PL38296B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dnia 20 grudnia 1955 r« F &0A v 46JCO POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 38296 Stanislaw Szpetkowski Kraków, Polska KI. 42c, 3/02 Podstawka umoiliwiajqca mikrpmetryczne przesuwanie teodolitu Patent trwa od dnia 24 wrzesnia 1954 r.Podstawka umozliwiajaca mikrometryczne przesuwanie teodolitu znajduje zastosowanie w geodezji górniczej, w pomiarach nawiaza w- czych przy orientacji podziemnych wyrobisk. Pod¬ stawka ta pozwala na wtyczenie teodolitu w linie 2 punktów — pionów szybowych lub sygnalów stosowanych przy orientacjach optycznych. Dzieki wprowadzeniu tego rodzaju podstawki uzyskuje sie dokladne wyniki nawiazania, pomiary staja sie duzo prostsze w porównaniu z dotychczaso¬ wymi metodami, gdyz sprowadzaja sie do po¬ miaru 2 katów i dlugosci, a obliczenie orienta¬ cji — do obliczenia poligonu.Podstawka wedlug wynalazku jest przyrza¬ dem umozliwiajacym mikrometryczne przesu¬ wanie teodolitu w jednym kierunku celem na¬ prowadzenia go w przedluzenie kierunku utwo¬ rzonego przez dwa punkty (piony szybowe).Podstawke wraz z ustawionym na niej teodo¬ litem przedstawiono na rysunku, gdzie na fig. 1 pokazano przekrój pionowy podstawki, a na fig. 2 — widok z góry. Podstawka sklada sie z na¬ stepujacych czesci: wlasciwej podstawki P z dwoma równoleglymi sciagami S, przesuwalnej glowicy G z uchwytem U, urzadzenia przesuwajacego K, urzadzenia do odczytywania przesuniec O, urzadzenia centrujacego z zaciskiem dla ramie¬ nia pionowego Z.Wlasciwa podstawke stanowi sztywna rama metalowa P z dwoma sciagami S, po których przesuwa sie glowica G. Urzadzenie przesuwa¬ jace stanowi nagwintowany walek K osadzony lozyskowo w wystepie glowicy, a z drugiej stro¬ ny zakonczony korbka, co umozliwia mikrome¬ tryczne przesuwanie glowicy w jednej linii.Wielkosc przesuniecia (maksymalnie 8 cm.) mo¬ ze byc odczytywana na podzialce milimetrowej O z noniuszem, z dokladnoscia do 0,1 mm. Po- dzialka jest polaczona na stale z podstawka wlasciwa, a noniusz jest umieszczony na wyste¬ pie przesuwanej glowicy. Urzadzenie centrujace sklada sie z dwóch ramion: pionowego i pozio¬ mego. Ramie pionowe jest umieszczone w lo¬ zysku przy podstawce wlasciwej i jest do niego przytwierdzone sruba zaciskowa Z. Ramie po-ziome, przesuwane do wymaganej dlugosci w po¬ ziomym lozysku górnym, stanowiacym zakon¬ czenie ramienia pionowego, sluzy do zawiesza¬ nia pionu, który umieszcza sie nad znaczkiem centrujacym lunety teodolitu. Ramiona sa roz¬ bieralne i ustawiane tylko na czas centrowania.Podstawke centrujaca umieszcza sie na silnej rozporze drewnianej (mozliwe jest przytwier¬ dzenie podstawki do glowicy silnego statywu) tak, aby srodek glowicy znalazl sie mozliwie w linii pionów szybowych. Nastepnie na glowi¬ cy ustawia sie teodolit, poziomuje sie go i ru¬ chem korbki wprowadza w linie pionów szybo¬ wych. W czasie przesuniec teodolitu pecherzyki libel alhidatowych nie ulegaja odchyleniom — ruchy teodolitu sa sztywne. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe Podstawka umozliwiajaca mikrometryczne przesuwanie teodolitu w jednym kierunku na odleglosc do 80 mm, z dokladnoscia od¬ czytów do 0,1 mm, znamienna tym, ze sklada sie z podstawki (P), przesuwalnej glowicy (G) z uchwytem (U), urzadzenia przesuwajacego (K) oraz nieruchomej skali milimetrowej (O) z ruchomym noniuszem, umocowanym na wystepie przesuwalnej glowicy (G). Podstawka wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze do pomiarów z jednym teodolitem bez wy¬ miennej spodarki, podstawka orientacyjna ma uklad ramion z pionem, co pozwala na ustawienie pionu nad znaczkiem centrujacym teodolitu. Stanislaw Szpetkowski Fig. 1 Fig.

2. Bltk. 2166 J2.VIII.Hr. 150 A-4 plim. ki. 7 gr 60 1-3 l«f PL