PL37620B1 - - Google Patents

Description

Dotychczas mierzono profile (przekroje) archi¬ tektoniczne, kamieniarskie i innych bryl (takze o krzywej linii przekroju) przy pomocy apara¬ tów mierniczych, lat, podzialek, wegielnie i sto¬ lików mierniczych, a czasem takze przy pomocy metod fotogrammetrycznych. Pomiary wykony- wane przy pomocy wymienionych przyrzadów sa zmudne i czesto niedokladne, a przede wszystkim pracochlonne.Wad tych nie posiada przyrzad wedlug wyna¬ lazku. Zdjecia dokonywane przy pomocy tego przyrzadu otrzymuje sie w sposób prosty i lat¬ wy, pomiary zas sa bardzo dokladne.Fig. 1 przedstawia schemat przyrzadu w wi¬ doku z góry.Przyrzad wedlug wynalazku sklada sie z belki B, posiadajacej punktu obrotu O, umieszczony w dowolnym punkcie papieru, na którym wy¬ znacza sie przekrój zdejmowany. Belka B pola¬ czona jest z. luneta stala L2, nie ruchoma w plaszczyznie poziomej, a ruchoma w plaszczyz¬ nie pionowej, uruchjiraiaaa za ppmoca gaiki GL2, jak równiez z luneta Llf uruchamiana w plaszczyznie pionowej za pomoca galki Gh±t ru¬ choma w plaszczyznie poziomej i sprzezonej sztywno z wedzidlem W, wchodzacym do suwa¬ ka S, uruchamianego galka Gs wzdluz prowad¬ nicy P równoleglej do osi optycznej luneyt L2 i przymocowanej sztywno do belki B. Suwak S polaczony jest sztywno z plytka Z, na której umieszczony jest znaczek X w odpowiedniej od¬ leglosci, zaleznej od podzialki wykonywanego zdjecia, przy czym podzialka znów zalezy od sto¬ sunku, w jakim znajduje sie odcinek belki B zawarty pomiedzy osia obrotu lunety Llf a osia przechodzaca przez punkt obrotu prowadnicy wodzidla A, znajdujacej sie na suwaku S, no od¬ leglosci osi optycznych lunet I* i L2, prey ich równoleglym polozeniu, do odcinka zawartego pomiedzy osia obrotu lunety Lj. i równolegla do prowadnicy P, przechodzaca przez punkt obrotu *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, %& twórca wynalazku jest ini- mgr Zbigniezw Palasinski.wodzidla A, znajdujacy sie na suwaku S. Po- dzialka wykonywanego zdjecia zalezna jest rów¬ noczesnie od stosunku odcinków 2:1. Odcinki "fe otrzymuje sie ptzez poprowadzenie równole¬ glej do prowadnicy P przez znaczek Xi przeci¬ najacej belke B w osi przechodzacej przez pun¬ kty obrotu lunety L^ i os obrotu O belki B.Dzialanie przyrzadu polega na tym, ze na sto¬ liku mierniczym (ewentualnie rysownicy) z roz¬ pietym arkuszem papieru umieszcza sie ten przyrzad, ustalajac punkt obrotu O w punkcie obrazujacym na papierze: stanowisko wykony¬ wanego zdjecia, tak jak sie to dzieje pirzy zna¬ nych zdjeciach stolikowych. Lunety Lt i L2, przez które przechodza promenie swietlne, skie- rowywuje sie przez poziomy obrót belki B na mierzony punkt L\, 2. Przesuwajac suwak 5 glaka Gs wzdluz prowadnicy P ustawia sie znak swietlny L\ lunety Lj az do pokrycia ze zna¬ kiem swietlnym L'2 w punkcie mierzonym L\, 2, a wówczas na papierze, w miejscu, gdzie znaj¬ duje sie znaczek X, zaznacza sie obraz punktu mierzonego w podzialce, o której poprzednio by¬ la mowa. W ten sam sposób dokonywuje sie pomiaru nastepnych punktów profilu, dostep¬ nych optycznie z przyjetego stanowiska.Przy zdejmowaniu wielkich profili, np. rzutów budynków, nawiazuje sie do nowego stanowi¬ ska znanym sposobem stosowanym dotychczas przy stoliku mierniczym, Pomiar dokonywany przyrzadem wedlug wy¬ nalazku jest bardzo szybki, umozliwia kontrole optyczna wykonywanego pomiaru, pozwala na zdejmowanie punktów niedostepnych lecz wi¬ docznych. Laczy w sobie zalety metod istnieja¬ cych. Pozwala na odwzorowanie dowolnej linii krzywej. Wrysowuje sie tylko punkty zdej¬ mowane bez konstrukcji. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do graficznego pomiaru profili, zna¬ mienny tym, ze sklada sie z posiadajacej w do¬ wolnym miejscu punkt obrotu (O) belki (B), do której umocowane sa dwa lunety (Li i L^h z któ¬ rych luneta (La) jest nieruchoma w plaszczyznie poziomej, a ruchoma w plaszczyznie pionowej, luneta (Lt) zas, ruchoma zarówno w plaszczyz¬ nie poziomej jak i pionowej, sprzezona jest sztywno z wodzidlem (W) wchodzacym do suwa-' ka (S), ruchomego wzdluz prowadnicy (P), rów¬ noleglej do osi optycznej lunety (L2), przy czym suwak (S) polaczony jest sztywno z plytka (Z) zaopatrzona w znaczek (X). Akademia Górniczo-Hutnicza (Wydzialy Politechniczne) Zastepca: Kolegium Rzeczników Patentowych ¦*. T<; a* Druk. LSW. W-Wtt. Zatn. ttlo z dn. ILUZJI r. Pap. Mt ki. m 1* tf. Ba — IM PL