PL51578B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL51578B1
PL51578B1 PL104755A PL10475564A PL51578B1 PL 51578 B1 PL51578 B1 PL 51578B1 PL 104755 A PL104755 A PL 104755A PL 10475564 A PL10475564 A PL 10475564A PL 51578 B1 PL51578 B1 PL 51578B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
pendulum
magnetic field
hall
output circuit
amplitude
Prior art date
Application number
PL104755A
Other languages
English (en)
Inventor
dr inz. Maciej Nalecz prof.
inz JerzyHalcewicz-Pleskaczewski mgr
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Publication of PL51578B1 publication Critical patent/PL51578B1/pl

Links

Description

Przedmiotem niniejszego wynalazku jest urzadze¬ nie wahadlowe zlozone z wahadla i czesci nieru¬ chomej, przy czym jeden z tych zespolów jest zaopatrzony w halotron, a drugi w element wy¬ twarzajacy pole magnetyczne.W znanych dotychczas urzadzeniach wahadlo¬ wych pomiar amplitudy i czestotliwosci ruchu wa¬ hadla jest zwiazany zwykle z bezposrednim, na przyklad mechanicznym lub elektrycznym, sprze¬ zeniem wahadla z elementem pomiarowym. Zasa¬ dnicza wada tych urzadzen sa przy tym straty energetyczne zwiazane z wystepujacymi silami tar¬ cia, dlawienia i oporów ruchu zwiazanymi z tym sprzezeniem oraz wynikajacymi z tego bledami pomiarowymi.Znany jest równiez optyczny sposób pomiaru amplitudy lub czestotliwosci ruchu wahadla za pomoca ukladu fotokomórek oswietlanych szczeli¬ nowym strumieniem swiatla, przeslanianym w cza¬ sie ruchu przez ruchoma czesc wahadla. Wada tego sposobu jest jednak stosunkowo mala dokla¬ dnosc zwiazana z bledami wystepujacymi wskutek ugiecia swiatla w szczelinie, niewielka czuloscia fotokomórki oraz koniecznoscia stosowania wzma¬ cniaczy. Ponadto urzadzenia te sa skomplikowane i kosztowne.Powyzsze wady i niedogodnosci usuwa urzadze¬ nie wahadlowe wedlug wynalazku zlozone z waha¬ dla i czesci nieruchomej, przy czym z jednym 10 15 20 25 30 BIBLIOTEKA Urzedu Paten!ó*mgt z tych zespolów jest zwiazany element wytwarza¬ jacy pole magnetyczne, a z drugim halotron, wy¬ twarzajacy napiecie Halla, którego wartosc jest proporcjonalna do skladowej prostopadlej indukcji magnetycznej pola magnetycznego przecinajacego halotron. Istotna zaleta wynalazku jest brak jakie¬ gokolwiek wzajemnego oddzialywania wahadla na czesc nieruchoma i na odwrót, wskutek czego po¬ miar jego amplitudy lub czestotliwosci odbywa sie bez jakichkolwiek strat energetycznych. Ponadto halotron zapewnia duza czulosc pozwalajaca na pomiar przesuniecia wahadla rzedu jednego mikro¬ na. Umozliwia to zastosowanie do urzadzen pomia¬ rowych wahadel o bardzo malej amplitudzie, a tym samjim znaczne zwiekszenie dokladnosci pomiarów, poniewaz im mniejsza jest amplituda tym mniejsza jest zmiennosc okresu wahan. Mala wartosc ampli¬ tudy wahan umozliwia równiez miniaturyzacje urzadzen.Wynalazek jest blizej wyjasniony na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat halotronu, fig. 2 — urzadzenie wahadlowe wedlug wynalazku z wahadlem zaopatrzonym w halotron w widoku z boku, fig. 3 — to samo urzadzenie w widoku z góry, fig. 4 — wykres napiecia Halla w funkcji amplitudy dla wahadla przedstawionego na fig. 2 i 3, fig. 5 — schemat odmiany wahadla z haiotro- nem w widoku z góry, fig. 6 — wykres odpowia¬ dajacy tej odmianie wahadla napiecia Halla w fun¬ kcji amplitudy, a fig. 7 — odmiane wahadla 5157851578 3 z magnesem przesuwajacym sie wzgledem czesci nieruchomej zaopatrzonej w halotron.Znane jest zjawisko Halla polegajace na genero¬ waniu napiecia VH w obwodzie wyjsciowym 1, przylaczonym do krawedzi bocznych 2 plytki 3 pólprzewodnika na przyklad germanu, do której krawedzi czolowych 4 jest (przylaczony obwód za¬ silania 5, gdy powierzchnia plytki 3 jest przecinana prostopadlymi liniami pola magnetycznego 6.Wartosc indukowanego napiecia Vh jest przy tym proporcjonalna do indukcji pola oraz wartosci pradu zasilania, a odwrotnie proporcjonalna do grubosci plytki 3. Uklad przedstawiony na fig. 1 nosi nazwe halotronu.Urzadzenie wahadlowe wedlug wynalazku przed¬ stawione schematycznie na fig. 2 i 3, sklada sie z wahadla 7, zaopatrzonego w dolnej czesci w plyt¬ ke 3 pólprzewodnika stanowiaca element halotronu.Boczne krawedzie 2 plytki 3 sa polaczone z obwo¬ dem wyjsciowym 1, w który jest wlaczony mier¬ nik 8 napiecia Halla VH, natomiast jej krawedzie czolowe 4 sa polaczone z obwodem zasilania 5, w sklad którego wchodzi zródlo 9 pradu stalego.Wahadlo jest zawieszone za pomoca ukladu spre¬ zyn krzyzowych 10 laczacych jego czesc nieru¬ choma 11 z glowica 12, przy czym czesci 11 i 12 sa wykonane z izolatorów, a sprezyny stanowia ró¬ wnoczesnie przewodniki obwodu wyjsciowego 1 i obwodu zasilania 5.Plytka 3 halotronu przesuwa sie w trakcie ruchu wahadla wzgledem biegunów 13 magnesu stalego, wytwarzajacego pole magnetyczne 6, wskutek czego w obwodzie wyjsciowym 1 halotronu jest genero¬ wane napiecie Vh, którego wartosc jest proporcjo¬ nalna do wielkosci wychylenia x wahadla (wykres na fig. 4).Odmiana urzadzenia wahadlowego przedstawio¬ nego na fig. 5 i 6, sklada sie równiez z wahadla 7, zakonczonego plytka 3 pólprzewodnika, stanowiaca element halotronu i z czesci nieruchomej tworzacej uklad magnetyczny naprzemianlegly (fig. 5), przy czym pole magnetyczne w obszarze ruchu plytki 3 jest wytwarzane przez dwie pary biegunów 14 i 15, dzieki czemu wartosc napiecia Halla Vh staje sie ujemna lub dodatnia w zaleznosci od polozenia .plytki wzgledem biegunów. Wykres tego napiecia w funkcji amplitudy wahadla przedstawia fig. 6.Odmiana urzadzenia wahadlowego przedstawiona na fig. 7 sklada sie z wahadla 7, zaopatrzonego w magnes 16 wytwarzajacy pole magnetyczne, któ¬ re w czasie ruchu wahadla przecina plytke 3 halo¬ tronu, przy czym w obwód wyjsciowy 1 halotronu jest wlaczony licznik 17 zliczajacy liczbe wahniec.Dzialanie urzadzen wahadlowych przedstawio¬ nych na fig. 2 13 oraz 5 w zastosowaniu ich do 4 pomiaru amplitudy wahadla jest nastepujace.Plytka 3 halotronu polaczona z wahadlem 7 prze¬ cinajac w swym ruchu pole magnetyczne 6 wytwo¬ rzone przez bieguny 13 lub 14 i 15 magnesu gene- * ruje napiecie Halla, przy czym wartosc tego napie¬ cia (fig. 4 i 6) pozostaje w scislej zaleznosci funkcjonalnej od amplitudy wahan. Dzieki temu pomiar wartosci napiecia VH jest przetwornikiem pomiaru amplitudy x a dokladnosc tego pomiaru 10 wynosi okolo jednego mikrona.Dzialanie urzadzenia wahadlowego przedstawio¬ nego na fig. 7 w przykladowym jego zastosowaniu do regulacji mechanizmu zegarowego jest nastepu¬ jace. Ruch wahadla 7 wraz z magnesem 16 powo- 15 duje przecinanie przez linie sil indukowanego pola magnetycznego plytki 3 pólprzewodnika, generujac w obwodzie wyjsciowym 1 halotronu napiecie Hal¬ la Vh, przy tym kazdemu wahnieciu wahadla 7 odpowiada jeden impuls napiecia, powodujacy 20 odpowiednie przesuniecia licznika 17. Przesuniecia licznika, które sa scisle uzaleznione od okresu wahan wahadla 7 i sluza do regulacji mechanizmu zegarowego.Urzadzenie wahadlowe wedlug wynalazku moze 25 znalezc zastosowanie do pomiaru czestotliwosci i amplitudy drgan, przyspieszen oraz do regulacji mechanizmów zegarowych. PL

Claims (6)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie wahadlowe, znamienne tym, ze ma wahadlo (7), zaopatrzone w plytke pólprzewod- ndka (3), stanowiaca element halotronu, przesu¬ wajaca sie w polu magnetycznym (6), wytworzo¬ nym przez nieruchome bieguny (13, 14, 15).
  2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze kierunek linii sil pola magnetycznego (6) jest prostopadly do plaszczyzny wahan wahadla (7).
  3. 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze jego czesc nieruchoma sklada sie z dwóch par biegunów (14, 15).
  4. 4. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze wahadlo (7) jest zawieszone na elementach sprezystych (10), stanowiacych równoczesnie czes¬ ci obwodu wyjsciowego (1) i obwodu zasilania (5).
  5. 5. Odmiana urzadzenia wedlug zastrz. 1, znamien¬ na tym, ze wahadlo (7) jest zaopatrzone w ele¬ ment (16) wytwarzajacy pole magnetyczne i przesuwajacy sie wzgledem nieruchomej plyt¬ ki (3) halotronu.
  6. 6. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 lub 5, znamienne tym, ze w obwód wyjsciowy (1) halotronu jest wlaczony licznik (17), sluzacy do regulacji me¬ chanizmu zegarowego.KI. 83 d, 11/04 51578 MKP G 04 i ^Si Fig.1 Fig. 2KI. 83 d, 11/04 51578 MKP G 04 f Fig. 3 4 Ki Fig.4 -!Z±X 3L Fig. 6 Fig.7 „Prasa" Wr. Zam. 6159/66. Naklad 230 egz. PL
PL104755A 1964-06-04 PL51578B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL51578B1 true PL51578B1 (pl) 1966-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2940306A (en) Dynamic transducer accelerometer
US2702186A (en) Accelerometer
JPH065231B2 (ja) 平板振子構造の加速度計用センサ
US3940636A (en) Acoustic delay surface wave motion transducer systems with enhanced stability
US4365513A (en) Deceleration sensor
GB1161143A (en) Single Axis Accelerometer.
PL51578B1 (pl)
US3397347A (en) Magnetic displacement transducer
US2575951A (en) Integrating apparatus
US2945379A (en) Accelerometer and magneto-resistive electromechanical transducer used therein
US3094635A (en) Linear motion generator transducer signal
US3483753A (en) Gravity meter of the vibrating wire type
US2914712A (en) Electric instrument
US4149417A (en) Distance measuring arrangements
US3480859A (en) Electronic speed measuring arrangement
RU2485524C2 (ru) Акселерометр
US3349306A (en) Electrically driven timing device devoid of permanent magnet elements
RU2509307C1 (ru) Линейный акселерометр
RU2003981C1 (ru) Устройство дл определени ускорени
SU995044A1 (ru) Пьезоэлектрический сейсмометр
GB2105477A (en) Measuring speed and acceleration using a differential transformer transducer
US3456188A (en) Apparatus for measuring shaft reversal frequency and pulse generator used therein
US1702444A (en) Electrical measuring instrument
JPS5926286Y2 (ja) 加速度計
SU977936A1 (ru) Способ измерени толщины электропровод щих изделий