PL40232B1 - - Google Patents

Description

Opublikowana dnia 9 listopada 1M7 r.JJUe **fio POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 40232 KL 7 a, V Inz. mgr Waclaiu Leskietuicz Kraków, Polska Inz. Slanislaiu Kucharski Kraków, Polska Sposób pomiaru nierównomiernosci odksztalcen poprzecznych w czasie walcowania kesisk oraz przyrzad do wykonywania tego sposobu Patent trwa od dnia 5 marca 1957 r.W czasie walcowania kesisk wystepuje zja¬ wisko nierównomiernosci odksztalcen poprzecz¬ nych. Mozliwosc szybkiego okreslania nierów¬ nomiernosci takich odksztalcen po kazdym przepuscie w czasie walcowania pozwala na prawidlowe wykonywanie kalibrowania wal¬ ców i opracowanie najkorzystniejszej techno¬ logii walcowania kesisk.Sposób takiego okreslania powinien uwzgled¬ niac nastepujace warunki. Pomiar powinien trwac nie dluzej niz kilka sekund i winien byc dokonywany ,na wlewku, którego temperatura wynosi okolo 1200°C. Ponadto sposób taki mu¬ si odznaczac sie duza dokladnoscia.Do wykonania odcisku obrysia kesiska sto¬ suje sie dwie skrzynki, z których jedna sta¬ nowi oprawe, a druga jest skrzynka wymien¬ na c, wchodzaca do skrzynki pierwszej.Na rysunku przedstawiono przyrzad we.dlug wynalazku, przy czym fig. 1 przedstawia wi¬ dok z góry przyrzadu, fig. 2 — podluzny prze¬ krój pionowy skrzynki zewnetrznej fig. 3 — jej przekrój poprzeczny wzdluz linii A—A na fig. 2, fig. 4 — widok z góry skrzynki wymien¬ nej, fig. 5 — jej widok z przodu czesciowo w przekroju, fig. 6 — jej widok boczny, a fig. 1 — przekrój poprzeczny skrzynki wzdluz Unit B—B na fig. 5.Aby znalezc dokladne obrysie scianki bocz= nej kesiska sporzadza sie odcisk obrysia przy uzyciu przyrzadu wedlug wynalazku. Przyrzad taki sklada sie z blaszanej skrzynki zewnetrz¬ nej a, zwanej oprawa, zamocowanej na dlugisj rurce metalowej b i drugiej skrzynki blasza¬ nej c. Skrzynka c jest wymienna i osadza sit ja w skrzynce a. Napelnia sie ja glinka szamo¬ towa o konsystencji plasteliny, wystajaca ponad krawedz skrzynki o okolo 65 mm. Górna po¬ wierzchnia warstwy glinki posiada ksztalt wy¬ pukly aby w przyblizeniu odpowiadala obrysiuboku kesiska plaskiego. Aby podczas próby glinka nie przywarla do goracego kesiska czo¬ powa jej strone smaruje sie olejem. Odciski kesiska wykonuje sie przez dociskanie glinki do boków kesiska. Po sporzadzeniu odcisku zdejmuje sie skrzynke wymienna c i zaklada nastepna o mniejszych wymiarach. Po zakon¬ czeniu prób odcina sie nozem wzdluz krawe¬ dzi bocznych nadmiar roztloczonej glinki ,co pozwala na otrzymanie równego i ostrego obry- sia kesiska, które z kolei przenosi sie na pa¬ pier. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru nierównomiernosci odksztal¬ cen poprzecznych walcowanych kesisk zna¬ mienny tym, ze odcisk obrysia krawedzi bocznych kesiska dokonuje sie gesto zaro¬ biona glinka szamotowa.
2. 2. Przyrzad do wykonywania sposobu wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze sklada sie z blaszanej skrzynki zewnetrznej (a), za¬ mocowanej na dlugiej rurce metalowej (b) i wymiennej skrzynki (c), która po napel¬ nieniu glinka szamotowa o konsystencji pla¬ steliny osadza sie w skrzynce (a). Inz. mgr Waclaw Leskiewicz Inz. Stanislaw Kucharski Zastepca: Kolegium Rzeczników PatentowychDo epini patentowego w 40IM B D al ML V B'B MJL JM PL