PL423787A1 - Method and the device for measuring time intervals - Google Patents

Method and the device for measuring time intervals

Info

Publication number
PL423787A1
PL423787A1 PL423787A PL42378717A PL423787A1 PL 423787 A1 PL423787 A1 PL 423787A1 PL 423787 A PL423787 A PL 423787A PL 42378717 A PL42378717 A PL 42378717A PL 423787 A1 PL423787 A1 PL 423787A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
signal
analog
calculating
inputs
digital converter
Prior art date
Application number
PL423787A
Other languages
Polish (pl)
Other versions
PL238760B1 (en
Inventor
Grzegorz Wieczorek
Wojciech Oliwa
Original Assignee
Politechnika Śląska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Śląska filed Critical Politechnika Śląska
Priority to PL423787A priority Critical patent/PL238760B1/en
Publication of PL423787A1 publication Critical patent/PL423787A1/en
Publication of PL238760B1 publication Critical patent/PL238760B1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Abstract

Sposób pomiaru interwałów czasowych, w którym sygnały z dwóch wzorcowych generatorów sumuje się polega na tym, że sumaryczny sygnał z pierwszego generatora wzorcowego (101) o częstotliwości F1 i z drugiego generatora wzorcowego (102) o częstotliwości F2 próbkuje się w pierwszym przetworniku analogowo-cyfrowym (104) i w drugim przetworniku analogowo-cyfrowym (107), przy czym zboczem, korzystnie zboczem narastającym, wejściowego sygnału START uruchamia się pierwszy szybko startujący generator (106) w którym generuje się pierwszy sygnał próbkujący CLK1, którym taktuje się pierwszy przetwornik analogowo-cyfrowy (104), z którego wyniki przetwarzania podaje się do pierwszego układu IntDFT (105) wyliczającego interpolowaną dyskretną transformatę Fouriera, po czym fazę φb1 pierwszego sygnału oraz φb2 drugiego sygnału a także estymowaną częstotliwość F2e drugiego sygnału przekazuje się do układu wyliczającego (110), jednocześnie zboczem, korzystnie zboczem narastającym, wejściowego sygnału STOP uruchamia się drugi szybko startujący generator (109), w którym generuje się drugi sygnał próbkujący CLK2, którym taktuje się drugi przetwornik analogowo-cyfrowy (107) z którego wyniki przetwarzania podaje się do drugiego układu IntDFT (108) wyliczającego interpolowaną dyskretną transformatę Fouriera, po czym fazę φe1 pierwszego sygnału oraz φe2 drugiego sygnału a także estymowaną częstotliwość F2e' drugiego sygnału przekazuje się do układu wyliczającego (110). Urządzenie do pomiaru interwałów czasowych, które posiada dwa generatory wzorcowe, których wyjścia połączone są przez sumator z wejściami przetworników analogowo-cyfrowych charakteryzujące się tym, że wyjście pierwszego szybko startującego generatora (106) doprowadzone jest do wejścia taktującego pierwszego przetwornika analogowo-cyfrowego (104), którego wyjścia połączone są z wejściami układu IntDFT (105) wyliczającego interpolowaną dyskretną transformatę Fouriera, którego wyjścia doprowadzone są do pierwszych wejść układu wyliczającego (110), korzystnie mikrokontrolera, jednocześnie wyjście drugiego szybko startującego generatora (109) doprowadzone jest do wejścia taktującego drugiego przetwornika analogowo-cyfrowego (107) a którego wyjścia połączone są z wejściami układu IntDFT (108) wyliczającego interpolowaną dyskretną transformatę Fouriera, którego wyjścia doprowadzone są do drugich wejść układu wyliczającego (110), korzystnie mikrokontrolera.The method of measuring time intervals in which the signals from two reference generators are summed is that the total signal from the first reference generator (101) with a frequency F1 and from the second reference generator (102) with a frequency F2 is sampled in the first analog-to-digital converter ( 104) and in the second analog-to-digital converter (107), whereby the edge, preferably the rising edge, of the input START signal starts the first fast-starting generator (106), which generates the first sampling signal CLK1, which clocks the first analog-to-digital converter ( 104), from which the processing results are fed to the first IntDFT circuit (105) calculating the interpolated discrete Fourier transform, and then the phase φb1 of the first signal and φb2 of the second signal, as well as the estimated frequency F2e of the second signal, are transferred to the calculating circuit (110), simultaneously , preferably with the rising edge of the input STOP signal, the second fast-starting generator (109) is activated, which generates the second sampling signal CLK2, which clocks the second analog-to-digital converter (107), from which the processing results are fed to the second IntDFT system (108). ) calculating the interpolated discrete Fourier transform, then the phase φe1 of the first signal and φe2 of the second signal as well as the estimated frequency F2e' of the second signal are transferred to the calculating circuit (110). A device for measuring time intervals, which has two standard generators, the outputs of which are connected by a combiner to the inputs of analog-to-digital converters, characterized in that the output of the first fast-starting generator (106) is connected to the clocking input of the first analog-to-digital converter (104). , whose outputs are connected to the inputs of the IntDFT system (105) calculating the interpolated discrete Fourier transform, whose outputs are fed to the first inputs of the calculating circuit (110), preferably a microcontroller, at the same time the output of the second fast-starting generator (109) is fed to the clocking input of the second converter analog-digital transformer (107) and whose outputs are connected to the inputs of the IntDFT system (108) calculating the interpolated discrete Fourier transform, whose outputs are connected to the second inputs of the calculating system (110), preferably a microcontroller.

PL423787A 2017-12-08 2017-12-08 Method and the device for measuring time intervals PL238760B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL423787A PL238760B1 (en) 2017-12-08 2017-12-08 Method and the device for measuring time intervals

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL423787A PL238760B1 (en) 2017-12-08 2017-12-08 Method and the device for measuring time intervals

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL423787A1 true PL423787A1 (en) 2019-06-17
PL238760B1 PL238760B1 (en) 2021-10-04

Family

ID=66809685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL423787A PL238760B1 (en) 2017-12-08 2017-12-08 Method and the device for measuring time intervals

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL238760B1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120242520A1 (en) * 2009-12-11 2012-09-27 Hidemi Noguchi A/d conversion device and compensation control method for a/d conversion device
US20130314261A1 (en) * 2010-09-08 2013-11-28 Broadcom Corporation Digital Correction Techniques for Data Converters
US9209825B1 (en) * 2013-10-22 2015-12-08 Marvell International Ltd. Methods for sampling time skew compensation in time-interleaved analog to digital converters
US20160049949A1 (en) * 2012-09-05 2016-02-18 IQ-Analog Corporation N-Path Interleaving Analog-to-Digital Converter (ADC) with Offset gain and Timing Mismatch Calibration
US9748967B1 (en) * 2017-03-02 2017-08-29 Guzik Technical Enterprises Periodic signal averaging with a time interleaving analog to digital converter

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120242520A1 (en) * 2009-12-11 2012-09-27 Hidemi Noguchi A/d conversion device and compensation control method for a/d conversion device
US20130314261A1 (en) * 2010-09-08 2013-11-28 Broadcom Corporation Digital Correction Techniques for Data Converters
US20160049949A1 (en) * 2012-09-05 2016-02-18 IQ-Analog Corporation N-Path Interleaving Analog-to-Digital Converter (ADC) with Offset gain and Timing Mismatch Calibration
US9209825B1 (en) * 2013-10-22 2015-12-08 Marvell International Ltd. Methods for sampling time skew compensation in time-interleaved analog to digital converters
US9748967B1 (en) * 2017-03-02 2017-08-29 Guzik Technical Enterprises Periodic signal averaging with a time interleaving analog to digital converter

Also Published As

Publication number Publication date
PL238760B1 (en) 2021-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Romano et al. Enhanced interpolated-DFT for synchrophasor estimation in FPGAs: Theory, implementation, and validation of a PMU prototype
SG10201805247VA (en) Hybrid timing recovery
MY178066A (en) Method and apparatus for performing analog-to-digital conversion on multiple input signals
EP2360834A3 (en) Frequency multiplier
SG11201803662SA (en) Method for synchronising data converters by means of a signal transmitted from one to the next
TW200717519A (en) Asynchronous first-in-first-out cell
PL423787A1 (en) Method and the device for measuring time intervals
JP2014048063A (en) Measuring device and measuring method
TW200740123A (en) Methods for adjusting sampling clock of sampling circuit and related apparatuses
CN102545893A (en) Test and measurement instrument with oscillator phase dejitter
JP2017126116A (en) Semiconductor device, position detection device, and control method of semiconductor device
RU2015138626A (en) METHOD FOR MEASURING PHASE SHIFTS BETWEEN TWO HARMONIC SIGNALS OF THE SAME FREQUENCY
RU2484547C1 (en) Phase difference relay
ATE480048T1 (en) METHOD FOR GENERATING A CLOCK FREQUENCY
Ivars et al. Alias-free compressed signal digitizing and recording on the basis of Event Timer
CN108605023A (en) Signal is subjected to time alignment
PL423786A1 (en) Method and the device for measuring individual time intervals
EP2391007A3 (en) Division circuit, division device, and electronic apparatus
RU128806U1 (en) SUPERWIDEBAND SIGNALS DETECTOR-METER
CN101650414B (en) Method and device for assisting code loop by utilizing carrier loop of satellite receiver
RU2009122420A (en) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SIGNALS IN THE PRESENCE OF A VARIABLE DOPPLER EFFECT
Lindenthaler et al. Evaluation of Uncertainty in AC Power Calculation with Asynchronously Sampled Data
Zhu et al. Design and Implementation of an FFT Phase Difference Measuring Method
PL227611B1 (en) System for processing analog signals into digital signals
Bayer et al. Fast FPGA Based Low-Trigger-Jitter Waveform Generator Method for Barrier-Bucket Electronics at FAIR