PL38463B1 - - Google Patents

Description

OpuknHKPNano; dmim» wtaesni* 1956 r. o MmAfyo L w 0^ I ,V i ?;d\) Pale ntowego .POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 38463 KI. 42 k, 46/06 Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica*) Gliwice, Polska Sposób otrzymywania na materiale swiatloczulym obrazów makrostrulctury tworzywa metodq ultradzwiekowa Patent trwa od dnia 20 grudnia 1954 r.Dotychczas wyniki badan ultradzwiekowych otrzymuje sie w postaci opisu lub wykresu albo wreszcie szeregu fotografii, przedstawiajacych wskazania defektoskopu w poszczególnych punktach powierzchni badanego przedmiotu, .lacznie ze szkicem rozmieszczenia powyzszych punktów. Sposoby te daja malo przejrzyste wy¬ niki i uniemozliwiaja w wielu przypadkach ich interpretacje.Sposób wedlug wynalazku pozwala metodami defektoskopii ultradzwiekowej otrzymywac na materiale swiatloczulym obrazy tworzywa i to zarówno obrazy dwuwymiarowe jednobarwne, jak i obrazy wielobarwne, steroskopowe, wzgle¬ dnie równoczesnie wielobarwne i stereoskopowe.Obrazy te otrzymuje sie przesuwajac punkt swietlny po materiale swiatloczulym ruchem zaleznym od ruchu czujników defektoskopu ultradzwiekowego wzgledem badanego przed- *) Wlasciciel patertu oswiadczyl, ze twórca wyna¬ lazku jest in$. mgr Jdzei Tafcin. miotu. Jasnosc tego punktu swietlnego w kaz¬ dym momencie jest zalezna od natezenia drgan ultradzwiekowych, odbieranych przez czujnik defektoskopu w tym samym momencie.Sposobem wedlug wynalazku mozna otrzy¬ mac rózne obrazy tego samego przedmiotu, stosujac rózne czujniki, rózne czestotliwosci, rózne ustawienia czujników, czy rózne zasiegi.Obrazy te mozna zestawiac w obrazy wielo¬ barwne, badz ogladac je stereoskopowo.Sposób wedlug wynalazku znacznie rozsze¬ rza mozliwosci defektoskopii ultradzwiekowej.Otrzymane obrazy, w odróznieniu od radiogra¬ fii, mozna otrzymywac jako obrazy powiekszone lub pomniejszone, co pozwala na utrzymanie kosztów materialów swiatloczulych na bardzo niskim poziomie. Sposób ten odznacza sie szyb¬ koscia badania, czuloscia, duzym zasiegiem i wielu innymi zaletami ogólnymi metod de¬ fektoskopii ultradzwiekowej. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe odbieranych przez czujnik odbiorczy defe- 1. Sposób otrzymywania na materiale swiatlo- ktoskopu ultradzwiekowego. czulym obrazów * makrosfruktury tworzywa
2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze metoda ultradzwiekowa, ;znamienny tym, ze otrzymane rózne obrazy tego samego przed- po materiale swiatloczulym przesuwa sie miotu zestawia w obrazy wielobarwne lub punkt swietlny ruchem zaleznym od ruchu stereoskopowe wzglednie równoczesnie wie- czujników defektoskopu ultradzwiekowego lobarwne i stereoskopowe, stosujac rózne wzgledem badanego przedmiotu, jasnosc zas czujniki. tego punktu w kazdym momencie jest za- Instytut Metalurgii lezna od natezenia drgan ultradzwiekowych, im. Stanislawa Staszica RSW „Prasa" W-wa, Okopowa 58/72. Zam. 1239 A Pap. druk. sat. ki. III 70 g. 100 egz. PL