PL448501A1 - Metoda i układ do pomiaru frontów falowych stosowany do pomiaru elementów optycznych oraz do pomiarów jakości koherentnej wiązki świetlnej w układach optycznych - Google Patents

Metoda i układ do pomiaru frontów falowych stosowany do pomiaru elementów optycznych oraz do pomiarów jakości koherentnej wiązki świetlnej w układach optycznych

Info

Publication number
PL448501A1
PL448501A1 PL448501A PL44850124A PL448501A1 PL 448501 A1 PL448501 A1 PL 448501A1 PL 448501 A PL448501 A PL 448501A PL 44850124 A PL44850124 A PL 44850124A PL 448501 A1 PL448501 A1 PL 448501A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measure
wavefront
measuring
lens array
coherent light
Prior art date
Application number
PL448501A
Other languages
English (en)
Inventor
Mateusz SZATKOWSKI
Rosario PORRAS-AGUILAR
Original Assignee
Politechnika Wrocławska
The University Of North Carolina At Charlotte
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wrocławska, The University Of North Carolina At Charlotte filed Critical Politechnika Wrocławska
Publication of PL448501A1 publication Critical patent/PL448501A1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0271—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by using interferometric methods
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

Przedmiotem zgłoszenia jest metoda pomiaru frontów falowych, polegająca na tym, że emitowany przez koherentne źródło światła (1) front falowy wiązki jest formowany w poszerzoną wiązkę świetlną w układzie obiektywu mikroskopowego pierwszego (2) i soczewki pierwszej (3) i oświetla badany obiekt (4), po czym, po przejściu przez badany obiekt (4) front falowy zostaje zniekształcony i za pomocą macierzy soczewek podzielony na szereg mniejszych fragmentów, które są ogniskowane na detektorze (6), gdzie analizowany jest obraz natężeniowy, a następnie odtwarzany jest kształt badanego frontu falowego, charakteryzująca się tym, że do otrzymanego po przejściu przez badany obiekt (4) zniekształconego frontu falowego wprowadzane są, poprzez macierz soczewek stanowiącą macierz soczewek wirowych (5), wiązki typu wir optyczny, zawierające stabilną nieciągłość fazową o ładunkach topologicznych m, których wartości całkowite zawierają się w przedziale od -20 do 20, a przesunięcia poszczególnych punktów nieciągłości są określane poprzez śledzenie polegające na wyznaczaniu pozycji punktu nieciągłości, którym jest obszar zerowego natężenia w zogniskowanej wiązce i pomiar przesunięć ciemnego punktu w porównaniu do pozycji ciemnego punktu pierwotnych ustawień bez przedmiotu badanego. Przedmiotem zgłoszenia jest również układ do pomiaru frontów falowych.
PL448501A 2024-03-26 2024-05-08 Metoda i układ do pomiaru frontów falowych stosowany do pomiaru elementów optycznych oraz do pomiarów jakości koherentnej wiązki świetlnej w układach optycznych PL448501A1 (pl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US202463569976P 2024-03-26 2024-03-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL448501A1 true PL448501A1 (pl) 2025-09-29

Family

ID=95823696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL448501A PL448501A1 (pl) 2024-03-26 2024-05-08 Metoda i układ do pomiaru frontów falowych stosowany do pomiaru elementów optycznych oraz do pomiarów jakości koherentnej wiązki świetlnej w układach optycznych

Country Status (2)

Country Link
PL (1) PL448501A1 (pl)
WO (1) WO2025206963A1 (pl)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109521580A (zh) * 2018-11-27 2019-03-26 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于涡旋光子筛望远镜系统的多层成像装置和成像方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3132947B1 (fr) * 2022-02-21 2024-02-23 Imagine Optic Systèmes et procédés d’analyse de la qualité de surface d’une lame à faces parallèles

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109521580A (zh) * 2018-11-27 2019-03-26 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于涡旋光子筛望远镜系统的多层成像装置和成像方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2025206963A1 (en) 2025-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Rastogi Techniques of displacement and deformation measurements in speckle metrology
US6806965B2 (en) Wavefront and intensity analyzer for collimated beams
US20190234852A1 (en) Particle characterisation instrument
CN104034416A (zh) 高动态范围激光远场焦斑测量装置及方法
US5493398A (en) Device for observing test-piece surfaces by the speckle-shearing-method for the measurement of deformations
CN104006763A (zh) 一种基于多波长的数字全息三维形貌检测装置
CN114216659A (zh) 一种大口径长焦距光轴平行度的测量系统及其测量方法
US3447874A (en) Apparatus for testing lenses and method
CN111256956A (zh) 波前测量设备及波前测量方法
CN113251941B (zh) 一种基于脉冲激光的超快数字散斑系统和实验方法
US5978083A (en) Imaging and characterisation of the focal field of a lens by spatial autocorrelation
Burrell et al. Open-loop wavefront sensing in the presence of speckle and weak scintillation
Briers Optical testing: a review and tutorial for optical engineers
Lee et al. Precision profile measurement of aspheric surfaces by improved Ronchi test
PL448501A1 (pl) Metoda i układ do pomiaru frontów falowych stosowany do pomiaru elementów optycznych oraz do pomiarów jakości koherentnej wiązki świetlnej w układach optycznych
US8502987B1 (en) Method and apparatus for measuring near-angle scattering of mirror coatings
RU2396513C1 (ru) Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
CN220603845U (zh) 一种基于空间编码照明的芯片套刻测量装置
RU178706U1 (ru) Оптическая схема анализатора волнового поля оптического излучения на основе световодной пластины с синтезированными голограммами
KR100903264B1 (ko) 파면 수차 측정 장치 및 방법
CN102749185B (zh) 离焦量测试系统及测试方法
US10175102B2 (en) Method and apparatus for beaconless adaptive optics system
CN116952394A (zh) 同轴多波长横向剪切波前测量系统及测量方法
US6717676B2 (en) Method for measuring magnification of an afocal optical system
McAuley et al. Applications of holography in the millimeter-wave and terahertz region