PL38820B1 - - Google Patents

Description

£ Opublikowano dnia 30 czerwca 1956 r.POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWA Nr 38820 KI. 42 k, 46/06 Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica Gliwice?, Polska? Czujniki oraz ich uklad do ultradzwiekowego wykrywania wad lezacych plytko pod powierzchnia tworzywa Patent trwa od dnia 2 maja 1955 r. ; Badanie drobnych przedmiotów ultradzwie¬ kowa metoda echa jest dotychczas mniej do¬ kladne niz badanie duzych przedmiotów. Defe¬ ktoskop jednokrysztalkowy, uzywajacy tego sa¬ mego przetwornika elektroakustycznego do wy¬ sylania i odbierania drgan ultradzwiekowych, w ogóle nie wykrywa wad lezacych plytko pod powierzchnia, z której przeprowadza sie bada¬ nie. Defektoskop dwukrysztalkowy ze zwyklymi czujnikami wysyla drgania ultradzwiekowe z czujnika nadawczego prostopadle do powierz¬ chni, z której przeprowadza sie badanie. Drgania odbite od wad zostaja tylko wtedy wykryte, je¬ sli docieraja do czujnika odbiorczego w tym przypadku tylko od wad lezacych dostatecznie daleko od czujników, a wiec w przedmiotach *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca^ mi wynalazku sa inz. mgr Józef Taibin i inz.Mieczyslaw Kusek. duzych. Znane sa próby skosnego skierowania drgan ultradzwiekowych pod powierzchnie, przez zastosowanie czujników ze stalowymi na¬ sadkami. Czujniki tego rodzaju, wykonane przez firme H. Hughes & Son, London, wykazaly jed¬ nak bardzo mala czulosc z powodu silnego odbi¬ jania sie w nich drgan ultradzwiekowych od powierzchni styku czujnika z badanym przed¬ miotem. Drgania te bladza wewnatrz nasadki, a czesciowo przedostaja sie po powierzchni ba¬ danego przedmiotu z czujnika nadawczego do czujnika odbiorczego, gdzie mieszaja sie z drga¬ niami odbitymi od wad i tym samym utrudniaja ich rozpoznanie i zmniejszaja wybitnie czulosc defektoskopu w tym obszarze.W czujnikach wedlug wynalazku, przedstawio¬ nych na rysunku, zastosowano nasadki -A z ma¬ terialu o malym oporze akustycznym, a równo¬ czesnie o duzym tlumfeniu dla drgan ultradzwie¬ kowych. Dzieki temw da?gatóa odbite na po-wierzchni styku czujnaki z badanym przedmio¬ tem, bladzac wewnatrz nasadki ulegaja silnemu zmniejszeniu, natomiast drgania przechodzace do materialu maja korzystne warunki przecho¬ dzenia, dzieki niskiej wartosci opornosci aku¬ stycznej materialu nasadki czujnika.W dalszym ciagu zastosowano w tych czujni¬ kach przetworniki elektroakustyczne o prosto¬ liniowej jednej sciance B, przez co zwiekszono natezenie pola ultradzwiekowego w poblizu czujnika odbiorczego oraz zwiekszono czulosc czujnika odbiorczego w poblizu czujnika na¬ dawczego, w porównaniu do dotychczasowych czujników, w których stosowano okragle prze¬ tworniki elektroakustyczne.Stosujac czujniki wedlug wynalazku do badan defektoskopem ultradzwiekowym typ MKUl fir¬ my Hughes, znajdujacym sie w posiadaniu In¬ stytutu Metalurgii, z latwoscia wykryto wade o powierzchni 0,03 cm2 w odcinku rygla o dlu¬ gosci 130 mm, podczas gdy innymi czujnikami nie mozna bylo wykryc w tym samym odcinku nawet wady o powierzchni 0,07 cm2. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Czujniki oraz ich uklad do ultradzwiekowego wykrywania wad lezacych plytko pod powierz¬ chnia tworzywa wedlug wynalazku, znamienne tym, ze do wykonania czesci czujnika o ksztal¬ cie klina, mieszczaca sie miedzy przetwornikiem elektroakustycznym, a powierzchnia robocza, stosuje sie tworzywo silne tlumiace drganie ultradzwiekowe, posiadajace równoczesnie nie¬ wielki opór akustyczny. Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica) *¦ \c Druk. LSW. W-wa. Zam. 9866 Z dnia 91.XI.56 r. Pap. sat. ki. ID 70 g. BI — 160. — B-6-67H3 PL