniala styk ze szczekami wewnetrz¬ nymi 42 glowicy pomiarowej 9. Kolo podajace 8 obraca sie ruchem skokowym uzyskiwanym za po¬ moca przekladni maltanskiej 25, przekladni sli¬ makowej 18 i silnika 17.Na walku slimacznicy umieszczona jest tarcza 20 synchronizujaca poczatek cyklu pomiarowego, która wspólpracuje z oswietlaczem 21 i fotoele- mentem 19 a na walku tarczy maltanskiej umie¬ szczona jest tarcza 23 synchronizujaca wejscie na stanowisko pomiarowe rdzenia wzorcowego i wspólpracujaca z oswietlaczem 24 i fotoelemen- tem 22. Igla z rdzeniem zatrzymuje sie w szcze¬ kach glowicy pomiarowej w celu dokonania po¬ miaru. Glowica pomiarowa 9 przedstawiona na fig. 4 posiada dwie szczeki wewnetrzne 42, które sty¬ kaja sie z igla 32 lub igla rdzenia wzorcowego 34 i szczeki zewnetrzne 36, stykajace sie z powierzch¬ nia boczna kola podajacego.Szczeki wraz z igla i kolem podajacym tworza obwód elektryczny pomiaru rdzenia. Na jednej z powierzchni bocznych kola podajacego znajduja sie krzywki 35 do których przylega jedna ze szczek zewnetrznych 36, przy czym na tej szczece zamocowany jest sprezysty, nastawny zwieracz 37 zwierajacy wyjscie wzmacniacza pradowego w czasie ruchu igiel.Obwód elektryczny glowicy posiada uklad kom¬ pensujacy 38, bezindukcyjny opornik wzorcowy 39 i zwieracz opornika 40. Opornik wzorcowy sluzy do pomiaru pradów w tescie pomiarowym poda¬ wanym z generatora testu oraz do skalowania wzmacniacza pradowego tego generatora. Gniazda koncentryczne 4* przeznaczone sa do doprowadze¬ nia pradu z generatora testu pomiarowego, wy¬ prowadzania odpowiedzi rdzenia do ukladów po¬ miarowych oraz obserwacji na oscyloskopie pradu testu pomiarowego.Po zakonczeniu pomiarów igla ze zmierzonym rdzeniem wykonuje ruch skokowy w czasie, któ¬ rego ruchomy sciagacz 10 w ksztalcie plytki ze szczelina na igle zdejmuje rdzen z igly wrzuca¬ jac go do kanalu 27 rozdzielacza rdzeni 11. Scia¬ gacz napedzany jest ukladem krzywkowo-dzwig- 15 niowym 26. W czasie wychodzenia z glowicy igly z rdzeniem wzorcowym sciagacz podnoszony jest przez dzwignie z ukladu 26 umozliwiajac w ten sposób przejscie igly pod sciagaczem, co zapewnia 5 ciagle przebywanie rdzenia wzorcowego na igle.Zaleznie od wyników pomiaru, otwarta zostaje jedna z zastawek rozdzielacza 28 i rdzen wpada do jednej z komór 13 rozdzielacza 11, po czym na¬ stepuje zamkniecie zastawki kontrolowane oswie- 10 tlaczem 12 i fotoelementem 16. Po dokonaniu po¬ miaru rdzeni selekcjonowanych w czasie jednego pelnego obrotu kola podajacego nastepuje pomiar rdzenia wzorcowego.Z chwila uzyskania prawidlowego wyniku po¬ miaru rdzenia wzorcowego zastawka glówna 15 powoduje odprowadzenie rdzeni zmierzonych z ko¬ mór 13 rozdzielacza do pojemników koncowych 14.W przypadku, gdy pomiar rdzenia wzorcowego wy¬ kaze, ze dzialanie selektora jest wadliwe, wówczas 20 selektor zatrzymuje sie samoczynnie, a powtórne jego uruchomienie moze nastapic po recznym przesunieciu zastawki glównej powodujac odpro¬ wadzenie rdzeni do zasobnika rdzeni niespelniaja- cych ustalonych kryteriów selekcji. 25 PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Automatyczny selektor toroidalnych rdzeni fer¬ rytowych posiadajacy kolo podajace na obwodzie ^ którego umieszczone sa igly, które z nalozony¬ mi na nie rdzeniami przechodza przez glowice pomiarowa a nastepnie rdzenie te kierowane sa do rozdzielacza rdzeni, w którym to selek¬ torze na tym samym stanowisku pomiarowym 35 mierzy sie co najmniej dwa elementy badane a nastepnie element wzorcowy, przy czym ele¬ menty badane po dokonaniu pomiaru przetrzy¬ mywane sa we wstepnych zasobnikach do chwi¬ li sprawdzenia ukladu pomiarowego przez ele- 40 ment wzorcowy wedlug patentu 53204 znamien¬ ny tym, ze igla (34) rdzenia wzorcowego jest krótsza od igiel (32) rdzeni selekcjonowanych, a zsyp (5) umieszczony przed kolem podajacym (8) posiada dwie bieznie, z których bieznia (29) ma ksztalt zblizony do krzywej balistycznej, a bieznia (30) jest pochyla i umieszczona za ka¬ nalem zsypowym (31) ponadto na bocznej po¬ wierzchni kola podajacego (8) sa umieszczone krzywki (35), do których przylega szczeka zew- 50 netrzna (36) glowicy pomiarowej (9) z zamoco¬ wanym na niej nastawnym zwieraczem (37) a przed rozdzielaczem rdzeni (11) jest umieszczo¬ ny ruchomy sciagacz (10) rdzeni selekcjonowa¬ nych w ksztalcie plytki ze szczelina na igle, a 55 ponadto posiada uklad synchronizujacy poczatek cyklu pomiarowego, którego tarcza (20) osadzo¬ na jest na walku, z którego naped przekazy¬ wany jest przez przekladnie maltanska na wa¬ lek kola pomiarowego, na którym osadzona jest 60 tarcza (23) ukladu synchronizujacego wejscie rdzenia wzorcowego na stanowisko pomiarowe.
  2. 2. Automatyczny selektor wedlug zastrz. 1 zna¬ mienny tym, ze glowica pomiarowa (9) posiada bezindukcyjny opornik wzorcowy (39) i zwie- 65 racz opornika (40). 4554392 3. Automatyczny selektor wedlug zastrz. 1 zna¬ mienny tym, ze z jednej strony tarcz (20, 23) umieszczone sa oswietlacze (19, 22) a z drugiej strony fotoelementy (21, 24). 4. Automatyczny selektor wedlug zastrz. 1 zna- 6 mienny tym, ze rozdzielacz rdzeni (11) posiada uklad kontroli otwierania zastawek, który sta¬ nowia oswietlacz (12) i fotoelement (16), a za¬ stawki (28) stanowia przyslony tego ukladu. / 2 3 Fig. 1KI. 81 e, 33/02 54392 MKP B 65 g 29 5 3Q. JL Fig.
  3. 3. Fig.4 WDA-l. Zam. 1357/67. Nakl. 460 egz. PL
PL110934A 1965-09-20 PL54392B3 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL54392B3 true PL54392B3 (pl) 1967-12-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2497961A (en) Electrical measuring device
US3073446A (en) Machine for processing electrical components
PL54392B3 (pl)
GB469137A (en) Improvements in thread testing device
US3220250A (en) Apparatus for testing rubber
US2540225A (en) Cell testing apparatus
US2970690A (en) Testing apparatus
US2494520A (en) Electronic timer
US3771048A (en) Sealed contact switch testing apparatus utilizing helmholtz coils
DE1516941B2 (de) Automatisch arbeitende Prüf und Sortiereinrichtung fur elektrische Bauelemente
US2605447A (en) Enlargement photography
US3409127A (en) Method and apparatus for testing electrical circuit breakers
US1814437A (en) Apparatus and method for testing electrical devices
SU508808A1 (ru) Устройство дл сортировки радиодета-лей на группы по электрическим пара-метрам
JPS5427755A (en) Circuit testing equipment
US3847283A (en) Reed switch analyzer
SU108792A1 (ru) Автомат дл сортировки полупроводниковых выпр мительных элементов по электрическим параметрам
SU513538A1 (ru) Устройство дл контрол электрических параметров плоских модулей
US3883001A (en) Apparatus for sorting ferrite cores
US2885075A (en) Electronic sclerometer
US2978102A (en) Apparatus for testing and sorting humidity-responsive electrical resistor or hygrometer
GB1153355A (en) Improvements in or relating to Apparatus for Automatically Classifying Electrical Components.
SU144239A1 (ru) Автомат дл сортировки селеновых выпр мительных элементов по величине пр мого падени напр жени и обратного тока
SU165828A1 (ru) Автоматическое устройство для контроля и сортировки тороидалбнб1х трансформаторов
SU131557A1 (ru) Приспособление к автоматам дл контрол монет