Opublikowano dnia 10 kwietnia 1958 r.(ScffUM ^~ laiSLIOTEKA Urz-^j Patentowego POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 39331 KI. 42 k, 46/06 Instytut Metalurgii im. Stanislaina Staszica *) Gliwice, Polska Defektoskop do ultradzwiekowego badania melodq echa z zasilaniem anodowym lamp prqdem zmiennym o czestotliwosci sieci Patent trwa od dnia 23 marca 1955 r.Zasilanie anodowe lamp elektrycznych pra¬ dem zmiennym o czestotliwosci sieci stosowano dotad jedynie w takich urzadzeniach elektro¬ nowych, których czas zadzialania byl znacznie dluzszy od dlugosci okresu napiecia sieci, jak w urzadzeniach grz%wczych lub urzadzeniach automatycznej regulacji. W urzadzeniach ta¬ kich -wykorzystanie lamp jest mniejsze, niz przy zasilaniu anodowym lamp pradem stalym.Defektoskop ultradzwiekowy do badania me¬ toda echa za czas zadzialania znacznie krótszy od dlugosci okresu napiecia sieci. Osobliwoscia jego jest ponadto fakt, ze po krótkim okresie pracy po wyslaniu impulsu ultradzwiekowego nastepuje przerwa o dlugosci do 20 msek.Dla uzyskania wysokiej jakosci pracy defek¬ toskopu stosuje sie lampy pracujace przy wy¬ sokich napieciach i pobierajace w okresie pra¬ cy duze prady. Stosowanie takich lamp pociaga *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz. mgr Józef Tabin. za soba znaczne podwyzszenie wymiarów i wa¬ gi defektoskopu, co utrudnia jego uzytkowanie w warunkach przemyslowych, a ponadto zwie¬ ksza pokaznie jego cene.Dotychczas stosowano kompromis pomiedzy waga a jakoscia defektoskopu budujac defek¬ toskopy stosunkowo ciezkie, a przy tym o niezbyt wysokiej jakosci.W defektoskopie do ultradzwiekowego bada¬ nia metoda echa wedlug wynalazku stosuje sie zasilanie anodowe lamp pradem zmiennym o czestotliwosci sieci i o napieciu A, zarówno czesci nadawczej B, jak i czesci odbiorczej C, przy czym okres pracy wypada w okresie mak¬ simum napiecia sieci. W zwiazku z tym w ca¬ lym okresie pracy wartosc napiecia pradu zasi¬ lajacego lampy ulegnie jedynie nieduzej zmia¬ nie. Dla uzyskania synchronizacji, zastosowano przesuwanie plamki swietlnej po ekranie de¬ fektoskopu przez odpowiednio wzmocnione na¬ piecia sieci D.*¦ «3MMH*|p^..^ii«t'--.„. .. •..."N^ Defektoskop wedlug wynalazku do ultra- '' dzwiekowego badania meto^da echa z zasilaniem ^*il^low^m lamp,pr*adem zmiennym o czestotli¬ wosci sieci*sklaffla* si$ z generatora napiec usko¬ kowych, oscyloskopu, wzmacniacza, generatora impulsów wielkiej czestotliwosci przesuwnika fazowego i transformatora sieciowego, przy czym generator napiec uskokowych jest synchro¬ nizowany napieciem sieci poprzez przewodnik gazowy, a kat przesuniecia fazowego wynosi od 60° do 120°, zas obwody anodowe lamp wzmac¬ niacza i generatora impulsów Wielkiej czestotli¬ wosci sa polaczone wprost z transformatorem sieciowym.W defektoskopie wedlug wynalazku lampy jedynie w okresie pracy pobieraja pelny prad, którego wartosc decyduje o jakosci defekto¬ skopu. W czasie dluzszego okresu przerwy, lampy te pobieraja badz prad zmniejszony, badz tez w ujemnym pólokresie napiecia sieci nie pobieraja pradu wcale. Tym samym ich obcia¬ zenie anodowe dla tych samych parametrów w okresie pracy jest czterokrotnie mniejsze przy zasilaniu ich pradem zmiennym, niz przy zasilaniu ich pradem stalym, co pozwala na lepsze wykorzystanie lamp. Ponadto odpada po¬ trzeba stosowania lamp prostowniczych oraz filtrów w zasilaniu, co znacznie upraszcza uklad.Ekranowanie lampy oscylograficznej moze byc znacznie lzejsze.Defektoskop wykonany wedlug wynalazku od¬ znacza sie wysoka jakoscia przy nieduzej wa¬ dze i nieduzych rozmiarach. PLPublished on April 10, 1958 (Scffum ^ ~ laiSLIOTEKA of the Patent Office of the POLISH PEOPLE'S REPUBLIC PATENT DESCRIPTION No. 39331 KI. 42 k, 46/06 Stanislain Staszic Institute of Metallurgy *) Gliwice, Poland Defectoscope for ultrasonic echo examination anode power supply of lamps with alternating current with network frequency The patent has been in force since March 23, 1955. Anode power supply of electric lamps with alternating current with network frequency has been used so far only in such electronic devices, the operation time of which was much longer than the duration of the mains voltage period, as in heaters or automatic control devices. In such devices - the use of lamps is lower than in the case of anode supply of the lamps with direct current. Ultrasonic flaw detector for echo testing for the operation time significantly shorter than the length of the mains voltage period. Its peculiarity is also the fact that after sending the ultrasound impulse after a short period of operation, there is a pause of up to 20 ms. In order to obtain high-quality work of the defectoscope, lamps operating at high voltages and consuming high currents during operation are used. The use of such lamps attracts *) The owner of the patent stated that the inventor is Józef Tabin, MSc. for it a significant increase in dimensions and weight of the flaw detector, which makes it difficult to use in industrial conditions, and also increases its price. In the ultrasonic flaw detector, the echo method according to the invention uses the anode supply of lamps with alternating current of mains frequency and voltage A, both for the transmitting part B and the receiving part C, the period of operation being at the maximum of the mains voltage. Therefore, over the entire lifetime of the lamp, the voltage supplying the lamp will only slightly change. In order to achieve synchronization, the light spot was moved across the defectoscope screen through appropriately amplified voltages of the D. .. • ... "N ^ Flaw detector according to the invention for ultrasonic examination of the echo method with powering ^ * many low ^ m lamps, alternating current with the network frequency * deflates * from the generator voltage, oscilloscope, amplifier, high frequency pulse generator of a phase shifter and a network transformer, the generator of the fault voltage is synchronized with the mains voltage through a gas conductor, and the phase shift angle is from 60 ° to 120 °, and the anode circuits of the lamps The amplifier and the high-frequency pulse generator are connected directly to the mains transformer. In the flaw detector according to the invention, the lamps consume full current only during the working period, the value of which determines the quality of the defectoscope. reduced, or also in the negative half-period of the network voltage, they do not consume current at all. They are lower in AC power than in DC, which allows better use of the lamps. In addition, there is no need to use rectifier tubes and filters in the power supply, which greatly simplifies the system. The shielding of the oscillographic tube can be much lighter. The defectoscope made according to the invention is characterized by high quality with low weight and small dimensions. PL