PL51664B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 3Q.VIL19S6 51664 KI. 42 b, 12/05 MKP G 01 b _M JBIB UKD liotekai Wspóltwórcy wynalazku: dr inz. Jerzy Buc, mgr inz. Bogdan Nowicki Wlasciciel patentu: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru udzialu nosnego powierzchni Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru udzialu nosnego, powierzchni obrabianych za po¬ moca reflektometru.Jednym z parametrów charakteryzujacych geo¬ metryczna jakosc powierzchni obrabianych jest udzial nosny, okreslany stosunkiem sumarycznej wielkosci elementarnych pól styku powierzchni ba¬ danej z powierzchnia wzorcowa, do powierzchni no¬ minalnej. Wielkosc te mozna wyznaczyc przy za¬ stosowaniu nizej opisanych metod.Najszersze zastosowanie posiada obecnie metoda tuszowania. Pomiar ta metoda wykonywany jest nastepujaco: powierzchnie wzorcowa pokrywa sie warstwa tuszu i przesuwa sie po niej powierzchnie badana, w wyniku czego wierzcholki nierównosci tej ostatniej zostaja pokryte tuszem w postaci ko¬ lorowych plam. Udzial nosny powierzchni okresla¬ ny jest iloscia plam przypadajaca na okreslona wielkosc powierzchni, najczesciej na powierzchnie kwadratu o boku 25,4 mm.Metoda optyczna Mechau oparta jest na zasadzie wykorzystania zjawiska zaklócenia calkowitego wewnetrznego odbicia w punktach styku powierz¬ chni kontrolnej pryzmatu mierniczego z wierzchol¬ kami nierównosci powierzchni badanej. Powierzch¬ nie kontrolna pryzmatu mozna obserwowac .po¬ przez specjalne uklady optyczne, pola styków wierzcholków nierównosci z powierzchnia kontrol¬ na pryzmatu sa widoczne w postaci czarnych plam na swiecacym tle. 2 W metodzie luminescencyjnej powierzchni wzorcowa pokryta bardzo cienka warstwa lumin - foru o okreslonej grubosci, dociska sie do po¬ wierzchni badanej, wskutek czego zostaje ona 5 pokryta luminoforem w punktach styku z po¬ wierzchnia wzorcowa. Powierzchnie badana umie¬ szcza sie nastepnie w ciemni optycznej i skiero¬ wuje sie na nia promienie ultrafioletowe, pod wplywem których wierzcholki nierównosci pokryte io luminoforem sa widoczne w postaci swiecacych plam.Powszechne zastosowanie w kontroli produkcji posiada obecnie tylko metoda tuszowania, która jest tylko metoda jakosciowa ze wzgledu na to, 15 ze udzial nosny okreslany jest poprzez ilosc pól styku przypadajacych na okreslony obszar, a nie poprzez ich sumaryczne pole. Wielkosc udzialu nosnego okreslonego ta metoda jest od kilkudzie¬ sieciu do kilkuset razy wieksza od jej rzeczywistej 20 wartosci. Ze wzgledu na precyzyjne i bardzo dro¬ gie urzadzenia pomiarowe metoda Mechau stoso¬ wana jest w kontroli produkcji sporadycznie.Udzial nosny okreslany jest wizualnie na podsta¬ wie porównania obrazu pól styku z wzorcowymi 25 fotogramami.Pole pomiarowe pryzmatu jest bardzo male — rzedu kilku dziesietnych do kilku 'mm2, wskutek czego mejtoda ta mozna okreslic tylko mikroudzial nosny. Metoda luminescencji ma zastosowanie tyl- 30 ko laboratoryjne, poniewaz pomiary wykonywane 51664 /51664 4 sa w ciemni optycznej przy zastosowaniu promie¬ niowania ultrafioletowego szkodliwego dla zdro¬ wia. Poza tym jest ona praco- i czasochlonna.Sposób pomiaru udzialu nosnego wedlug wyna¬ lazku polega na zastosowaniu reflektometru Ul¬ brichta charakteryzujacego sie tym, ze mierzy on sumaryczna wartosc swiatla odbitego kierunkowo i rozproszonego od powierzchni. Reflektometr ten jest bardzo prosty w budowie.Pomiar wykonuje sie w sposób nizej opisany.Powierzchnie badana przygotowuje sie do pomiaru pokrywajac ja pochlaniaczem optycznym i nastep¬ nie odslania sie wierzcholki nierównosci za pomoca zgarniaka o wysokiej dokladnosci, który moze byc wykonany badz jako zgarniak liniowy, badz jako powierzchniowy. W ten sposób po przesunieciu zgarniaka przez powierzchnie mierzona zostana od¬ sloniete wierzcholki nierównosci lezace w jednej plaszczyznie lub prostej.Wielkosc odslonietej powierzchni, a zatem i wiel¬ kosc zgarniaka, powinna byc wieksza od powierz¬ chni pomiarowej przyrzadu. Po przygotowaniu próbki mierzy sie kolejno za pomoca reflektometru Ulbrichta wspólczynnik odbicia swiatla (poprzez pomiar strumienia swiatla) od czystej powierzchni metalu — otrzymujac na galwanometrze wskazanie im, od powierzchni pokrytej calkowicie pochlania¬ czem — otrzymujac wskazanie ip oraz od po wierz¬ chni pokrytej pochlaniaczem z odslonietymi za po¬ moca zgarniaka wierzcholkami nierównosci — otrzymujac wskazanie i. Poniewaz strumien swiat¬ la odbitego od powierzchni jest proporcjonalny do wielkosci czystej powierzchni, wobec tego udzial nosny N wyznacza sie z proporcji: N= /~*p -100 (%) Sposób pomiaru udzialu nosnego powierzchni przy zastosowaniu reflektometru Ulbrichta pozwa¬ la na szybkie wyznaczenie udzialu nosnego zarów¬ no liniowego, jak i powierzchniowego. Mozna tym sposobem mierzyc udzial nosny powierzchni o róz¬ nych wielkosciach nierównosci i róznym stanie ge¬ ometrycznym powierzchni (chropowatosci, falis¬ tosci i bledach ksztaltu); z tego wzgledu moze on miec bardzo szeroki zakres zastosowania w po¬ miarach jakosci powierzchni obrobionych metali.Przyrzady pomiarowe sa male, wygodne w uzyciu i moga byc stosowane bezposrednio na stoisku ro¬ boczym. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru udzialu nosnego powierzchni, znamienny tym, ze mierzy sie za pomoca reflekto¬ metru Ulbrichta wspólczynnik odbicia swiatla od czystej powierzchni metalu obrobionego, od po¬ wierzchni pokrytej pochlaniaczem oraz od po¬ wierzchni pokrytej pochlaniaczem z odslonietymi za pomoca zgarniaka wierzcholkami nierównosci, przy czyim udzial nosny powierzchni wyznacza sie ze znanej zaleznosci. 10 15 20 25 ZG „Ruch" W-wa, zam. 767-66, naklad 310 egz. PL