PL423934A1 - Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną - Google Patents
Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzennąInfo
- Publication number
- PL423934A1 PL423934A1 PL423934A PL42393417A PL423934A1 PL 423934 A1 PL423934 A1 PL 423934A1 PL 423934 A PL423934 A PL 423934A PL 42393417 A PL42393417 A PL 42393417A PL 423934 A1 PL423934 A1 PL 423934A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- radiation
- infrared radiation
- structures
- area
- spatial
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Przedmiotem zgłoszenia jest sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego (1) w całym zakresie falowym tego promieniowania, w bezpośrednim obszarze źródła (3) promieniowania, w którym wiązką promieniowania ze źródła (3) oświetla się zestaw (2) ułożonych szeregowo struktur detekcyjnych. W pierwszym przypadku, jeśli struktury z zestawu (2) swymi rozmiarami nie pokrywają całego obszaru przestrzennego wiązki tego promieniowania, to emitowane promieniowanie podczerwone (1) skanuje się liniowo w całym obszarze wiązki, ze stopniowym przesuwem w pionie lub poziomie zestawu (2). W drugim przypadku, jeśli struktury z zestawu (2) swymi rozmiarami obejmują cały obszar przestrzenny wiązki tego promieniowania to emitowane promieniowanie podczerwone (1) skanuje się obracając zestaw (2) wokół środka zestawu (2), albo emitowane promieniowanie podczerwone (1) skanuje się obracając zestaw(2) zgodnie z ruchem wskazówek zegara wokół pierwszej lub ostatniej struktury z zestawu (2), a następnie z każdej struktury z zestawu (2) przekazuje się sygnały elektryczne do zewnętrznego miernika parametrów elektrycznych, po czym za pomocą urządzenia przetwarzającego zarejestrowany sygnał otrzymuje się przestrzenny rozkład natężenia promieniowania podczerwonego w obszarze wiązki promieniowania. Układ zawiera umieszczony na dielektrycznym podłożu zestaw ułożonych szeregowo struktur detekcyjnych, które są oddalone od siebie o szerokość B równą szerokości A pojedynczej struktury detekcyjnej. Każda ze struktur posiada swój kontakt elektryczny oraz niezależne od pozostałych struktur wyprowadzenie elektryczne, które łączy strukturę detekcyjną z miernikiem parametrów elektrycznych, a miernik ten połączony jest z urządzeniem przetwarzającym zarejestrowany sygnał.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL423934A PL234399B1 (pl) | 2017-12-18 | 2017-12-18 | Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL423934A PL234399B1 (pl) | 2017-12-18 | 2017-12-18 | Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL423934A1 true PL423934A1 (pl) | 2019-07-01 |
| PL234399B1 PL234399B1 (pl) | 2020-02-28 |
Family
ID=67105428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL423934A PL234399B1 (pl) | 2017-12-18 | 2017-12-18 | Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL234399B1 (pl) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4033697A (en) * | 1976-05-17 | 1977-07-05 | Reticon Corporation | Automatic exposure control for a luminous object monitor system |
| US4745280A (en) * | 1984-11-20 | 1988-05-17 | Daewoo Heavy Industries, Ltd. | Apparatus for measuring the profile of a laser beam |
| US5329350A (en) * | 1992-05-21 | 1994-07-12 | Photon, Inc. | Measuring laser beam parameters using non-distorting attenuation and multiple simultaneous samples |
| GB2444777A (en) * | 2006-12-13 | 2008-06-18 | Lancaster University | A detector array for gamma ray energy |
| CN202048982U (zh) * | 2011-02-19 | 2011-11-23 | 欧阳国平 | 一种激光光束参数测量装置 |
-
2017
- 2017-12-18 PL PL423934A patent/PL234399B1/pl unknown
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4033697A (en) * | 1976-05-17 | 1977-07-05 | Reticon Corporation | Automatic exposure control for a luminous object monitor system |
| US4745280A (en) * | 1984-11-20 | 1988-05-17 | Daewoo Heavy Industries, Ltd. | Apparatus for measuring the profile of a laser beam |
| US5329350A (en) * | 1992-05-21 | 1994-07-12 | Photon, Inc. | Measuring laser beam parameters using non-distorting attenuation and multiple simultaneous samples |
| GB2444777A (en) * | 2006-12-13 | 2008-06-18 | Lancaster University | A detector array for gamma ray energy |
| CN202048982U (zh) * | 2011-02-19 | 2011-11-23 | 欧阳国平 | 一种激光光束参数测量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL234399B1 (pl) | 2020-02-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Al Hadi et al. | A 1 k-pixel video camera for 0.7–1.1 terahertz imaging applications in 65-nm CMOS | |
| Volat et al. | New method for in live-line detection of small defects in composite insulator based on electro-optic E-field sensor | |
| BR112013000048A2 (pt) | sistemas e métodos para medir o uso de potência elétrica em uma estrutura e sistemas e métodos de calibrar os mesmos | |
| IL225971B (en) | Metrological method and system and method for producing a standard | |
| TW200739110A (en) | Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same | |
| WO2013001098A3 (en) | Active shield for capacitive measurement system | |
| CN106772170B (zh) | 一种uhf局部放电测量装置的校准方法 | |
| CN106353606A (zh) | 一种用于工频电磁场全向检测的装置及方法 | |
| PL423934A1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną | |
| RU2359280C2 (ru) | Способ бесконтактного и дистанционного контроля состояния гирлянд изоляторов воздушных высоковольтных линий электропередачи | |
| RU140278U1 (ru) | Устройство для контроля состояния гирлянд изоляторов воздушных линий электропередачи | |
| MX2017006772A (es) | Sonda de monitorizacion continua y en tiempo real de parametros quimicos de interes directamente en terrenos y sistema para la monitorizacion continua y en tiempo real de dichos parametros quimicos de interes. | |
| RU104709U1 (ru) | Устройство для детектирования ультрафиолетового излучения в уф-с диапазоне | |
| Golenishchev-Kutuzov et al. | Complex diagnostics of defects in high-voltage insulators | |
| Mishra et al. | Characterisation of Microstrip patch antenna based UHF sensor for detection of partial discharge | |
| CN108226099B (zh) | 一种太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法 | |
| Yang et al. | Parasitic antenna effect in terahertz plasmon detector array for real-time imaging system | |
| Mishra et al. | Localization of Partial Discharge source in High Voltage apparatus using multiple UHF sensors | |
| Khan et al. | UWB microwave sensor array characterization for early detection of breast cancer | |
| TW201909312A (zh) | 在空腔中偵測微波場的方法及設備 | |
| Jiang et al. | Monitoring insulator contamination level under dry condition with a microwave reflectometer | |
| CN108181020A (zh) | 真空室活动片架在线测温系统 | |
| Cheng et al. | Online detecting composite insulators by two dimensions electric field distribution | |
| Tsuchiya et al. | Electric field sensing and imaging by noninvasive parallel-plate sensor | |
| RU2431121C2 (ru) | Способ регистрации ультрафиолетового излучения и устройство для его осуществления |