M: Opublikowano dnia 15 czerwca 1956 r. aiBUlOTCK Al Urzedu Pate nfnwegrt I Polskiej RzeczyposptiliteilmloweiJ PL
Claims (3)
Zastrzezenia patentowe 1. Rentgenowska lampa rozbieralna do analizy spektralnej i strukturalnej, znamienna tym, ze posiada wymienne elektrody o skosnych plaszczyznach roboczych, umozliwiajacych jednoczesnie uzyskiwanie z okienek (13), osa¬ dzonych w korpusie (1) lampy, dwóch róznych promieniowan, a mianowicie promieniowa¬ nia pierwotnego oraz promieniowania fluo¬ rescencyjnego. Fis-Z
2. Lampa wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze posiada uklad chlodzenia wodnego (7) anty- kafody (6) do zamocowoywania badanej prób¬ ki materialu, sluzacy do utrzymywania niskiej temperatury badanych substancji stalych, rozkladajacych sie latwo w podwyzszonych temperaturach.
3. Lampa wedlug zastrz. 1 i 2, znamienna tym, ze posiada pancerz blaszany (2), okrywajacy korpus (1), do którego doprowadza sie wode chlodzaca, w celu zapewnienia ciaglosci pra¬ cy lampy oraz zapobiezenia nagrzewaniu sie zlaczy prózniowych. Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica. &p. „Wzajemnosc", ul. targowa 4S. Zam 1163 z dnia l.IV.56 r. Pap. bezdrz. fi 1 80 g — IM. PL
Measurement of applied stress by x-ray diffraction. appendix- the tensile specimen holder(X-ray diffraction evaluated as best nondestructive method available for measurement of residual stresses of tensile specimens)