PL47990B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL47990B1
PL47990B1 PL47990A PL4799062A PL47990B1 PL 47990 B1 PL47990 B1 PL 47990B1 PL 47990 A PL47990 A PL 47990A PL 4799062 A PL4799062 A PL 4799062A PL 47990 B1 PL47990 B1 PL 47990B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
interference
polarization
interferometer
prism
polarization interferometer
Prior art date
Application number
PL47990A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL47990B1 publication Critical patent/PL47990B1/pl

Links

Description

Przedmiotem niniejszego wynalazku jest in¬ terferometr polaryzacyjny, zaopatrzony w ele¬ ment dwójlomny typu pryzmatu polaryzacyj¬ nego Nicola o duzych wartosciach rozdwojenia promieni swietlnych oraz w uklad osadzonych obrotowo i przesuwnie zwierciadel, co umozli¬ wia ciagle przejscie od interferencji prazkowej do interferencji jednorodnej barwy oraz do- *) Wlasciciel patenitu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest Maksymilian Pluta. wolna regulacje wielkosci rozdwojenia obra¬ zów interferencyjnych badanych obiektów.Schemat ukladu optycznego interferometra wedlug wynalazku jest przedstawiony na ry¬ sunku.Interferometr ten sklada sie z filtra polary¬ zacyjnego (polaroidu) P, spelniajacego role po- laryzatora, z przyslony szczelinowej D umie¬ szczonej w ognisku kondensora K, z obiek¬ tywu Ob, w którego plaszczyznie przedmioto¬ wej jest umieszczony badany obiekt O, z pryzmatu polaryzacyjnego N 'dzielacego swia¬ tlo na dwie wiazki, z dwóch zwierciadel Z\ i Z2 calkowicie odbijajacych swiatlo, z pól- przepuszczainej plasko-równoleglej plytki ZP* z drugiego Mitra poliairyizacyjnego A, spelnia¬ jacego role analizatora, oraz z okularu Ok, za pomoca którego obserwuje sie obiraz interfe¬ rencyjny badanego obiektu O. Interferometr jest ponadto wyposazony w kompensator Kp zlozony z dwóch obrotowych klinów.Pryzmat polaryzacyjny N interferometru we¬ dlug wynalazku, który sklada sie z plytki< pTasko-równoleiglej PD oraz z dwóch prosito- ka/tnych pryzmatów szklanych o odpowiednio dobranych katach lamiacych qp, jniedzy który¬ mi jest zaklejona odpowieclnio zorientowana plytka^ dzieki czemu uzyskuje sie znacznie mni^Bgafcr^nzrmce ctrogi optycznej miedzy pro- rnieniamT swiaitla przechodzacego i odbitego od plyitiki dwójlomnej w porównaniu do pryz¬ matów polairyizacyjnych Mcola lub Glana-Tom- Fonia.Dzialanie linterferometru polaryzacyjnego wedlug wynalazku opisano ponizej. Wychodza¬ ca z kondensora K równoLegla wiazka swia¬ tla koherenjtnego, spolaryzowanego liniowo przez polaryzaitor P, przechodzi przez badany obiekt O, wpafda do obiektywu Ob i zostaje rozwidlona przez [pryzmait N na dwie wiazki: przechodzaca 1 i odbita 2, spolaryzowane w plaszczyznach wzajemnie prostopadlych. Zwier¬ ciadla Zi i Z2 oraz pólprzezroczysto-odbijajaca plytka ZP, lacza te obydwie wiazki, które po przejsciu przez analizator A interfeffuja ze soba przy czym maksymalna interferencje uzyskuje cie wtedy, gdy szczelina S jest ustawiona rów¬ nolegle do krawedzi lamiacej 1 pryzmatu N9 a plaszczyzny polaryzacji polaryzatora P i analizatora A sa wzgledem siebie skrzyzowa¬ ne lub równolegle i tworza z ta krawedzia 1 pryzmaitu N kat 45°.Obracajac zwierciadlo Zx wokól osi prosto¬ padlej do plaszczyzny rysunku* mozna w spo¬ sób ciagly przechodzic od interferencji prazko¬ wej do interferencji jednorodnej barwy, a przesuwajac ponadto zwierciadlo Z2 w kie- runfkiu pionowym mozna dowolnie zmieniac rozsuniecie nakladajacych sie pól interferen¬ cyjnych * tym samym w sposób ciagly regulo¬ wac wielkosc rozdwojenia obrazu badanego obiektu.Do wytwarzania odpowiedniej róznicy dróg optycznych miedzy interferujacymi falami swietlnymi oraz do pomiami przesuniec fazo¬ wych wywolywanych przez badane przedmioty sluzy obrotowy kompensator Kp. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Interferometr polaryzacyjny, znamienny tym, ze jest zaopatrzony w pryzmat pola¬ ryzacyjny (N), zlozony z dwóch prostokat¬ nych pryzmatów szklanych z zaklejona miedzy nimi plytka lub blona dwójlomna (PD), spelniajacy role elementu dzielacego swiatlo.
2. Interferometr polaryzacyjny wedlug zasibrz. 1, znamienny tym, ze jest zaopatrzony w w uklad zwierciadel oborotowyoh i prze¬ suwnych wiazki (1 i 2) swiatla, które umozliwiaja ciagle przejscie od interferencji prazkowej do interferencji jednorodnej barwy oraz do¬ wolna regulacje wielkosci rozdwojenia o- brazów interferencyjnych badanych obiek¬ tów. Centralne Laboratorium Aparatów Pomiarowych i Optyki Zastepca; inz. Zbigniew Kaminski rzecznik patentowyDo opisu patentowego nr 47990 2530. RSW „Prasa", Kielce. Nakl. 250 egz, PL
PL47990A 1962-11-20 PL47990B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL47990B1 true PL47990B1 (pl) 1964-02-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104034257B (zh) 一种菲索型准共光路结构的同步相移干涉测量装置及方法
Brock et al. Dynamic interferometry
DE102005009064B4 (de) Systeme, die polarisationsmanipulierende Retroreflektoren verwenden
US20060203251A1 (en) Simultaneous phase-shifting fizeau interferometer
CN100547366C (zh) 移相横向剪切干涉仪
JP2000065531A (ja) 複屈折板を用いた干渉像入力装置
Millerd et al. Modern approaches in phase measuring metrology
ES2982688T3 (es) Procedimiento de formación de imágenes o espectroscopia con un interferómetro no lineal
US11719531B2 (en) Methods and systems of holographic interferometry
US12222198B2 (en) Optical measurement device and multiple mirror
US20060039007A1 (en) Vibration-insensitive interferometer
US11262191B1 (en) On-axis dynamic interferometer and optical imaging systems employing the same
PL47990B1 (pl)
US11761753B2 (en) Thin films and surface topography measurement using polarization resolved interferometry
JPH08327453A (ja) 偏光干渉計
US4492470A (en) Measuring microscope
GB1287025A (en) A photometer arrangement for observation instruments
JPH0566155A (ja) 偏光干渉計
RU2726045C1 (ru) Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты)
Wyant Vibration insensitive interferometric optical testing
JPS58176511A (ja) 干渉方法及びその装置
CN114593670B (zh) 一种基于洛匈棱镜的植入式同轴与离轴数字全息切换装置
RU2219490C2 (ru) Учебный интерференционный прибор с кристаллом исландского шпата
DE69828084T2 (de) Lineare konoskopische holographie
Mallick Interference arrangement for measuring the autocorrelation function of a smoothly finished surface