PL418450A1 - Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines - Google Patents

Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines

Info

Publication number
PL418450A1
PL418450A1 PL418450A PL41845016A PL418450A1 PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1 PL 418450 A PL418450 A PL 418450A PL 41845016 A PL41845016 A PL 41845016A PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
reflecting
prism
axis
laser beam
machines
Prior art date
Application number
PL418450A
Other languages
Polish (pl)
Other versions
PL230512B1 (en
Inventor
Marek Dobosz
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL418450A priority Critical patent/PL230512B1/en
Publication of PL418450A1 publication Critical patent/PL418450A1/en
Publication of PL230512B1 publication Critical patent/PL230512B1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Zgodnie ze sposobem pomiaru laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki, które doprowadza się do odbić od powierzchni odbijających w ilości różniącej się o liczbę nieparzystą w układzie dwuwiązkowego interferometru z układem powierzchni odbijających, utworzonych przez pryzmat narożny (13) i pryzmat prostokątny (6), w którym laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki (4, 5). Po odbiciu od układu powierzchni odbijających obie wiązki (4, 5) łączy się ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, że interferują ze sobą, tworząc obraz prążków interferencyjnych padający na fotodetektor (12) czuły na zmianę okresu prążków. Odchylenie kątowe wyznacza się na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor zmiany okresu prążków utworzonych przez interferujące ze sobą wiązki i za pomocą pryzmatu prostokątnego (6) odbijającego pierwszą wiązkę (4) odchyla się ją kątowo wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Interferometr jest wyposażony w dwuwiązkowy układ optyczny z układem powierzchni odbijających (3, 13, 7, 8), usytuowanych między laserem (1) a polaryzatorem (11), za którym znajduje się fotodetektor (12), których liczba jest różna o liczbę nieparzystą od ilości powierzchni odbijających znajdujących się na drodze drugiej wiązki (5). Ma też pryzmat prostokątny (6) odbijający wiązkę, który jest oddzielony ot pozostałych elementów układu optycznego, obracający się wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Między pryzmatem prostokątnym (6) a elementem światłodzielącym (3) znajduje się klin optyczny, odchylający wiązkę wokół osi Y.According to the measurement method, the laser beam of light is divided into two beams, which are reflected to the reflecting surfaces in an amount different by an odd number in the system of a two-beam interferometer with the arrangement of reflecting surfaces formed by a corner prism (13) and a rectangular prism (6) in which the laser light beam is split into two beams (4, 5). After reflection from the system of reflecting surfaces, both beams (4, 5) are combined again in a common propagation direction so that they interfere with each other, creating an image of interference bands incident on the photodetector (12) sensitive to a change in the period of the bands. The angular deviation is determined on the basis of the change in fringe period recorded by the photodetector created by the interfering beams and using a rectangular prism (6) reflecting the first beam (4) it is deflected angularly around the axis (Y) perpendicular to the plane containing the bisector of the angle between the reflecting planes (7, 8) of the prism (6) and the axis of intersection of the reflecting planes of the prism (7, 8). The interferometer is equipped with a two-beam optical system with a system of reflecting surfaces (3, 13, 7, 8), located between the laser (1) and the polarizer (11), behind which there is a photodetector (12), the number of which is different from an odd number from the amount of reflecting surfaces in the path of the second beam (5). It also has a rectangular prism (6) reflecting the beam, which is separated from other elements of the optical system, rotating around an axis (Y) perpendicular to the plane containing the bisector of the angle between the reflecting planes (7, 8) of the prism (6) and the axis of intersection of the reflecting planes prism (7, 8). There is an optical wedge between the rectangular prism (6) and the light splitting element (3) that deflects the beam around the Y axis.

PL418450A 2016-08-24 2016-08-24 Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines PL230512B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL418450A PL230512B1 (en) 2016-08-24 2016-08-24 Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL418450A PL230512B1 (en) 2016-08-24 2016-08-24 Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL418450A1 true PL418450A1 (en) 2018-02-26
PL230512B1 PL230512B1 (en) 2018-11-30

Family

ID=61227756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL418450A PL230512B1 (en) 2016-08-24 2016-08-24 Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL230512B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL424588A1 (en) * 2018-02-14 2019-08-26 Politechnika Warszawska Method for measuring angular deviations of a laser beam and the optical system for measuring angular micro-deviations of a laser beam

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL424588A1 (en) * 2018-02-14 2019-08-26 Politechnika Warszawska Method for measuring angular deviations of a laser beam and the optical system for measuring angular micro-deviations of a laser beam

Also Published As

Publication number Publication date
PL230512B1 (en) 2018-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6553967B2 (en) Instantaneous phase shift interferometer
US20060039007A1 (en) Vibration-insensitive interferometer
WO2022105532A1 (en) Heterodyne fiber interferometer displacement measuring system and method
CN101324421A (en) Synchronous phase-shift fiso interferometer
EP2284479B1 (en) Grazing incidence interferometer
TWI452262B (en) Interferometer system for simultaneous measurement of linear displacement and tilt angle
US9068811B2 (en) Device for determining distance interferometrically
US9797704B2 (en) Interferometer having two transparent plates in parallel for making reference and measurement beams parallel
US9733069B2 (en) Optical position-measuring device
US9518816B2 (en) Dual beam splitter interferometer measuring 3 degrees of freedom, system and method of use
GB914038A (en) Interferometer using a diffraction grating
CN104142123A (en) Three-degree of freedom laser measuring system applied to mechanical equipment geometric error measurement
EP1225420A2 (en) Laser-based interferometric measuring apparatus and method
PL418450A1 (en) Method for measuring angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines and the interferometer for measurements of angular micro-deviations relative to a laser beam, preferably rotation errors of machines
JP2012013574A (en) Optical type measurement device and prism for interferometer of the same
CN106872016A (en) A kind of dual-polarization state analyzer for vibrating sensing
CN111562009B (en) Common-path angle mirror interferometer and interference method
JPS6344136A (en) Heterodyne michelson interferometer related to polarimetry
CN206638340U (en) A kind of dual-polarization state analyzer for vibrating sensing
RU2481553C1 (en) Device for measuring linear and angular displacements of object (versions)
JP2009103592A (en) Collimation inspection device
US9310183B2 (en) Measuring device for high-precision optical determination of distance or position
PL397925A1 (en) Measuring method for angular deviations of the laser beam and an interferometer for measuring the angular deviations of the laser beam
JP6684623B2 (en) Interferometric rangefinder and perfect retroreflector
US10627215B1 (en) Optical sensor