PL45704B1 - - Google Patents

Description

OpuUikowamo dnia 2 marca 1962 r. «3i2jQ U\ BIBLIOTEKA Urzedu fotentewego POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45704 KI. 42 k, 46/06 Polska Akademia Nauk*) (instytut Podstaiuoiuych Problemóiu Techniki) Warszawa, Polska lnjbji Sposób zmiany czulosci w fui\bji zasiegu w defektoskopie ultradzwiekowym Patent trwa od dnia 14 wrzesnia 1961 r.Przedmiotem wynalazku jest sposób zmiany czulosci w funkcji zasiegu w impulsowym de¬ fektoskopie ultradzwiekowym., Zmiany czulosci defektoskopu reguluje sie w taki sposób, by dla zasiegów mniejszych, ptrzy których wykryte wady daja echa er duzych amplitudach, czulosc ta byla mala, natomiast w miare wzrostu zasiegu czulosc winna równo¬ miernie wzrastac.W dotychczas znanych urzadzeniach tego ty¬ pu pozadane zmiany czulosci otrzymuje sie przez przylozenie z zewnetrznego zródla do od¬ biornika defektoskopu impulsów napieciowych powtarzajacych sie z czestotliwoscia powtarza¬ nia defektoskopu. W tym celu impulsy o ujem¬ nej polaryzacji przylozone zostaja do ekranów penitod odbiornika, zmniejszajac w ten sposób odpowiednio czulosc odbiornika w funkcji za- *) Wlasciciel pattentu oswiadczy^ ze wspól¬ twórcami wynalazku sa dr inz. Leszek Filip- czyniski i Jan Saltoowski. siegu, zaleznie od ksztaltu przylozonego napie¬ cia.Sposób ten jest niedogodny ze wzgledu na koniecznosc wbudowania w defektoskop spe¬ cjalnego ukladu wytwarzajacego impulsy ujem¬ nego napiecia, co komplikuje i rozbudowuje konstrukcje defektoskopu, który winien byc mozliwie maly i lekki ze wzgledu na swój prze¬ nosny charakter. Ponadto laczenie ekranów lamp odbiornika o wzmocnieniu rzedu 120 d"R jest niebezpieczne ze wzgledu na jego stabilnosc tym bardziej, ze celem zachowania pozadanego ksztaltu impulsu nie mozna stosowac odpowied¬ nich ukladów filtrujacych.Metoda ta zawodzi zupelnie w odbiornikach, wykonanych na tranzystorach.Niedogodnosci powyzsze usuwa sposób we¬ dlug wynalazku polegajacy na tym, ze do zmia¬ ny wzmocnienia odbiornika! wykorzystany zo¬ staje impuls nadawczy. Impuls ten o amplitu¬ dzie równej kilkuset woltów doprowadzany jest do zacisków wejsciowych odbiiorniikia. Podwplywem tego impulsy poszczególne stopnie odbiornika zostaja przeeterowaiie, tak ze naste¬ puje w nich zjawisko detekcji. Przez odpowied¬ nie* wlaczenie ukladu pojemnosci i opornosci oraz odpowiednie zwymiarowanie tych wielko¬ sci uzyskuje sie pozadany impuls, eksponen- cjalnie zanikajacy, który wykorzystuje sie na¬ stepnie dio zmiany punktu pracy lamp wzgled¬ nie tranzystorów, z których zbudowany jest od¬ biornik. W ten sposób uzyskuje sie ^pozadana zmiane czulosci odbiornika w czasie nastepuja¬ cym po chwili startu nadajnika, a wiec w funk¬ cji zasiegu.Zmiany czulosci odbiornika w funkcji zasie¬ gu mozna wedlug wynalazku uzyskac przez zmiane napiecia siatkowego sterujacego pierw¬ sza lampe odbiornika, a w zaleznosci od ukladu pracy tranzystora przez zmiane napiecia bazy lub emitera pierwszego tranzystora w odbior¬ niku. Uzyskuje to sie przez pojemuosciowo- -oporowe sprzezenie pierwszego stopnia odbior¬ nika z nadajnikiem.W czasie trwania impulsu nadawczego pojem¬ nosc sprzegajaca laduje sie wskutek zjawiska detekcji, rozladowujac sie nastepnie przez pola¬ czony z nia opór. Prad rozladowania, plynacy przez ten opór, zmienia punkt pracy lampy wzglednie tranzystora powodujac w ten sposób zmiane czulosci odbiornika. Po rozladowaniu kondensatom punkt pracy pierwszego stopnia odbiornika wraca do pierwotnej wartosci i de¬ fektoskop osiaga znów swa maksymalna czu¬ losc.Podobne zmiany punktu pracy a przez to zmiany czulosci defektoskopu mozna uzyskac wedlug wynalazku w pozostalych stopniach odbiornika, jesli sa one sprzezone ze stopniem poprzednim za pomoca ukladu pojemnosciowo- oporowego.Analogiczne zmiany punktu pracy pod wply¬ wem detekcji impulsu nadawczego a przez to zmiane czulosci defektoskopu mozna uzyskac wedlug wynalazku przez zabooznikowanie po¬ jemnoscia oporu katodowego lampy odbiornika.Gdy zas odbiornik wykonany jest na tranzysto¬ rach, to zmiana punktu pracy wystapi wów¬ czas, gdy pojemnoscia zabocznikowana zostanie opornosc w obwodzie bazy wzglednie emitera, zaleznie od zastosowanego ukladu pracy tran¬ zystora.W odbiornikach wykonanych z pentod wyste¬ puja zmiany punktu pracy pod wplywem de¬ tekcji impulsu nadawczego, gdy wedlug wyna¬ lazku w siatce ekranujacej zalaczymy uklad pojemnosciowo-oporowy o stalej czasu porów- nywailnej z czasem tuwania impulsu nadawcze¬ go. W takim przypadku w czasie trwania im¬ pulsu nadawczego powstaje na siatce ekranu¬ jacej latmpy ujemny skok napiecia, eksponer- cjalnie zanikajacy w czasie, co prowadzi do zmian czulosci defektoskopu w funkcji zasiegu. PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe i. Sposób zmiany czulosci w funkcji zasiegu w defektoskopie ultradzwiekowym, znamien¬ ny tym, ze impuls nadawczy poddany zosta¬ je detekcji w lampach lub tranzystorach od¬ biornika a napiecie wytworzone wskutek de¬ tekcji zmienia w funkcji zasiegu punkty pra¬ cy lamp lub tranzystorów odbiornika.

2. Sposób zmiany czulosci w funkcji zasiegu w defektoskopie ultradzwiekowym wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze punkt pracy pierwszego stopnia odbiornika jest zmienia¬ ny w funkcji zasiegu przez zastosowanie sprzezenia pojemnosciowo-oporowego mie¬ dzy nadajnikiem i pierwszym stopniem od¬ biornika*

3. Sposób zmiany czulosci zasiegu w defekto¬ skopie ultradzwiekowym wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze punkt pracy w jednym lub wielu stopniach odbiornika jest zmienia¬ ny w funkcji zasiegu przez zastosowanie sprzezenia pojemnosciowo-oporowego z<* stopniami poprzednimi lub przez zaboczni- kowahie pojemnosciami oporów katodowych lamp wzglednie oporów zastosowanych w tranzystorach w obwodzie bazy lub emitera.

4. Sposób zmiany czulosci w funkcji zasiegu w defektoskopie ultttadzwiekowym wedlug zastrz. 1, znamienny tym, * ze napiecie na ekranie jednej lub wielu lamp odbiornika jest zmieniane w funkcji zasiegu przez do¬ branie stalej czasu ukladu pojemnosci i opór* ncsci zalaczonych do ekranu mniejszej niz dziesieciokrotny cztas trwania impulsu na* dawczego. Polska Akademia Nauk (Instytut Podstawowych Problemów Techniki) 21o. RSW „Prasa", Kielce. PL