PL46633B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dnia 26 lutego 1963 r. udubukowano c ^f^ Patentowego POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 46613 KI. 42 k, 46/06 KI. internat. G 01 1 Polska Akademia Nauk4) (Tnstgtttt Pocfetaujpujgch Problemóiu Techniki) Warszawa, Polska Defektoskop ultradzwiekowy Patent trwa od dnia 7 wrzesnia 1961 r. ftz«ehflio£em wynalazku jest defektoskop ul¬ tradzwiekowy przeznaczony do badania mate- rialów przy usyriiu fal ulitradzwielkiowyen.W dotychczasowych defektoskopach stosuje sie lampy elektronowe. Powoduje to duze wy- miamy i ciezar defektoskopu, a takze koniecz¬ nosc stosowania duzych mocy elektrycznych do zasilania aparatu, co w wielu przypadkach ogra¬ nicza mozliwosci stosowania tego przyrzadu.Nifectogodnesci powyzsze usuwa w znacznym stopttfte deffetofcoskop ultradzwiek*)wy wykonany z zastosowaniem tranzystorów.Na rysunku fig. 1 przedstawia generator im¬ pulsów defektoskopu, fig. 2 — nadajnik defekto¬ skopu, a fig. 3 — sposób polaczenia nadajnika, odbsomika i przetwornika defektoskopu ultra- dzw*efe€H*cgo.*) Wlasciciel wynalazku oswiadczyl, ze twór¬ cami wynalaafeir sa dr ms. Leszek Filipczynski i Jan SaHtowski.Prawidlowa praca defektoskopu "Wymaga syn¬ chronizacji nadajnika, podstawy czasu, wskaz¬ nika oraz znaczników odleglosci z okreslona cze¬ stotliwoscia powtarzania.Do wytworzenia czestotliwosci powtarzania oraz impulsów wyzwalajacych pozostale uklady proponuje sie wedlug wynalazku zastosowanie multiwibratora (fig. 1) wykonanego na tranzy¬ storach 1 i 2 w ukladzie ze wspólnym emiterem, przy czym w obwodzie emitera tranzystora 2 zastosowano obwód elektryczny 3. Powstajace podczas pracy multiwibratora drgania obwodu wykorzystuje sie do wytworzenia znaczników odleglosci lub tez do wytworzenia bezposrednio wzglednie przy pomocy dodatkowego ukladu impulsów nadawczych wielkiej czestotliwosci.Mozna tez w celu podtrzymania powstajacych w obwodzie 3 drgan zastosowac wedlug wyna¬ lazku dodatkowy tranzystor 4. Tranzystor ten pracuje w ukladzie dodatniego sprzezenia zwrotnego przez odprowadzenia pradu z cewkiobwodu 3 do bazy tranzystora 4 i przez dopro¬ wadzenie pradu do obwodu 3 poprzez emiter tegoz tranzystora. W ten sposób uzyskuje sie przebieg sinusoidalny, który brany np. z zaci¬ sku 5 przeksztalca sie na przebieg znaczników czasu w tranzystorowych ukladach wzmacnia¬ jacych lub tez przy pomocy multiwibratora tranzystorowego albo diod pólprzewodniko- - wych.Do wytworzenia impulsów wielkiej czestotli¬ wosci, które doprowadza sie do przetwornika ultradzwiekowego, mozna stosowac tranzystor w ukladzie generatora samodlawnego.Innym znacznie prostszym rozwiazaniem we¬ dlug wynalazku jest nadajnik (fig. 2), w którym tranzystor 8 ma w obwodzie kolektora zalaczo¬ ny obwód wielkiej czestotliwosci 6. Do wejscia 9 tranzystora przylozony zostaje impuls o stro¬ mym czole, który pobudza do drgan gasnacych obwód 6. Impuls wielkiej czestotliwosci, pow¬ stajacy w ten sposób w obwodzie 6, doprowa¬ dzony zostaje z zacisku 7 do nadawczego prze¬ twornika ultradzwiekowego.Gdy defektoskop ultradzwiekowy (fig. 3) pra¬ cuje na jeden przetwornik 11 nadawczo-odbior¬ czy, wówczas bezposrednio po impulsie nadaw¬ czym wytworzonym w nadajniku 12 wystepuje pewien okres znieczulenia defektoskopu, pole¬ gajacy na zmniejszeniu wzmocnienia odbiorni¬ ka 10. Przyczyna tego zjawiska jest detekcja impulsu nadawczego o duzej amplitudzie, wy¬ stepujaca w poszczególnyich stopniach odbiorni¬ ka wskutek nieliniowych wlasnosci tranzysto¬ rów. Powstajace wskutek tego napiecia i prady malej czestotliwosci zanikaja z predkoscia za¬ lezna od stalych czasu ukladów zastosowanych w odbiorniku 10 i przesuwajac punkty pracy zastosowanych tranzystorów powoduja znieczu¬ lenie defektoskopu.Detekcje te wystepujaca w obwodzie wejscio¬ wych tranzystora elemimujje sie wedlug wyna¬ lazku przez galwaniczne zalaczenie cewki do zacisków wejsciowych tranzystora. Cewka ta zwiera , napiecia malej czestotliwosci powsta¬ jace wskutek detekcji. Dzieki temu usuwa sie zjawisko znieczulenia defektoskopu, powstaja¬ ce pod wjplywem nadawczego impulsu.Detekcje, która powstaje w pierwszym stop¬ niu odlbflornika mozna usunac przez galwanicz¬ ne sprzezenie tranzystorowego wejscia odbior¬ nika z nadajnikiem. Ten sam sposób mozna za¬ stosowac miedzy poszczególnymi stopniami oó bdornika. W celu zabezpieczenia pierwszego tranzystora przed przeciazeniem mozna w tym przypadku w szereg z wejsciem tranzystora za¬ laczyc opór ograniczajacy jego prad.Detekcja impulsu nadawczego moze powstac równiez wskutek zalaczenia kondensatorów bocznikujacych opornosci w obwodzie baza»- emiter. W celu unikniecia znieczulenia odbior¬ nika spowodowanego ta przyczyna proponuje sie stosowanie w obwodzie baza-emiter opor¬ nosci rzeczywistych wzglednie indukcyjnosci, mimo ze moze to utrudnic wybór odpowiednie¬ go punktu pracy tranzystora.Odbiornik defektoskopu, który ma pracowac w szerokim: zakresie czestotliwosci, wykonuje sie w ten sposób, ze cewki zastosowane w ob¬ wodach wejsciowych tranzystorów zestrojone sa z pojemnosciami na rózne czestotliwosci. W ten sposób uzyskuje sie szeroka wstege odbior¬ nika. Pod wplywem impulsu nadawczego, któ¬ ry ma duza stromosc, najwieksza z cewek wpa-' ~ dajac w drgania wlasne powoduje znieczulenie odbiornika defektoskopu na pewien wzglednie dlugi okresczasu. : ;* u ; Niedogodnosc te usuwa defektoskop wedlug wynalazku dzieki zastosowaniu sprzezenia po- jiemncsciowoHDporowego zamiast najwiekszej cewM odbiornika. Przy odpowiednim doborze elementów tego sprzezenia mozna uzyskac skrócenie okresu znieczulenia defektoskopu. PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Defektoskop ultradzwiekowy, znamienny tym, ze ma multiwibrator (fig. 1) wykona¬ ny z tranzystorów (1, 2) w ukladzie ze wspólnym emiterem, przy czym w obwodzie emitera jednego z tych tranzystorów, zala¬ czono obwód (3) zlozony z indukcyjnosci i pojemnosci.

2. Defektoskop ultradzwiekowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze obwód (3) jest pola¬ czony z baza tranzystora (4), a emiter tegoz tranzystora polaczony jest z odczepem in¬ dukcyjnosci bedacej czescia obwodu (3).

3. Defektoskop ultradzwiekowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze nadajnik tranzystoro¬ wy (fig. 2) ma w obwodzie kolektora wla¬ czony obwód elektryczny (6) zlozony z in-^ dukcyjnosci i pojemnosci.

4. Defektoskop ultradzwiekowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w jednym lub wiecej stopniach odbiornika ma cewki zalaczone galwanicznie do zacisków wejsciowych tran*—... zystora. -.'¦¦/ 5. Defektoskop uMradzwiekowy wedlug zastrz. , 1, znamienny tym, ze miedzy nadajnikiem i .7. pierwszymi tranzystorem odbiornika ma sprzezenie galwaniczne. Defektoskop ultradzwiekowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w jednym lub w wie¬ cej stopniach odbiornika ma w obwodzie tranzystora baza-emiter zalaczone opornosci rzeczywiste lub opornosci rzeczywiste i in- dukcyjnosci. Defektoskop ultradzwiekowy wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w jednym stopniu odbiornika ma sprzezenie pojemnosciowo- oporowe, a w pozostalych stopniach ma cewki galwaniczne przylaczone do zacisków wejsciowych tranzystora. Polska Akademia Nauk (Instytut Podstawowych Problemów Techniki) Fi9.1Do opisu patentowego Nr 46633 fw-' UL/ Fi9.3 2902. RSW „Prasa", Kielce BIBLIOTEKAI Urzedu Pctjnlowigo PL