PL47990B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL47990B1 PL47990B1 PL47990A PL4799062A PL47990B1 PL 47990 B1 PL47990 B1 PL 47990B1 PL 47990 A PL47990 A PL 47990A PL 4799062 A PL4799062 A PL 4799062A PL 47990 B1 PL47990 B1 PL 47990B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- interference
- polarization
- interferometer
- prism
- polarization interferometer
- Prior art date
Links
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 241001028048 Nicola Species 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
Description
Przedmiotem niniejszego wynalazku jest in¬ terferometr polaryzacyjny, zaopatrzony w ele¬ ment dwójlomny typu pryzmatu polaryzacyj¬ nego Nicola o duzych wartosciach rozdwojenia promieni swietlnych oraz w uklad osadzonych obrotowo i przesuwnie zwierciadel, co umozli¬ wia ciagle przejscie od interferencji prazkowej do interferencji jednorodnej barwy oraz do- *) Wlasciciel patenitu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest Maksymilian Pluta. wolna regulacje wielkosci rozdwojenia obra¬ zów interferencyjnych badanych obiektów.Schemat ukladu optycznego interferometra wedlug wynalazku jest przedstawiony na ry¬ sunku.Interferometr ten sklada sie z filtra polary¬ zacyjnego (polaroidu) P, spelniajacego role po- laryzatora, z przyslony szczelinowej D umie¬ szczonej w ognisku kondensora K, z obiek¬ tywu Ob, w którego plaszczyznie przedmioto¬ wej jest umieszczony badany obiekt O, z pryzmatu polaryzacyjnego N 'dzielacego swia¬ tlo na dwie wiazki, z dwóch zwierciadel Z\ i Z2 calkowicie odbijajacych swiatlo, z pól- przepuszczainej plasko-równoleglej plytki ZP* z drugiego Mitra poliairyizacyjnego A, spelnia¬ jacego role analizatora, oraz z okularu Ok, za pomoca którego obserwuje sie obiraz interfe¬ rencyjny badanego obiektu O. Interferometr jest ponadto wyposazony w kompensator Kp zlozony z dwóch obrotowych klinów.Pryzmat polaryzacyjny N interferometru we¬ dlug wynalazku, który sklada sie z plytki< pTasko-równoleiglej PD oraz z dwóch prosito- ka/tnych pryzmatów szklanych o odpowiednio dobranych katach lamiacych qp, jniedzy który¬ mi jest zaklejona odpowieclnio zorientowana plytka^ dzieki czemu uzyskuje sie znacznie mni^Bgafcr^nzrmce ctrogi optycznej miedzy pro- rnieniamT swiaitla przechodzacego i odbitego od plyitiki dwójlomnej w porównaniu do pryz¬ matów polairyizacyjnych Mcola lub Glana-Tom- Fonia.Dzialanie linterferometru polaryzacyjnego wedlug wynalazku opisano ponizej. Wychodza¬ ca z kondensora K równoLegla wiazka swia¬ tla koherenjtnego, spolaryzowanego liniowo przez polaryzaitor P, przechodzi przez badany obiekt O, wpafda do obiektywu Ob i zostaje rozwidlona przez [pryzmait N na dwie wiazki: przechodzaca 1 i odbita 2, spolaryzowane w plaszczyznach wzajemnie prostopadlych. Zwier¬ ciadla Zi i Z2 oraz pólprzezroczysto-odbijajaca plytka ZP, lacza te obydwie wiazki, które po przejsciu przez analizator A interfeffuja ze soba przy czym maksymalna interferencje uzyskuje cie wtedy, gdy szczelina S jest ustawiona rów¬ nolegle do krawedzi lamiacej 1 pryzmatu N9 a plaszczyzny polaryzacji polaryzatora P i analizatora A sa wzgledem siebie skrzyzowa¬ ne lub równolegle i tworza z ta krawedzia 1 pryzmaitu N kat 45°.Obracajac zwierciadlo Zx wokól osi prosto¬ padlej do plaszczyzny rysunku* mozna w spo¬ sób ciagly przechodzic od interferencji prazko¬ wej do interferencji jednorodnej barwy, a przesuwajac ponadto zwierciadlo Z2 w kie- runfkiu pionowym mozna dowolnie zmieniac rozsuniecie nakladajacych sie pól interferen¬ cyjnych * tym samym w sposób ciagly regulo¬ wac wielkosc rozdwojenia obrazu badanego obiektu.Do wytwarzania odpowiedniej róznicy dróg optycznych miedzy interferujacymi falami swietlnymi oraz do pomiami przesuniec fazo¬ wych wywolywanych przez badane przedmioty sluzy obrotowy kompensator Kp. PL
Claims (2)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Interferometr polaryzacyjny, znamienny tym, ze jest zaopatrzony w pryzmat pola¬ ryzacyjny (N), zlozony z dwóch prostokat¬ nych pryzmatów szklanych z zaklejona miedzy nimi plytka lub blona dwójlomna (PD), spelniajacy role elementu dzielacego swiatlo.
2. Interferometr polaryzacyjny wedlug zasibrz. 1, znamienny tym, ze jest zaopatrzony w w uklad zwierciadel oborotowyoh i prze¬ suwnych wiazki (1 i 2) swiatla, które umozliwiaja ciagle przejscie od interferencji prazkowej do interferencji jednorodnej barwy oraz do¬ wolna regulacje wielkosci rozdwojenia o- brazów interferencyjnych badanych obiek¬ tów. Centralne Laboratorium Aparatów Pomiarowych i Optyki Zastepca; inz. Zbigniew Kaminski rzecznik patentowyDo opisu patentowego nr 47990 2530. RSW „Prasa", Kielce. Nakl. 250 egz, PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL47990B1 true PL47990B1 (pl) | 1964-02-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104034257B (zh) | 一种菲索型准共光路结构的同步相移干涉测量装置及方法 | |
| Brock et al. | Dynamic interferometry | |
| DE102005009064B4 (de) | Systeme, die polarisationsmanipulierende Retroreflektoren verwenden | |
| US20060203251A1 (en) | Simultaneous phase-shifting fizeau interferometer | |
| CN100547366C (zh) | 移相横向剪切干涉仪 | |
| JP2000065531A (ja) | 複屈折板を用いた干渉像入力装置 | |
| Millerd et al. | Modern approaches in phase measuring metrology | |
| ES2982688T3 (es) | Procedimiento de formación de imágenes o espectroscopia con un interferómetro no lineal | |
| US11719531B2 (en) | Methods and systems of holographic interferometry | |
| US12222198B2 (en) | Optical measurement device and multiple mirror | |
| US20060039007A1 (en) | Vibration-insensitive interferometer | |
| US11262191B1 (en) | On-axis dynamic interferometer and optical imaging systems employing the same | |
| PL47990B1 (pl) | ||
| US11761753B2 (en) | Thin films and surface topography measurement using polarization resolved interferometry | |
| JPH08327453A (ja) | 偏光干渉計 | |
| US4492470A (en) | Measuring microscope | |
| GB1287025A (en) | A photometer arrangement for observation instruments | |
| JPH0566155A (ja) | 偏光干渉計 | |
| RU2726045C1 (ru) | Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты) | |
| Wyant | Vibration insensitive interferometric optical testing | |
| JPS58176511A (ja) | 干渉方法及びその装置 | |
| CN114593670B (zh) | 一种基于洛匈棱镜的植入式同轴与离轴数字全息切换装置 | |
| RU2219490C2 (ru) | Учебный интерференционный прибор с кристаллом исландского шпата | |
| DE69828084T2 (de) | Lineare konoskopische holographie | |
| Mallick | Interference arrangement for measuring the autocorrelation function of a smoothly finished surface |