PL45716B1 - - Google Patents

Description

POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45716 Ki. 21 e, 37/10^ Politechnika Warszaujska*) QjO.(Zaklad Konstrukcji Telekomunikacyjnych i Radiofonii) M/£tf Warszawa, Polska Sposób badania wlasciwosci, zwlaszcza elektrycznych, elementów nieliniowych oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu Patent trwa od dnia 10 kwietnia 1961 r.Wynalazek dotyczy sposobu okreslania wlasci¬ wosci wszelkiego rodzaju elementów nielinio¬ wych, wykorzystywanych w ukladach impul¬ sowych. Wynalazek dotyczy równiez urzadzen do stosowania sposobu wedlug wynalazku.W szczególnosci wynalazek moze znalezc za¬ stosowanie do badania elementów uzywanych w ukladach impulsowych, a wiec takich ele¬ mentów jak: rdzenie magnetyczne, elementy z magnetycznymi warstwami cienkimi, elemen¬ ty pólprzewodnikowe, elementy kriotronowe, impulsowe wzmacniacze parametryczne itd.Szczególne znaczenie wynalazek posiada dla badania elementów nieliniowych o charaktery¬ stykach typu histeretycznego; w szczególnosci moze on byc zastosowany do badania przydat¬ nosci rdzeni magnetycznych o prostokatnej petli histerezy dla zastosowan w ukladach logicz- *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest mgr inz. Kazimierz Bien¬ kowski. nych i pamieciowych elektronowych maszyn cyfrowych.Dzieki wynalazkowi mozna zbadac w czasie pojedynczej próby zachowanie sie elementu w zmiennych warunkach pracy przy bardzo duzej ilosci rodzajów impulsów wzglednie cia¬ gów impulsów ze zródel zasilajacych element badany, unikajac koniecznosci wykonywania znacznej ilosci prób niezbednych przy stoso¬ waniu dotychczas znanych metod. Na fig. la rysunku jest podany przyklad ukladu do ba¬ dania dowolnych elementów nieliniowych zna¬ na metoda poddawania elementu badanego 2 dzialaniu testu kontrolnego dostarczonego z ge¬ neratora 1. Odpowiedz elementu badanego ana¬ lizuje analizator odpowiedzi 3.Na przyklad stosowane dotychczas sposoby badania toroidalnych rdzeni magnetycznych o prostokatnej petli histerezy stosowanych w urzadzeniach cyfrowych polegaja na tym, ze badany rdzen 2 poddaje sie (patrz fig. Ib ry¬ sunku) dzialaniu testu kontrolnego, tj. pewne-go programu impulsów* np. takiego jak na fig. 2, który np. symuluje przewidywane wa¬ runki pracy badanego elementu, np. w ferry¬ towej pamieci z dostepem przypadkowym*).O ile test kontrolny posiada ksztalt impulsów' taki jak na fig. 2 o amplitudach poszczegól¬ nych impulsów ustalonych, wówczas uzyskuje sie jedynie jedna odpowiedz badanego elemen¬ tu na jeden test kontrolny, taka- np. jak na fag. 3.Na fig. 2 jest podany przebieg pradu ir w ob¬ wodzie rdzenia badanego w funkcji czasu T.Na fig. 3 podano, -przyklad odpowiedzi bada¬ nego rdzenia to prawie zadowadajacych para¬ metrach), na test kontrolny wedlug fig. 2. Im¬ pulsy o i o', b i b', c i c', d ijd- na fig. 2 i fig. 3 odpowiadaja sobie wzajemnie, przy czym im¬ pulsy na fig. 3 nalozono na siebie celem ulatwienia * ich porównania. Symbolami U0, U'0, oznaczono napiecia na uzwojeniach próbnych badanego rdzenia.Gdyby nalezalo zbadac zachowanie sie ele¬ mentu w funkcji parametrów testu kontrolne¬ go, np. w funkcji amplitud poszczególnych inrw pulsów testu, wówczas — przy dotychczas sto¬ sowanych metodach — próbe nalezaloby po¬ wtórzyc odpowiednia ilosc razy.Gdyby istnialy watpliwosci co do zachowania sie elementu badanego dla bardzo malo róznia¬ cych sie od siebie parametrów testu" — np. dla malo rózniacych sie amplitud poszczególnjrch impulsów testu — ilosc wymaganych prób w dotychczas stosowanych metodach bylaby bardzo znaczna.Z tego powodu praktycznie niemozliwe staje sie badanie duzych partii elementów dla duzej ilosci róznych testów kontrolnych (np. róznia¬ cych sie amplitudami). Znaczenie praktyczne koniecznosci przeprowadzania tego rodzaju prób jest jednak nadzwyczaj wazne, np. z tego wzgledu, ze rzeczywiste warunki pracy bada¬ nych elementów zaiwsze odbiegaja od nominal¬ nych i warunki te ulegaja ciaglym zmianom — np. w wyniku wahan napiec zasilajacych lub starzenia sie innych elementów ukladu wspól¬ pracujacych z badanymi.Wlasciwoscia charakteryzujaca zdolnosc ele¬ mentu do pracy w zmiennych warunkach jest wiec jego niewrazliwosc na zmiany tych wa¬ runków.Badanie tej wlasciwosci w kazdym produko¬ wanym eieniencrie omawianego typu przy po¬ mocy dotychczasowych metod jest niezmiernie *) odpowiednik angielskiej nazwy „ferrite random access store". uciazliwe ze wzgledu na koniecznosc wykony¬ wania bardzo duzej ilosci prób. Badania tego rodzaju przeprowadzano dotychczas jedynie dla wybranych z partii elementów i to na ogól dosc rzadko ze wzgledu na duza pracochlonnosc dotychczasowych metod badania.Wynalazek usuwa wspomniane wady. Wyna¬ lazek polega na tym, ze pewne parameitry lesiu kontrolnego, np. takiego jak na fig. 2 moduluje sie w czasie próby, np. jedna ze znanych me¬ tod (np. praktyczne znaczenie przy badaniu rdzeni maignetycznych o prostokatnej petli hi- sterezy moga miec: modulacja amplitudy im¬ pulsów, modulacja szerokosci impulsów oraz .modulacja czasu narastania impulsów testu kontrolnego takiego jak na fig. 2), dzieki cze¬ mu przeksztalcony zostaje test kontrolny w ze¬ spól testów kontrolnych, co umozliwia uzyska¬ nie zespolu odpowiedzi badanego elementu w takim samym okresie czasu, jaki jest po¬ trzebny dla 'uzyskania jednej odpowiedzi przy stosowaniu znanych metod badania.Wynalazek obejmuje wszelkie metody modu¬ lacji dowolnych parametrów wszelkich testów kontrolnych. W szczególnosci wynalazek obej¬ muje modulacje parametrów elektrycznych te¬ stów kontrolnych skladajacych sie z ciagów kolejna po sobie nastepujacych impulsów pra¬ du (natezenia pola magnetycznego) lub napiecia (natezenia pola elektrycznego) przykladanych w dowolny sposób do elementu badanego.W szczególnosci poszczególne parametry testu kontrolnego lub grupy tych parametrów moga byc modulowane jednym lub kilkoma sygna¬ lami modulujacymi lacznie lub oddzielnie. Isto¬ tna cecha wynalazku jest to, ze sygnaly mo¬ dulujace moga odpowiadac rzeczywistym, prze¬ widywanym lub umownym zmianom warun¬ ków pracy elementów badanych. Na przyklad zachodzace w rzeczywistosci powolne zmiany warunków pracy elementów badanych moga byc zastapione podczas próby szybszymi (w sto¬ sunku do szybkosci zmian warunków rzeczywi¬ stych) sygnalami modulujacymi — co moze byc dogodne ze wzgledów praktycznych.Równiez ze wzgledów na ulatwienie realizacji technicznej wynalazku moze byc pozadane w pewnych warunkach zastosowanie metod od¬ powiedniego ksztaltowania sygnalów modulu¬ jacych, np. poprzez ich kwantyzacje czasowa lub czasowo-amplitudowa, taka jak przedsta¬ wiono przykladowo na fig. 6, na które- pier¬ wotny przebieg modulujacy (narysowany linia ciagla) zastapiono impulsowym przebiegiem modulujacym (linia przerywana) skladajacym sie z odcinków o nachyleniu praktycznie rów- - 2 -nym zeru: a) przybierajacych wartosci równe wartosci lewostronnej pierwotnego przebiegu modulujacego w dyskretnych chwilach czaso¬ wych (kwantyzacja czasowa* patrz fig. 6b), b) przybierajacych wartosci dyskretne najbliz¬ sze lewostronnej wartosci pierwotnego prze¬ biegu modulujacego Wl dyskretnych chwilach •czasowych (kwantyzacja czasowo^amplitudowa, patrz fig. 6d). Fig. 6c przedstawia przypadek, gdy pierwotny przebieg modulujacy jest fik¬ sowany tylko na krótkie przedzialy czasowe.Przyklad ukladu do badania elementów spo¬ sobem wedlug wynalazku jest przedstawiony na fig. lc, na której cyframi 1, 2 i 3 oznaczono takie same fragmenty ukladu jak na rys. la.Cyfra 4 oznaczono modulator testu kontrolnego przylaczony do generatora 1. Modulator ten moze równiez w pewien sposób wplywac na dzialanie analizatora 3 np. w celu wydzielenia w analizatorze pewnych okreslonych odpo¬ wiedzi.Wynalazek bardziej szczególowo jest opisany na przyikladzie badania toroidalmych rdzeni magnetycznych o prostokatnej petli histerezy dla zastosowania w magnetycznej pamieci szybkiej z dostepem przypadkowym. Wynalazek umozliwia w danym przypadku przeprowadze¬ nie precyzyjnych badan elementów w zmien¬ nych warunkach pracy nawet przy produkcji masowej tych elementów, z tym ze daje on równiez dogodne narzedzie dla badan podsta¬ wowych wspomnianych elementów.Przy zastosowaniu wynalazku test do bada¬ nia, np. rdzeni wygladalby np. tak, jak na fig. 4a,byc Na fig. 4a rysunku jest pokazany test kontrolny z fig. 2 (przebieg pradu, ir w funkcji czasu T), którego amplituda zostala zmodulowana napieciem sieci 50 Hz. Prawa czesc rysunku przedstawia ten sam przebieg obserwowany w przedziale czasowym wspól¬ miernym z okresem zmian napiecia modulu¬ jacego.Na fig. 4b jest pokazany test kontrolny z fig. 2, którego amplituda zostala zmodulo¬ wana przebiegiem o ksztalcie zebów pily. Z pra¬ wej czesci rysunku wynika, ze dzieki temu, ze dlugosc okresu zmian napiecia modulujacego odpowiada trzykrotnej dlugosci okresu repety¬ cji impulsów testu, otrzymuje sie zespól trzech testów kontrolnych (a', b', c', d'; a", b", c"; d"; a"\ bC, c'", d'") kolejno po sobie nastepuja¬ cych.Pig. 4c przedstawia zmodulowany test kon¬ trolny podobny jak na fig. 4b, z tym ze im¬ pulsy b i c zmodulowane sa przebiegiem n fa¬ zie przeciwnej w stosunku do przebiegu modu¬ lujacego impulsy a i d. Ten rodzaj testu moze miec szczególne znaczenie praktyczne dla ba¬ dania jakosci rdzeni.Na fig. 4d jest uwidoczniony test kon.trolny z fig. 2 zmodulowany dowolnymi sygnalami modulujacymi (ogólnie rzecz biorac nieskorelo- wainymi). W podobny sposób moznaby zmodu¬ lowac dowolny inny parametr dowolnego testu kontrolnego, np. czas narastania impulsów, sze¬ rokosc impulsów, czestotliwosc repetycji im¬ pulsów.Przebiegi modulujace moga oddzialywac np. na wszystkie impulsy testu równoczesnie, badz tez na niektóre z hien, lub ich grupy. Równiez poszczególne parametry testu lub grupy tych parametrów moga byc poddane dzialaniu kilku przebiegów modulujacych jednoczesnie.Na przyklad dla testów z fig. 4a,b,c odpo¬ wiedz badanego rdzenia o prawie zadowalaja¬ cych parametrach moglaby wygladac tak jak na fig. 5a^b (impulsy a—aw, b—bw, c—cw, d—dw z fig. 4 i fig. 5 odpowiadaja sobie wzajemnie).Z fig. 5a wynika, ze o ile test kontrolny nie jest zsynchronizowany z przebiegiem modulu¬ jacym, .wzglednie o ile czestotliwosc przebiegu modulujacego jest znacznie nizsza od czestotli¬ wosci repetycji impulsów testu, wówczas mozna otrzymac widmo „ciagle" odpowiedzi badanego elementu na test kontrolny.Z fig. 5b wynika, ze gdy test kontrolny jest zsynchronizowany z czestotliwoscia przebiegu modulujacego bedaca calkowita wielokrotnoscia repetycji impulsów testu, otrzymuje sie dy¬ skretna ilosc odpowiedzi badanego elementu na test kontrolny, równa stosunkowi okresu repetycji przebiegu modulujacego do okresu repetycji testu.O ile amplituda przebiegu modulujacego zmienia sie w sposób ciagly (fig. 6a) parametry testu kontrolnego na ogól nie sa ustalone w czasie pojedynczego okresu przebiegu modu¬ lujacego. Szybkosc zmian parametrów testu kontrolnego okreslona jest na ogól szybkoscia zmian przebiegu modulujacego oraz glebokoscia modulacji odpowiednich parametrów testu.Efekt ten mozna zaobserwowac np* na fig. 4b, c.O ile np. parametr pi pewnego testu kontrol¬ nego modulowany jest poprzez przebieg modu¬ lujacy m(t), przy czym podczas procesu modu¬ lacji osiaga on wartosci ekstremalne Pimax i Pimin, wówczas mozna wprowadzic parametr charakteryzujacy glebokosc modulacji parame¬ tru pi przez m jako np.: - 3 -rn/t eimax ^imin P- + D. .(O O ile np. interesujace sa maksymalnie mozli¬ we, wzgledne zmiany parametru pi w prze¬ dziale A t mozna je okreslic np. jako: max [a Pl|m(t), At|]=At. gl (2) m(t). •max m Wyjasnione to zostanie na" przykladzie modu¬ lacji amplitudy impulsów testu kontrolnego wedlug fig. 2 napieciem sinusoidalnym 50 Hz.O ile nip. zalozone zostanie, ze dlugosc kazdego z impulsów wynosi 5|xs zas okres repetycju jest równy 40 [is » wówczas np. dla glebokosci mo¬ dulacji amplitudy równej 20% otrzymuje sie: max Aafsin comt,A t^J ^— "" At max At = _ (om'At = ~ 5 2tz A t 5 Tm 2 * TT * Fn gdzie: A a (3) oznacza przyrost amplitudy testu kontrolnego, zas: Fm = 50Hz Tm = 2 . KHsek.Skad: 2 TT 5 . 10-6 = r *= 3,14 .10-* ~ 0,3%. 5 2.10-2 max A a lub: max Aa Fm = 50 Hz g = 20% A t = 5 jis = 8 . % • 10-4 ~ 2,5% Fm = 50 Hz g = 20% t = 40 [xs to znaczy, ze maksymalnie mozliwe, wzgledne zmiany amplitudy impulsów testu z fig. 2 wziete za okres sjjls i 40 [is, przy glebokosci mo¬ dulacji 20% napieciem sinusoidalnym 50 Hz wynosic moga odpowiednio 0,3% i 2,5%.O ile np. zmiany te z jakichkolwiek przy¬ czyn' powinny byc uznane za niedopuszczalne mozna postapic np. w dwojaki sposób: a. obnizyc czestotlifwosc przebiegu modulu¬ jacego — co spowoduje zmniejszenie jego szybkosci zmian. b. zastosowac dyskretne, ustalane przebiegi modulujace.Na fig. 6b jest uwidoczniony sposób tworze¬ nia dyskretnego przebiegu modulujacego, odpo¬ wiadajacego ciaglemu sygnalowi modulujacemu z fig. 6a, którego amplituda jest ustalana w czasie poszczególnych okresów repetycji testu kontrolnego.Fig. 6c przedstawia sposób ustalenia amplitu¬ dy przebiegu z fig. 6a na okres odpowiadajacy dlugosci poszczególnych impulsów testu.Fig. 6d wyjasnia zasade kwantyzacji cza- sowo-amplitudcwej przebiegu modulujacego z fig. 6a.Sposoby i urzadzenia dla kwantyzacji czaso¬ wej, wzglednie czasowo-amplitudowej przebie¬ gów modulujacych test konitrokiy moga odpo¬ wiadac np. jednej z dotychczas znanych metod.Na fig. 7 jest pokazany przyklad schematu blokowego urzadzenia realizujacego modulacje amplitudy testu kontrolnego uwidocznionego na fiig. 4a. Schemat ten, wyjawszy zastosowanie modulacji amplitudy impulsów, nie odbiega w zasadzie od ocherrtatów blokowych wspól¬ czesnie stosowanych urzadzen do badania rdze¬ ni magnetycznych o prostokatnej petli histe- rezy. Generator programu impulsów 1 dostar¬ cza sygnalów synchronizuj acych uklady steru¬ jace 2a, 2b, 2c, 2d, które z kolei steruja wyj¬ sciowe wzmacniacze pradowe 3a, 3b, 3c, 3d.Ilosc torów wzmacniajacych odpowiada ilosci rodzajów impulsów.Napiecie modulujace 6 przylozone na modu¬ lator amplitudy impulsów 5 powoduje modu¬ lacje amplitudy impulsów a, b, c, d poprzez wplyw na prace 3a, 3b, 3c, 3d- Zasady tego wplywu moga odpowiadac np. jednej z dotychczas znanych metod modulacji amplitudy. Moze to byc (w przypadku ukladów lampowych (np. stosowana w ukladach lampo¬ wych modulacja napiecia anody, ekranu siatki sterujacej lamp wysciowych 3a, 3b, 3c, 3d.Impulsy a, b, c, d dostarczone z 3a, 3b, 2r, 3d zostaja zsumowane poprzez uklad sumujacy 4, tworzac zmodulowany test kontrolny taki np., jaki jest podany na fig. 4a, b.Zwykle, w stosowanych dotychczas ukladach brak jest specjalnego urzadzenia cumujacego 4 - sumowanie nastepuje bezposrednio na ele-mencie badanym, co jest mozliwe ze wzgledu na bardzo mala impedameje elementu badanego w stosunku do wewnetrznej impedancjd 3d, 3bt 3c, 3d.Na fig. 8 jest wyjasniona zasada przeprowa- dzaniia badan porównawczych na przykladzie badania wspomnianych rdzeni magnetycznych.Zasada ta polega na tym, ze pradowy test kon¬ trolny %t dostarczany ze zródla testu kontrol¬ nego 1 przeplywa jednoczesnie przez element badany 2 oraz element wzorcowy 3, zwykle podobny do badanego. Odpowiedz 2 na %t — U0x oraz odpowiedz 3 na iT — Uow dostarczana jest do urzadzenia manipulacyjnego 4 charak¬ teryzujacego sie tym, ze pozwala ono na otrzy¬ manie na zaciskach (a', a"), (b', b"), (c'. c") przebiegów Uox Uow oraz Uow — U0x odpo¬ wiednio, wzglednie przebiegów im odpowiada^ jacych. Sygnal Uow moze. byc równiez zasta¬ piony sygnalem wytworzonym w jakikolwiek inny sposób np. z wykorzystaniem ukladu sy¬ mulujacego element wzorcowy zlozonego z li¬ niowych i nieliniowych elementów elektrycz¬ nych. PL

Claims (13)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób badania wlasciwosci, zwlaszcza elek¬ trycznych, elementów nieliniowych, zna¬ mienny tym, ze test kontrolny przeksztalca sie w zespól testów kontrolnych.

2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze okreslone parametry testu kontrolnego zostaja zmodulowane, dzieki czemu test ten zostaje przeksztalcony w zespól testów kon¬ trolnych.

3. Sposób wedlug zasitrz. 1, 2, znamienny tym, ze okreslone parametry testu kontrolnego zostaja zmodulowane zgodnie z rzeczywi¬ stymi przewidywanymi lub umownymi zmianami warunków pracy elementów.

4. Sposób wedlug zastrz. 1—3, znamienny tym, ze poszczególne parametry testu moduluje sie jednym lub kilkoma sygnalami modu¬ lujacymi lacznie lub oddzielnie.

5. Sposób wedlug za&trz. 1—4, znamienny tym, ze ewentualne niepozadane skutki modulacji testu kontrolnego usuwa sie przez kwantyzacje np. czasowa" lub c^a- sowo-amaplitudowa przebiegów moduluja¬ cych.

6. Sposób wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze synchronizuje sie syignaly modulujace z sygnalami testu kontrolnego w ten spo¬ sób, zeby uzyskac pewna ilosc dyskretnych odpowiedzi elementu badanego, co daje latwosc interpretacji ilosciowych.

7. Sposób wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze ustala sie w sposób dyskretny am¬ plitudy sygnalów modulujacych poprzez ich kwantyzacje czasowo-ampMituidowa w ce¬ lu uzyskania pewnej ilosci dyskretnych od¬ powiedzi elementu badanego, co daje lat¬ wosc interpretacji ilosciowych.

8. Sposób wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze stosuje sie jednoczesnie synchroni¬ zacje sygnalów modulujacych z sygnalami testu kontrolnego oraz ustala sie w sposób dyskretny amplitudy sygnalów moduluja¬ cych poprzez ich kwantyzacje czasowo-am- plitudowa.

9. Sposób wedlug zastrz. 1—5, znamienny tym, ze parametry zródel modulujacych ustala sie w ten sposób, zeby zespól odpowiedzi elementu badanego tworzyl widmo pozor¬ nie ciagle, przy czym jako kryterium oceny elementu przyjmuje sie glebokosc modu¬ lacji testu kontrolnego.

10. Sposób wedlug zastrz. 1—9, znamienny tym, ze analize odpowiedzi badanego elementu przeprowadza sie metoda porównawcza przy wykorzystaniu odpowiedzi odniesie¬ nia.

11. Sposób wedlug zastrz. 10, znamienny tym, ze odpowiedz odniesienia wytwarza sie przy pomocy elementu podobnego do ele¬ mentu badanego, zasilajac go tymi samymi sygnalami kontrolnymi, co element bada¬ ny.

12. Sposób wedlug zastrz. 11, znamienny tym, ze odpowiedz odniesienia wytwarza sie przy pomocy ukladu symulujacego element wzorcowy, zlozonego z liniowych i nieli¬ niowych elementów elektrycznych.

13. Urzadzenie do badania wlasciwosci, zwlasz¬ cza elektrycznych, elementów nieliniowych w sposób wedlug jednego lub wiecej za¬ strzezen 1—12, znamienne tym, ze zawiera srodki do modulacji parametrów testu kon¬ trolnego w postaci modulatorów umozli¬ wiajacych oddzialywanie sygnalów modu¬ lujacych na parametry testu kontrolnego, 14. Urzadzenie wedlug zastrz. 13, znamienne tym, ze zawiera srodki do uzyskiwania dys¬ kretnych widm odpowiedzi elementu bada¬ nego w postaci ukladów umozliwiajacych kwantyzacje czasowa lub czasowo-ampli- tudowa pierwotnych sygnalów moduluja¬ cych w modulatorze i ewentualnie równiez uklady umozliwiajace synchronizacje syg- - 5 -nalów modulujacych przez impulsy testu kontrolnego, dzieki czemu parametry mo¬ dulowanego testu kontrolnego przyjmuja tylko skonczona ilosc wartosci. 15. Urzadzenie wedlug zastrz. 13, znamienne tym, ze zawiera strodkd do uzyskiwania po¬ zornie ciaglych widm odpowiedzi elementu badanego w postaci modulatorów umozli¬ wiajacych modulacje parametrów, testu kontrolnego sygnalami dostatecznie wolny¬ mi i ewentualnie równiez o czestotliwosci zmiennej, w stosunku do czestotliwosci re- petycji impulsów testu kontrolnego, dzieki którym parametry testu kontrolnego moga przybierac dowolne wartosci rózniace sie od siebie dostatecznie malo. 16. Urzadzenie wedlug zastrz. 13—15, zna¬ mienne tym, ze posiada srodki do przepro¬ wadzania badan porównawczych, w postaci znanych mandipulatorów umozliwiajacych obserwacje róznicy odpowiedzi dwu ele¬ mentów przelaczanych tym samym testem kontrolnym jednoczesnie. Politechnika Warszawska Zaklad Konstrukcji Telekomunikacyjnych i Radiofonii Fig. 4 1 <\ ! ~~T7 Ib . A Lr Uo ] (S \c iDo opisu patentowego nr 45716 Fig.2 l-r Fig.3 "o,u«'Do opisu patentowego nr 45716 Fi* 4 ia i A L_ J b i d' a b T ,l~ 1 s~ ^••^w^^ a / ***" ^""-^^ ^^"^ T .«0 ^w -" / ^ "*»»^ _^""" ^»»^_ __^ V, -"-"''"""'/ ~~* /. """"^ta •¦r-^^ ' r 0 ll a* a' b1 3 |b _S_ ^ c" X ? |d* o" T b 3? T «1 " £ b" ll piul iUjjiU iii iu. P^L lLZ_ ifH i inTfTfir IIIIIIMM illllHirlli r I1MUU W^W^ ^^-^mju—- 0 lT c ^ d Cl _B_ T il"FLg-5 Do opisu patentowego nr 45716 5a 5bDo opisu patentowego nr 4571fc Fig6 &S. £L m,/t/ J0 l m/t/ / l /\j t— y.\ i - — i/ - 4\ - J\ ^1 Tl T 6£ m,/t/ i ó 1 m/t/ ~}!-l 1 V ! ! r* 1 r j l. f^ t. ^^v T 6d N 0 i m/( / ¦~H 1 A—J /\ ' 1 T | -\ i— M ¦¦- i — .... — T]o opisu patentowego nr 45716 Fig.7 *\ < 2L 5 IL 2d_ \ »— i—i *-A 3a / / / 35. j£. i — / - Fig. 8 227. RSW „Prasa", Kielce. PL