PL407356A1 - Sposób całkowicie optycznego pomiaru stałych elastyczności K₂₂ i K₃₃ w nematycznych ciekłych kryształach - Google Patents

Abstract

Sposób całkowicie optycznego pomiaru stałych elastyczności K22 i K33 w nematycznych ciekłych kryształach w znanym układzie składającym się ze źródła monochromatycznej fali elektro-magnetycznej, płytki fazowej (?/2), polaryzatora, pierwszej soczewki skupiającej o ogniskowej f1, drugiej soczewki skupiającej o ogniskowej f2, apertury kołowej i detektora polegający na umieszczeniu badanej komórki ciekłokrystalicznej wypełnionej nematycznym ciekłym kryształem, charakteryzuje się tym, że badaną komórkę umieszcza się poza ogniskową f1 pierwszej soczewki (4) a następnie przesuwa się próbkę (5) skokowo wzdłuż kierunku propagacji liniowo spolaryzowanej wiązki elektro-magnetycznej przechodząc przez ogniskową f1 pierwszej soczewki (4) a następnie poza nią. Stosuje się monochromatyczną wiązkę fali elektro-magnetycznej o stałej mocy optycznej generowanej przez źródło monochromatycznej fali elektro-magnetycznej (1) i dokonuje się pomiaru mocy wiązki przechodzącej przez nematyczny ciekły kryształ (5) dla każdego dokonanego skoku położenia kryształu, po czym dokonuje się analizy sygnału zebranego na detektorze (8) i wyznacza położenia punktów z1 oraz z2, określające położenie próbki (5), dla którego następuje zmiana sygnału zbieranego przez detektor (8) i po wyznaczeniu punktów z1 oraz z2, oblicza się wartość zth. Następnie oblicza się promień w(zth) obszaru oświetlanego przez monochromatyczną liniowo spolaryzowaną wiązkę fali elektro-magnetycznej, progowe natężenie wiązki fali elektro-magnetycznej przy znanej i stałej całkowitej mocy optycznej P oraz wartości w(zth) a następnie oblicza się wartość Kii.