PL48494B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 15.X.1964 48494 Ki. 4a-fcr4«ro3- MKF G 01 n UKD VA8% Wspóltwórcy wynalazku: mgr Bogdan Calusinski, doc. dr inz. Józef Go- lecki, mgr inz. Jan Gallar Wlasciciel patentu: Akademia Górniczo-Hutnicza (Katedra Wytrzyma¬ losci Materialów) Kraków (Polska) Tranzystorowy defektoskop magnetyczny Przedmiotem wynalazku jest tranzystorowy de¬ fektoskop magnetyczny z odpowiednim ukladem pomiarowym, który umozliwia wykrywanie róz¬ nych wad, w szczególnosci ubytków, wtracen oraz koncentracji naprezen w badanych materialach. 5 Znane sa lampowe defektoskopy magnetyczne z ukladem pomiarowym, opartym na zasadzie mostkowej z pojedynczymi uzwojeniami na rdze¬ niu wzorcowym i pomiarowym lub na zasadzie róznicowej. Uklad pomiarowy jest zasilany z sieci 10 i nie daje sie dokladnie wyzerowac z powodu zbyt duzego wspólczynnika zawartosci harmonicznych w sieci oraz z powodu niejednakowego magneso¬ wania rdzeni. Wystepujace przy badaniu grubych elementów, metodami róznicowymi, straty spowo- 15 dowane pradami wirowymi i opóznieniem magne¬ tycznym powoduja przesuniecie faz napiecia na uzwojeniu pierwotnym i wtórnym. Zjawisko to wplywa równiez niekorzystnie na dokladnosc ze¬ rowania. Urzadzenia te sa nieprzenosne i wyma- 2o gaja zasilania z sieci.Wady znanych defektoskopów usuwa tranzysto¬ rowy defektoskop magnetyczny wedlug wynalaz¬ ku skladajacy sie z tranzystorowego generatora, który zasila odpowiednio opracowany uklad po- 25 miarowy oraz z tranzystorowego wzmacniacza re¬ zonansowego, majacego na celu wzmacnianie pra¬ dów niezrównowazenia.Na rysunku fig. 1 przedstawia schemat blokowy tranzystorowego defektoskopu wedlug wynalazku 30 BIBLIOTEK ) Urzedu pjientowe^ iFttsfcM fai6ij»Mnliiii LmjwwT a fig. 2 — schemat ideowy ukladu pomiarowego.W sklad defektoskopu wchodza tranzystorowy generator I, uklad pomiarowy II oraz tranzystoro¬ wy wzmacniacz rezonansowy III (fig. 1). Genera¬ tor I, stanowi uklad o malej zawartosci harmonicz¬ nych i malej opornosci wyjsciowej, przy czym cze¬ stotliwosc generatora wynosi okolo 50 Hz. Wzma¬ cniacz III jest ukladem selektywnym, nastrojonym na czestotliwosc generatora I i posiada stroma krzywa rezonansowa. Zmiana czestotliwosci na przyklad o 2 Hz powoduje zmniejszenie wzmo¬ cnienia przeszlo dwukrotnie. Uklad pomiarowy II wego r i pomiarowego r' z uzwojeniami pierwot¬ nymi LI i L'l oraz uzwojeniami wtórnymi L2 i L'2 •obu rdzeni rir'z kondensatora C oraz zespolu po¬ tencjometrów PI, P'l, P2, P'2 i P3.Sygnal z generatora jest doprowadzony na wej¬ scie A i B ukladu pomiarowego i przez potencjo¬ metry P2 i P'2 do uzwojen pierwotnych LI i L'l rdzenia wzorcowego r i pomiarowego r\ Od polo¬ zenia suwaków potencjometrów P2 i P'2 zalezy sto¬ pien namagnesowania obu rdzeni oraz próbki a ttym samym zawartosc harmonicznych w uzwo¬ jeniach wtórnych L2 i L'2 tych rdzeni. Wraz ze zmiana polozen suwaków potencjometrów P2 i P'2 zmieniaja sie natezenia i fazy pradów plynacych przez uzwojenie LI i Ul. Do kompensacji przesu¬ niec faz tych pradów sluzy kondensator C oraz po¬ tencjometr P3, które sa wlaczone w obwód uzwo- 4849448494 jen pierwotnych LI i VI rdzeni r i r'. Uzyskanie jednakowej zawartosci harmonicznych napiecia na uzwojeniach wtórnych L2 i L'2 oraz skompenso¬ wanie przesuniecia faz umozliwia wyzerowanie ukladu potencjometrami PI i P'l. Potencjometry PI i P2 sluza do regulacji wstepnej, natomiast poten¬ cjometry P'l i P'2 do regulacji dokladnej. Jesli za¬ miast jednolitego materialu próbki, dla którego przeprowadzono zerowanie, miedzy koncówkami rdzenia pomiarowego r' znajdzie sie material z wa¬ da, na wyjsciu CD ukladu (fig. 2) wystapi pewne napiecie niezrównowazenia. Na wielkosc tego na¬ piecia wplywaja dwa czynniki; to jest zmiana opornosci magnetycznej .obwodu magnetycznego zlozonego z rdzenia pomiarowego r' i próbki oraz silniejsze magnesowanie okolic wady. Pierwszy z czynników powoduje zmiane amplitudy napiecia indukowanego w uzwojeniu U2, a drugi — zmiane ilosci harmonicznych tego napiecia oraz przesunie¬ cie jego fazy, poprzez zmiane w rozkladzie pradów wirowych w próbce.Pomiar tranzystorowym defektoskopem wedlug wynalazku przeprowadza sie w ten sposób, ze przy¬ klada sie koncówki rdzenia pomiarowego r' do ba¬ danego materialu E w miejscu, o którym wiadomo, ze nie ma wad. Po wlaczeniu zródla zasilania ze¬ ruje sie uklad pomiarowy II za pomoca potencjo¬ metrów PI, P2, P3, P'l i P'2. Wyzerowanie powin¬ no byc bardzo staranne tak, aby wskazówka mier¬ nika znalazla sie w polozeniu zerowym. W celu wykrycia wady w badanym materiale przesuwa sie sonde defektoskopu po powierzchni tegoz materia¬ lu. Wychylenie miernika wskazuje na obecnosc wady i jest w przyblizeniu miara jej wielkosci. Po przeprowadzonym pomiarze wylacza sie zródlo za¬ silania.W przypadku, gdy zachodzi trudnosc w ustale¬ niu miejsca bez wady w badanym materiale, nale¬ zy wyzerowac defektoskop w jakimkolwiek miej¬ scu. Przesuwajac sonde defektoskopu po badanym materiale nalezy sprawdzic czy zerowanie utrzy¬ muje sie na wiekszej czesci badanej powierzchni a nie utrzymuje sie tyiko w niektórych jej punk¬ tach czy tez odwrotnie. Pierwszy przypadek wska¬ zuje, ze zerowanie przeprowadzono w miejscu bez wady, w drugim zas przypadku nalezy powtórzyc 'zerowanie w innym miejscu. 5 Tranzystorowy defektoskop magnetyczny we¬ dlug wynalazku daje zadawalajaca wykrywalnosc wad polegajacych na ubytkach, wtraceniach oraz koncentracji naprezen) co osiaga sie dzieki zasto¬ sowanemu ukladowi pomiarowemu. W przypadku 10 zmiany ksztaltu rdzenia pomiarowego, bez jakiej¬ kolwiek jednak zmiany schematu, mozna badac spoiny, zgrzeiny, grubosc blach z materialów fer¬ romagnetycznych, grubosc pokryw na materialach ferromagnetycznych i inne. Wszystkie badania 15 przeprowadzone defektoskopem wedlug wynalaz¬ ku nie niszcza badanego materialu. Bazujac na ele¬ mentach ogólnie dostepnych mozna uzyskac wy¬ miary gabarytowe defektoskopu w granicach 200 X 120 X 50 mm oraz ciezar do 300 g. 20 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Tranzystorowy defektoskop magnetyczny, skla¬ dajacy sie z tranzystorowego generatora i tranzy- 25 storowego wzmacniacza rezonansowego oraz ukla¬ du pomiarowego, znamienny tym, ze uklad pomia¬ rowy (II) jest wyposazony w rdzen wzorcowy (r) i rdzen pomiarowy (r') z uzwojeniami pierwotny¬ mi (LI i L'l) i uzwojeniami wtórnymi (L2 i L'2) obu 30 rdzeni (r i r') oraz w kondensator (C) i zespól po¬ tencjometrów (PI, P'l P2, P'2 i P3), przy czym kon¬ densator (C) i potencjometr (PS) sa wlaczone w uklad uzwojen pierwotnych (LI i L'l) rdzeni (r i r'), w celu skompensowania przesuniecia faz 35 napiecia na uzwojeniach wtórnych (L2 i L'2) rdze¬ ni r i r')t potencjometr (P2) zas jest wlaczony w uklad uzwojen (LI i L'l) co umozliwia magneso¬ wanie rdzeni (r i r') przy róznych grubosciach ba¬ danych elementów tak, aby w uzVojeniach wtór- 40 nych (L2 i V2) plynely prady o tej samej zawarto¬ sci harmonicznych, natomiast potencjometr (PI) wlaczony w uklad uzwojen wtórnych (L2 i L'2) ze¬ ruje uklad pomiarowy (II).48494 A | C | i rH i rl i r&1 * K L T/y. / *' ~xri; 1_» i" £f r' "T * I L fi » 'i _oii3 ^1 I* 9* ' i j. % 2 PL