PL418450A1 - Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines - Google Patents
Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machinesInfo
- Publication number
- PL418450A1 PL418450A1 PL418450A PL41845016A PL418450A1 PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1 PL 418450 A PL418450 A PL 418450A PL 41845016 A PL41845016 A PL 41845016A PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- reflecting
- prism
- axis
- laser beam
- machines
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Zgodnie ze sposobem pomiaru laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki, które doprowadza się do odbić od powierzchni odbijających w ilości różniącej się o liczbę nieparzystą w układzie dwuwiązkowego interferometru z układem powierzchni odbijających, utworzonych przez pryzmat narożny (13) i pryzmat prostokątny (6), w którym laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki (4, 5). Po odbiciu od układu powierzchni odbijających obie wiązki (4, 5) łączy się ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, że interferują ze sobą, tworząc obraz prążków interferencyjnych padający na fotodetektor (12) czuły na zmianę okresu prążków. Odchylenie kątowe wyznacza się na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor zmiany okresu prążków utworzonych przez interferujące ze sobą wiązki i za pomocą pryzmatu prostokątnego (6) odbijającego pierwszą wiązkę (4) odchyla się ją kątowo wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Interferometr jest wyposażony w dwuwiązkowy układ optyczny z układem powierzchni odbijających (3, 13, 7, 8), usytuowanych między laserem (1) a polaryzatorem (11), za którym znajduje się fotodetektor (12), których liczba jest różna o liczbę nieparzystą od ilości powierzchni odbijających znajdujących się na drodze drugiej wiązki (5). Ma też pryzmat prostokątny (6) odbijający wiązkę, który jest oddzielony ot pozostałych elementów układu optycznego, obracający się wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Między pryzmatem prostokątnym (6) a elementem światłodzielącym (3) znajduje się klin optyczny, odchylający wiązkę wokół osi Y.According to the measurement method, the laser beam of light is divided into two beams, which are reflected to the reflecting surfaces in an amount different by an odd number in the system of a two-beam interferometer with the arrangement of reflecting surfaces formed by a corner prism (13) and a rectangular prism (6) in which the laser light beam is split into two beams (4, 5). After reflection from the system of reflecting surfaces, both beams (4, 5) are combined again in a common propagation direction so that they interfere with each other, creating an image of interference bands incident on the photodetector (12) sensitive to a change in the period of the bands. The angular deviation is determined on the basis of the change in fringe period recorded by the photodetector created by the interfering beams and using a rectangular prism (6) reflecting the first beam (4) it is deflected angularly around the axis (Y) perpendicular to the plane containing the bisector of the angle between the reflecting planes (7, 8) of the prism (6) and the axis of intersection of the reflecting planes of the prism (7, 8). The interferometer is equipped with a two-beam optical system with a system of reflecting surfaces (3, 13, 7, 8), located between the laser (1) and the polarizer (11), behind which there is a photodetector (12), the number of which is different from an odd number from the amount of reflecting surfaces in the path of the second beam (5). It also has a rectangular prism (6) reflecting the beam, which is separated from other elements of the optical system, rotating around an axis (Y) perpendicular to the plane containing the bisector of the angle between the reflecting planes (7, 8) of the prism (6) and the axis of intersection of the reflecting planes prism (7, 8). There is an optical wedge between the rectangular prism (6) and the light splitting element (3) that deflects the beam around the Y axis.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL418450A PL230512B1 (en) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL418450A PL230512B1 (en) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL418450A1 true PL418450A1 (en) | 2018-02-26 |
PL230512B1 PL230512B1 (en) | 2018-11-30 |
Family
ID=61227756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL418450A PL230512B1 (en) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
PL (1) | PL230512B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PL424588A1 (en) * | 2018-02-14 | 2019-08-26 | Politechnika Warszawska | Method for measuring angular deviations of a laser beam and the optical system for measuring angular micro-deviations of a laser beam |
-
2016
- 2016-08-24 PL PL418450A patent/PL230512B1/en unknown
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PL424588A1 (en) * | 2018-02-14 | 2019-08-26 | Politechnika Warszawska | Method for measuring angular deviations of a laser beam and the optical system for measuring angular micro-deviations of a laser beam |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PL230512B1 (en) | 2018-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6553967B2 (en) | Instantaneous phase shift interferometer | |
US20060039007A1 (en) | Vibration-insensitive interferometer | |
WO2022105532A1 (en) | Heterodyne fiber interferometer displacement measuring system and method | |
CN101324421A (en) | Synchronous phase-shift fiso interferometer | |
EP2284479B1 (en) | Grazing incidence interferometer | |
TWI452262B (en) | Interferometer system for simultaneous measurement of linear displacement and tilt angle | |
US9068811B2 (en) | Device for determining distance interferometrically | |
US9797704B2 (en) | Interferometer having two transparent plates in parallel for making reference and measurement beams parallel | |
US9733069B2 (en) | Optical position-measuring device | |
US9518816B2 (en) | Dual beam splitter interferometer measuring 3 degrees of freedom, system and method of use | |
GB914038A (en) | Interferometer using a diffraction grating | |
CN104142123A (en) | Three-degree of freedom laser measuring system applied to mechanical equipment geometric error measurement | |
EP1225420A2 (en) | Laser-based interferometric measuring apparatus and method | |
PL418450A1 (en) | Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines | |
JP2012013574A (en) | Optical type measurement device and prism for interferometer of the same | |
CN106872016A (en) | A kind of dual-polarization state analyzer for vibrating sensing | |
CN111562009B (en) | Common-path angle mirror interferometer and interference method | |
JPS6344136A (en) | Heterodyne michelson interferometer related to polarimetry | |
CN206638340U (en) | A kind of dual-polarization state analyzer for vibrating sensing | |
RU2481553C1 (en) | Device for measuring linear and angular displacements of object (versions) | |
JP2009103592A (en) | Collimation inspection device | |
US9310183B2 (en) | Measuring device for high-precision optical determination of distance or position | |
PL397925A1 (en) | Measuring method for angular deviations of the laser beam and an interferometer for measuring the angular deviations of the laser beam | |
JP6684623B2 (en) | Interferometric rangefinder and perfect retroreflector | |
US10627215B1 (en) | Optical sensor |