Opublikowano dnia 30 pazdziernika 1962 r. l POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY j/& Jfy Nr 46270 KI. internat. G 01 r Wroclawskie Zaklady Elektroniczne *) Wroclaw, Polska Przyrzad do pomiarów wlasciwosci kondensatorów i cewek Patent itrwa od dnia 8 czerwca 1961 r.Przy produkcji licznych elementów, podzespo¬ lów i urzadzen elektronicznych istnieje potrzeba kontroli jakosci kondensatorów i cewek. Sposród wielu wlasciwosci, okreslajacych przydatnosc kondensatorów i cewek, do najwazniejszych na¬ leza indukcyjnosc alibo pojemnosc oraz wspól¬ czynnik strat. Stosowane dotychczas mierniki umozliwiaja alibo sprawdzenie tych obu podsta¬ wowych parametrów kondensatorów i cewek za pomoca jednego przyrzadu przy znacznym cza¬ sie trwania pomiaru, albo sprawdzenie tylko jed¬ nego parametru przy skróconym czasie trwania pomiaru.Przyrzad do pomiaru wlasciwosci kondensa¬ torów i cewek wedlug wynalazku umozliwia jednoczesny pomiar obu tych parametrów kon¬ densatora lub cewki przy bardzo krótkim czasie trwania pomiaru i wygodnym odczycie wyniku badania. Przyrzad jest szczególnie przydatny do *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynallazku jest dr inz. Jan Holownia. masowej kontroli jakosci jednakowych elemen¬ tów, np. kondensatorów lub cewek tego samego typu, gdyz wówczas, po wstepnym dostrojeniu przyrzadu do wymagan okreslonych warunkami technicznymi na dany element, sprawdzenie ko¬ lejnych egzempllarzy na zgodnosc z tymi warun¬ kami technicznymi nie wymaga od obslugujace¬ go zadnych innych czymnosci poza dolaczeniem badanego elementu i odczytaniem wyniku po¬ miaru.Istota wynalazku polega na zastosowaniu w znanym ukladzie pomiarowym, analogicznym do ukladu miernika dobroci, generatora o mo¬ dulowanej czestotliwosci oraz wskaznika oscylo¬ skopowego, przy wykorzystaniu w tym wskaz¬ niku jako osi czasu, napiecia o czestotliwosci modulacji generatora. W .przyrzadzie wedlug wynalazku badany kondensator lub cewka sa dolaczone do pomiarowego obwodu rezonanso¬ wego, zasilanego z generatora o modulowanej czestotliwosci. Czestotliwosc rezonansowa ob¬ wodu pomiarowego jest zalezna od pojemnoscibadanego kondensatora lufo od indukcyjnosci badanej cewki, zas dobroc rezonansowego ob¬ wodu (pomiarowego jest zalezna od wspólczyn¬ nika strait badanego elementu. Napiecie wiel¬ kiej czestotliwosci wystepujace w obwodzie po¬ miarowym jest zalezne zarówno od dostrojenia tego obwodu jak i od jego dobroci. Przy za¬ stosowaniu generatora o modulowanej czesto¬ tliwosci oraz przy zastosowaniu oscyloskopowe¬ go wskaznika napiecia w przypadku, gdy os czasu wskaznika oscyloskopowego jest synchro¬ niczna wzgledem dewiacji czestotliwosci gene¬ ratora, na ekranie oscyloskopowego wskaznika napiecia uzyskuje sie nieruchoma krzywa rezo¬ nansu Obwodu pomiarowego. Wysokosc tej krzywej jest zalezna od dobroci obwodu pomia¬ rowego, zas jej polozenie wzgledem osi czasu jest zalezne od pojemnosci badanego kondensa¬ tora lub indukcyjnosci badanej cewki. Dzieki temu, wierzcholek krzywej rezonansu obwodu pomiarowego znajdzie sie w zalozonym polu tolerancji, np. zaznaczonym ramka na ekranie wskaznika oscyloskopowego jedynie wówczas, gdy oba podstawowe parametry badanego ele¬ mentu spelniaja tolerancje zalozona przy wstep¬ nej regulacji przyrzadu.Przyklad wykonania ukladu przyrzadu we¬ dlug wynalazku przedstawiono na rysunku.Przyrzad zawiera samowzbudny generator 1 o modulowanej czestotliwosci, sprzezony z po¬ miarowym obwodem rezonansowym 2, zlozonym np. z kondensatora strojonego C i indukcyjnosci L. Do obwodu pomiarowego 2 jest dolaczony badany element X za posrednictwem odpo¬ wiednich zacisków a—a. Kondensator strojony C w obwodzie pomiarowym 2 moze byc zaopa¬ trzony w skale wycechowana w jednostkach pojemnosci lub indukcyjnosci dolaczonego ba¬ danego elementu X. Z pomiarowym obwodem rezonansowym 2 jest sprzezony detektor ampli¬ tudy 3. Napiecie wyjsciowe detektora amplitudy 3 jest doprowadzone za posrednictwem wzmac¬ niacza 4 do odchylajacych pionowo plytek wskaznika oscyloskopowego 5. Plytki odchyla¬ jace poziomo wskaznika oscyloskopowego 5 sa zasilane napieciem U np. napieciem o czestotli¬ wosci sieci 50 Hz. Napiecie o tej samej cze¬ stotliwosci jest uzywane do sterowania modu¬ latora czestotliwosci 6, oddzialywujacego na ge¬ nerator samowzbudny 1.Przy dostrojeniu obwodu pomiarowego do czestotliwosci fali nosnej generatora uzyskuje sie na ekranie oscyloskopowego wskaznika na¬ piecia nieruchomy i symetryczny wzgledem osi pionowej obraz krzywej rezonansu obwodu po¬ miarowego. Odchylka wartosci pojemnosci lub iiMdukcyjnosci badanego elementu od wartosci nominalnej, odpowiadajacej dokladnemu do¬ strojeniu obwodu pomiarowego do czestotli¬ wosci fali nosnej generatora, spowoduje roz¬ strojenie tego obwodu i odpowiednie przemiesz¬ czenie obrazu na ekranie oscyloskopu wzdluz osi czasu. Odchylka wspólczynnika strat bada¬ nego elementu od wartosci nominalnej spowo¬ duje zmiane wysokosci obrazu na ekranie oscy¬ loskopu. Potrzebny zakres mierzonych wiel¬ kosci mozna ustalic za pomoca doboru pojem¬ nosci kondensatora strojonego C i indukcyjnosci cewki L w obwodzie pomiarowym 2 oraz przez wybór wlasciwego sposobu dolaczenia zacisków a—a do obwodu L—C. Zakres tolerancji para¬ metrów badanych elementów, odpowiadajacych polu tolerancji na ekranie oscyloskopu, mozna modyfikowac za pomoca regulacji wzmocnienia wzmacniacza 4 oraz przez zmiane amplitudy osi czasu wskaznika oscyloskopowego 5 albo przez zmiane dewiacji generatora 1. PL