jpaJt Opublikowano dnia 10 czerwca 1957 r.£ MA °* 3 Wsm -t JWW POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 39636 KI. 21 g, 18/10 Centralne Warsztaty Napraw i Konserwacji Sprzetu Medycznego*) Przedsiebiorstwo Panstwowe Warszawa, Polska Przyrzqd do pomiaru napiecia anodowego lampy rentgenowskiej Patent trwa od dnia 21 lutego 1956 r.Przedmiot wynalazku stanowi przyrzad do pomiaru roboczego napiecia anodowego lampy rentgenowskiej. Przyrzad ten pozwala na do¬ konywanie odnosnego pomiaru metoda radio¬ graficzna z dokladnoscia, wystarczajaca w prak¬ tyce radiograficznej — medycznej i przemyslo¬ wej — oraz w rentgenoterapii. Na dokladnosc pomiaru nie maja istotnego wplywu warunki zdjecia, ani obróbka ciemniowa.Wiazke promieni X, generowanych przez lampe, na której napiecie podlega pomiarowi, przepuszcza sie celem ujednorodmienia przez wstepny filtr rentgenowski. Czesc tej wiazki jest przepuszczana przez odpowiednio wyskalo- wany w jednostkach napiecia filtr stopniowa¬ ny, np. filtr schodkowy, natomiast sasiednia jej czesc przechodzi przez szybko poruszajace sie *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wyna¬ lazku jest iftz. mgr Mieczyslaw Derezinski. w plaszczyznie prostopadlej do biegu promie¬ ni szczeliny, wyciete w materiale, silnie osla¬ biajacym promienie X.W ten sposób oslabiona wiazka promieni X, rzucona na film lub papier rentgenowski, po¬ woduje powstanie na nim obrazu szczelin, roz¬ ciagnietych na skutek ruchu w postaci równo¬ miernie zaczernionego pasa, oraz obrazu filtru schodkowego. Na zdjeciu rentgenowskim wy¬ szukuje sie schodek, którego obraz rentgenow¬ ski ma zaczernienie najbardziej zblizone do zaczernienia pasa, naswietlonego poprzez szcze¬ line. Przypisane temu schodkowi napiecie (we¬ dlug dokonanego uprzednio dla danego filtru schodkowego i przeslony szczelinowej skalowa¬ nia) jest w przyblizeniu poszukiwanym napie¬ ciem anodowym.Na rysunku uwidoczniono tytulem przykladu przedmiot wynalazku, przy czym fig. 1 przed¬ stawia poprzeczny przekrój przyrzadu, fig. 2widok z góry przyrzadu z czesciowo wycieta skala, fig. 3 — szkic perspektywiczny ustawie¬ nia lampy rentgenowskiej przyrzadu i kasety, a fig. 4 — obraz zdjecia wykonanego przy uzy¬ ciu przyrzadu.Przyrzad wedlug wynalazku sklada sie z na¬ pedzanej silnikiem elektrycznym a przeslony obrotowej b, w której jako material silnie oslabiajacy promienie X zastosowano olów.Wspólsrodkowo z przeslona umieszczona jest podkowa filtru schodkowego c, wykonanego z blaszek np. mosieznych. Wymienione czesci sa zamontowane na podstawie d z blachy alumi¬ niowej, która lacznie z umieszczona pod skala plytka metalowa e stanowi filtr wstepny. Plyt¬ ka ze skala jest zamocowana pod górna czes¬ cia obudowy /, która ma wyciecie nad filtrem schodkowym i pierscieniowym pasem, zakresla¬ nym przez wirujace szczeliny. W wycieciu tym umieszczony jest ruchomy celownik g, wyko¬ nany z przezroczystego materialu, który mozna umieszczac nad dowolna grupa schodków.Przyrzad ustawia sie, jak to uwidoczniono na fig. 3, prostopadle do biegu promieni X w ten sposób, aby promien srodkowy z lampy rentgenowskiej h padal w przyblizeniu na brzeg przewidywanego schodka i wirujace] przeslony. Tuz pod przyrzadem ustawia sie ka¬ sete i z filmem lub papierem rentgenowskim.Celem uzyskania czytelnego zdjecia, nalezy stosowac warunki zdjeciowe, zblizone do po¬ danych na danym przyrzadzie.Na zdjeciu przedstawionym tytulem przykla¬ du na fig. 4 widoczne jest, ze jeden z wycin¬ ków ma zaczernienie takie samo, Tak zaczer¬ nienie sasiadujacej czesci pierscienia, naswie¬ tlonego poprzez szczeliny. Przy innym napieciu anodowym lampy rentgenowskiej zgodnosc za¬ czernien zajdzie dla innego schodka. Tlumaczy sie to w nastepujacy sposób. Przeslona wiruja^ ca oslabia dzialanie promieni X na film zaw¬ sze w jednakowym stosunku- niezaleznie od przenikliwosci promieni. W tym samym sto¬ sunku oslabia dzialanie promieni X na film odpowiedni schodek filtru schodkowego. Przy zmienionym napieciu anodowym lampy inna jest przenikliwosc promieni X, wobec czego oslabienie ich w tym samym stosunku jak przez przeslone szczelinowa nastepuje przy in¬ nej grubosci schodka.Wyskalowanie przyrzadu mozna przeprowa¬ dzic np. droga obliczeniowa, opierajac sie na wspólczynniku oslabienia promieni przez ma¬ terialy filtru lub przy uzyciu aparatu rentge¬ nowskiego o dokladnie znanym napieciu ano¬ dowym badz tez w inny podobny sposób.Stosowanie filtru wstepnego d, e oraz odpo¬ wiednie ustawianie przyrzadu zmniejsza bledy pomiaru. PLjpaJt Published on June 10, 1957. £ MA ° * 3 Wsm -t JWW POLSKA RZECZYPOLITEJ PEOPLEJ PATENT DESCRIPTION No. 39636 KI. 21 g, 18/10 Central Workshop for Repair and Maintenance of Medical Equipment *) Przedsiebiorstwo Panstwowe Warsaw, Poland Instrument for measuring the anode voltage of an X-ray tube The patent has been in force since February 21, 1956 The subject of the invention is an instrument for measuring the working anode voltage of an X-ray tube. This device allows the relevant measurement to be made with the accuracy of a radiographic method, which is sufficient in medical and industrial radiographic practice and in x-ray therapy. The accuracy of the measurement is not significantly influenced by the conditions of the photo or darkroom processing. The beam of X rays generated by the lamp on which the voltage is measured is passed through the initial X-ray filter to homogenize it. Part of this bundle is passed through an appropriately scaled in voltage units, a graded filter, eg a step filter, while an adjacent part passes through a rapidly moving *) The patent owner stated that the inventor is iftz. Mieczyslaw Derezinski, MA. in the plane perpendicular to the ray run, the slits cut in the material strongly weakening the X-rays. In this way, a weakened beam of X-rays, projected onto a film or X-ray paper, creates an image of cracks on it, stretched by movement in the form of an evenly blackened strip, and an image of a step filter. The X-ray image looks for a step, the X-ray image of which has a darkening closest to the blackness of the strip illuminated through the slit. The voltage assigned to this step (according to the scaling previously made for a given step filter and the slit diaphragm scaling) is approximately the anode voltage sought. The drawing shows the subject of the invention by way of an example, and Fig. 1 shows the cross-section of the device, Fig. 2 is a top view of the apparatus with a partially cut scale, Fig. 3 is a perspective sketch of the arrangement of the X-ray tube of the apparatus and the cassette, and Fig. 4 is an image of a photo taken with the apparatus. The apparatus according to the invention consists of a motor driven a rotating diaphragm b, in which a lead was used as a material strongly weakening X rays. A horseshoe of a step filter c, made of, for example, brass plates is placed in the center of the diaphragm. The parts mentioned are mounted on a base d of aluminum sheet, which, together with a metal plate located under the rock, constitutes a prefilter. A scale plate is attached to the top of the casing, which has a cutout above the step filter and a ring-shaped band circumscribed by the rotating slits. In this cut-out there is a movable sight g, made of a transparent material, which can be placed over any group of steps. As shown in Fig. 3, the example is positioned perpendicular to the X-rays so that the central beam of the lamp h fell approximately to the edge of the projected step and the whirling shutter. Immediately below the instrument, the cassettes with film or X-ray paper are placed. In order to obtain a legible photo, one should use the shooting conditions similar to those given on the given instrument. In the photo shown with the title of the example in Fig. 4 it is visible that one of the cutouts have the same darkening, so the adjacent part of the ring illuminated through the slits. At a different anode voltage of the X-ray tube, the blackness corresponds to the other step. This is explained as follows. The rotating diaphragm weakens the action of X-rays on the film always in the same ratio, regardless of the penetration of the rays. By the same token, the corresponding step of the step filter weakens the action of the X rays on the film. With a changed anode voltage of the lamp, the penetration of X-rays is different, therefore their weakening in the same ratio as through the slit diaphragms occurs with a different thickness of the step. Filter materials or using an X-ray apparatus of exactly known anode voltages or in another similar manner. The use of a pre-filter and proper positioning of the apparatus reduces measurement errors. PL